KR970018258A - 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법 - Google Patents
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Abstract
반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법이 개시되어 있다. 본 발명은 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법에 있어서, 제1도전형의 반도체기판의 표면에 게이트 절연층을 형성하는 단계;상기 게이트 절연층 상에 폴리실리콘층을 형성하는 단계;상기 폴리실리콘층을 도우핑시키는 단계;상기 도우핑된 폴리실리콘층을 패터닝하여 게이트 전극을 형성하는 단계;상기 게이트 전극을 이온주입 마스크로하여 제2도전형의 불순물을 이온주입함으로써, 상기 게이트 전극 양 옆의 반도체기판 표면에 제2도전형의 불순물 영역을 형성하는 단계; 및 상기 결과물을 연산화시키어 상기 게이트 전극 표면 및 상기 제2도전형의 불순물 영역 상에 열산화층을 형성함과 동시에 확산된 제2도전형의 부순물 영역을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 모스트랜지스터 제조방법을 제공한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도 및 제5도는 본 발명에 의한 모스 트랜지스터 제조방법을 설명하기 위한 단면도들이다.
Claims (1)
- 반도체 장치의 모스 트랜지스터 제조방법에 있어서, 제1도전형의 반도체기판의 표면에 게이트 절연층을 형성하는 단계;상기 게이트 절연층 상에 폴리실리콘 층을 형성하는 단계;상기 폴리실리콘층을 도우핑시키는 단계;상기 도우핑된 폴리실리콘층을 패터닝하여 게이트 전극을 형성하는 단계;상기 게이트 전극을 이온주입 마스크로하여 제2도전형의 불순물을 이온주입함으로써, 상기 게이트 전극 양 옆의 반도체기판 표면에 제2도전형 불순물 영역을 형성하는 단계; 및 상기 결과물을 열산화시키어 상기 게이트 전극 표면 및 상기 제2도전형의 불순물 영역 상에 열산화층을 형성함과 동시에 확산된 제2도전형의 불순물 영역을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 모스 트랜지스터 제조방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950032964A KR970018258A (ko) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950032964A KR970018258A (ko) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970018258A true KR970018258A (ko) | 1997-04-30 |
Family
ID=66615504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950032964A KR970018258A (ko) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR970018258A (ko) |
-
1995
- 1995-09-29 KR KR1019950032964A patent/KR970018258A/ko not_active Application Discontinuation
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