KR970011880A - 반도체 장치 측정기의 데이타 입·출력 단자의 기능 확장 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 측정기의 하나의 데이터 입·출력 단자에 2개 이상의 스위칭 소자를 연결하고 그 스위칭소자에 일대일로 대응하여 모듈의 복수개의 데이터 입·출력 단자를 연결하여 그 스위칭소자들을 선택적으로 제어함으로써 비용을 많이 들지 않고도 측정기의 데이터 입·출력 단자의 수에 관계 없이 복수개의 데이터 입·출력 단자를 갖는 모듈의 성능을 측정할 수 있다.

Description

반도체 장치 측정기의 데이터 입·출력 단자의 기능 확장 방법

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 종래의 반도체 장치의 측정 방법을 나타내는 회로도,

제2도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 장치 측정기의 데이타 입·출력 단자의 기능 확장 방법을 나타내는 회로도.

Claims (5)

1. 반도체 장치의 복수개의 데이터 입·출력 단자들과, 반도체 장치 측정기의 하나의 데이터 입·출력 단자 사이에 각각 스위칭 소자들을 연결하고 그 스위칭 소자들을 선택적으로 제어하여 그 반도체 장치의 복수개의 데이터 입·출력 단자들의 신호를 측정하는 반도체 장치 측정기의 데이터 입·출력 단자의 기능 확장 방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 스위칭 소자가 계전기인 것을 특징으로 하는 반도체 장치 측정기에 데이타 입·출력 단자의 기능 확장 방법.
3. 제1항에 있어서, 상기 스위칭 소자의 수는 2개 이상인 것을 특징으로 하는 반도체 장치 측정기에 데이타 입·출력 단자의 기능 확장 방법.
4. 제1항에 있어서, 상기 반도체 장치 측정기의 원하는 데이터 입·출력 단자에 각각 연결된 상기 스위칭 소자들의 Vcc, Vss 단자에 Vcc, Vss 의 전압을 각각 공급하는 단계와; 상기 반도체 장치의 원하는 데이타 입·출력 단자에 연결된 상기 스위칭 소자를 온시키고 그 외의 스위칭 소자를 오프시키는 단계와; 상기 온된 스위칭 소자를 거쳐 상기 원하는 반도체 장치의 데이터 입·출력 단자를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치 측정기의 데이타 입·출력 단자의 기능 확장 방법.
5. 제4항에 있어서, 기 오프된 상기 스위칭 소자를 새로 온 시키고, 기 온된 상기 스위칭 소자를 오프시키는 단계와; 그 새로 온된 스위칭 소자를 거쳐 측정되지 않았던 상기 반도체 장치의 데이터 입·출력 단자를 측정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 데이터 입·출력 단자의 기능 확장 방법

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.