CN111880513B - 待测设备的测试电路以及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种待测设备的测试电路以及测试方法，涉及测试技术领域。其中，该方法应用于测试电路，所述测试电路包括处理器和与所述处理器连接的电阻模拟电路，所述电阻模拟电路与待测设备连接，该方法包括：通过所述处理器获取阻值调节指令，并将所述阻值调节指令发送至所述电阻模拟电路；基于所述阻值调节指令调节所述电阻模拟电路的等效阻值；通过调节后的电阻模拟电路对所述待测设备的测试端口进行测试。本发明能够较少测试设备的面积，提高测试的效率，降低了测试成本，并且测试精度较高，可以满足更多测试需求。

Description

待测设备的测试电路以及测试方法

技术领域

本发明涉及测试技术领域，更具体地，涉及一种待测设备的测试电路以及测试方法。

背景技术

目前，汽车上通常会配置很多控制器，为了保证车辆的正常运行，需要对各个控制器进行测试，其中，最主要的是控制器针对电阻型负载的功能测试，如负温度系数(Negative Temperature Coefficient，NTC)温度传感器等，该类传感器的阻值是变化的，在测试、验证及生产阶段，用于测试具有控制器的测试设备时，需要模拟阻值变化的电阻型负载给控制器，以验证控制器的功能是否正常。

然而，目前模拟阻值变化的电阻型负载给控制器，往往是通过更换不同阻值的电阻来实现，这种方式不仅测试效率低下，而且测试成本较高，不便于推广。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提出了一种待测设备的测试电路以及测试方法，以解决上述问题。

本发明实施例提供了一种待测设备的测试电路，该测试电路包括电阻模拟电路和处理器，其中电阻模拟电路包括数模转换电路、跟随器和第一电阻，第一电阻的一端通过跟随器与数模转换电路连接，第一电阻的另一端用于与待测设备的测试端口连接。该处理器与数模转换电路连接，用于在第一电阻连接测试端口时，通过数模转换电路和第一电阻调节测试端口的电压，以调节电阻模拟电路的等效阻值，以及根据待测设备的反馈信号获得测试结果，其中，反馈信号由待测设备基于调节后的电阻模拟电路生成。

本发明实施例提供了一种待测设备的测试方法，应用于测试电路，测试电路包括处理器和与处理器连接的电阻模拟电路，电阻模拟电路与待测设备连接，方法包括：通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路；基于阻值调节指令调节电阻模拟电路的等效阻值；通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试。

本发明实施例提供的待测设备的测试电路以及测试方法，通过处理器和与处理器连接的电阻模拟电路构成测试电路，在测试电路工作时，通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路，再基于阻值调节指令调节电阻模拟电路的等效阻值，最后通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试。从而能够用电阻模拟电路来等效电阻型负载的阻值，并且通过阻值调节指令来调节电阻模拟电路的等效阻值来实现待测设备针对不同阻值的测试，避免了配置多个电阻来进行测试而增加的测试成本的问题，而且，基于阻值调节指令对电阻模拟电路的等效阻值进行调节，相比于更换不同电阻来调节阻值，可使阻值调节更加快捷、精准，提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了根据本发明实施例提供的采用多路继电器切换电阻的测试系统的结构示意图。

图2示出了根据本发明实施例提供的测试电路的结构示意图。

图3示出了根据本发明实施例提供的测试系统的结构示意图。

图4示出了根据本发明一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图。

图5示出了根据本发明另一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图。

图6示出了根据本发明又一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图。

图7示出了根据本发明再一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图。

图8示出了根据本发明图7所示的待测设备的测试方法中步骤S450的提供一个实施例的方法流程图。

图9示出了根据本发明图7所示的待测设备的测试方法中步骤S450的提供另一个实施例的方法流程图。

图10示出了本发明实施例提供的待测设备的测试装置的功能模块图。

图11示出了本发明实施例提供的测试设备的结构框图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

随着车辆的自动驾驶技术不断更新，车辆上所配置的控制器也越来越多，因此，为了保证车辆的各项功能能够正常使用，在车辆的生产阶段需要对其配置的控制器进行测试，其中，最主要的就是控制器针对电阻型负载的测试，例如通常控制器会连接各类传感器，如NTC温度传感器等，一般传感器的阻值是变化的。因此，在控制器的测试、验证及生产阶段，用于测试控制器的测试设备，需要模拟变化的电阻型负载给控制器，以验证控制器在不同阻值下的功能是否正常。

然而，目前模拟阻值变化的电阻型负载给控制器的方式，通常为更换或者通过切换开关切换电阻型负载的方式，具体地，如图1所示，在采用多路继电器切换电阻的方式时，测试设备可以包括处理器(如单片机)、多个驱动芯片、多个继电器和多个电阻负载，待测设备可以包括多个直流模拟量输入(AI)端口。可选地，处理器可以为微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)。其中，为了提高测试的可靠性，待测设备的每一路AI端口都需要测试至少三个不同的电阻值，故每一路AI端口需要测试设备模拟至少三个不同的电阻值，作为一种示例，多个电阻负载可以包括电阻R1、电阻R2以及电阻R3，多个继电器可以包括继电器K1、继电器K2以及继电器K3。如图1所示，待测设备中的控制器的AI1端口可以通过滤波电路分别与电阻R1、电阻R2以及电阻R3 电性连接，其中，R1还可以通过继电器K1和一个驱动芯片与单片机电性连接，R2还可以通过继电器K2和一个驱动芯片与单片机电性连接，R3还可以通过继电器K3和一个驱动芯片与单片机电性连接。可选地，待测设备中的控制器也可以为MCU。

作为一种示例，在测试时，测试设备可以通过控制器局域网络(Controller AreaNetwork，CAN)总线发送信息给待测设备，以开始测试AI1通道。单片机可以先控制驱动芯片控制继电器K1闭合，继电器K1开关端接通对地电阻 R1，输出电阻R1给待测设备采集。待测设备等待几十ms后，其中，等待的具体时间可以根据继电器的数据手册注明的吸合时间确定，当继电器稳定吸合时，在待测设备的控制器的AI1口采集电压VI，其中RP1为待测设备的AI1 端口的上拉电阻，VCC为上拉电源。然后，待测设备再通过CAN总线将采集电压V1发送给测试设备，测试设备与设定好的理论范围值比较，从而判定是否待测设备是否正常，其中，其中根据公式V1＝VCC*R1/(R1+RP1)可以得到 V1的理论值，理论范围值具体可以根据V1的理论值进行设定，例如当实际采集的V1与根据公式得到的V1的理论值相差较大时，可以判定待测设备为异常。然后测试设备的单片机控制驱动芯片断开继电器K1，等待几十ms后，其中，等待的具体时间，可以参考继电器数据手册的断开时间，待继电器K1 开关稳定断开，再进行下一个电阻(如R2或R3)测试，其中待测设备针对电阻R2、电阻R3的测试过程与上述电阻R1的测试过程相同。依次类推，通过可以对待测设备的每个AI端口进行不同电阻值的测试。

然而，发明人在实际研究中发现，在采用多路继电器切换电阻的方式实现待测设备的测试时，若待测设备有N路AI端口需要测试，就需要3*N个继电器切换电路，占用测试设备的印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)的面积较大，且测试过程繁琐，切换电阻时响应速度慢，每次吸合断开继电器都需要等待几十ms，从而影响了生产测试效率，增加了生产测试成本。而且继电器开关寿命有限，一般继电器寿命约10万次，存在后期工作不稳定甚至损坏的风险，降低了测试设备的可靠性，从而也增加测试设备后期维护的投入。另外，继电器切换电阻阻值不能连续变化，阻值是离散的，即继电器开关端接的电阻值是固定的，无法满足一些待测设备电阻连续变化的测试需求，如空调控制器的硬件在环(Hardware inthe Loop，HIL)测试等，故测试精度、范围有限。

因此，针对于上述问题，发明人提出了本发明实施例中的待测设备的测试电路以及测试方法，能够较少测试测试电路(以下可称测试设备)的面积，提高测试的效率，降低了测试成本，并且测试精度较高，可以满足更多测试需求。

请参阅图2，本发明实施提供的待测设备的测试电路可以应用如图2 所示，该测试电路110可以包括处理器111和电阻 模拟电路112，其中，电阻 模拟电路112和处理器111连接，用于模拟不同阻值的电阻。可选地，处理器111可以为MCU。

可选地，电阻 模拟电路112可以包括数模转换电路1121、跟随器1122 以及第一电阻1123。第一电阻1123的一端通过跟随器1122与数模转换电路1121连接，第一电阻1123的另一端用于与待测设备的测试端口连接。其中，数模转换电路1121与处理器111连接，用于接收处理器111的指令，并响应该指令输出相应的电压。其中，跟随器1122用于增大数模转换电路 1121的驱动能力。第一电阻1123用于限制电流大小，以起到保护作用。可选地，第一电阻1123的数量可以一个或多个。可选地，跟随器1122的数量可以为一个或多个。

其中，处理器111与数模转换电路1121连接，用于在第一电阻1123 连接测试端口时，通过数模转换电路1121和第一电阻1123调节测试端口的电压，以调节电阻模拟电路112的等效阻值，以及根据待测设备的反馈信号获得测试结果，其中，反馈信号由待测设备基于调节后的电阻模拟电路112生成。在一些实施方式中，待测设备包括多个测试端口，数模转换电路包括多个通道，多个通道中的每个通道依次通过一个跟随器和一个第一电阻与多个测试端口的中的一个测试端口连接，以在处理器的控制下同时对待测设备的多个测试端口进行测试。

在实际应用中，如图3所示，当测试电路110进行测试时，可以将测试电路110与待测设备120连接以形成一个测试系统100，其中，待测设备120可以包括控制器121、供电电源122、以及第二电阻123。具体地，第二电阻123可以包括第二电阻的第一端123a和第二电阻的第二端123b，

其中，第二电阻的第一端123a连接供电电源122，第二电阻的第二端 123b连接控制器121的测试端口，第一电阻1123的一端通过跟随器1122 与数模转换电路1121连接，第一电阻1123的另一端与第二电阻的第二端 123b连接。

其中，可以理解的是待测设备120的测试端口也就是控制器121的测试端口。

可选地，第二电阻123的数量可以为一个或多个。可选地，控制器121 可以为MCU。

可选地，数模转换电路1121可以为多通道的DA芯片，即DA芯片可以包括多个通道，例如8通道，处理器111可以通过串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)分别连接多个DA芯片，控制器121可以包括多个端口，DA芯片的一个通道可以依次通过一个跟随器1122、一个第一电阻1123连接控制器121的一个端口，同理，DA芯片的每个通道可以对应连接一个控制器121的端口。

在实际应用中，可以通过SPI控制DA芯片输出不同的电压，就可模拟不同的等效电阻。另外，SPI同时控制DA芯片的指定的多个通道产生指定电压，以对控制器121的对应多个端口同时进行测试，提高了测试效率。

可选地，待测设备120还包括：滤波电路124，其中滤波电路124连接于第二电阻123和控制器121的测试端口之间，用于对数模转换电路1121 输出的电压进行滤波处理，以提高测试准确性。其中，第二电阻的第一端 123a可以与供电电源122连接，第二电阻的第二端123b分别与第一电阻 1123和滤波电路124连接。可选地，当第二电阻123的数量为多个时，滤波电路124的数量也可以为多个，且与第二电阻123的数量相同。

可选地，测试电路110还可以包括第一CAN收发器113，待测设备120 还可以包括第二CAN收发器，其中，第一CAN收发器113可以通过 CAN总线与第二收发器连接。

可以理解的是，在本实施例中各元器件之间的连接，可以是指电性连接。

其中，在该待测设备的测试系统100工作时，可以由处理器111控制数模转换电路1121(DA芯片)改变输出到控制器121的测试端口的电压，从而模拟等效电阻。当处理器111通过SPI控制DA芯片输出不同的电压，就可模拟待测设备120的测试端口连接了不同的等效电阻，而且，模拟的等效电阻的阻值可以连续调节，从而使用于测试的等效电阻个数不受限制。

其中，具体的测试过程可以为：测试电路110的处理器通过SPI控制 DA芯片的输出通道输出电压Vo，电压Vo经过跟随器1122处理后由跟随器1122的输出电压等于DA芯片的输出电压Vo，跟随器1122再将电压Vo输出到第一电阻1123，即电阻RS，其中，电阻RS可以为图2中的电阻RS1、电阻RS2、电阻RS3….电阻RSN中的其中一个。

然后可以根据电阻分压公式，计算出待测设备120的控制器121的测试端口，即AI端口，将采集到的理论电压为VI＝Vo+(VCC-Vo)*RS/ (RS+RP)，并且可以得到测试电路110中电阻模拟电路模拟112的等效电阻的阻值为R’＝(VCC*RS*RP+RP²*Vo)/(VCC*RP-RP*Vo)。其中， VCC为待测设备120的供电电源的电压，RS为第一电阻1123的阻值，RP 为第二电阻123的阻值，R^’为电阻模拟电路模拟的等效电阻的阻值，VI为控制器121的AI端口将采集到的理论电压值。

其中，AI端口可以为AI1端口、AI2端口、AI3端口….AIN端口中的其中一个，具体测试时与AI端口与电阻RS对应，例如AI1端口对应电阻 RS1。

然后，待测设备120的控制器121将实际采集到的AI端口的端口电压，通过第二CAN收发器、CAN总线、以及第一CAN收发器113发送给测试电路110，让测试电路110的处理器111将端口电压与预先设定好的电压范围进行比较，若端口电压在预先设定好的电压范围内，则确定待测设备120的测试结果正常，否则，确定待测设备120的测试结果为异常。其中，DA芯片可以采用8通道或其他数量的通道，具体可以根据待测设备 120的测试需求灵活选择。每个DA芯片的所有通道输出电压可以通过SPI 同时改变，待测设备120可以同时测试多个端口。

其中，从等效电阻公式R’＝(VCC*RS*RP+ RP² *Vo)/(VCC*RP-RP*Vo) 可以看到，当VCC，RP，RS一定时，只要改变DA芯片的输出电压Vo，就能改变等效电阻的大小。而改变DA芯片输出电压大小，只需处理器111 的SPI改变寄存器的值就能实现，切换电阻响应速度相对于继电器提升很大，响应速度为ns级，从而提高测试效率，降低测试成本。而且可以调节的电阻阻值个数不受限制，且调节时电阻阻值可以连续调节，与传统继电器方案相比可以满足待测设备更高的测试需求。另外测试设备可以根据待测设备的不同RP和VCC值匹配不同的RS值，从而满足不同范围的测试需求。另外，DA芯片相比于继电器，寿命更长，可靠性更高，进一步提升了测试的效率和准确性。

请参阅图4，图4示出了本发明一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图，该方法可以应用于图2中的测试电路，该方法可以包括如下步骤：

S110，通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路。

在一些实施方式中，测试电路的处理器可以通过CAN总线向待测设备发送测试指令，以指示待测设备接通电源开始工作，然后测试设备的处理器可以检测待测设备与电阻模拟电阻是否导通，当电阻模拟电路与待测设备导通时，通过处理器可以实时获取阻值调节指令(以下可称调节指令)。

作为一种方式，处理器可以连接有输入模块，用户可以通过输入模块输入电阻模拟电路需要模拟电阻的电阻值，处理器在接收到输入模块输入的电阻值后，生成与该电阻值对应的调节指令。可选地，输入模块包括但不限于：触控屏、语音输入模块、实体键盘输入模块等。

作为另一种方式，处理器可以连接有通讯模块，用户可以通过移动终端与通讯模块建立通信后，在移动终端上输入电阻模拟电路需要模拟电阻的电阻值，然后由移动终端通过通讯模块将电阻值输入到处理器，处理器在接收到输入的电阻值后，生成与该电阻值对应的调节指令。从而可以方便用户远程向测试设备输入调节指令，以便进行测试。可选地，移动终端包括但不限于：智能手机、平板电脑、智能手表等。

其中，调节指令用于调节电阻模拟电路输出到待测设备的电压，待测设备连接电阻模拟电路后相当于连接了一个等效电阻，当电阻模拟电路输出到待测设备的电压改变时，可以看作等效电阻的阻值也对应发生改变。

在一些实施方式中，可以预先建立电阻值和调节指令的对应关系表，在对应关系表多个电阻值可以和多个调节指令一一对应，然后处理器可以根据电阻值和调节指令的对应关系表和用户输入的电阻值得到对应的调节指令，作为一种示例，对应关系表可以如表1所示：

表1

电阻值(欧姆)	调节指令
		a	调节指令A
b	调节指令B
		c	调节指令C

可见，当用户输入的电阻值b时，测试设备的处理器会对应生成调节指令B，从而可以准确、有效地获取调节指令。

S120，基于阻值调节指令调节电阻模拟电路的等效阻值。

由上述可知，当电阻模拟电路输出到待测设备的电压改变时，可以看作等效电阻的阻值也对应发生改变，因此可以根据调节指令调节电阻模拟电路模拟成的等效电阻的阻值，即调节电阻模拟电路的等效阻值。

作为一种示例，当用户输入表1中的电阻值c时，处理器会生成调节指令C，并将调节指令C发送至电阻模拟电路，电阻模拟电路接收到调节指令C后，会根据调节指令C在待测设备的测试端口输出对应的端口电压，即相当于待测设备的测试端口连接了电阻值为电阻值c的等效电阻后会在测试端口得到端口电压，从而实现了对电阻模拟电路的等效阻值进行调节。同理，当用户想把电阻模拟电路的等效阻值调节成电阻值a时，可以向处理器出入数值为a的电阻值，处理器再根据电阻值a生成调节指令A，电阻模拟电路则输出与调节指令A对应的电压，将电阻模拟电路的等效阻值调节为电阻值a。其中，可以预先构建多个电压和多个调节指令之间的映射关系，然后根据该映射关系和调节指定A，得到与调节指令A对应的电压。其中，得到电压的方式，可以参考查找表1的方式。

S130，通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试。

在一些实施方式中，当对电阻模拟电路的等效阻值进行调节后，处理器可以通过CAN总线采集待测设备的测试端口的实时电压，然后将实时电压与测试设备预先设定好的理论范围值进行比较，如果实时电压在理论范围值内，则可以确定待测设备为正常，否则，确定待测设备为异常。依次类推，处理器可以根据不同的调节指令，实现对连接不同阻值的等效电阻后的待测设备进行测试。

可见，在本实施例中，通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路，并基于调节指令对电阻模拟电路的等效阻值进行调节，最后通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试，从而能够用电阻模拟电路来等效电阻型负载的阻值，并且通过调节指令来调节电阻模拟电路的阻值来实现待测设备针对不同阻值的测试，避免了配置多个电阻来进行测试而增加的测试成本的问题。而且，基于调节指令对电阻模拟电路的等效阻值进行调节，不仅避免了采用继电器切换时间比较长，影响生产测试效率，增加生产测试成本的问题，而且避免了继电器开关寿命有限，存在后期工作不稳定甚至损坏的风险，降低了测试设备的可靠性、增加测试设备后期维护的投入的问题。另外，由于电阻模拟电路是通过改变输出电压来改变电阻模拟电路的等效阻值，解决继电器切换的阻值个数有限，如果待测设备需求多路电阻负载，需要多个继电器及驱动芯片，占测试设备PCB 面积大，会增加PCB的成本的问题。另外，由于电阻模拟电路的输出电压的数值调节可以是连续变化，其等效阻值也可以连续变化，解决了继电器切换电阻阻值不能连续变化，阻值是离散的，无法满足一些待测设备的电阻连续变化的测试需求。从而提高了测试效率，满足了测试需求。

请参阅图5，图5示出了本发明另一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图，该方法可以应用于图2的应用环境中的测试电路，该方法可以包括如下步骤：

S210，通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路。

其中，S210的具体实施方式可以参考S110，故不在此赘述。

S220，基于阻值调节指令确定目标电压。

作为一种示例，可以预先将多个调节指令和多个电压建立映射关系，以得到如表2所示的电压对应关系表。

表2

调节指令	电压值(V)
		调节指令A1	a1
调节指令B1	b1
		调节指令C1	c1

然后，可以根据调节指令和电压对应关系表确定目标电压，例如当调节指令为调节指令B1时，可以从电压对应关系表中确定目标电压的电压值为b1。同理，当调节指令改变时，可以根据的改变后的调节指令从表2中确定出相应的目标电压。

S230，基于目标电压确定目标阻值。

其中，当目标电压确定以后，可以根据目标电压、待测试设备连接的供电电源的电压、以及测试设备和待测设备中的相关元器件的已知数值(如电阻的阻值)推算出目标阻值。

作为一种示例，以图3的待测设备的测试系统为例，由于图3中的电阻模拟电路包括数模转换电路和第一电阻，数模转换电路分别与第一电阻和处理器连接，待测设备还包括第二电阻和供电电源，第二电阻的第一端连接供电电源，第二电阻的第二端分别连接测试端口和第一电阻，因此S230 的具体实施方式可以是：根据目标电压、供电电源的电压、第一电阻的阻值以及第二电阻的阻值确定目标阻值。

具体地，根据目标电压、供电电源的电压、第一电阻的阻值以及第二电阻的阻值确定目标阻值的方式具体可以通过如下公式进行计算：

通过公式R^’＝(VCC*RS*RP+RP²*Vo)/(VCC*RP-RP*Vo)计算出目标阻值。

S240，将电阻模拟电路的等效阻值调节至目标阻值。

其中，在确定目标阻值后，可以通过处理器获取与目标阻值对应的阻值调节指令并发送电阻模拟电路，既可电阻模拟电路的等效阻值调节至目标阻值，具体地，获取与目标阻值对应的阻值调节指令的方式可以参考 S120。S250，通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试。

其中，S250的具体实施方式可以参考S130，故不在此赘述。

在本实施例中，通过基于调节指令确定目标电压，并基于目标电压确定目标阻值，从而可以根据结合待测设备和测试设备的电路结构准确、有效地推算出目标阻值，从而方便将电阻模拟电路的等效阻值调节至目标阻值。

请参阅图6，图6示出了本发明又一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图，该方法可以应用于图2的测试电路，其中，如图2和图3所示，测试设备的数模转换电路可以包括多个通道，与测试设备连接的待测设备可以包括多个端口，即待测设备的控制器包括多个端口。

该方法可以包括如下步骤：

S310，通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路。

S320，基于调节指令确定目标电压。

S330，基于目标电压确定目标阻值。

其中，S310至S330的具体实施方式可以参考S210至S230，故不在此赘述。

S340，从多个端口中获取测试端口，其中，测试端口的数量为多个。

在一些实施方式中，可以对多个端口中的每个端口添加对应的标识，例如AI1…AI8…AIN，然后由处理器获取用户输入的测试参数，该测试参数中包含了测试端口对应的标识，处理器在获取了测试参数后，则可以根据测试参数从多个端口中获取测试端口。其中，处理器在获取测试参数后可以通过CAN总线发送给待测设备的控制器，以指示控制器将与测试参数对应的测试端口与测试设备导通，从而进行对该测试端口的测试。

可选地，测试端口的数量可以为一个，也可以为多个。

S350，从多个通道中获取与测试端口对应的目标通道，其中，一个目标通道对应一个测试端口。

在一些实施方式中，数模转换电路的多个通道中的每个通道可以对应连接一个控制器的端口，因此，当测试端口确定以后，可以获取多个通道中与测试端口连接的通道作为与测试端口对应的目标通道。其中，当测试端口的数量为多个时，目标通道的数量也为多个，且测试端口的数量与目标通道的数量相同。

可选地，数模转换电路可以包括一个或多个8通道的DA芯片，作为一种示例，如图2所示，数模转换电路中的DA芯片可以具有8个通道，其8个通道可以分别对应连接控制器的端口AI1、AI2…..AI8。

可选地，当测试端口的数量超过8个时，可以通过添加与处理器连接的DA芯片来进行测试，具体地，例如当测试端口的数量为16个时，处理器可以连接两个8通道的DA芯片来对控制器测试端口进行测试。

S360，基于阻值调节指令控制电阻模拟电路在目标通道产生目标电压，以调节电阻模拟电路的等效阻值。

在一些实施方式中，调节指令可以包括测试端口的对应标识、测试端口对应的测试电阻值等信息，当处理器接收到调节指令后，可以根据调节指中的标识信息确定测试端口，然后将与测试端口连接的通道确定为目标通道。再根据测试电阻值控制电阻模拟电路在目标通道产生与测试电阻值对应的目标电压，其中，根据电阻值确定目标电压的具体方式可是，先根据电阻值确定调节指令，其具体的确定方式可以利用上述实施例中的表1 来进行确定，再根据调节指令确定目标电压，其具体的确定方式可以利用上述实施例的表2来进行确定。可选地，根据电阻值确定目标电压的具体方式还可是，预先建立多个电阻值和多个电压的对应关系表，其中，多个电阻值和多个电压的对应关系表的建立方式可以参考表1或表2的建立方式，然后再根据电阻值和多个电阻值和多个电压的对应关系表确定出目标电压。

S370，通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试。

其中，S370的具体实施方式可以参考S250，故不在此赘述。

在本实施例中，通过从多个端口中获取测试端口，并从多个通道中获取与测试端口对应的目标通道，再基于调节指令控制电阻模拟电路在目标通道产生目标电压，以将电阻模拟电路的等效阻值调节至目标阻值，从而可以精准地选出多个测试端口，并同时对该多个测试端口进行测试，提高了对测试端口的测试效率以及测试灵活性。

请参阅图7，图7示出了本发明再一个实施例提供的待测设备的测试方法流程图，该方法可以应用于图2的测试电路，该方法可以包括如下步骤：

S410，通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路。

S420，基于阻值调节指令确定目标电压。

S430，通过公式R^’＝(VCC*RS*RP+RP²*Vo)/(VCC*RP-RP*Vo)得到目标阻值。

其中，其中，Vo为目标电压，VCC为供电电源的电压，RS为第一电阻的阻值，RP为第二电阻的阻值，R^’为目标阻值。

其中，Vo为目标电压，VCC为供电电源的电压，RS为第一电阻的阻值，RP为第二电阻的阻值，R^’为目标阻值。

S440，将电阻模拟电路的等效阻值调节至目标阻值。

S450，通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试。

在一些实施方式中，如图8所示，S450的具体方式可以包括如下步骤：

S451A，获取测试端口的端口电压。

在一些实施方式中，测试电路可以通过第一CAN收发器、CAN总线以及第二CAN收发器实施采集测试端口的端口电压。

S452A，判断端口电压是否处于预设电压范围内。

可选地，可以通过公式VI＝Vo+(VCC-Vo)*RS/(RS+RP)计算出参考端口电压，其中，VI为参考端口电压；当端口电压与参考端口电压匹配时，确定端口电压处于预设电压范围内。当端口电压与参考端口电压不匹配时，确定端口电压不处于预设范围内。

在一些实施方式中，当端口电压与参考端口电压一致时，可以确定端口电压和参考端口电压匹配，例如经过上述公式计算出端口电压VI为6V，当在测试端口测得的端口电压为6V，则可以确定端口电压和参考端口电压匹配。

在一些实施方式中，当端口电压与参考端口电压相差不超过预设范围时，可以确定端口电压和参考端口电压匹配，例如经过上述公式计算出端口电压VI为6V，预设范围为-0.5V到+0.5V。当端口电压为6.3V时，可以确定端口电压和参考端口电压匹配。当端口电压为5.3V时，可以确定端口电压和参考端口电压不匹配。

S453A，当端口电压处于预设电压范围内时，确定测试端口的测试结果为正常。

可选地，当端口电压与参考端口电压匹配可以确定待测设备正常。

可选地，当端口电压处于预设电压范围内时，可以确定待测设备正常。其中，预设电压范围可以由用户根据历史数据或经验设置。

可选地，当端口电压处于预先设定好的电压范围，且端口电压与参考端口电压匹配时，可以确定待测设备正常。

在本实施方式中，通过公式VI＝Vo+(VCC-Vo)*RS/(RS+RP)计算出参考端口电压，并当端口电压与参考端口电压匹配时，确定端口电压处于预设电压范围内。由于根据不同的目标电压确定不同的参考端口电压，再根据实际采集端口电压和参考端口电压做比较，从而能够简单有效地确定测试端口的测试结果是否为正常，并保证了测试结果的准确性。

作为一种示例，测试设备的处理器可以控制DA芯片的目标通道输出电压Vo，DA芯片的输出端接一个跟随器以增大驱动能力，其中，跟随器的输出电压等于DA芯片的输出电压Vo，跟随器输出端可以串联一个第一电阻。根据电阻分压公式，待测设备的控制器的测试端口采集到的电压的理论值为VI＝Vo+(VCC-Vo)*RS/(RS+RP)，从而可以得到测试设备模拟的等效电阻为R’＝(VCC*RS*RP+RP²*Vo)/(VCC*RP-RP*Vo)。可选地，待测设备的控制器可以将实际采集到的端口电压通过CAN总线发送给测试设备，以与预先设定好的电压范围比较，或者与计算得到的电压理论值即参考端口电压做比较，从而判定是否待测设备是否正常。

在一些实施方式中，如图9所示，S450的具体方式可以包括如下步骤：

S451B，获取测试端口的端口电压。

在一些实施方式中，测试电路可以通过第一CAN收发器、CAN总线以及第二CAN收发器实施采集测试端口的端口电压。

S452B，基于端口电压得到电阻模拟电路的实际等效阻值。

在一些实施方式中，S452B的具体实施方式可以是，先通过公式 Va＝Vb+(VCC-Vb)*RS/(RS+RP)得到实际电压，其中，Va为端口电压， Vb为实际电压。再通过公式Ra＝(VCC*RS*RP+RP²*Vb)/(VCC*RP-RP*Vb) 得到实际等效阻值，其中，Ra为实际等效阻值。其中，Vb具体为数模转换电路输出的实际电压。

S453B，当实际等效阻值与目标阻值匹配时，确定测试端口的测试结果为正常。

可选地，当实际等效阻值与目标阻值一致时，可以确定实际等效阻值与目标阻值匹配。可选地，当实际等效阻值与目标阻值之间的差值不超过指定范围时，可以确定实际等效阻值与目标阻值匹配

具体地，可以将实际采集到的端口电压作为Va，并带入Va＝Vo+ (VCC-Vb)*RS/(RS+RP)计算出Vb，再将Vb带入公式Ra＝ (VCC*RS*RP+RP²*Vb)/(VCC*RP-RP*Vb)计算出实际模拟的等效得电阻的阻值，将该阻值与目标阻值进行比较，若该阻值与目标阻值之间的相差值在预设范围内，则可以确定待测设备的测试结果为正常，否则可以确定待测设备的测试结果为异常。

请参阅图10，其示出了本发明一个实施例提供的待测设备的测试装置，应用于测试设备，该测试设备包括处理器和电阻模拟电路，电阻模拟电路与处理器连接，该待测设备的测试装置500包括：阻值调节指令获取模块 510、调节模块520以及测试模块530。其中：

阻值调节指令获取模块510，用于通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路。

调节模块520，用于基于阻值调节指令调节电阻模拟电路的等效阻值。

测试模块530，用于通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试。

进一步地，待测设备包括控制器，控制器包括多个端口，电阻模拟电路包括多个通道，调节模块520包括：

测试端口获取单元，用于从多个端口中获取测试端口，测试端口的数量为多个。

目标通道获取单元，用于从多个通道中获取与测试端口对应的目标通道，其中，一个目标通道对应一个测试端口。

第一调节单元，用于基于阻值调节指令控制电阻模拟电路在目标通道产生目标电压，以调节电阻模拟电路的等效阻值。

进一步地，调节模块520包括：

目标电压确定单元，用于基于调节指令确定目标电压。

目标阻值确定单元，用于基于目标电压确定目标阻值。

第二调节单元，用于将电阻模拟电路的等效阻值调节至目标阻值。

进一步地，电阻模拟电路包括数模转换电路、跟随器和第一电阻，待测设备包括第二电阻和供电电源，第二电阻的第一端连接供电电源，第二电阻的第二端连接待测设备的测试端口，第一电阻的一端通过跟随器与数模转换电路连接，第一电阻的另一端与第二电阻的第二端连接。目标阻值确定单元具体用于通过公式R^’＝(VCC*RS*RP+RP²*Vo)/(VCC*RP-RP*Vo) 得到目标阻值；其中，Vo为目标电压，VCC为供电电源的电压，RS为第一电阻的阻值，RP为第二电阻的阻值，R^’为目标阻值。

进一步地，测试模块530包括：

端口电压获取单元，用于获取测试端口的端口电压。

第一判断单元，用于当端口电压处于预设电压范围内时，确定测试端口的测试结果为正常。

进一步地，测试模块530还包括：

参考端口电压计算单元，用于通过公式VI＝Vo+(VCC-Vo)*RS/ (RS+RP)计算出参考端口电压，其中，VI为参考端口电压。

电压匹配单元，用于当端口电压与参考端口电压匹配时，确定端口电压处于预设电压范围内。

进一步地，测试模块530包括：

端口电压获取单元，获取测试端口的端口电压。

实际等效阻值获取单元，用于基于端口电压得到电阻模拟电路的实际等效阻值。

第二判断单元，用于当实际等效阻值与目标阻值匹配时，确定测试端口的测试结果为正常。

进一步地，实际等效阻值获取单元具体用于，通过公式Va＝Vb+ (VCC-Vb)*RS/(RS+RP)得到实际电压，其中，Va为端口电压，Vb为实际电压；通过公式Ra＝(VCC*RS*RP+RP²*Vb)/(VCC*RP-RP*Vb)得到实际等效阻值，其中，Ra为实际等效阻值。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述装置和模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本发明所提供的几个实施例中，所显示或讨论的模块相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

请参考图11，其示出了本发明实施例提供的一种测试设备的结构框图。该测试设备600可以是前述实施例中能够运行程序的测试设备600。本发明中的测试设备600可以包括一个或多个如下部件：处理器610、存储器 620、电路模拟电路630、CAN收发器、以及一个或多个程序，其中一个或多个程序可以被存储在存储器620中并被配置为由一个或多个处理器610 执行，一个或多个程序配置用于执行如前述方法实施例所描述的方法。

处理器610可以包括一个或者多个处理核。处理器610利用各种接口和线路连接整个测试设备600内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器620内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器620内的数据，执行测试设备600的各种功能和处理数据。可选地，处理器610 可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列 (ProgrammableLogic Array，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器610可集成中央处理器610(Central Processing Unit，CPU)、图像处理器610(Graphics Processing Unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器610中，单独通过一块通信芯片进行实现。

其中，可以理解的是，处理器610可以为图2中的测试设备中的处理器为同一处理器。

存储器620可以包括随机存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。存储器620可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器620可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等、拍摄功能)、用于实现下述各个方法实施例的指令等。存储数据区还可以存储终端在使用中所创建的数据(比如电话本、音视频数据、地图数据、行驶记录数据)等。

电阻模拟电路630可以与处理器电性连接，且可以用于与待测设备电性连接。

其中，可以理解的是，本实施例中的电阻模拟电路630可以与图2中的电阻模拟电路为同一电路模拟电路。

CAN收发器可以与处理器电性连接，且可以用于通过CAN总线与待测设备连接。

其中，可以理解的是，本实施例中的电阻模拟电路630可以与图2中的第一CAN收发器为同一CAN收发器。

综上所述，本发明实施例提供的待测设备的测试电路、方法、装置以及测试设备，通过处理器获取阻值调节指令，并将阻值调节指令发送至电阻模拟电路，并基于调节指令对电阻模拟电路的等效阻值进行调节，最后通过调节后的电阻模拟电路对待测设备的测试端口进行测试，从而能够用电阻模拟电路来等效电阻型负载的阻值，并且通过调节指令来调节电阻模拟电路的阻值来实现待测设备针对不同阻值的测试，避免了配置多个电阻来进行测试而增加的测试成本的问题。而且，基于调节指令对电阻模拟电路的等效阻值进行调节，不仅避免了采用继电器切换时间比较长，影响生产测试效率，增加生产测试成本的问题，而且避免了继电器开关寿命有限，存在后期工作不稳定甚至损坏的风险，降低了测试设备的可靠性、增加测试设备后期维护的投入的问题。另外，由于电阻模拟电路是通过改变输出电压来改变电阻模拟电路的等效阻值，解决继电器切换的阻值个数有限，如果待测设备需求多路电阻负载，需要多个继电器及驱动芯片，占测试设备PCB面积大，会增加PCB的成本的问题。另外，由于电阻模拟电路的输出电压的数值调节可以是连续变化，其等效阻值也可以连续变化，解决了继电器切换电阻阻值不能连续变化，阻值是离散的，无法满足一些待测设备的电阻连续变化的测试需求。从而提高了测试效率，满足了测试需求。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不驱使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (6)

1.一种待测设备的测试方法，其特征在于，应用于测试电路，所述测试电路包括处理器和与所述处理器连接的电阻模拟电路，所述电阻模拟电路与待测设备连接，所述电阻模拟电路包括数模转换电路、跟随器和第一电阻，所述待测设备包括第二电阻和供电电源，所述第二电阻的第一端连接所述供电电源，所述第二电阻的第二端连接所述待测设备的测试端口，所述第一电阻的一端通过所述跟随器与所述数模转换电路连接，所述第一电阻的另一端与所述第二电阻的第二端连接，所述方法包括：

通过所述处理器获取阻值调节指令，并将所述阻值调节指令发送至所述电阻模拟电路；

基于所述阻值调节指令调节所述电阻模拟电路的等效阻值，包括：基于所述阻值调节指令确定目标电压；通过公式R^’＝(VCC*RS*RP+RP²*Vo)/(VCC*RP-RP*Vo)得到所述目标阻值；其中，Vo为所述目标电压，VCC为所述供电电源的电压，RS为所述第一电阻的阻值，RP为所述第二电阻的阻值，R^’为所述目标阻值；将所述电阻模拟电路的等效阻值调节至所述目标阻值；

通过调节后的电阻模拟电路对所述待测设备的测试端口进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测设备包括控制器，所述控制器包括多个端口，所述电阻模拟电路包括多个通道，所述基于所述阻值调节指令调节所述电阻模拟电路的等效阻值，包括：

从所述多个端口中获取所述测试端口，所述测试端口的数量为多个；

从所述多个通道中获取与所述测试端口对应的目标通道，其中，一个所述目标通道对应一个所述测试端口；

基于所述阻值调节指令控制所述电阻模拟电路在所述目标通道产生所述目标电压，以调节所述电阻模拟电路的等效阻值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述调节后的电阻模拟电路对所述待测设备的测试端口进行测试，包括：

获取所述测试端口的端口电压；

当所述端口电压处于预设电压范围内时，确定所述测试端口的测试结果为正常。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述当所述端口电压处于预设电压范围内时，确定所述测试端口的测试结果为正常之前，还包括：

通过公式VI＝Vo+(VCC-Vo)*RS/(RS+RP)计算出参考端口电压，其中，VI为所述参考端口电压；

当所述端口电压与所述参考端口电压匹配时，确定所述端口电压处于预设电压范围内。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述调节后的电阻模拟电路对所述待测设备的测试端口进行测试，包括：

获取所述测试端口的端口电压；

基于所述端口电压得到所述电阻模拟电路的实际等效阻值；

当所述实际等效阻值与所述目标阻值匹配时，确定所述测试端口的测试结果为正常。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述端口电压得到所述电阻模拟电路的实际等效电阻，包括：

通过公式Va＝Vb+(VCC-Vb)*RS/(RS+RP)得到实际电压，其中，Va为所述端口电压，Vb为实际电压；

通过公式Ra＝(VCC*RS*RP+RP²*Vb)/(VCC*RP-RP*Vb)得到实际等效阻值，其中，Ra为实际等效阻值。

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