KR970023459A - 메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법 - Google Patents
메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 핀 수가 많은 메모리 소자를 테스트할 수 있도록 한 메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법은, 메모리 소자의 입출력 핀을 복수로 분할하고 그 분할된 바에 따라 입출력 포매트 테스트부의 포매트를 변형시킴으로써, 각 포매트에 따른 신호를 입출력 포매트 테스트로부터 입출력 핀일렉트로닉스부를 거쳐 디바이스 언더 테스트부로 인가하여 분할된 판별 테스트 동작을 수행하고, 포매트 별로 테스트한 결과를 디바이스 언더 테스트부에서 논리곱하여 테스트 결과를 출력함을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 메모리 소자를 테스트함에 있어서 기존의 메모리테스트시스템의 활용도를 증대시킬 수 있는 효과가 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법의 실시예를 나타내는 도면이다.
Claims (1)
- 입출력 포매트 테스트(Input/Output Format Test)부로부터 출력된 신호를 입출력 핀일렉트로닉스(Input/Output Pin Electronics)부에서 분기시킨 후 병렬로 신호를 출력하도록 구성된 자동테스트장치와, 이로부터 출력되는 신호로써 메모리 소자 테스트 동작을 수행하는 디바이스 언더 테스트(Device Under Test)부를 포함하는, 메모리테스트시스템의 메모리 테스트방법에 있어서; 상기 메모리 소자의 입출력 핀을 복수로 분할하고 그 분할된 바에 따라 상기 입출력 포매트 테스트부의 포매트를 변형시킴으로써, 각 포매트에 따른 신호를 상기 입출력 포매트 테스트로부터 상기 입출력 핀일렉트로닉스부를 거쳐 상기 디바이스 언더 테스트부로 인가하여 분할된 판별 테스트 동작을 수행하고, 상기 포매트 별로 테스트한 결과를 상기 디바이스 언더 테스트부에서 논리곱하여 테스트 결과를 출력함을 특징으로 하는 메모리테스트시스템의 메모리 테스트방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950037824A KR970023459A (ko) | 1995-10-28 | 1995-10-28 | 메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950037824A KR970023459A (ko) | 1995-10-28 | 1995-10-28 | 메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970023459A true KR970023459A (ko) | 1997-05-30 |
Family
ID=66584837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950037824A KR970023459A (ko) | 1995-10-28 | 1995-10-28 | 메모리테스트시스템의 메모리 테스트 방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970023459A (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100442696B1 (ko) * | 2001-12-19 | 2004-08-02 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 소자의 병렬 테스트 시스템 |
| KR100694413B1 (ko) * | 2005-04-09 | 2007-03-12 | 주식회사 메모리앤테스팅 | 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법 |
-
1995
- 1995-10-28 KR KR1019950037824A patent/KR970023459A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100442696B1 (ko) * | 2001-12-19 | 2004-08-02 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 소자의 병렬 테스트 시스템 |
| KR100694413B1 (ko) * | 2005-04-09 | 2007-03-12 | 주식회사 메모리앤테스팅 | 메모리 테스트 장치 및 그 테스트 방법 |
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