RU2014113560A - Источник плазмы - Google Patents

Источник плазмы Download PDF

Info

Publication number
RU2014113560A
RU2014113560A RU2014113560/07A RU2014113560A RU2014113560A RU 2014113560 A RU2014113560 A RU 2014113560A RU 2014113560/07 A RU2014113560/07 A RU 2014113560/07A RU 2014113560 A RU2014113560 A RU 2014113560A RU 2014113560 A RU2014113560 A RU 2014113560A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
filament
source
plasma
voltage
vacuum chamber
Prior art date
Application number
RU2014113560/07A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2622048C2 (ru
Inventor
Зигфрид КРАССНИТЦЕР
Даниэль ЛЕНДИ
Юрг ХАГМАНН
Original Assignee
Эрликон Трейдинг Аг, Трюббах
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Эрликон Трейдинг Аг, Трюббах filed Critical Эрликон Трейдинг Аг, Трюббах
Publication of RU2014113560A publication Critical patent/RU2014113560A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2622048C2 publication Critical patent/RU2622048C2/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/022Details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32018Glow discharge
    • H01J37/32045Circuits specially adapted for controlling the glow discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32055Arc discharge
    • H01J37/32064Circuits specially adapted for controlling the arc discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

1. Источник плазмы на вакуумной камере для генерирования плазмы в вакуумной камере, причем источник плазмы содержит корпус источника с вдающимся в вакуумную камеру отверстием, и в корпусе источника предусмотрена нить накала, к которой через электрические проводники, проведенные изолированно через корпус источника, прикладывается напряжение накала, так что нить накала нагревается посредством протекания тока, отличающийся тем, что корпус источника электрически изолированно от вакуумной камеры размещен на ней, и предусмотрены средства, которые позволяют измерять падение напряжения Uмежду электрическими проводниками и корпусом источника, и предусмотрены средства для регулирования напряжения накала, которые выполнены с возможностью обрабатывать измеренное значение Uв качестве сигнала регулирования.2. Источник плазмы по п. 1, отличающийся тем, что напряжение накала подается посредством по меньшей мере одного импульсного источника питания, причем предпочтительно напряжение разряда U, необходимое для разряда, прикладывается центрировано и противоположно нити накала.3. Устройство с множеством источников плазмы по п. 1 или 2, отличающееся тем, что источники плазмы окружены, соответственно, по меньшей мере одной катушкой источника, и источники плазмы окружены охватывающей несколько источников плазмы внешней катушкой, проходящей по высоте обработки.4. Устройство по п. 3, отличающееся тем, что напряжение накала подается посредством по меньшей мере одного импульсного источника питания, причем предпочтительно напряжение разряда U, необходимое для разряда, прикладывается центрировано и противоположно нити накала.5

Claims (7)

1. Источник плазмы на вакуумной камере для генерирования плазмы в вакуумной камере, причем источник плазмы содержит корпус источника с вдающимся в вакуумную камеру отверстием, и в корпусе источника предусмотрена нить накала, к которой через электрические проводники, проведенные изолированно через корпус источника, прикладывается напряжение накала, так что нить накала нагревается посредством протекания тока, отличающийся тем, что корпус источника электрически изолированно от вакуумной камеры размещен на ней, и предусмотрены средства, которые позволяют измерять падение напряжения Ufloat между электрическими проводниками и корпусом источника, и предусмотрены средства для регулирования напряжения накала, которые выполнены с возможностью обрабатывать измеренное значение Ufloat в качестве сигнала регулирования.
2. Источник плазмы по п. 1, отличающийся тем, что напряжение накала подается посредством по меньшей мере одного импульсного источника питания, причем предпочтительно напряжение разряда Udisc, необходимое для разряда, прикладывается центрировано и противоположно нити накала.
3. Устройство с множеством источников плазмы по п. 1 или 2, отличающееся тем, что источники плазмы окружены, соответственно, по меньшей мере одной катушкой источника, и источники плазмы окружены охватывающей несколько источников плазмы внешней катушкой, проходящей по высоте обработки.
4. Устройство по п. 3, отличающееся тем, что напряжение накала подается посредством по меньшей мере одного импульсного источника питания, причем предпочтительно напряжение разряда Udisc, необходимое для разряда, прикладывается центрировано и противоположно нити накала.
5. Способ генерирования плазмы в вакуумной камере, причем на вакуумной камере располагают источник плазмы с корпусом источника и нитью накала, и для поддержания плазмы корпус источника по отношению к вакуумной камере и нити накала поддерживают на плавающем электрическом потенциале, и причем для поддержания плазмы измеряют падение потенциала между нитью накала и корпусом источника, внутри которого горит плазма, и измеренное падение потенциала применяют для регулирования напряжения накала, приложенного к нити накала, причем напряжение накала приводит к созданию тока, нагревающего нить накала, и, тем самым, к электронной эмиссии.
6. Способ по п. 5, отличающийся тем, что напряжение накала регулируют таким образом, что падение потенциала между корпусом источника и нитью накала поддерживают по существу постоянным.
7. Способ по п. 5 или 6, отличающийся тем, что падение потенциала между корпусом источника и нитью накала поддерживают на значениях между 0 В и -10 В.
RU2014113560A 2011-09-08 2012-08-29 Источник плазмы RU2622048C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011112759A DE102011112759A1 (de) 2011-09-08 2011-09-08 Plasmaquelle
DE102011112759.7 2011-09-08
PCT/EP2012/003623 WO2013034258A1 (de) 2011-09-08 2012-08-29 Plasmaquelle

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2014113560A true RU2014113560A (ru) 2015-10-20
RU2622048C2 RU2622048C2 (ru) 2017-06-09

Family

ID=46980879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014113560A RU2622048C2 (ru) 2011-09-08 2012-08-29 Источник плазмы

Country Status (21)

Country Link
US (1) US9226379B2 (ru)
EP (1) EP2754167B1 (ru)
JP (1) JP6251676B2 (ru)
KR (1) KR102028767B1 (ru)
CN (1) CN103765551B (ru)
AR (1) AR087804A1 (ru)
BR (1) BR112014004654B1 (ru)
CA (1) CA2846679C (ru)
DE (1) DE102011112759A1 (ru)
DK (1) DK2754167T3 (ru)
ES (1) ES2704708T3 (ru)
HU (1) HUE040659T2 (ru)
IN (1) IN2014DN01967A (ru)
MX (1) MX340593B (ru)
MY (1) MY172720A (ru)
PL (1) PL2754167T3 (ru)
RU (1) RU2622048C2 (ru)
SG (1) SG2014013429A (ru)
SI (1) SI2754167T1 (ru)
TR (1) TR201900085T4 (ru)
WO (1) WO2013034258A1 (ru)

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3956666A (en) * 1975-01-27 1976-05-11 Ion Tech, Inc. Electron-bombardment ion sources
US4301391A (en) * 1979-04-26 1981-11-17 Hughes Aircraft Company Dual discharge plasma device
US4647818A (en) * 1984-04-16 1987-03-03 Sfe Technologies Nonthermionic hollow anode gas discharge electron beam source
JPS6343240A (ja) * 1986-08-07 1988-02-24 Seiko Instr & Electronics Ltd イオン源
JPH01267943A (ja) * 1988-04-19 1989-10-25 Agency Of Ind Science & Technol イオン源装置
US4910435A (en) * 1988-07-20 1990-03-20 American International Technologies, Inc. Remote ion source plasma electron gun
JPH0536370A (ja) * 1991-07-26 1993-02-12 Origin Electric Co Ltd イオン源における電力供給装置
JPH0574395A (ja) * 1991-09-18 1993-03-26 Hitachi Ltd 電子源システム及びその制御法
US5198677A (en) * 1991-10-11 1993-03-30 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Production of N+ ions from a multicusp ion beam apparatus
JPH05275047A (ja) * 1992-03-23 1993-10-22 Tokyo Electron Ltd イオン注入装置
CH687111A5 (de) * 1992-05-26 1996-09-13 Balzers Hochvakuum Verfahren zum Erzeugen einer Niederspannungsentladung, Vakuumbehandlungsanlage hierfuer sowie Anwendung des Verfahrens.
US5523652A (en) * 1994-09-26 1996-06-04 Eaton Corporation Microwave energized ion source for ion implantation
US6137231A (en) * 1996-09-10 2000-10-24 The Regents Of The University Of California Constricted glow discharge plasma source
US6388381B2 (en) * 1996-09-10 2002-05-14 The Regents Of The University Of California Constricted glow discharge plasma source
JP2965293B1 (ja) * 1998-11-10 1999-10-18 川崎重工業株式会社 電子ビーム励起プラズマ発生装置
JP3414380B2 (ja) * 2000-11-14 2003-06-09 日新電機株式会社 イオンビーム照射方法ならびに関連の方法および装置
US6454910B1 (en) * 2001-09-21 2002-09-24 Kaufman & Robinson, Inc. Ion-assisted magnetron deposition
US6724160B2 (en) * 2002-04-12 2004-04-20 Kaufman & Robinson, Inc. Ion-source neutralization with a hot-filament cathode-neutralizer
US7138768B2 (en) * 2002-05-23 2006-11-21 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Indirectly heated cathode ion source
US7411352B2 (en) * 2002-09-19 2008-08-12 Applied Process Technologies, Inc. Dual plasma beam sources and method
AU2003299015A1 (en) * 2002-09-19 2004-04-08 Applied Process Technologies, Inc. Beam plasma source
JP2004165034A (ja) * 2002-11-14 2004-06-10 Nissin Electric Co Ltd イオン源のフィラメント寿命予測方法およびイオン源装置
US7038389B2 (en) * 2003-05-02 2006-05-02 Applied Process Technologies, Inc. Magnetron plasma source
JP2004362901A (ja) * 2003-06-04 2004-12-24 Sharp Corp イオンドーピング装置、イオンドーピング方法および半導体装置
US7626180B2 (en) * 2006-11-28 2009-12-01 Showa Shinku Co., Ltd. Charged particle beam apparatus, method for controlling charged particle, and frequency adjustment apparatus
JP5311263B2 (ja) * 2007-11-01 2013-10-09 エリコン・トレーディング・アクチェンゲゼルシャフト,トリュープバッハ 被処理面を作製するための方法および真空プラズマ源
JP4463310B2 (ja) * 2008-03-07 2010-05-19 三井造船株式会社 イオン源
US7843138B2 (en) * 2008-06-11 2010-11-30 Kaufman & Robinson, Inc. Power supply for a hot-filament cathode

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140074288A (ko) 2014-06-17
CN103765551B (zh) 2016-07-06
JP2014526771A (ja) 2014-10-06
US20140217892A1 (en) 2014-08-07
PL2754167T3 (pl) 2019-03-29
KR102028767B1 (ko) 2019-10-04
CA2846679A1 (en) 2013-03-14
MY172720A (en) 2019-12-11
MX340593B (es) 2016-07-15
HUE040659T2 (hu) 2019-03-28
EP2754167B1 (de) 2018-10-10
DE102011112759A1 (de) 2013-03-14
WO2013034258A1 (de) 2013-03-14
SG2014013429A (en) 2014-07-30
TR201900085T4 (tr) 2019-02-21
BR112014004654B1 (pt) 2021-09-21
US9226379B2 (en) 2015-12-29
EP2754167A1 (de) 2014-07-16
RU2622048C2 (ru) 2017-06-09
ES2704708T3 (es) 2019-03-19
AR087804A1 (es) 2014-04-16
MX2014002777A (es) 2014-12-05
DK2754167T3 (en) 2019-01-21
CA2846679C (en) 2019-10-22
CN103765551A (zh) 2014-04-30
SI2754167T1 (sl) 2019-02-28
JP6251676B2 (ja) 2017-12-20
BR112014004654A2 (pt) 2017-03-28
IN2014DN01967A (ru) 2015-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104094377B (zh) 用于产生空心阴极电弧放电等离子体的装置
RU2012108082A (ru) Регулируемый осветительный блок с управляемой ориентацией и интенсивностью луча света
ATE550454T1 (de) Plasmaquelle mit segmentierter magnetron-kathode
MY153325A (en) Water control device using electromagnetics
JP6948316B2 (ja) 間接加熱陰極イオン源
PT2208216E (pt) Método para o funcionamento de uma fonte de arco e método para a deposição de camadas electricamente isolantes
WO2019042587A8 (de) Ansteuervorrichtung für eine röntgenröhre und verfahren zum betrieb einer röntgenröhre
RU2015137774A (ru) Устройство для ионной бомбардировки и способ его применения для очистки поверхности подложки
RU2010149265A (ru) Плазменный генератор и способ управления им
RU2013131244A (ru) Электролюминесцентное устройство с регулируемой цветовой точкой
EP2551888A3 (en) Electric discharge apparatus
RU2014113560A (ru) Источник плазмы
CN206271656U (zh) 霍尔离子源
PL427894A1 (pl) Sposób inaktywacji drobnoustrojów w powietrzu oraz sterylizator elektryczny
KR102228931B1 (ko) 기판처리장치 및 이를 이용한 기판처리방법
JP2012142171A (ja) 電界放出型x線発生装置
RU2638797C1 (ru) Газоразрядное устройство для обработки термочувствительных поверхностей
CN104916806B (zh) 稳压防断锂电池组
RU2561235C1 (ru) Датчик вакуума
RU2549171C1 (ru) Способ стабилизации параметров высоковольтных импульсов
JP2013073865A (ja) マイナスイオン発生装置
MY171336A (en) Device and method for injecting ions into a stream of air
KR101573268B1 (ko) 하이브리드 이온생성장치
RU57511U1 (ru) Ионный источник
Ploetz The Carbon Vapor Lamp

Legal Events

Date Code Title Description
HZ9A Changing address for correspondence with an applicant