KR970022358A - 집적회로 검사방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 집적회로 검사방법 및 장치를 공개한다. 그 방법은 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로, 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 집적회로를 검사하기 위한 검사수단을 구비한 집적회로 검사장치의 검사방법에 있어서, 상기 소정비트로 이루어진 데이타를 입력하여 상기 클럭신호의 주기동안에 1비트단위로 병렬로 상기 검사수단으로 출력한다. 그 장치는 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로, 상기 집적회로로부터 입력되는 소정비트로 이루어진 데이타를 상기 클럭신호에 응답하여 비트단위로 병렬로 출력하기 위한 데이타 변환수단, 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 데이타 변환수단으로부터의 데이타를 입력하여 상기 집적회로의 출력 데이타와 일치하는지를 검사하는 검사수단으로 구성되어있다. 따라서, 집적회로의 동작속도가 높더라도 속도 문제를 해결하기 위한 다른 검사장치를 개발 또는 구매하지 않고 종래의 검사장치를 그대로 이용하여 검사할 수 있으므로 커다란 원가절감 효과가 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 집적회로 검사방법을 설명하기 위한 블럭도이다,
제3도는 본 발명의 집적회로 검사방법을 설명하기 위한 실시예의 블럭도이다,
제4도는 제3도에 나타낸 블럭도의 동작을 설명하기 위한 동작 타이밍도이다.
Claims (3)
- 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로; 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 집적회로를 검사하기 위한 검사수단을 구비한 집적회로 검사장치의 검사방법에 있어서, 상기 소정비트로 이루어진 데이타를 입력하여 상기 클럭신호의 주기동안에 1비트단위로 병렬로 상기 검사수단으로 출력하는 것을 특징으로 하는 집적회로 검사장치의 검사방법.
- 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로; 상기 집적회로로부터 입력되는 소정비트로 이루어진 데이타를 상기 블럭신호에 응답하여 비트단위로 병렬로 출력하기 위한 데이타 변환수단; 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 데이타 변환수단으로부터의 데이타를 입력하여 상기 집적회로의 출력 데이타와 일치하는지를 검사하는 검사수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사장치.
- 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로; 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 집적회로를 검사하기 위한 검사수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사장치에 있어서, 상기 검사수단은 상기 집적회로로부터 입력되는 소정비트로 이루어진 데이타를 상기 클럭신호에 응답하여 비트단위로 병렬로 출력하기 위한 데이타 변환수단을 더 구비한 것을 특징으로 하는 집적회로 검사장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950037670A KR100188003B1 (ko) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | 집적회로 검사방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950037670A KR100188003B1 (ko) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | 집적회로 검사방법 및 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR970022358A true KR970022358A (ko) | 1997-05-28 |
KR100188003B1 KR100188003B1 (ko) | 1999-06-01 |
Family
ID=19431637
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950037670A KR100188003B1 (ko) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | 집적회로 검사방법 및 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100188003B1 (ko) |
-
1995
- 1995-10-27 KR KR1019950037670A patent/KR100188003B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100188003B1 (ko) | 1999-06-01 |
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