KR970076262A - 번인장치 - Google Patents

번인장치 Download PDF

Info

Publication number
KR970076262A
KR970076262A KR1019970019151A KR19970019151A KR970076262A KR 970076262 A KR970076262 A KR 970076262A KR 1019970019151 A KR1019970019151 A KR 1019970019151A KR 19970019151 A KR19970019151 A KR 19970019151A KR 970076262 A KR970076262 A KR 970076262A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
circuit
input
power supply
output
Prior art date
Application number
KR1019970019151A
Other languages
English (en)
Inventor
다카시 기무라
Original Assignee
하나와 요시카즈
닛산지도샤 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 하나와 요시카즈, 닛산지도샤 가부시키가이샤 filed Critical 하나와 요시카즈
Publication of KR970076262A publication Critical patent/KR970076262A/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2879—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • G01R31/14—Circuits therefor, e.g. for generating test voltages, sensing circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/28—Provision in measuring instruments for reference values, e.g. standard voltage, standard waveform
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/30—Structural combination of electric measuring instruments with basic electronic circuits, e.g. with amplifier

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Safety Devices In Control Systems (AREA)

Abstract

본 발명은 외부통신회로는 직렬 통신을 통해 고 전압 스위칭명령 및 정상전압 스위칭명령을 전송한다. CPU는 고 전압 스위칭명령이 외부통신회로로부터 입력될 때 스위칭 신호를 출력하며, 상기 외부통신회로로부터 정상전압 스위칭명령이 입력될 때 상기 스위칭신호의 출력을 종료한다. 전압조정기는 상기 CPU로부터 스위칭 신호가 입력되지 않은 경우 온－보드 상태로 반도체집적회로에 정상전원전압을 공급하며, 스위칭신호가 입력되는 경우 상기 반도체집적회로에 정상 전원전압보다 높은 고 전원전압을 공급한다.

Description

번인장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 번인 장치(burn－in apparatus)에 대한 블록도.
제2도는 본 발명의 제1실시예에서의 전압조정기 등의 회고구성을 도시하는 회로도.
제3도는 본 발명의 제1실시예에 따른 번－인장치의 동작을 나타내는 플로우챠트.

Claims (10)

  1. 온 보드 상태의 제어회로를 구비하는 반도체 집적회로; 직렬 통신을 위해 고전압절환명령 및 정상전압절환명령을 전송하는 외부 통신회로; 상기 외부 통신회로로부터 고전압절환명령이 입력되는 경우 스위칭신호를 출력하고, 정상전압스위칭명령이 상기 외부 통신회로로부터 입력되는 경우 상기 스위칭신호의 출력을 종료하는 상기 제어회로; 및 상기 제어회로로부터 스위칭신호가 입력되지 않는 경우 온보드 상태에서 상기 반도체 집적회로에 정상전원전압을 공급하며 상기 제어회로로부터 스위칭신호가 입력되는 경우 반도체 집적회로에 정상전원전압 이상의 고 전원전압을 공급하는 전압조정기를 구비하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 전압조정기는 기준전압을 출력하는 기준전압원 및 상기 스위칭신호가 입력되지 않는 경우 상기 기준전압으로부터 정상 전원전압을 발생하고 스위칭신호가 입력되는 경우 상기 기준전압으로부터 정상 전원전압 이상의 고 전원전압을 발생하는 전압발생회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 전압발생회로는 스위칭신호가 입력되지 않는 경우의 출력에 대해 제1분압비로 출력 전원전압을 분압하며, 스위칭신호가 입력은 경우의 출력에 대해 제2분압비로 출력전원전압을 분압하는 분압회로, 제1 및 제2입력단자를 구비하되 상기 제1입력단자로 기준전압이 입력되며, 상기 제2입력단자로 전압구동회로의 출력전압이 입력되게 된 궤환증폭기 및 상기 궤환증폭기의 출력신호를 입력하고 상기 출력전원전압을 조정해서 상기 기준전압과 상기 분압회로의 출력전압을 동일 진폭으로 하는 전압제어회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 전압조정기로부터 공급되는 전원전압을 정상전원전압 이상인 고 전원전압으로의 절환을 검출하는 전압감시회로를 구비하는 것을 특정으로 하는 번인장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 전압조정기는 스위칭신호가 입력되지 않는 경우 제1기준전압을 출력하고 스위칭신호가 입력되는 경우 제2기준전압을 출력하는 기준전압원 및 상기 제1기준전압으로부터 정상 전원전압을 발생하며, 상기 제2기준전압으로부터 정상 전원전압 이상의 고 전원전압을 발생하는 전압발생회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 전압발생회로는 출력에 대한 소정의 분압비로 출력전원전압을 구동하는 분압회로, 제1 및 제2입력단자를 가지되, 상기 제1기준전압 또는 제2기준전압이 제1입력단자에 입력되며, 상기 분압회로의 출력전압이 제2입력단자에 입력되는 궤환증폭기, 및 상기 궤환증폭기의 출력신호를 입력하고, 상기 출력전원전압을 조정해서 상기 제1기준전압 또는 제2기준전압 및 상기 분압회로의 출력전압을 동일 진폭으로 하는 전압제어회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  7. 제3항에 있어서, 기준펄스를 발생하는 기준펄스발생기 및 상기 기준펄스와 에러로서의 모니터 펄스 사이의 차를 검출하는 에러검출회로를 추가로 구비하며, 상기 전압조정기는 상기 분압회로의 출력전압 에러를 부가하는 가산증폭기를 구비하며, 상기 제어회로를 상기 모니터펄스를 출력하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 제어회로는 상기 스위칭신호를 출력하는 동시에 제어신호를 출력하며, 상기 에러검출회로는 상기 제어신호가 입력되는 경우 상기 에러를 출력하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  9. 제6항에 있어서, 기준펄스를 발생하는 기준펄스발생기 및 상기 기준펄스와 에러로서의 모니터 펄스 사이의 차를 검출하는 에러검출회로를 추가로 구비하며, 상기 전압보정기는 상기 분압회로의 출력전압에 에러를 부가하는 가산증폭기를 구비하며, 상기 제어회로는 상기 모니터펄스를 출력하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 제어회로는 상기 스위칭신호를 출력하는 동시에 제어신호를 출력하며, 상기 에러 검출회로는 상기 제어신호가 입력되는 경우 상기 에러를 출력하는 것을 특징으로 하는 번인장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970019151A 1996-05-17 1997-05-17 번인장치 KR970076262A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12361496A JPH09304481A (ja) 1996-05-17 1996-05-17 オンボードスクリーニング装置
JP96-123614 1996-05-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970076262A true KR970076262A (ko) 1997-12-12

Family

ID=14864961

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970019151A KR970076262A (ko) 1996-05-17 1997-05-17 번인장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5999007A (ko)
JP (1) JPH09304481A (ko)
KR (1) KR970076262A (ko)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000174081A (ja) * 1998-12-07 2000-06-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体チップのバーンイン試験方法、バーンイン試験装置及びバーンイン試験方法に使用する半導体チップ
JP3585401B2 (ja) 1999-08-12 2004-11-04 株式会社日立製作所 エンジン制御装置
JP2003046453A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Denso Corp 電源ｉｃ
US7802141B2 (en) * 2004-03-05 2010-09-21 Denso Corporation Semiconductor device having one-chip microcomputer and over-voltage application testing method
JP2005257527A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Denso Corp 半導体装置
JP2006019663A (ja) * 2004-07-05 2006-01-19 Denso Corp ベアチップセット、ベアチップ検査方法、ベアチップ、およびベアチップ搭載回路基板
JP4744945B2 (ja) * 2004-07-27 2011-08-10 ローム株式会社 レギュレータ回路
US20060132106A1 (en) * 2004-11-24 2006-06-22 Michael Lucas System and method for regenerative burn-in
JP5004418B2 (ja) * 2004-12-17 2012-08-22 株式会社リコー 半導体装置のテスト回路
KR100708480B1 (ko) * 2005-10-20 2007-04-18 삼성전자주식회사 고압전원장치 및 그 고압전원 제어방법
US7915902B2 (en) * 2006-10-18 2011-03-29 Mongtage Technology Group Limited Dynamic burn-in systems and apparatuses
JP5289580B2 (ja) * 2009-10-20 2013-09-11 三菱電機株式会社 半導体装置
US9152517B2 (en) 2011-04-21 2015-10-06 International Business Machines Corporation Programmable active thermal control
JP2016126359A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 電子装置
KR20200136697A (ko) 2019-05-28 2020-12-08 삼성전자주식회사 반도체 장치에 대한 테스트 보드 및 테스트 시스템
CN111880513B (zh) * 2020-07-22 2021-12-07 广州小鹏汽车科技有限公司 待测设备的测试电路以及测试方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07287603A (ja) * 1994-04-19 1995-10-31 Hitachi Ltd エンジン制御装置
KR970008141B1 (ko) * 1994-11-15 1997-05-21 엘지반도체 주식회사 반도체장치의 번인회로
JP3301874B2 (ja) * 1994-12-19 2002-07-15 松下電器産業株式会社 半導体装置及びその検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09304481A (ja) 1997-11-28
US5999007A (en) 1999-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970076262A (ko) 번인장치
KR930020449A (ko) 내부전원전압 발생회로
KR910020738A (ko) 반도체 집적회로 장치
GB2259575B (en) Voltage generating circuit
KR950001107A (ko) 충전 펌프 및 그것을 구비한 시스템
US4007425A (en) Temperature sensor using pulse width modulator for duty cycle control
US5083043A (en) Voltage control circuit for a semiconductor apparatus capable of controlling an output voltage
KR950004823A (ko) 가입자 라인을 구동하기 위한 인터페이스 집적회로
JP2019149092A (ja) 電流出力回路
KR930024017A (ko) 내부전원전압 발생회로
JP2836382B2 (ja) 直流電源
KR100258899B1 (ko) 번-인 전압 제어장치
KR200285806Y1 (ko) 전원에서 과전압 입력을 방지하기 위한 장치
KR970003271Y1 (ko) 레이저 감지기의 출력보상회로
KR970053279A (ko) 집적 회로 장치
KR0122109B1 (ko) 다출력전원의 안정화 회로 및 방법
KR200161511Y1 (ko) 전압 안정화 수단을 이용한 공기식 히터의 불꽃 점화장치
KR970012061A (ko) 기생 트랜지스터 동작 방지 정전압 제어장치
KR900013378A (ko) 부하전류 및 역율가변장치
KR20000001577A (ko) 반도체 소자의 내부 전압 안정화 회로
KR940001590A (ko) Dc 전원과 연속 데이타의 동시 전송장치
SU1001360A2 (ru) Регулируемый понижающий конвертор
KR970072611A (ko) 복수의 정전압원 발생장치
KR910000215B1 (ko) 초기전압 가변 링거선형 집적회로의 스타트업 회로
SU1513612A1 (ru) Кварцевый генератор

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application