KR970702486A - 강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인 검출방법(method for detecting cause of abnormal portion present on surface of steel product) - Google Patents
강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인 검출방법(method for detecting cause of abnormal portion present on surface of steel product)Info
- Publication number
- KR970702486A KR970702486A KR1019960705346A KR19960705346A KR970702486A KR 970702486 A KR970702486 A KR 970702486A KR 1019960705346 A KR1019960705346 A KR 1019960705346A KR 19960705346 A KR19960705346 A KR 19960705346A KR 970702486 A KR970702486 A KR 970702486A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- steel
- pulsed laser
- irradiation point
- abnormality
- sample
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/20—Metals
- G01N33/202—Constituents thereof
- G01N33/2022—Non-metallic constituents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/20—Metals
- G01N33/204—Structure thereof, e.g. crystal structure
- G01N33/2045—Defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
- G01N2001/045—Laser ablation; Microwave vaporisation
Abstract
아래의 스텝으로 된 강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인 검출방법이 제공된다. 펄스 레이저광(pulsed laser beam)을 집광(集光)하고, 이렇게 집광된 상기 펄스 레이저광을 강재 표면상에 존재하는 이상부 및 그 주변에 조사하고, 상기 강재의 표면상의 상기 펄스 레이저광의 조사점에서의 상기 펄스 레이저광의 펄스 에너지 밀도를 10KW/㎟로부터 100MW/㎟까지의 범위내로 한정하고; 상기 펄스 레이저광의 상기 조사점을 상기 이상부 및 그 주변을 포함하는 영역에 걸쳐 지그재그 이동(zigzag-move) 시켜 상기 조사점의 상기 지그재그 이동 영역내에서의 상기 강재의 표면부분을 증발시키고, 수득된 증발물을 미립자화함으로써 상기 강재 표면상의 상기 이상부 및 그 주변의 시료를 미립자 형태로 채취하고; 이렇게 하여 채취된 미립자 형태의 상기 시료의 성분조성을 연속적으로 분석하여 상기 강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인을 검출한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 펄스 레이저광의 조사 영역의 폭이 작은 경우의 조사영역의 폭과 분산되어 존재하는 기인물의 위치사이의 관계를 나타내는 설명도,
제2도는 펄스 레이저광의 조사 영역의 폭이 큰 경우의 조사영역의 폭과 분산되어 존재하는 기인물의 위치 사이의 관계를 나타내는 설명도,
제3도는 강재의 표면 부분의 시료의 채취 깊이가 강재의 표면으로부터 그내부를 향해 30㎛인 경우의 검출강도 곡선의 예를 나타내는 그래프,
제4도는 강재의 표면 부분의 시료의 재취 깊이가 강재의 표면으로부터 그 내부를 향해 10μm인 경우의 검출강도 곡선의 예를 나타내는 그래프.
Claims (4)
- 아래의 스텝으로 된 강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인 검출방법; 펄스 레이저광을 집광(集光)하고, 이렇게 집광된 상기 펄스 레이저광을 강재 표면상에 존재하는 이상부 및 그 주변에 조사하고, 상기 강재의 표면상의 상기 펄스 레이저광의 조사점에서의 상기 펄스 레이저광의 펄스 에너지 일도를 10KW/㎟로부터 100MW/㎟까지의 범위내로 한정하고; 상기 펄스 레이저광의 상기 조사점을 상기 이상부 및 그 주변을 포함하는 영역에 걸쳐 지그재그 이동시켜 상기 조사점의 상기 지그재그 이동 영역내에서의 상기 강재의 표면부분을 증발시키고, 수득된 증발물을 미립자화함으로써 상기 강재 표면상의 상기 이상부 및 그 주변의 시료를 미립자형태로 채취하고; 이렇게 하여 채취된 미립자 형태의 상기 시료의 성분조성을 연속적으로 분석하여 상기 강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인을 검출한다.
- 제1항에 있어서, 상기 펄스 레이저광의 상기 조사점의 상기 지그재그 이동 영역은 상기 조사점의 상기 지그재그 이동의 진폭에 의해 형성되는 2㎜ 이상의 폭을 짧은 변으로 하고, 상기 조사점의 상기 지그재그 이동이 진행하는 거리를 긴 변으로 하는 직사각형으로 되어 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 펄스 레이저광의 조사점의 상기 지그재그 이동범위내에서의 상기 시료의 채취 깊이는 상기 강재의 표면으로 부터 그 내부를 향해 20∼200㎛의 범위내인 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 시료의 성분 조성의 상기 연속적 분석은 상기 시료의 발광 스펙트럼의 강도를 미리 설정한 기준이 되는 성분의 발광 스펙트럼의 강도와 비교함으로써 실시하는 방법.※ 참고사항 ; 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17023995A JP3166569B2 (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | 鋼材表面に生じた異常部の発生原因検出方法 |
JP95-170239 | 1995-06-12 | ||
PCT/JP1996/001585 WO1996042005A1 (fr) | 1995-06-12 | 1996-06-12 | Procede permettant de determiner la cause de defauts presents sur une surface d'acier |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970702486A true KR970702486A (ko) | 1997-05-13 |
KR0165946B1 KR0165946B1 (ko) | 1999-03-30 |
Family
ID=15901255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960705346A KR0165946B1 (ko) | 1995-06-12 | 1996-06-12 | 강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인 검출방법 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5784153A (ko) |
EP (1) | EP0780677B1 (ko) |
JP (1) | JP3166569B2 (ko) |
KR (1) | KR0165946B1 (ko) |
CN (1) | CN1099586C (ko) |
DE (1) | DE69629653T2 (ko) |
WO (1) | WO1996042005A1 (ko) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1035410A4 (en) * | 1998-04-28 | 2001-08-22 | Kawasaki Steel Co | METHOD FOR ANALYZING OXYGEN AND OXIDES IN METALLIC SUBSTANCES |
US7027142B2 (en) * | 2002-05-06 | 2006-04-11 | Applied Materials, Israel, Ltd. | Optical technique for detecting buried defects in opaque films |
EP1582862A1 (de) * | 2004-04-01 | 2005-10-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Diagnose eines betriebsbeanspruchten Bauteils |
JP4630978B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2011-02-09 | 福井県 | 多層薄膜の分析方法ならびに装置 |
DE102010032792A1 (de) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | Hüttenwerke Krupp Mannesmann GmbH | Verfahren zur Reinheitsgradbestimmung von Metallen |
CN103778445B (zh) * | 2014-01-21 | 2017-02-01 | 武汉科技大学 | 一种冷轧带钢表面缺陷原因分析方法及系统 |
KR101529303B1 (ko) | 2014-07-16 | 2015-06-17 | 탁태문 | 비데 장치 |
RU2579546C1 (ru) * | 2014-12-30 | 2016-04-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ивановский государственный химико-технологический университет" (ИГХТУ) | Способ обнаружения механических дефектов на поверхности твердых материалов |
KR102331569B1 (ko) * | 2020-04-03 | 2021-11-25 | 송순영 | 이동형 사용자 기립 보조 장치 |
KR102337775B1 (ko) * | 2020-04-03 | 2021-12-09 | 전남대학교산학협력단 | 노인 넘어짐 예방을 위한 화장실 자세 보조 및 응급알람 시스템 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3602595A (en) * | 1968-05-20 | 1971-08-31 | Applied Res Lab | Method of and apparatus for generating aerosols by electric arc |
US3791743A (en) * | 1973-03-21 | 1974-02-12 | Bethlehem Steel Corp | Portable flame photometer and sampling probe |
GB8322709D0 (en) * | 1983-08-24 | 1983-09-28 | British Steel Corp | Analysis of materials |
US4615225A (en) * | 1985-03-13 | 1986-10-07 | Allied Corporation | In-situ analysis of a liquid conductive material |
JPH0629857B2 (ja) * | 1986-01-13 | 1994-04-20 | 新日本製鐵株式会社 | 鋼材の表面疵要因判定法 |
JPH03118440A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-21 | Yokogawa Electric Corp | レーザ装置を有する元素分析装置 |
DE4004627C2 (de) * | 1990-02-15 | 1994-03-31 | Krupp Ag Hoesch Krupp | Verfahren zur Bestimmung von Materialeigenschaften polymerer Werkstoffe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
JP2870364B2 (ja) * | 1993-06-29 | 1999-03-17 | 日本鋼管株式会社 | レーザー気化分析方法及び装置 |
US5537206A (en) * | 1993-11-02 | 1996-07-16 | Nkk Corporation | Method for analyzing steel and apparatus therefor |
JP3039231B2 (ja) * | 1993-11-02 | 2000-05-08 | 日本鋼管株式会社 | 鋼成分迅速分析方法及び装置 |
-
1995
- 1995-06-12 JP JP17023995A patent/JP3166569B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-06-12 CN CN96190161A patent/CN1099586C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-12 KR KR1019960705346A patent/KR0165946B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-06-12 EP EP96917647A patent/EP0780677B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-12 DE DE69629653T patent/DE69629653T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-12 WO PCT/JP1996/001585 patent/WO1996042005A1/ja active IP Right Grant
- 1996-06-12 US US08/722,276 patent/US5784153A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3166569B2 (ja) | 2001-05-14 |
EP0780677A1 (en) | 1997-06-25 |
CN1099586C (zh) | 2003-01-22 |
JPH08338792A (ja) | 1996-12-24 |
DE69629653D1 (de) | 2003-10-02 |
US5784153A (en) | 1998-07-21 |
EP0780677A4 (en) | 2000-01-05 |
DE69629653T2 (de) | 2004-06-03 |
CN1150838A (zh) | 1997-05-28 |
KR0165946B1 (ko) | 1999-03-30 |
WO1996042005A1 (fr) | 1996-12-27 |
EP0780677B1 (en) | 2003-08-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2170582B1 (de) | Verfahren zur herstellung eines mikrofluiden systems auf einer polymeroberfläche | |
US20050127049A1 (en) | Method for material processing and/or material analysis using lasers | |
KR970702486A (ko) | 강재의 표면상에 존재하는 이상부의 원인 검출방법(method for detecting cause of abnormal portion present on surface of steel product) | |
ATE242677T1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur energiestrahlbearbeitung | |
KR960002723A (ko) | 시료작성방법 및 그 장치 | |
US20070030492A1 (en) | Apparatus and method for sizing nanoparticles based on optical forces and interferometric field detection | |
DE69212333D1 (de) | Methode und system zur kontrolle eines materialabtragprozesses; wobei man die spektralausstrahlung analysiert | |
ATE390627T1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur oberflächenplasmonenmikroskopie | |
KR950014870A (ko) | 강성분의 분석방법 및 그 장치 | |
DE19601923C1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen organischer Substanzen | |
KR930014870A (ko) | 집속이온빔을 이용한 집적회로의 동작분석방법 및 그 장치 | |
EP0674965B1 (de) | Verfahren zur Überwachung der Einschweisstiefe in Werkstücken beim Laserstrahlschweissen | |
EP0373599A3 (en) | Method of determining the position of electron beam irradiation and device used in such method | |
KR950002910A (ko) | 레이저조사장치 | |
Kawazumi et al. | Resonant cell laser-based photoacoustic densitometer for thin-layer chromatography | |
JPH07159299A (ja) | 鋼材表面の異常原因判定分析方法 | |
Kolenic et al. | The influence of electron beam focusing on the shape and depth of the weld | |
ATE130433T1 (de) | Anordnung zur thermowellenanalyse von schichtsystemen. | |
KR950025951A (ko) | 레이저조사장치 | |
SU1150523A1 (ru) | Способ оценки оптической стойкости твердых прозрачных материалов | |
Zhang et al. | Studies of laser induced-breakdown spectroscopy of holly leaves | |
Miyamoto et al. | Properties of the plasma plume in CO sub 2 laser welding of thin sheets.(An analytical approach to laser welding. I.)(MITS WP 1847) | |
Miao et al. | Bio-molecular SEIRAS Sensor with Passive Molecule Trapping Functionality | |
Kojima et al. | Analysis of laser welding phenomena based on image processing of high-speed photographs | |
WO2002014837A3 (en) | Diamond detection using coherent anti-stokes raman spectroscopy |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130903 Year of fee payment: 16 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140901 Year of fee payment: 17 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |