KR970007168B1 - 자기광학 기록매체의 판독 방법 및 이 방법을 수행하기 위한 광학 스캐닝 장치 - Google Patents
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Abstract
내용없음
Description
제1도는 벡터 다이어그램.
제2도는 본 발명의 제1실시예도.
제3도는 본 발명의 제2실시예도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 광원 2,4,9,10,12,14 : 렌즈
3,6,13 : 프리즘형 빔 스플리터 5 : 기록 매체
7 : λ/2 플레이트 8,31 : 편광빔 스플리터
11,15,16,17,28,29 : 광검출기 18,19 : 증폭기
20 : 차동 증폭기 21 : 가산 증폭기
22 : 제어기 23 : 변조기
본 발명은 광학 스캐닝 장치에서 데이타 신호의 잡음성분을 감소시키는 자기광학 기록매체 판독 및/또는 기록방법에 관한 것으로, 이때 광원은 광빔을 기록매체에 조사하며, 기록매체에 의해 반사되는 빛이나 기록매체를 투과되는 빛은 그 편광방향에 따라 각각의 광검출기로 조사된다.
또한, 본 발명은 상술한 방법을 수행하기 위한 광학 스캐닝 장치에 관한 것이다.
자기광학 디스크로 공지되어 있는 자기광학 기록매체는 Funkschau지 13권, 1986년 6월 20일 발행, 37-41 페이지의 Magnetooptische Versuche dauern an이란 제목의 논문에 기술되어 있다.
종래의 컴팩트 디스크와는 달리, 자기광학 디스크는 피트가 없다. 광투과층 뒤에는 데이타가 기록되고 판독되는 자기층이 있다. 데이타가 자기광학 디스크에 어떤 방법으로 기록되는지를 설명하면 다음과 같다.
자기층에 디스크에 집속된 레이저빔에 의해 퀴리온도 이상으로 가열된다. 대개 자기층은 퀴리온도 보다 다소 낮은 보상온도까지만 가열되면 충분하다. 디스크상의 초점 뒤에는 전자석이 설치되어 있으며, 이 전자석은 레이저빔에 의해 가열된 부분을 하나 또는 반대의 자화방향으로 자화시킨다. 레이저빔이 차단된 후에 가열된 부분이 다시 퀴리온도 이하로 다시 냉각되기 때문에, 전자석에 의해 정해진 자화방향이 계속 유지된다. 즉, 자화방향이 고정된다. 이러한 방식으로 각각의 비트는 서로 다른 자화방향의 자구(magneticdomain)에 기억된다. 예를들면, 자구의 한 자화방향은 논리 1에 상응하는 반면, 반대 자화방향은 논리 0을 나타낸다.
데이타를 판독하는데는 커 효과가 이용된다. 선형 편광 빔의 편광면은 자화된 반사체에 반사되면 측정가능한 일정각만큼 회전된다. 반사체가 어떤 방향으로 자화되어 있느냐에 따라 반사되는 광빔의 편광면은 오른쪽으로 또는 왼쪽으로 회전된다. 디스크상의 각각의 자구가 자화된 반사체처럼 작용하기 때문에, 주사하는 광빔의 편광면은 바로 주사되는 자구의 자화방향에 따라 작지만 측정가능한 각만큼 왼쪽으로 또는 오른쪽으로 회전된다.
광빔이 투과하는 자기광학 디스크에서는 커 효과 대신 유사한 패러데이 효과가 이용된다.
광학 스캐닝 장치는 디스크에 의해 반사되거나 디스크를 투과하는 광빔의 편광면의 회전으로부터 어떤 비트가 논리 1인지 또는 논리 0인지를 인식한다.
공지된 광학 스캐닝 장치에서, 빛은 편광 빔 스플리터에 의하여 그 편광방향에 따라 각각의 광검출기로 조사된다. 데이타 신호는 2개의 광검출기의 차이신호로부터 얻어진다.
편광 빔 스플리터가 커 효과 또는 패러데이 효과에 의해 회전되지 않는 편광면을 갖는 빛을 대칭적으로 분할하기 위해(이 의미는 각각의 광검출기가 동일한 빛에너지를 수신한다는 것을 뜻한다), 편광 빔 스플리터는 회전되지 않은 편광면과 편광 빔 스플리터의 측단(lateral edge) 사이의 각이 45°가 되도록 조절되어야 한다. 커 효과 또는 패러데이 효과로 인해 빛의 편광면이 한 방향으로 회전되면, 하나의 광검출기는 빛의 편광면이 반대방향으로 동일한 각만큼 회전되어 있을때 다른 광검출기가 수신하는 빛에너지와 동일한 빛에너지를 수신한다.
이러한 사실들은 벡터 다이어그램이 도시된 제1도를 참고로 설명하면 다음과 같다.
제1도에는 빛의 편광 벡터(V1)가 도시되어 있으며, 이 빛의 편광면은 커 효과 또는 패러데이 효과에 의해 한 방향으로 회전된다. 제1도의 V2는 빛의 편광 벡터를 나타내며, 이 빛의 편광면은 반대방향으로 회전된다.1 및2는 편광 빔 스플리터의 측단에 대해 평행하게 진행하는 벡터성분을 나타낸다.
두 개의 벡터(V1 및 V2)가 빛의 편광 벡터를 나타내는 각의 이등분선(V)에 대칭적으로 놓일 때, 편광 및 스플리터는 빔 경로에서 정확하게 조절된다. 상기 이등분선(V)에서 빛의 편광면은 회전하지 않는다. 커 효과 또는 패러데이 효과에 의해, 빛의 편광면은 중앙 위치(V)로부터 +φ 또는 -φ각만큼 회전된다.
편광 빔 스플리터의 측단과 회전되지 않은 편광면 사이의 각이 가급적 45°가 되어야 하는 이유를 다음식을 참고로 설명하면 다음과 같다. S(t)는 자기광학 기록 매체의 광학 특성과 레이저 잡음에 의해 야기된 의사잡음성분을 나타낸다. 자기광학 신호(MS)는 다음식에 의해 계산된다.
커 효과 또는 패러데이 효과에 의해 편광면이 각 +φ 또는 -φ만큼 회전하는 것은 매우 작기 때문에, cosφ은 거의 1이 된다. 편광 빔 스플리터가 각(α)이 정확히 45°가 되도록 빔의 경로에서 조절되면, 에너지레벨 sin(45°-α)는 0이 되기 때문에 의사성분 S(t)·sin(45°-α)·cosφ는 소거된다.
그러나 서로 다른 재료로 이루어진 자기 광학 디스크들은 서로 다른 광학 특성, 예를들면 서로 다른 복굴절을 갖기 때문에, 편광 빔 스플리터는 한 형태의 자기 광학 디스크에 대해서만 최적으로 조절될 수 있을 뿐이다. 서로 다른 재료로 제작된 서로 다른 복굴절을 갖는 자기 광학 디스크에서 의사성분 S(t)·sin(45°-α)·cosφ는 0이 아니다. 이 의사성분을 일정하게 억제하기 위해, 편광 빔 스플리터는 개개의 형태의 자기 광학 디스크마다 재조절되어야 한다. 그러나 이러한 해결방안은 많은 비용을 필요로 한다.
본 발명의 목적은 편광 빔 스플리터가 일정하게 재조절되지 않아도 서로 다른 광학 특성을 가진 자기 광학 기록 매체에서 자기 광학신호의 잡음성분이 항상 최소화되도록 하기 위한 방법을 제공하는데 있다.
이러한 목적은 기록 매체의 광학 특성에 무관하게 기록 매체에 의해 반사되거나 기록 매체를 투과하는 빛의 강도가 -반사될 투과 빛의 실제 강도를 측정하고, -실제 측정된 빛의 강도를 빛의 기준 강도와 비교하고, -상기 비교 값에 따라 광원의 출력을 조절하는 것에 의해 일정한 값으로 제어되는 본 발명에 의해 성취된다.
또한, 이러한 목적은 다음과 같은 본 발명에 따른 광학 스캐닝 장치에 의해 성취된다.
광원에 의해 발생된 광빔은 제1렌즈, 제1프리즘형 빔 스플리터 및 제2렌즈를 통해 자기 광학기록 매체로 조사되고, 기록 매체에 의해 반사된 광빔은 제2렌즈를 통해 제1프리즘형 빔 스플리터로 다시 진행하며, 여기서 광빔은 제2프리즘형 빔 스플리터로 진행하고, 제2프리즘형 빔 스플리터는 광빔을 제3렌즈 및 제3프리즘형 빔 스플리터를 통해 제3광검출기로 진행하게 하며, 제3광검출기의 출력신호로부터 트래킹 제어회로에 대한 트래킹 에러신호가 형성되고, 제3프리즘형 빔 스플리터는 광빔을 제4렌즈를 통해 제4광검출기로 진행하게 하고, 제4광검출기의 출력신호로부터 포커싱 제어회로에 대한 포커싱 에러신호가 형성되며, 제3프리즘형 빔 스플리터는 광빔을 λ/2 플레이트, 편광 빔 스플리터 및 제5렌즈를 통해 제1광검출기로 진행하게 하며, 제1광검출기의 출력단은 제1증폭기를 통해 차동 증폭기의 감산 입력단과 연결되고, 제2광검출기의 출력단은 제2증폭기를 통해 차동 증폭기의 가산 입력단과 연결되며, 기록 매체의 자구에 기억된 데이타를 포함하는 데이타 신호(MS)는 차동 증폭기의 출력단에서 검출되는 광학 스캐닝 장치에 있어서, 제1 또는 제2광검출기의 출력단은 제1 또는 제2증폭기를 통해 가산 증폭기의 한 입력 또는 다른 입력에 연결되고, 가산 증폭기의 출력단은 제어기를 통해 변조기와 연결되고, 변조기의 출력단은 광원의 제어 입력단과 연결되는 것을 특징으로 하는 광학 스캐닝 장치.
또한, 광원에 의해 발생된 광빔은 제1렌즈, 제1프리즘형 및 스플리터 및 제2렌즈를 통해 자기 광학기록매체로 조사되고, 광빔을 제1광검출기와 제2광검출기로 진행시키는 편광 빔 스플리터가 기록 매체 뒤에 제공되며, 기록 매체에 의해 반사된 광빔은 제2렌즈를 통해 제1프리즘형 빔 스플리터로 다시 진행하고, 여기서 제3렌즈를 통해 제2프리즘형 빔 스플리터로 진행하며, 제2프리즘형 빔 스플리터는 광빔을 제4렌즈를 통해 제3광검출기로 진행하게 하고, 제3광검출기의 출력신호로부터 포커싱 제어회로에 대한 포커싱 에러신호가 형성되며, 제2프리즘형 빔 스플리터는 광빔을 제4광검출기로 진행하게 하고, 제4광검출기의 출력신호로부터 트래킹 제어회로에 대한 트래킹 에러신호가 형성되며, 차동 증폭기에서 형성되는 상기 제1 및 제2광검출기의 출력 전압의 차로부터 데이타 신호(MS)가 얻어지는 광학 스캐닝 장치에 있어서, 상기 제1 및 제2광검출기의 출력전압의 합계가 가산 증폭기에서 형성되고, 가산 증폭기의 출력단은 제어기를 통해 변조기의 입력단과 연결되며, 상기 변조기는 기록 매체를 투과하는 빛의 강도가 일정한 값으로 조절되도록 광원의 광 출력을 제어하는 것을 특징으로 하는 광학 스캐닝 장치이다.
기록 매체에 의해 반사되거나 기록 매체를 투과하는 빛의 강도가 일정한 값으로 제어되기 때문에, 의사성분 S(t)는 0이 된다. 따라서, 본 발명에 따른 광학 스캐닝 장치는 다른 디스크를 삽입하기 전에 편광 빔 스플리터가 재조절되지 않아도 다른 광학 특성을 가진 자기광학 디스크를 양호하게 판독할 수 있다. 본 발명에서는 의사성분 S(t)가 제어되기 때문에, 종래 기술에서와 같이 편광 빔 스플리터가 정확히 조절될 필요가 없다.
본원 발명은 첨부 도면을 참고로한 이하의 설명으로부터 보다 명백해질 것이다.
제2도에서 데이타를 스캐닝하는 광빔은 대개 레이저인 광원(1)으로부터 렌즈(2), 프리즘형 빔 스플리터(3) 및 또다른 렌즈(4)를 통해 기록 매체(5)에 포커싱되고, 기록 매체(5)는 광빔을 렌즈(4)를 통해 다시 프리즘형 빔 스플리터(3)로 반사시킨다. 반사된 광빔은 프리즘형 빔 스플리터(3)에 의해 직각으로 프리즘형 빔 스플리터(6)로 진행한다. 프리즘형 빔 스플리터(6)를 똑바로 투과한 광빔은 렌즈(12)를 통해 프리즘형 빔 스플리터(13)에 조사되고, 프리즘형 빔 스플리터(13)는 광빔을, 예를들면 2개의 포토 다이오드((E 및 F)로 구성될 수 있는 광검출기(16)로 진행시킨다. 3빔 방식, 소위 3빔 광픽업에 따라 작동하는 광학 스캐닝 장치에서 공지되어 있는 바와 같이 차동 증폭기에서는 광검출기(16)의 출력신호(ES 및 FS)로부터 트래킹 에러신호 TE=ES-FS가 형성된다. 프리즘형 빔 스플리터(13)에 의해 광빔은 직각으로 렌즈(14)를 통해 광검출기(15)로 진행하며, 이 광검출기(15)는 예를들어 4개의 사각형 포토 다이오드 A,B,C 및 D로 구성될 수 있다. 3빔 방식에 따라 작동하는 광학 스캐닝 장치에서와 마찬가지로, 광검출기(15)의 출력신호 AS, BS, CS 및 DS로부터 포커싱 에러신호 FE=(AS+CS)-(BS+DS)가 형성된다.
그러나, 프리즘형 빔 스플리터(6)는 또한 광빔을 직각으로 λ/2 플레이트(7)를 통해 편광 빔 스플리터(8)로 진행시킨다. 편광 빔 스플리터(8)에서, 광빔의 편광면이 한 방향으로 회전될 때, 광빔은 렌즈(9)를 통해 제1광검출기(11)로 진행하게 된다. 그러나, 광빔의 편광면이 반대방향으로 회전될 때 광빔은 편광 빔 스플리터(8)에 의해 렌즈(10)를 통해 제2광검출기(17)로 진행한다. 제1광검출기(11)의 출력전압은 증폭기(19)를 통해 가산 증폭기(21)의 제1입력단 및 차동 증폭기(20)의 감산 입력단에 공급된다. 제2광검출기(17)의 출력전압은 증폭기(18)를 통해 가산 증폭기(21)의 제2입력단 및 차동 증폭기(20)의 가산 입력단에 공급된다. 가산 증폭기(21)의 출력단은 제어기(22)를 통해 변조기(23)의 입력단과 연결되고, 변조기(23)는 기록 매체에 의해 반사되는 빛의 강도가 일정한 값으로 제어되도록 레이저(1)의 광 출력을 제어한다. 기록 매체(5)의 자구에 기억된 데이타를 포함하는 데이터 신호(MS)는 차동 증폭기(20)의 출력에서 검출될 수 있다.
기록 매체(5)에 의해 반사되는 빛의 강도를 일정한 값으로 제어하기 위해, 광검출기(15 또는 16)의 출력신호가 제어기(22)의 입력단에 공급될 수도 있다. 또한, 기록 매체(5)에 의해 반사되는 빛을 수신하는 별개의 광검출기가 설치되어 그 출력신호가 빛의 강도를 제어하는데 사용될 수 있다.
제3도에 도시된 실시예에서, 레이저(1)에 의해 발생된 광빔은 렌즈(2), 프리즘형 빔 스플리터(3) 및 렌즈(4)를 통해 기록 매체(5)로 진행한다. 레이저(1)에 의해 방출된 빛의 일부는 기록 매체(5)에 의해 렌즈(4)를 통해 프리즘형 빔 스플리터(3)로 다시 반사되고, 프리즘형 빔 스플리터(3)는 광빔을 렌즈(12) 및 프리즘형 빔 스플리터(13)를 통해 광검출기(16)로 진행하게 하며, 광검출기(16)의 출력신호로부터 트래킹 에러신호(TE)가 트래킹 제어회로에서 발생된다. 그러나, 프리즘형 빔 스플리터(13)는 광빔을 렌즈(14)를 통해 광검출기(15)로 진행시키기도 하는데, 광검출기(15)는 예를들면 4개의 사각형 포토 다이오드 A, B, C 및 D로 구성된 사각형 검출기로 형성될 수 있다. 포커싱 제어회로에 대한 포커싱 에러신호(FE)가 광검출기(15)의 출력신호로부터 얻어진다. 기록 매체(5)뒤에 편광 빔 스플리터(31)가 설치되어 편광면이 한 방향으로 회전되어 있는 광빔을 제1광검출기(28)로 진행시키는 반면, 편광면이 반대방향으로 회전되어 있는 광빔은 제2광검출기(29)로 진행시킨다. 상기 2개의 제1 및 제2광검출기(28 및 29)는 차동 증폭기(20)의 입력단과 연결된다.
편광 빔 스플리터(31)에 의해, 기록 매체(5)의 각 자구(magnetic domain)가 어떤 항향으로 자화되어 있느냐에 따라 제1광검출기(28) 또는 제2광검출기(29)로 더 많은 빛이 방사된다. 따라서, 자구에 기억된 데이타를 포함하는 데이타 신호(MS)가 검출될 수 있다.
상기 제1 및 2광검출기(28 및 29)는 가산 증폭기(21)의 입력단과 연결되고, 가산 증폭기(21)의 출력단은 제어기(22)의 입력단과 연결된다. 제어기(22)의 출력단은 변조기(23)의 입력단과 연결되고, 변조기(23)의 출력단은 레이저 광원(1)의 제어입력단과 연결된다. 기록 매체(5)를 투과하는 빛의 강도는 변조기(23)에 의해 일정한 값으로 제어된다.
가산 증폭기 대신에, 기록 매체를 투과하는 빛을 수신하는 별개의 광검출기가 제공되어 이의 출력단이 제어기(22)의 입력단과 연결될 수도 있다.
Claims (4)
- 광원(1)이 빛을 자기광학 기록매체(5)로 방사하고, 상기 기록매체(5)에 의해 반사되거나 상기 기록매체(5)를 투과하는 빛이 그 편광방향에 따라 편광 빔 스플리터(8,31)를 통해 제1광검출기(11,28) 또는 제2광검출기(17,29)로 조사되는 자기광학 기록매체(5)를 판독하는 방법에 있어서, 상기 기록매체(5)에 의해 반사되거나 상기 기록매체(5)를 투과하는 빛의 강도를 측정하고, 상기 측정된 빛의 강도를 요구하는 빛의 강도와 비교하고, 상기 비교에 따라 광원(1)의 출력을 조절함으로서 상기 기록매체(5)에 의해 반사되거나 상기 기록매체(5)를 투과하는 빛의 강도가 기록매체(5)의 광학 특성에 무관하게 일정하게 제어되어, 판독된 데이타 신호의 잡음성분이 감소되게 하는 것을 특징으로 하는 자기광학 기록매체 판독 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 기록매체(5)에 의해 반사되거나 상기 기록매체(5)를 투과하는 빛을 수신하기 위한 별개의 광검출기를 추가로 포함하고, 상기 광검출기의 출력신호는 상기 빛의 강도를 일정한 값으로 제어하는 것을 특징으로 하는 자기광학 기록매체 판독 방법.
- 광원(1)에 의해 발생된 광빔은 제1렌즈(2), 제1프리즘형 빔 스플리터(3) 및 제2렌즈(4)를 통해 자기광학 기록매체(5)로 조사되고, 기록매체(5)에 의해 반사된 광빔은 제2렌즈(4)를 통해 제1프리즘형 빔 스플리터(3)로 다시 진행하며, 여기서 광빔은 제2프리즘형 빔 스플리터(6)로 진행하고, 제2프리즘형 빔 스플리터(6)는 광빔을 제3렌즈(12) 및 제3프리즘형 빔 스플리터(13)를 통해 제3광검출기(16)로 진행하게 하며, 제3광검출기(16)의 출력신호로부터 트래킹 제어회로에 대한 트래킹 에러신호가 형성되고, 제3프리즘형 빔 스플리터(13)는 광빔을 제4렌즈(14)를 통해 제4광검출기(15)로 진행하게 하고, 제4광검출기(15)의 출력신호로부터 포커싱 제어회로에 대한 포커싱 에러신호가 형성되며, 제2프리즘형 빔 스플리터(6)는 광빔을 λ/2 플레이트(7), 편광 빔 스플리터(8) 및 제5렌즈(9)를 통해 제1광검출기(11)로 진행하게 하고, 편광 빔 스플리터(8)는 광빔을 제6렌즈(10)를 통해 제2광검출기(17)로 진행하게 하며, 제1광검출기(11)의 출력단은 제1증폭기(19)를 통해 차동 증폭기(20)의 감산 입력단과 연결되고, 제2광검출기(17)의 출력단은 제2증폭기(18)를 통해 차동 증폭기(20)의 가산 입력단과 연결되며, 기록매체의 자구에 기억된 데이타를 포함하는 데이타 신호(MS)는 차동 증폭기(20)의 출력단에서 검출되는 제1항에 따른 방법을 수행하기 위한 광학 스캐닝 장치에 있어서, 제1 또는 제2광검출기(11,17)의 출력단은 제1 또는 제2증폭기(19,18)를 통해 가산증폭기(21)의 한 입력 또는 다른 입력에 연결되고, 가산 증폭기(21)의 출력단은 제어기(22)를 통해 변조기(23)와 연결되고, 변조기(23)의 출력단은 광원의 제어 입력단과 연결되는 것을 특징으로 하는 광학 스캐닝 장치.
- 광원(1)에 의해 발생된 광빔은 제1렌즈(2), 제1프리즘형 빔 스플리터(3) 및 제2렌즈(4)를 통해 기록매체(5)로 조사되고, 광빔을 제1광검출기(28)와 제2광검출기(29)로 진행시키는 편광 빔 스플리터(31)가 기록매체(5)뒤에 제공되며, 기록매체에 의해 반사된 광빔은 제2렌즈(4)를 통해 제1프리즘형 빔 스플리터(3)로 다시 진행하고, 여기서 제3렌즈(12)를 통해 제2프리즘형 빔 스플리터(13)로 진행하며, 제2프리즘형 빔 스플리터(13)는 광빔을 제4렌즈(14)를 통해 제3광검출기(15)로 진행하게 하고, 제3광검출기(15)의 출력신호로부터 포커싱 제어회로에 대한 포커싱 에러신호가 형성되며, 제2프리즘형 빔 스플리터(13)는 광빔을 제4광검출기(16)로 진행하게 하고, 제4광검출기(16)의 출력신호로부터 트래킹 제어회로에 대한 트래킹 에러신호가 형성되며, 차동 증폭기(20)에서 형성되는 상기 제1 및 제2광검출기(28,29)의 출력 전압의 차로부터 데이타 신호(MS)가 얻어지는 제1항에 따른 방법을 수행하기 위한 광학 스캐닝 장치에 있어서, 상기 제1 및 제2광검출기(28,29)의 출력전압의 합계가 가산 증폭기(21)에서 형성되고, 가산 증폭기(21)의 출력단은 제어기(22)를 통해 변조기(23)의 입력단과 연결되며, 상기 변조기(23)는 기록매체(5)를 투과하는 빛의 강도가 일정한 값으로 조절되도록 광원(1)의 광 출력을 제어하는 것을 특징으로 하는 광학 스캐닝 장치.
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