KR970018258A - 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법 - Google Patents

반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법 Download PDF

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KR970018258A
KR970018258A KR1019950032964A KR19950032964A KR970018258A KR 970018258 A KR970018258 A KR 970018258A KR 1019950032964 A KR1019950032964 A KR 1019950032964A KR 19950032964 A KR19950032964 A KR 19950032964A KR 970018258 A KR970018258 A KR 970018258A
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KR
South Korea
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gate electrode
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mos transistor
manufacturing
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KR1019950032964A
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홍창수
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법이 개시되어 있다. 본 발명은 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법에 있어서, 제1도전형의 반도체기판의 표면에 게이트 절연층을 형성하는 단계;상기 게이트 절연층 상에 폴리실리콘층을 형성하는 단계;상기 폴리실리콘층을 도우핑시키는 단계;상기 도우핑된 폴리실리콘층을 패터닝하여 게이트 전극을 형성하는 단계;상기 게이트 전극을 이온주입 마스크로하여 제2도전형의 불순물을 이온주입함으로써, 상기 게이트 전극 양 옆의 반도체기판 표면에 제2도전형의 불순물 영역을 형성하는 단계; 및 상기 결과물을 연산화시키어 상기 게이트 전극 표면 및 상기 제2도전형의 불순물 영역 상에 열산화층을 형성함과 동시에 확산된 제2도전형의 부순물 영역을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 모스트랜지스터 제조방법을 제공한다.

Description

반도체장치의 모드 트랜지스터 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도 및 제5도는 본 발명에 의한 모스 트랜지스터 제조방법을 설명하기 위한 단면도들이다.

Claims (1)

  1. 반도체 장치의 모스 트랜지스터 제조방법에 있어서, 제1도전형의 반도체기판의 표면에 게이트 절연층을 형성하는 단계;상기 게이트 절연층 상에 폴리실리콘 층을 형성하는 단계;상기 폴리실리콘층을 도우핑시키는 단계;상기 도우핑된 폴리실리콘층을 패터닝하여 게이트 전극을 형성하는 단계;상기 게이트 전극을 이온주입 마스크로하여 제2도전형의 불순물을 이온주입함으로써, 상기 게이트 전극 양 옆의 반도체기판 표면에 제2도전형 불순물 영역을 형성하는 단계; 및 상기 결과물을 열산화시키어 상기 게이트 전극 표면 및 상기 제2도전형의 불순물 영역 상에 열산화층을 형성함과 동시에 확산된 제2도전형의 불순물 영역을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 모스 트랜지스터 제조방법.
KR1019950032964A 1995-09-29 1995-09-29 반도체장치의 모스 트랜지스터 제조방법 KR970018258A (ko)

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