RU2013128377A - Способ и устройство использования полуконтактного режима с фиксированным пиком силы для измерения физических свойств образца - Google Patents
Способ и устройство использования полуконтактного режима с фиксированным пиком силы для измерения физических свойств образца Download PDFInfo
- Publication number
- RU2013128377A RU2013128377A RU2013128377/28A RU2013128377A RU2013128377A RU 2013128377 A RU2013128377 A RU 2013128377A RU 2013128377/28 A RU2013128377/28 A RU 2013128377/28A RU 2013128377 A RU2013128377 A RU 2013128377A RU 2013128377 A RU2013128377 A RU 2013128377A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- probe
- signal
- sample
- time zone
- interest
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q10/00—Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
- G01Q10/04—Fine scanning or positioning
- G01Q10/06—Circuits or algorithms therefor
- G01Q10/065—Feedback mechanisms, i.e. wherein the signal for driving the probe is modified by a signal coming from the probe itself
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
- G01Q60/32—AC mode
Landscapes
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
1. Способ работы сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), содержащий:генерирование относительного, по существу, периодического перемещения между зондом и образцом;детектирование перемещения зонда;восстановление из продетектированного перемещения зонда, по существу, мгновенной силы между зондом и образцом при взаимодействии зонда и образца;определение интересующей временной зоны, связанной с восстановленной, по существу, мгновенной силой;генерирование сигнала возбуждения между зондом и образцом исинхронное измерение отклика зонда на этапе генерации в интересующей временной зоне в пределах периода взаимодействия между зондом и образцом.2. Способ по п.1, где в качестве интересующей временной зоны используют время контакта (p1-p2).3. Способ по п.1, где в качестве интересующей временной зоны используют либо зону ближайшего взаимодействия при приближении (p2-p4), либо зону ближайшего взаимодействия при удалении острия (p4-p5).4. Способ по п.1, где интересующую временную зону стробируют и в качестве сигнала возбуждения используют один из группы, включающей постоянный сигнал напряжения и синхронно стробированный сигнал напряжения, и в качестве сигнала, связанного с продетектированным перемещением зонда, используют один из группы, включающей сигнал тока и сигнал сопротивления в стробированной интересующей временной зоне.5. Способ по п.1, где интересующую временную зону стробируют и где в качестве сигнала возбуждения используют либо постоянный сигнал тепла, либо синхронно стробированный сигнал тепла, и в качестве сигнала, основанного на продетектриованном перемещении зонда, используют сигнал температуры зонда в строб�
Claims (15)
1. Способ работы сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), содержащий:
генерирование относительного, по существу, периодического перемещения между зондом и образцом;
детектирование перемещения зонда;
восстановление из продетектированного перемещения зонда, по существу, мгновенной силы между зондом и образцом при взаимодействии зонда и образца;
определение интересующей временной зоны, связанной с восстановленной, по существу, мгновенной силой;
генерирование сигнала возбуждения между зондом и образцом и
синхронное измерение отклика зонда на этапе генерации в интересующей временной зоне в пределах периода взаимодействия между зондом и образцом.
2. Способ по п.1, где в качестве интересующей временной зоны используют время контакта (p1-p2).
3. Способ по п.1, где в качестве интересующей временной зоны используют либо зону ближайшего взаимодействия при приближении (p2-p4), либо зону ближайшего взаимодействия при удалении острия (p4-p5).
4. Способ по п.1, где интересующую временную зону стробируют и в качестве сигнала возбуждения используют один из группы, включающей постоянный сигнал напряжения и синхронно стробированный сигнал напряжения, и в качестве сигнала, связанного с продетектированным перемещением зонда, используют один из группы, включающей сигнал тока и сигнал сопротивления в стробированной интересующей временной зоне.
5. Способ по п.1, где интересующую временную зону стробируют и где в качестве сигнала возбуждения используют либо постоянный сигнал тепла, либо синхронно стробированный сигнал тепла, и в качестве сигнала, основанного на продетектриованном перемещении зонда, используют сигнал температуры зонда в стробированной временной зоне.
6. Способ по п.1, где интересующую временную зону стробируют и где в качестве сигнала возбуждения используют либо постоянный сигнал микроволны, либо синхронно стробированный сигнал микроволны, и в качестве сигнала, основанного на продетектированном перемещении, используют сигнал сопротивления зонда в стробированной временной зоне.
7. Способ по п.1, где интересующую временную зону стробируют и где в качестве сигнала возбуждения используют либо постоянный оптический сигнал возбуждения, либо синхронно стробированный оптическый сигнал возбуждения, и в качестве сигнала, основанного на продетектированном перемещении зонда, используют сигнал оптической спектроскопии сгенерированный зондом в стробированной временной зоне.
8. Способ работы сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), содержащий:
генерирование относительного, по существу, периодического перемещения между зондом и образцом;
детектирование перемещения зонда;
восстановление из продетектированного перемещения зонда, по существу, мгновенной силы между зондом и образцом при взаимодействии зонда и образца;
определение интересующей временной зоны, связанной с восстановленной, по существу, мгновенной силой;
генерирование сигнала возбуждения между зондом и образцом; и
синхронное измерение отклика зонда на этапе генерации в интересующей временной зоне в пределах периода взаимодействия между зондом и образцом для обеспечения одновременного измерения физических свойств образца, как определено на этапе генерации, и механических свойств образца.
9. Способ работы сканирующего зондового микроскопа(СЗМ), содержащий:
обеспечение относительного перемещения между зондом и образцом; и
детектирование сброса зонда относительно образца во время контроля перемещения в режиме PFT.
10. Способ п.9, где этап детектирования включает определение того, когда сигнал ошибки обратной связи меньше порогового значения.
11. Способ по п.10, где этап определения включает использование либо среднеквадратичного отклонения, либо амплитуды спектра, по меньшей мере, на одной частоте сигнала ошибки обратной связи.
12. Способ по п.9, где этап детектирования включает определение того, когда, по меньшей мере, один из группы, включающей пиковую силу, силу адгезии и силу от пика к пику в период колебаний, имеет значение меньше порогового.
13. Способ работы сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), содержащий:
обеспечение относительного перемещения между зондом и образцом и контроль этого перемещения при помощи цепи обратной связи;
детектирование высокочастотного шума в сигнале, генерируемом цепью обратной связи;
сравнение шума с пределом допуска шума;
автоматическое определение сигнала регулятора усиления на основании этапа сравнения.
14. Способ по п.13, где этап контроля осуществляют при помощи режима PTF.
15. Способ работы сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), содержащий:
работу СЗМ в режиме PFT;
контроль параметра границы Z, связанного с приводом, который обеспечивает относительное перемещение между зондом и образцом и;
где этап контроля осуществляют автоматически во время этапа работы.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US41783710P | 2010-11-29 | 2010-11-29 | |
US61/417,837 | 2010-11-29 | ||
PCT/US2011/062467 WO2012078415A2 (en) | 2010-11-29 | 2011-11-29 | Method and apparatus of using peak force tapping mode to measure physical properties of a sample |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2013128377A true RU2013128377A (ru) | 2015-01-10 |
RU2571446C2 RU2571446C2 (ru) | 2015-12-20 |
Family
ID=46207652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2013128377/28A RU2571446C2 (ru) | 2010-11-29 | 2011-11-29 | Способ использования полуконтактного режима с фиксированным пиком силы для измерения физических свойств образца |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP2646838B1 (ru) |
JP (2) | JP6010040B2 (ru) |
CN (2) | CN103328984B (ru) |
RU (1) | RU2571446C2 (ru) |
WO (1) | WO2012078415A2 (ru) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013012941A1 (de) * | 2013-07-31 | 2015-02-05 | Johannes Kindt | Langreichweitiger Mehrachsen-Scanner im Mikroskop-Objektivformat |
US9739799B2 (en) * | 2014-02-28 | 2017-08-22 | Bruker Nano, Inc. | Method and apparatus to compensate for deflection artifacts in an atomic force microscope |
FR3071627B1 (fr) * | 2017-09-25 | 2022-02-25 | Concept Scient Instruments | Procede de commande d'une sonde |
EP3495827A1 (en) * | 2017-12-05 | 2019-06-12 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Atomic force microscopy system |
EP3743732A4 (en) * | 2018-01-22 | 2021-09-15 | Lehigh University | SYSTEM AND PROCEDURE FOR AN OPTICAL SCREENING FIELD MICROSCOPY WITH NON-TAPPING MODE |
EP4134680A1 (en) * | 2018-08-06 | 2023-02-15 | Bruker Nano, Inc. | Nanoscale dynamic mechanical analysis via atomic force microscopy |
CN109765406A (zh) * | 2019-01-28 | 2019-05-17 | 清华大学 | 一种测量凝胶颗粒的微观弹性模量的方法 |
CN109884347A (zh) * | 2019-02-25 | 2019-06-14 | 燕山大学 | Afm轻敲模式下延缓探针针尖磨损的方法 |
CN110763873B (zh) * | 2019-11-18 | 2021-04-13 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 基于原子力显微镜技术的峰值力轻敲与扭转共振复合方法 |
CN111398283A (zh) * | 2020-04-28 | 2020-07-10 | 中北大学 | 一种自动调节激光反射光路的系统 |
CN111965391B (zh) * | 2020-08-17 | 2023-07-14 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 一种表征纳米材料稳定性的方法 |
CN113092825B (zh) * | 2021-03-05 | 2022-12-30 | 中山大学 | 原子力显微镜系统及其电流检测方法 |
US20240151742A1 (en) * | 2021-03-15 | 2024-05-09 | Uti Limited Partnership | Transitional tapping atomic force microscopy for high-resolution imaging |
US11721519B2 (en) | 2021-08-05 | 2023-08-08 | Synchrotron Research, Inc. | Sparse sampling using a programmatically randomized signal modulating a carrier signal |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6095679A (en) * | 1996-04-22 | 2000-08-01 | Ta Instruments | Method and apparatus for performing localized thermal analysis and sub-surface imaging by scanning thermal microscopy |
US7550963B1 (en) * | 1996-09-20 | 2009-06-23 | The Regents Of The University Of California | Analytical scanning evanescent microwave microscope and control stage |
JP3278046B2 (ja) * | 1997-07-29 | 2002-04-30 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 3次元走査プローブ顕微鏡 |
JPH11160333A (ja) * | 1997-11-25 | 1999-06-18 | Jeol Ltd | 走査プローブ顕微鏡 |
JPH11183414A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-07-09 | Nikon Corp | 走査型熱伝導分布計測装置 |
JPH11352135A (ja) * | 1998-06-04 | 1999-12-24 | Seiko Instruments Inc | 原子間力顕微鏡 |
US6189374B1 (en) * | 1999-03-29 | 2001-02-20 | Nanodevices, Inc. | Active probe for an atomic force microscope and method of use thereof |
JP3536973B2 (ja) * | 2000-04-20 | 2004-06-14 | 日本電気株式会社 | 同軸プローブおよび該同軸プローブを用いた走査型マイクロ波顕微鏡 |
US20020021139A1 (en) * | 2000-06-16 | 2002-02-21 | The Penn State Research Foundation | Molecular probe station |
US20070082459A1 (en) * | 2001-09-12 | 2007-04-12 | Faris Sadeg M | Probes, methods of making probes and applications of probes |
JP2003227788A (ja) * | 2002-02-05 | 2003-08-15 | Inst Of Physical & Chemical Res | 走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 |
JP2004170281A (ja) * | 2002-11-21 | 2004-06-17 | Hitachi Ltd | 走査型局所電流計測装置および該計測装置を備えた薄膜デバイス製造装置 |
US7448798B1 (en) * | 2003-06-18 | 2008-11-11 | Veeco Instruments Inc. | Scanning thermal probe microscope |
KR101195729B1 (ko) * | 2003-07-15 | 2012-10-29 | 더 유니버시티 오브 브리스톨 | 원자력 현미경용 탐침 및 그 사용 방법 |
WO2006001108A1 (ja) * | 2004-06-25 | 2006-01-05 | Japan Science And Technology Agency | 探針装置 |
JP2006258429A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Sii Nanotechnology Inc | 走査型プローブ顕微鏡 |
US20060260388A1 (en) * | 2005-04-26 | 2006-11-23 | Chanmin Su | Probe and method for a scanning probe microscope |
KR100869046B1 (ko) * | 2007-02-09 | 2008-11-18 | 한국기계연구원 | Afm 프로브 |
US8402819B2 (en) * | 2007-05-15 | 2013-03-26 | Anasys Instruments, Inc. | High frequency deflection measurement of IR absorption |
US7845215B2 (en) * | 2007-05-31 | 2010-12-07 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Resonant difference-frequency atomic force ultrasonic microscope |
US7770231B2 (en) * | 2007-08-02 | 2010-08-03 | Veeco Instruments, Inc. | Fast-scanning SPM and method of operating same |
US7977636B2 (en) * | 2008-08-12 | 2011-07-12 | Anasys Instruments, Inc. | Infrared imaging using thermal radiation from a scanning probe tip |
JP5270280B2 (ja) * | 2008-09-19 | 2013-08-21 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム |
KR101697993B1 (ko) * | 2008-11-13 | 2017-01-19 | 브루커 나노, 인코퍼레이션. | 탐침형 원자 현미경 작동 방법 및 장치 |
-
2011
- 2011-11-29 CN CN201180064557.6A patent/CN103328984B/zh active Active
- 2011-11-29 RU RU2013128377/28A patent/RU2571446C2/ru active
- 2011-11-29 JP JP2013542112A patent/JP6010040B2/ja active Active
- 2011-11-29 CN CN201510603771.4A patent/CN105319396B/zh active Active
- 2011-11-29 EP EP11846886.7A patent/EP2646838B1/en active Active
- 2011-11-29 WO PCT/US2011/062467 patent/WO2012078415A2/en unknown
-
2016
- 2016-09-15 JP JP2016180403A patent/JP6374461B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6010040B2 (ja) | 2016-10-19 |
JP2013544368A (ja) | 2013-12-12 |
JP6374461B2 (ja) | 2018-08-15 |
CN105319396B (zh) | 2019-06-04 |
WO2012078415A2 (en) | 2012-06-14 |
EP2646838A4 (en) | 2014-04-23 |
CN103328984B (zh) | 2015-11-25 |
JP2016224070A (ja) | 2016-12-28 |
CN103328984A (zh) | 2013-09-25 |
EP2646838B1 (en) | 2019-11-27 |
EP2646838A2 (en) | 2013-10-09 |
RU2571446C2 (ru) | 2015-12-20 |
WO2012078415A3 (en) | 2013-04-04 |
CN105319396A (zh) | 2016-02-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2013128377A (ru) | Способ и устройство использования полуконтактного режима с фиксированным пиком силы для измерения физических свойств образца | |
US20160033548A1 (en) | Inspection method and its apparatus for thermal assist type magnetic head element | |
US8798950B2 (en) | System and method for ultrasonic transducer control | |
EP2284987B1 (en) | Method and device for adjusting the frequency of a drive current of an electric motor | |
CN107015167B (zh) | 一种基于检波技术的开关电源纹波电压检测方法 | |
JP5815258B2 (ja) | カンチレバーの振動特性測定方法 | |
JP2013544368A5 (ru) | ||
CN101438130A (zh) | 表面测量探头 | |
CN101839924A (zh) | 原子力声学显微镜悬臂梁接触谐振频率追踪系统 | |
JP2011085483A (ja) | インピーダンス測定装置 | |
KR20130017532A (ko) | 초음파 피로시험장치 | |
JP4021298B2 (ja) | サンプリング走査プローブ顕微鏡および走査方法 | |
US20150369655A1 (en) | Sensor signal detector | |
JP5892116B2 (ja) | 加振装置 | |
US20220023967A1 (en) | Device for determining a status of an ultrasonic welding process | |
JP2009222520A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡 | |
US9354248B2 (en) | Method for measuring vibration characteristic of cantilever | |
JP6706519B2 (ja) | 走査プローブ顕微鏡、走査プローブ顕微鏡の測定レンジ調整方法及び測定レンジ調整プログラム | |
JP2009118085A (ja) | 共振点追尾型駆動装置 | |
JP2016023952A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP2009281904A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP6225526B2 (ja) | 加振装置 | |
JP6160321B2 (ja) | 加振装置 | |
JP2003241109A (ja) | マイクロマニピュレータ | |
WO2015190537A1 (ja) | 試験装置および試験方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
HE9A | Changing address for correspondence with an applicant |