KR970076878A - 동적 메모리 장치의 테스트 회로 - Google Patents
동적 메모리 장치의 테스트 회로 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 동적 메모리 장치의 테스트 회로를 공개한다. 그 회로는 입력되는 어드레스 신호를 스크램블링하기 위한 어드레스 스크램블링 수단, 입력되는 데이타를 스크램블링하기 위한 데이타 스크램블링 수단, 및 상기 어드레스 스크램블링 수단으로부터 출력되는 어드레스에 상기 데이타 스크램블링 수단으로부터의 데이타를 저정하기 위한 메모리 셀 어레이를 구비한 동적 메모리 장치; 및 어드레스를 순차적으로 계수하기 위한 어드레스 계수수단, 상기 어드레스 계수수단으로부터의 어드레스를 디스크램블링하여 상기 입력되는 어드레스 신호를 발생하기 위한 어드레스 디스크램블링 수단, 데이타를 발생하기 위한 데이터 발생수단, 상기 데이타 발생수단으로부터의 데이타를 디스크램블링하여 상기 입력되는 데이타를 발생하기 위한 데이타 디스크램블링 수단, 및 외부로부터의 비스트 인에이블 신호에 의해서 인에이블되고 클럭신호에 응답하여 동작하며, 상기 어드레스 계수수단, 디스크램블링 수단, 데이타 발생수단 및 상기 디스크램블링 수단의 동작을 제어하기 위한 비스트 제어 수단을 구비한 비스트 회로로 구성되어 있다. 따라서 동적 메모리 장치를 효과적으로 테스트할 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명의 동적 반도체 메모리 장치의 테스트 회로의 블럭도, 제5도는 본 발명의 동적 반도체 메모리 장치의 테스트 회로의 블럭도.
Claims (1)
- 입력되는 어드레스 신호를 스크램블링하기 위한 어드레스 스크램블링 수단; 입력되는 데이타를 스크램블링하기 위한 데이타 스크램블링 수단; 및 상기 어드레스 스크램블링 수단으로부터 출력되는 어드레스에 상기 데이타 스크램블링 수단으로부터의 데이타를 저장하기 위한 메모리 셀 어레이를 구비한 동적 메모리 장치; 및 어드레스를 순차적으로 계수하기 위한 어드레스 계수수단; 상기 어드레스 계수수단으로부터의 어드레스를 디스크램블링하여 상기 입력되는 어드레스 신호를 발생하기 위한 어드레스 디스크램블링 수단; 데이타를 발생하기 위한 데이타 발생수단; 상기 데이타 발생수단으로부터의 데이타를 디스크램블링하여 상기 입력되는 데이타를 발생하기 위한 데이타 디스크램블링 수단; 및 외부로부터의 비스트 인에이블 신호에 의해서 인에이블되고 클럭신호에 응답하여 동작하며, 상기 어드레스 계수수단, 디스크램블링 수단, 데이타 발생수단 및 상기 디스크램블링 수단의 동작을 제어하기 위한 비스트 제어수단을 구비한 비스트 회로를 구비한 것을 특징으로 하는 동적 메모리 장치의 테스트 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960016305A KR100212135B1 (ko) | 1996-05-15 | 1996-05-15 | 동적 메모리 장치의 테스트 회로 |
US08/850,807 US5844914A (en) | 1996-05-15 | 1997-05-02 | Test circuit and method for refresh and descrambling in an integrated memory circuit |
JP11579097A JP3699245B2 (ja) | 1996-05-15 | 1997-05-06 | テスト回路を有する半導体集積回路及びテスト回路を有する半導体集積回路のテスト方法 |
CN97113300A CN1106648C (zh) | 1996-05-15 | 1997-05-15 | 带有测试电路的半导体集成电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960016305A KR100212135B1 (ko) | 1996-05-15 | 1996-05-15 | 동적 메모리 장치의 테스트 회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR970076878A true KR970076878A (ko) | 1997-12-12 |
KR100212135B1 KR100212135B1 (ko) | 1999-08-02 |
Family
ID=19458837
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960016305A KR100212135B1 (ko) | 1996-05-15 | 1996-05-15 | 동적 메모리 장치의 테스트 회로 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100212135B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11024352B2 (en) | 2012-04-10 | 2021-06-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system for access concentration decrease management and access concentration decrease method |
KR102357748B1 (ko) | 2017-10-31 | 2022-02-04 | 주식회사 디지털산업기전 | 유압모터를 이용한 추진모듈을 가진 선박 |
-
1996
- 1996-05-15 KR KR1019960016305A patent/KR100212135B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR100212135B1 (ko) | 1999-08-02 |
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