KR970030405A - 트렌치 형성방법 - Google Patents

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KR970030405A
KR970030405A KR1019950042791A KR19950042791A KR970030405A KR 970030405 A KR970030405 A KR 970030405A KR 1019950042791 A KR1019950042791 A KR 1019950042791A KR 19950042791 A KR19950042791 A KR 19950042791A KR 970030405 A KR970030405 A KR 970030405A
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KR
South Korea
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etching
semiconductor substrate
trench
mask layer
forming
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KR1019950042791A
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Inventor
서영상
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

반도체기판에 트렌치를 형성하는 방법에 대해 기재되어 있다. 이는, 반도체기판에 트렌치가 형성될 영역에 개구부를 갖는 마스크층을 형성하는 단계; 상기 개구부로 노출된 부분의 반도체기판에 이온을 주입하는 단계; 상기 이온주입된 부분을 식각하는 단계 및 마스크층을 제거하는 단계를 포함하여 이루어진다. 따라서, 트렌치 형성을 위한 식각시 기판에 가해지는 손상을 줄일 수 있어 소자의 전기적 특성을 개선할 수 있으며, 활성영역의 축소를 방지할 수 있다.

Description

트렌치 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1a도 내지 제1c도는 본 발명에 의한 트렌치 형성방법을 설명하기 위한 공정순서에 따른 단면도들이다.

Claims (3)

  1. 반도체기판에 트렌치가 형성될 영역에 개구부를 갖는 마스크층을 형성하는 단계; 상기 개구부로 노출된 부분의 반도체기판에 이온을 주입하는 단계; 상기 이온주입된 부분을 식각하는 단계; 및 상기 마스크층을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 트렌치 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 이온주입된 부분을 식각하는 단계는 습식식각 방법을 사용하는 것을 특징으로 하는 트렌치 형성방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 습식식각은 다결정 식각액을 사용하여 진행되는 것을 특징으로 하는 트렌치 형성방법.
KR1019950042791A 1995-11-22 1995-11-22 트렌치 형성방법 KR970030405A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100826965B1 (ko) * 2002-06-28 2008-05-02 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 소자의 트렌치 형성방법

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KR100826965B1 (ko) * 2002-06-28 2008-05-02 매그나칩 반도체 유한회사 반도체 소자의 트렌치 형성방법

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