KR980005904A - 반도체 소자의 단차 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 단차 형성방법 Download PDF

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thermal oxide
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임현우
김석식
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김광호
삼성전자 주식회사
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

반도체 소자의 단차 형성방법에 대해 기재되어 있다. 이는, 반도체 기판에 부분적으로 불순물 이온을 주입하는 공정, 불순물 이온이 주입되어 있는 반도체 기판의 표면을 열산화하여 열산화막을 형성한 후 계속해서 불순물 이온을 확산시키는 웰 드라이브 인을 행하여 웰을 형성하는 공정 및 열산화막을 제거하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 본 발명에 의하면, 전체 공정 시간을 줄일 수 있을뿐만아니라 공정을 단순화할 수 있다.

Description

반도체 소자의 단차 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 3a 도 및 3d 도는 초기공정에서 반도체 기판에 미리 단차를 형성하는 본 발명의 방법을 설명하기 위해 도시한 단면도들이다.

Claims (1)

  1. 반도체 기판에 부분적으로 불순물 이온을 주입하는 공정; 상기 불순물 이온이 주입되어 있는 반도체 기판의 표면을 열산화하여 열산화막을 형성한 후, 계속해서 상기 불순물 이온을 확산시키는 웰 드라이브 인을 행하여 웰을 형성하는 공정; 및 상기 열산화막을 제거하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 단차 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960023973A 1996-06-26 1996-06-26 반도체 소자의 단차 형성방법 KR980005904A (ko)

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