KR970022358A - 집적회로 검사방법 및 장치 - Google Patents

집적회로 검사방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR970022358A
KR970022358A KR1019950037670A KR19950037670A KR970022358A KR 970022358 A KR970022358 A KR 970022358A KR 1019950037670 A KR1019950037670 A KR 1019950037670A KR 19950037670 A KR19950037670 A KR 19950037670A KR 970022358 A KR970022358 A KR 970022358A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
integrated circuit
data
outputting
input signal
inspection
Prior art date
Application number
KR1019950037670A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100188003B1 (ko
Inventor
김영부
최경선
이재윤
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950037670A priority Critical patent/KR100188003B1/ko
Publication of KR970022358A publication Critical patent/KR970022358A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100188003B1 publication Critical patent/KR100188003B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31922Timing generation or clock distribution

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

본 발명은 집적회로 검사방법 및 장치를 공개한다. 그 방법은 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로, 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 집적회로를 검사하기 위한 검사수단을 구비한 집적회로 검사장치의 검사방법에 있어서, 상기 소정비트로 이루어진 데이타를 입력하여 상기 클럭신호의 주기동안에 1비트단위로 병렬로 상기 검사수단으로 출력한다. 그 장치는 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로, 상기 집적회로로부터 입력되는 소정비트로 이루어진 데이타를 상기 클럭신호에 응답하여 비트단위로 병렬로 출력하기 위한 데이타 변환수단, 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 데이타 변환수단으로부터의 데이타를 입력하여 상기 집적회로의 출력 데이타와 일치하는지를 검사하는 검사수단으로 구성되어있다. 따라서, 집적회로의 동작속도가 높더라도 속도 문제를 해결하기 위한 다른 검사장치를 개발 또는 구매하지 않고 종래의 검사장치를 그대로 이용하여 검사할 수 있으므로 커다란 원가절감 효과가 있다.

Description

집적회로 검사방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 집적회로 검사방법을 설명하기 위한 블럭도이다,
제3도는 본 발명의 집적회로 검사방법을 설명하기 위한 실시예의 블럭도이다,
제4도는 제3도에 나타낸 블럭도의 동작을 설명하기 위한 동작 타이밍도이다.

Claims (3)

  1. 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로; 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 집적회로를 검사하기 위한 검사수단을 구비한 집적회로 검사장치의 검사방법에 있어서, 상기 소정비트로 이루어진 데이타를 입력하여 상기 클럭신호의 주기동안에 1비트단위로 병렬로 상기 검사수단으로 출력하는 것을 특징으로 하는 집적회로 검사장치의 검사방법.
  2. 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로; 상기 집적회로로부터 입력되는 소정비트로 이루어진 데이타를 상기 블럭신호에 응답하여 비트단위로 병렬로 출력하기 위한 데이타 변환수단; 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 데이타 변환수단으로부터의 데이타를 입력하여 상기 집적회로의 출력 데이타와 일치하는지를 검사하는 검사수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사장치.
  3. 입력신호에 대응하는 소정비트로 이루어진 데이타를 클럭신호에 응답하여 연속적으로 출력하는 집적회로; 및 상기 집적회로로 상기 입력신호를 출력하고 상기 집적회로를 검사하기 위한 검사수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사장치에 있어서, 상기 검사수단은 상기 집적회로로부터 입력되는 소정비트로 이루어진 데이타를 상기 클럭신호에 응답하여 비트단위로 병렬로 출력하기 위한 데이타 변환수단을 더 구비한 것을 특징으로 하는 집적회로 검사장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950037670A 1995-10-27 1995-10-27 집적회로 검사방법 및 장치 KR100188003B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950037670A KR100188003B1 (ko) 1995-10-27 1995-10-27 집적회로 검사방법 및 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950037670A KR100188003B1 (ko) 1995-10-27 1995-10-27 집적회로 검사방법 및 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970022358A true KR970022358A (ko) 1997-05-28
KR100188003B1 KR100188003B1 (ko) 1999-06-01

Family

ID=19431637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950037670A KR100188003B1 (ko) 1995-10-27 1995-10-27 집적회로 검사방법 및 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100188003B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR100188003B1 (ko) 1999-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950020755A (ko) 일치 검출 회로를 갖고 있는 반도체 메모리 디바이스 및 테스트 방법
KR920001552A (ko) 반도체 메모리 장치의 다중 비트 병렬 테스트방법
KR880009381A (ko) 반도체 집적회로장치
KR910014951A (ko) 메모리 시험장치
KR910018812A (ko) 다중 주파수 회로용 스캔 검사 회로
KR860000564A (ko) 시험가능 시스템
KR970029883A (ko) 고주파수 동작을 하는 반도체 메모리 장치의 테스트 회로 및 방법
KR970022358A (ko) 집적회로 검사방법 및 장치
KR970049538A (ko) 스캔 테스트 장치
KR970024634A (ko) 주기적 여유 코드를 이용한 오류검출회로
KR970055599A (ko) 전송 데이타 정형 장치
KR910014809A (ko) 논리 시뮬레이션 방법
KR970022355A (ko) 집적 회로내의 입출력 장치
KR960006008A (ko) 병렬 테스트 회로를 포함한 메모리 소자
KR970071490A (ko) 씨디-롬 드라이브용 디지탈 시그널 프로세서 칩 검사 장치
KR890015148A (ko) 탁상용 전자계산기
KR960039631A (ko) 논리회로의 글리치 제거장치
KR900015474A (ko) 디지탈 데이타 팽창 방법 및 데이타 팽창 회로
KR970056028A (ko) 개인통신 시스템용 인터리빙장치
KR970056029A (ko) 개인통신 시스템용 인터리빙장치
KR890010741A (ko) 파이프 라인구조를 이용한 데이터 분류장치
KR970029054A (ko) Fpla검증용 디지털신호처리를 위한 입/출력연결장치
KR940023099A (ko) 데이타의 직/병렬변환방법 및 장치
KR970056031A (ko) 개인통신 시스템용 역인터리빙장치
KR970056027A (ko) 개인통신 시스템용 역인터리빙장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20061221

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee