SU579658A1 - Устройство дл контрол блоков пам ти - Google Patents
Устройство дл контрол блоков пам тиInfo
- Publication number
- SU579658A1 SU579658A1 SU7502191873A SU2191873A SU579658A1 SU 579658 A1 SU579658 A1 SU 579658A1 SU 7502191873 A SU7502191873 A SU 7502191873A SU 2191873 A SU2191873 A SU 2191873A SU 579658 A1 SU579658 A1 SU 579658A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- input
- potential
- faulty
- signal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
Изобретение относитс к запоминающим устройствам и может быть использрsaKCf в частности, дл диагностики неисправностей блоков пам ти, построенных в регистра сдвига.
Известно устройство дл контрол блоков пам ти, содержащее блок дл формировани сигнала и неисправности), й ок управлени и логические элементы :i|,
Однако на это устройство требуготсфг оолыане Аппаратурные затраты.
Наиболее близким по технической сути к изобретению вл етс устройство дл контрол блокбв пам ти, содержащее блок управлени , входы кото)рого подключены к эцхЬДам счетчика и, элемента И, первый вход которого сое;динен со входом устройства, и управ-, п ющие шины 2,
Однако в этом устройстве отсутствует возможность диагностировани неисправностей блоков пам ти, собранных на базе триггеров, не имеюцшх сбросных и переключающихс входов, что су щественно сужает область применени устройства.
Современный уровень развити техники позвол ет при разработке приборов и устройств промышленного назначени
2
примен ть элементы с большой степень интеграции. В качестве таких элементов июжно использовать, например, ин тегральную микросхему серии К1ИР144, котора при построении блока пам ти в виде регистра сдвига позвол ет сократит число корпусов в 21 раз (в одном корпусе элемента этой серии К.1ИР441 имеетс 21 разр д) .
Несмотр на экономическую выгоду, применение таких элементов, из-за отсутстви Сбрасывающих и параллельных входов, а также ограниченного количества выходов (в одном корпусе элемента К1ИР441 - 3 выхода) , затрудн ет диагностику .Неисправностей аппаратуры и не позвол ет примен ть дл них известные диагностирующие устройства
Целью изобретени вл етс расшире 1ие области применени устройства за счет возможности обнаружени неиспрабных разр дов блоков пам ти, построенных на базе триггеров, не имеющих сбросных и переключающих входов, например , -многоразр дных регистров сдвига К1ИР144.
Дл этого в устройстве введены элементы ИЛИ и дополнительный элемент И, выход которого подключен ко входу счетчика, один вход - в выхошу триггера и второму входу элемента, И, а другой вход дополнительного эле-UeHTa И и один из входов триггера cofe цинены с соответствуюаими управл ющими шинами , другой вход триггера подключен к выходу элемента И, входы элементож ИЛИ соединены с соответствующими управл ющими шинами, а их выходы - с выходами устройства.
На чертеже изображена функциональЬ (на схема предложенного устройства.
Устройство содержит счётчик 1, блок 2 управлени , элемент И 3, тригЧ гер 4, дополнительный элемент И 5, элементы ИЛИ 6-8, выходы которых соег|Динены с выходами 9-11 устройства. jKo входу 12 и выходам 9-11 устройств подключаетс диагностируемый блок 13 рам ти. Ко входу 12 подключен один И8 |входов элемента И 3. Устройство также Ьодержит управл ющие .-шины 14-17.
Выход дополнительного элемента И $ Ьод-ключен ко входу счетчика 1, один &ХОД - к выходу триггера 4 и второму входу элемента И 3, а другой вход до17олнительного элемента И 5 и один из в-ходов триггера 4 соединены с управч ющт т шинами 16,15, другой вход трйг рера 4 подключенк выходу элемента J 3, входы элементов ИЛИ 6-8 соединен ш с управл ющими шинами 14-17.
Устройство работает следующим об )раэом.
При неисправности блока пам ти в одном из разр дов посто нно должен Ьыть или минусовой потенциал, или нуЬевой . Дл обнаружени неисправного разр да блока пам ти в первую очередь обходимо в остальные (исправные) разр ды записать потенциалы, противоположные потенциалу, установившемус в неисправном разр де.
В этом случае, если на выходе неис 7равного разр да минусовой потенциал, то при отсутствии сигнала на шинах 16, 0.7 с по влением сигнала на шине 15 определенной длительности (сигналы на |аи ах 14 и 16 вл ютс сдвигающими цеЬ ми блока пам ти) на выходе всех разЬ дов блока пам ти по вл етс Минусовой потенциал, а после сн ти сигнала на шине 15 на выходе всех разр дов, (сроме неисправного, устанавливаетс йулевой потенциал.
Если же на выходе неисправного разр да нулевой потенциал, то при отсутствии сигнала на шинах 14 и 15 с по влением на шине 17 сигнала той же длительности во все разр ды блока пам ти ,- с первого до неисправного, записыраетс минусовой потенциал.
Длительность сигнала при реализа11И-И блока пам ти на многоразр дных регистрах сдвига серии К1ИР144 должн быть не менее 0,5 сек.
Определение неисправного разр да блока пам ти осуществл етс следующш . фбразом.
Пусть на выходе неисправного paapiffда диагностируемого блока 13 пам ти Имеетс минусовой потенциал,При проверке в исходном состо нии на шинах 14-17 имеетс минусовой потенциал. При .проверке в исходном состо нии на шинах 14-17 имеетс нулевой потенциал . После поступлени по шине 15 сиг нала через элемент ИЛИ б все триггеры блока 13 пам ти переключаютс , noiле сн ти сигналу с шины 15 во всех разр дах диагностируемого блока пам ти , кроме иэнсправного, устанавливаетс нулевой потенциал, переключаетс триггер 4 дл разрешени записи импульсов .в счетчик 1 и.от внешнего устройства(на чертеже не показано) по шинаМ16 и 14 поступает сдвигающий импульс. Начинаетс сдвиг регистра блока пам ти. Одновременно с каждым сдвигом происходит запись импульсов в счетчик 1. С по влением на выходе блока пам ти минусового потенциала (записанного в неисправном разр де) с инверсного выхода 18 элемента И 3 на внешнее устройство выдаетс сигна;|1 дл прекращени сдвига, а с пр мого выхода 19 сбрасываетс триггер 4 и вьгдаетс разрешение на блок 2 управлени дл йыдачи информации с выходой Ъчетчика 1 на индикацию.
В результате в зависимости от записанного в счетчике 1 числа импульсов можно определить, какой разр д в регистре блока пам ти неисправен.
Пусть на выходе неисправного разр да диагностируемого блока пам ти имеетс нулевой потенциал. В этом случае после поступлени по шине 17 сигнала через элементы ИЛИ 7 и 8 во все разр ды регистра блока пам ти, кроме неисправного, записываетс мкнусовой потенциал. С помощью прибора (осциллографа, тестера) можно проверить , до какого элемента записываетс минусовой пбтенциал. Первый элемент, на выходе которого окажетс нулевой потенциал,.считаетс неисправным,
Claims (2)
1.Путинцев Н.Д,, Аппаратный конг оль управл юпдах цифровых вычислителе ных машин. М., Советское радио , 1966, с.91.
,
2.Авторское свидетельство 354414, 1 кл. ё 11 С 29/00,1972.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502191873A SU579658A1 (ru) | 1975-11-19 | 1975-11-19 | Устройство дл контрол блоков пам ти |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502191873A SU579658A1 (ru) | 1975-11-19 | 1975-11-19 | Устройство дл контрол блоков пам ти |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU579658A1 true SU579658A1 (ru) | 1977-11-05 |
Family
ID=20638035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU7502191873A SU579658A1 (ru) | 1975-11-19 | 1975-11-19 | Устройство дл контрол блоков пам ти |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU579658A1 (ru) |
-
1975
- 1975-11-19 SU SU7502191873A patent/SU579658A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU579658A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков пам ти | |
SU1751821A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков оперативной пам ти | |
SU1644168A1 (ru) | Самодиагностируемое парафазное асинхронное логическое устройство | |
SU934553A2 (ru) | Устройство дл контрол пам ти | |
SU970481A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков пам ти | |
SU1105944A1 (ru) | Запоминающее устройство с самоконтролем | |
SU1168951A1 (ru) | Устройство дл задани тестов | |
SU896628A1 (ru) | Устройство дл группового поиска кратных дефектов в комбинационных логических блоках | |
SU1575207A1 (ru) | Устройство дл контрол неисправности объекта | |
SU1413633A1 (ru) | Устройство дл цифрового контрол электронных схем | |
SU1260963A1 (ru) | Формирователь тестов | |
SU1010651A1 (ru) | Запоминающее устройство с самоконтролем | |
SU1711209A1 (ru) | Устройство дл определени параметров технического обслуживани издели | |
JP2551601B2 (ja) | メモリチェック回路 | |
SU1659987A1 (ru) | Устройство дл проверки работоспособности объектов | |
SU548862A1 (ru) | Устройство дл диагностики неисправностей в логических схемах | |
KR100198945B1 (ko) | 스위치에 있어서의 스위칭 경로 자기진단장치 | |
SU1166120A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых узлов | |
SU1283859A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков пам ти | |
SU1425682A1 (ru) | Устройство дл тестового контрол цифровых узлов | |
SU1012265A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков | |
SU1117643A1 (ru) | Устройство дл контрол мажоритарных схем | |
SU1129656A1 (ru) | Устройство дл контрол пам ти | |
SU1160414A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков | |
SU868763A1 (ru) | Устройство дл контрол логических блоков |