KR970029783A - 반도체 메모리의 출력 제어 회로 - Google Patents

반도체 메모리의 출력 제어 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR970029783A
KR970029783A KR1019950043559A KR19950043559A KR970029783A KR 970029783 A KR970029783 A KR 970029783A KR 1019950043559 A KR1019950043559 A KR 1019950043559A KR 19950043559 A KR19950043559 A KR 19950043559A KR 970029783 A KR970029783 A KR 970029783A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
output
sense amplifier
signal
control circuit
output control
Prior art date
Application number
KR1019950043559A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0179859B1 (ko
Inventor
강희복
Original Assignee
문정환
Lg 반도체주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, Lg 반도체주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019950043559A priority Critical patent/KR0179859B1/ko
Priority to US08/581,221 priority patent/US5648932A/en
Priority to JP8000497A priority patent/JPH09259588A/ja
Publication of KR970029783A publication Critical patent/KR970029783A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0179859B1 publication Critical patent/KR0179859B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 센스 앰프의 내부 증폭 수단의 양 출력 노드가 동작 초기에 이퀄라이즈 신호에 의해 하이 상태의 동일 레벨로 이퀄라이즈된 후, 센스 앰프 인에이블 신호에 의해 동작이 개시되면 하이 레벨로 이퀄라이즈된 상기 증폭 수단의 양 출력 노드중 하나는 로우로 떨어지게 되는데, 이를 이용하여 래치 제어 신호 발생함으로써, 센스 앰프의 출력 신호와 래치 제어 신호간에 최적의 마진을 확보할 수 있도록 한 반도체 메모리의 출력제어 회로에 관한 것이다.

Description

반도체 메모리의 출력 제어 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 의한 반도체 메모리의 출력 제어 회로의 구성을 나타낸 블럭도.
제4도는 제3도에서 센스앰프(Sense Amplifier) 출력 검출부의 제1실시예의 회로 구성을 나타낸 도면.

Claims (9)

  1. 이퀄라이즈 신호에 의해 내부 증폭 수단의 양 출력 노드의 전위를 소정의 상태로 이퀄라이즈하고, 센스앰프 인에이블 신호에 의해 상기 내부 증폭 수단이 셀어레이 블럭에서 출력되는 셀 데이타와 셀 데이타 바를 증폭하여 출력하는 센스 앰프 출력 제어 회로에서, 전원 전압이 인가됨에 따라, 상기 센스 앰프가 이퀄라이즈상태이면 소정의 상태로 초기화되고, 상기 센스 앰프가 인에이블되어 상기 내부 증폭 수단의 양 출력 노드의 전위가 다르게되면 이를 검출하는 센스 앰프 출력 검출 수단과; 상기 센스 앰프 출력 검출 수단의 출력 신호를 소정 시간 동안 지연하는 지연 수단과; 상기 센스 앰프가 인에이블될 때 상기 지연 수단의 출력 신호가 출력되도록 하는 출력 제어 수단을 포함하는 반도체 메모리의 출력 제어회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 센스 앰프 출력 검출 수단은 상기 센스 앰프가 이퀄라이즈 상태에 있을 때, 상기 내부 증폭 수단의 양 출력 노드의 전위에 의해 소정의 상태로 초기화 됨을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 센스 앰프 출력 검출 수단은 상기 이퀄라이즈 신호를 이용하여 초기화하는 수단을 추가로 포함함을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
  4. 제3항에 있어서, 상기 이퀄라이즈 신호를 이용하여 초기화 하는 수단은 상기 센스 앰프가 이퀄라이즈 될 때만 인에이블 되어 상기 센스 앰프 검출부를 초기화 함을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
  5. 제1항에 있어서, 상기 출력 제어 수단은 상기 센스 앰프 인에이블 신호와 상기 지연 수단의 출력 신호를 낸드 연산하여 출력함을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
  6. 제1항에 있어서, 상기 센스 앰프 출력 검출 수단은 초기화시 상기 센스 앰프의 내부 증폭 수단의 양 출력 노드에서 출력되는 신호의 전위를 전원 전압의 레벨로 증가시키는 수단을 포함함을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
  7. 제6항에 있어서, 상기 내부 증폭 수단의 양 출력 노드에서 출력되는 신호의 전위를 전원 전압의 레벨로 증가시키는 수단은 게이트 전극이 접지되고 소스-드레인 전극이 상기 전원 전압과 내부 증폭 수단의 출력 노드와 각각 연결된 피 모스트랜지스터임을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
  8. 제1항에 있어서, 상기 센스 앰프 출력 검출 수단은 초기화시 전원 전압의 레벨을 상기 센스 앰프의 내부 증폭 수단의 양 출력 노드에서 출력되는 신호의 레벨로 감소시키는 수단을 포함함을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
  9. 제8항에 있어서, 상기 전원 전압의 레벨을 상기 센스 앰프의 내부 증폭 수단의 양 출력 노드의 레벨로 감소시키는 수단은 엔 모스 트랜지스터임을 특징으로 하는 반도체 메모리의 출력 제어 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950043559A 1995-11-24 1995-11-24 반도체 메모리의 출력 제어 회로 KR0179859B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950043559A KR0179859B1 (ko) 1995-11-24 1995-11-24 반도체 메모리의 출력 제어 회로
US08/581,221 US5648932A (en) 1995-11-24 1995-12-29 Output control circuit for semiconductor memory
JP8000497A JPH09259588A (ja) 1995-11-24 1996-01-08 半導体メモリの出力制御回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950043559A KR0179859B1 (ko) 1995-11-24 1995-11-24 반도체 메모리의 출력 제어 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970029783A true KR970029783A (ko) 1997-06-26
KR0179859B1 KR0179859B1 (ko) 1999-04-15

Family

ID=19435619

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950043559A KR0179859B1 (ko) 1995-11-24 1995-11-24 반도체 메모리의 출력 제어 회로

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5648932A (ko)
JP (1) JPH09259588A (ko)
KR (1) KR0179859B1 (ko)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100206927B1 (ko) * 1996-07-26 1999-07-01 구본준 반도체 메모리의 데이타 출력 제어회로
US6011749A (en) * 1998-03-27 2000-01-04 Motorola, Inc. Integrated circuit having output timing control circuit and method thereof
JP4514945B2 (ja) * 2000-12-22 2010-07-28 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置
KR100380271B1 (ko) * 2000-12-27 2003-04-18 주식회사 하이닉스반도체 메인 앰프의 출력 드라이버 회로
US7097661B2 (en) * 2001-08-03 2006-08-29 Perry Microtube Pty Ltd Ventilation tube for a middle ear
KR100794997B1 (ko) * 2006-05-10 2008-01-16 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 데이터 처리장치 및 방법

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4858197A (en) * 1987-05-26 1989-08-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Output buffer control circuit of memory device
US4882507B1 (en) * 1987-07-31 1993-03-16 Output circuit of semiconductor integrated circuit device
JPH02236896A (ja) * 1989-03-10 1990-09-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd メモリ回路
JPH038197A (ja) * 1989-06-06 1991-01-16 Oki Electric Ind Co Ltd Mosスタティックram
JP2530055B2 (ja) * 1990-08-30 1996-09-04 株式会社東芝 半導体集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
KR0179859B1 (ko) 1999-04-15
US5648932A (en) 1997-07-15
JPH09259588A (ja) 1997-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5525919A (en) Sense amplifier with limited output voltage swing
US20060062313A1 (en) Circuit and method for reducing noise interference in digital differential input receivers
KR970707552A (ko) 비트라인 레벨 둔감형 센스 증폭기(bitline level insensitive sense amplifier)
KR960019304A (ko) 반도체 메모리 장치의 센스앰프 회로
KR970029783A (ko) 반도체 메모리의 출력 제어 회로
KR950005171B1 (ko) 전류 미러 증폭회로 및 그의 구동 방법
KR970069467A (ko) 페이지 액세스 모드를 갖는 단일-칩 메모리 시스템
US5982692A (en) Bit line boost amplifier
KR970031240A (ko) 출력하한값에 대한 리미트기능을 갖는 증폭회로 및 상보형 증폭회로(amplifier circuit and complementary amplifier circuit with limiting function for output lower limit)
KR19990059252A (ko) 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
US6002626A (en) Method and apparatus for memory cell array boost amplifier
US6574132B2 (en) Circuit configuration for equalizing different voltages on line runs in integrated semiconductor circuits
KR100505454B1 (ko) 반도체 장치의 데이터 출력 회로 및 방법
JP2000293986A (ja) 半導体メモリ装置
KR100291747B1 (ko) 프리차지 등화 회로
KR0168159B1 (ko) 플래쉬 메모리 장치
KR970023402A (ko) 반도체 메모리 장치의 데이타 고속 전송회로
KR0155916B1 (ko) 반도체 메모리 장치
KR100562648B1 (ko) 감지 증폭기 제어 회로
US5818774A (en) Apparatus and method for a data path implemented using non-differential, current mode techniques
JP2946960B2 (ja) 半導体記憶装置
KR970011972B1 (ko) 반도체 메모리 장치
KR970003264A (ko) 불휘발성 반도체 메모리의 격리형 센스앰프
KR20010055884A (ko) 반도체 메모리 장치의 비트라인 등화신호를 발생하는등화신호 발생회로
KR980005012A (ko) 반도체 메모리 장치의 데이터 라인 프리차지회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20111024

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121022

Year of fee payment: 15

LAPS Lapse due to unpaid annual fee