RU2018122963A - Компенсация темнового тока - Google Patents

Компенсация темнового тока Download PDF

Info

Publication number
RU2018122963A
RU2018122963A RU2018122963A RU2018122963A RU2018122963A RU 2018122963 A RU2018122963 A RU 2018122963A RU 2018122963 A RU2018122963 A RU 2018122963A RU 2018122963 A RU2018122963 A RU 2018122963A RU 2018122963 A RU2018122963 A RU 2018122963A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radiation
dark current
compensation
radiation detector
pixel
Prior art date
Application number
RU2018122963A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2734452C2 (ru
RU2018122963A3 (ru
Inventor
БУКЕР Роджер СТЕДМЭН
Эвальд РЕССЛЬ
Original Assignee
Конинклейке Филипс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Н.В.
Publication of RU2018122963A publication Critical patent/RU2018122963A/ru
Publication of RU2018122963A3 publication Critical patent/RU2018122963A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2734452C2 publication Critical patent/RU2734452C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • G01T1/244Auxiliary details, e.g. casings, cooling, damping or insulation against damage by, e.g. heat, pressure or the like
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Claims (21)

1. Детектор (10) излучения со счетом фотонов, содержащий матрицу (13) пикселей, содержащую множество пикселей (131) обнаружения прямого преобразования для обнаружения информации об изображении, причем по меньшей мере один пиксель матрицы пикселей экранирован от приема излучения.
2. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по п. 1, причем пиксели (131) обнаружения прямого преобразования являются пикселями обнаружения на основе теллурида кадмия-цинка или теллурида кадмия.
3. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по любому из предыдущих пунктов, причем упомянутый по меньшей мере один экранированный пиксель экранирован от входящего излучения поглощающим излучение покрытием, предпочтительно, поглощающим излучение покрытием или поглощающей излучение структурой.
4. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по любому из предыдущих пунктов, дополнительно содержащий
по меньшей мере одну область (132) компенсации, которая содержит упомянутый по меньшей мере один экранированный пиксель;
определитель (41) темнового тока, который соединен с областью компенсации и который выполнен с возможностью измерения тока от области компенсации и определения значения темнового тока из тока, измеренного от упомянутой по меньшей мере одной области компенсации; и
компенсатор (42) темнового тока, который выполнен с возможностью применения компенсации темнового тока к обнаруженной информации об изображении на основе определенного значения темнового тока.
5. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по п. 4, содержащий антирассеивающую решетку (14), которая установлена над матрицей (13) пикселей, причем каждая из упомянутой по меньшей мере одной области (132) компенсации окружена стенками антирассеивающей решетки, предпочтительно, зона компенсации охватывает один или четыре пикселя (131) обнаружения.
6. Детектор (10) излучения по п. 4 или 5, причем компенсатор (42) темнового тока выполнен с возможностью применения компенсации темнового тока путем подачи тока компенсации, предпочтительно с величиной тока компенсации, которая является обратным значением определенного значения темнового тока, на пиксели (131) обнаружения, предпочтительно, на все пиксели обнаружения.
7. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по п. 4 или 5, причем компенсатор (42) темнового тока выполнен с возможностью выдачи значения компенсации темнового тока, которое используется для компенсации обнаруженной информации об изображении во время реконструкции изображения.
8. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по любому из предыдущих пунктов, причем определитель (42) темнового тока выполнен с возможностью определения значения темнового тока при более низкой частоте дискретизации, чем частота дискретизации информации об изображении.
9. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по любому из предыдущих пунктов, причем область (132) компенсации окружена средством (133) предотвращения разделения заряда, предпочтительно, защитным кольцом.
10. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по любому из пп. 1-3, в котором маска (15) излучения экранирует множество пикселей матрицы пикселей.
11. Детектор (10) излучения со счетом фотонов по п. 10, причем маска (15) излучения экранирует упомянутое множество пикселей в виде регулярного рисунка, предпочтительно, шахматного рисунка, более предпочтительно, покрывающего каждый второй пиксель матрицы пикселей.
12. Способ обнаружения спектрального излучения, содержащий этап облучения детектора (10) излучения со счетом фотонов, содержащего матрицу (13) пикселей, содержащую множество пикселей (131) обнаружения для обнаружения информации об изображении и по меньшей мере один пиксель, который экранирован от входящего излучения.
13. Способ обнаружения спектрального излучения по п. 12, дополнительно содержащий этапы
определения значения темнового тока от упомянутого по меньшей мере одного экранированного пикселя; и
применения компенсации темнового тока к обнаруженной информации об изображении на основе определенного значения темнового тока.
14. Способ обнаружения спектрального излучения по п. 12 или 13, причем множество экранированных пикселей экранируют от излучения с помощью маски (15) излучения, предпочтительно, в виде регулярного рисунка, более предпочтительно, в виде шахматного рисунка.
15. Система визуализации, содержащая детектор излучения по любому из пп. 1-11.
16. Система визуализации по п. 15, причем детектором излучения является детектор рентгеновского излучения, предпочтительно, детектор рентгеновского излучения компьютерной томографии.
RU2018122963A 2015-11-26 2016-11-23 Компенсация темнового тока RU2734452C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP15196524.1 2015-11-26
EP15196524 2015-11-26
PCT/EP2016/078481 WO2017089363A1 (en) 2015-11-26 2016-11-23 Dark current compensation

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2018122963A true RU2018122963A (ru) 2019-12-26
RU2018122963A3 RU2018122963A3 (ru) 2020-02-10
RU2734452C2 RU2734452C2 (ru) 2020-10-16

Family

ID=54705437

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018122963A RU2734452C2 (ru) 2015-11-26 2016-11-23 Компенсация темнового тока

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10267928B2 (ru)
EP (1) EP3380870A1 (ru)
JP (1) JP6924755B2 (ru)
CN (1) CN108291973B (ru)
RU (1) RU2734452C2 (ru)
WO (1) WO2017089363A1 (ru)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019019038A1 (en) * 2017-07-26 2019-01-31 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. X-RAY DETECTOR CAPABLE OF MANAGING LOAD SHARING AT ITS PERIPHERY
EP3444826A1 (en) * 2017-08-14 2019-02-20 Koninklijke Philips N.V. Low profile anti scatter and anti charge sharing grid for photon counting computed tomography
WO2019084704A1 (en) * 2017-10-30 2019-05-09 Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. Dark noise compensation in radiation detector
EP3567405A1 (en) 2018-05-08 2019-11-13 Koninklijke Philips N.V. Photon counting spectral ct
US10813607B2 (en) * 2018-06-27 2020-10-27 Prismatic Sensors Ab X-ray sensor, method for constructing an x-ray sensor and an x-ray imaging system comprising such an x-ray sensor
US11985438B2 (en) * 2021-03-18 2024-05-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Pixel array including dark pixel sensors
JP7439027B2 (ja) 2021-09-08 2024-02-27 富士フイルムヘルスケア株式会社 放射線撮像装置及び放射線検出器

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4100739B2 (ja) 1996-10-24 2008-06-11 キヤノン株式会社 光電変換装置
DE19734717A1 (de) * 1997-08-11 1999-02-25 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren zur Kompensation des Dunkelstroms bei der Erstellung von zahnärztlichen Panorama- und/oder cephalometrischen Schichtaufnahmen
JP3832615B2 (ja) * 1999-08-26 2006-10-11 株式会社島津製作所 放射線検出装置
GB2370960A (en) 2001-01-05 2002-07-10 Spectral Fusion Technologies L Partially shielded photodiode array
JP2001340324A (ja) * 2001-03-16 2001-12-11 Toshiba Medical System Co Ltd X線検出器及びそれを使ったx線診断装置
JP4723767B2 (ja) * 2001-09-13 2011-07-13 株式会社東芝 X線画像診断装置
JP2003209665A (ja) 2002-01-16 2003-07-25 Fuji Photo Film Co Ltd 画像読取方法および画像記録読取装置
EP1835539B1 (en) * 2002-08-09 2012-10-31 Hamamatsu Photonics K.K. Photodiode array and method of manufacturing the same
JP2008527345A (ja) 2005-01-06 2008-07-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 電流増幅器を実装された画素
CN101163988B (zh) * 2005-04-22 2012-06-13 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于tof-pet的数字硅光电倍增管
JP4555785B2 (ja) 2006-02-10 2010-10-06 シャープ株式会社 固定パターン雑音除去装置、固体撮像装置、電子機器、及び固定パターン雑音除去プログラム
US8154631B2 (en) 2006-09-25 2012-04-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Compensation of leakage current and residual signals for integrating detector based on direct X-ray conversion
US7829860B2 (en) * 2006-10-31 2010-11-09 Dxray, Inc. Photon counting imaging detector system
JP4462299B2 (ja) * 2007-07-17 2010-05-12 ソニー株式会社 撮像装置、および画像処理方法、並びにコンピュータ・プログラム
JP2009284424A (ja) 2008-05-26 2009-12-03 Sony Corp 撮像装置、撮像方法及びプログラム
WO2010007544A1 (en) * 2008-07-14 2010-01-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Anti-scatter grid
WO2010052676A2 (en) * 2008-11-10 2010-05-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Converter element for a radiation detector
WO2010070487A2 (en) * 2008-12-15 2010-06-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Temperature compensation circuit for silicon photomultipliers and other single photon counters
WO2010100574A2 (en) 2009-03-06 2010-09-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Advanced temperature compensation and control circuit for single photon counters
JP2012045044A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置
WO2012095710A2 (en) 2011-01-10 2012-07-19 Koninklijke Philips Electronics N.V. Detection device for detecting photons emitted by a radiation source
KR20140010553A (ko) * 2012-07-13 2014-01-27 삼성전자주식회사 픽셀 어레이, 이를 포함하는 이미지 센서, 및 상기 이미지 센서의 로컬 다크 전류 보상 방법
US9510792B2 (en) * 2013-05-17 2016-12-06 Toshiba Medical Systems Corporation Apparatus and method for collimating X-rays in spectral computer tomography imaging
JP2015021843A (ja) * 2013-07-19 2015-02-02 株式会社島津製作所 放射線検出器、放射線検出装置及び放射線分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
RU2734452C2 (ru) 2020-10-16
US20180321395A1 (en) 2018-11-08
JP6924755B2 (ja) 2021-08-25
CN108291973A (zh) 2018-07-17
CN108291973B (zh) 2022-09-09
EP3380870A1 (en) 2018-10-03
RU2018122963A3 (ru) 2020-02-10
JP2019504297A (ja) 2019-02-14
US10267928B2 (en) 2019-04-23
WO2017089363A1 (en) 2017-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2018122963A (ru) Компенсация темнового тока
JP2019504297A5 (ru)
EP2871496A3 (en) Radiation detector and computed tomography apparatus using the same
US9693743B2 (en) Photon counting CT apparatus
US9002084B2 (en) Systems and methods for summing signals from an imaging detector
JP6375054B2 (ja) 放射線撮像装置および放射線撮像方法
US10222489B2 (en) Pixel-design for use in a radiation detector
US10159450B2 (en) X-ray CT apparatus including a photon-counting detector, and an image processing apparatus and an image processing method for correcting detection signals detected by the photon-counting detector
KR20200024299A (ko) x-선 영상화 시스템에서 기하학적 오정렬 관리
US10064585B2 (en) Photon detecting element, photon detecting device, and radiation analyzing device
WO2011130210A3 (en) Exposure control using digital radiography detector
US20110311022A1 (en) Counting Detector And Computed Tomography System
JP2013034086A5 (ru)
WO2013126649A8 (en) X-ray imager with sparse detector array
US9482630B2 (en) Multiple-layered energy-integrating detector in a hybrid computed tomography scanner
WO2012098477A3 (en) Photon counting detector pixel having an anode including two or more alternatively selectable and separate sub-anodes
JP6518651B2 (ja) X線撮影装置
US11045153B2 (en) Device for acquiring pulse height spectrum, method for acquiring pulse height spectrum, program for acquiring pulse height spectrum, and radiation imaging apparatus
Du et al. A depth-of-interaction encoding PET detector module with dual-ended readout using large-area silicon photomultiplier arrays
CN107110980B (zh) 低成本的数字式pet设计
JP2013250108A (ja) 放射線撮像装置、および放射線源の分布画像の作成方法
US9086498B2 (en) Two-dimensional radiation display device and two-dimensional radiation display method
JP6355747B2 (ja) 放射線検出器、放射線撮像装置、コンピュータ断層撮影装置および放射線検出方法
RU2017106884A (ru) Детектор излучения прямого преобразования
JP2017058191A (ja) 放射線撮像装置