KR970003615A - 웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법 - Google Patents

웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970003615A
KR970003615A KR1019950015819A KR19950015819A KR970003615A KR 970003615 A KR970003615 A KR 970003615A KR 1019950015819 A KR1019950015819 A KR 1019950015819A KR 19950015819 A KR19950015819 A KR 19950015819A KR 970003615 A KR970003615 A KR 970003615A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wafer
cleaning solution
acid cleaning
oxide film
gate oxide
Prior art date
Application number
KR1019950015819A
Other languages
English (en)
Inventor
안현수
문성태
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019950015819A priority Critical patent/KR970003615A/ko
Publication of KR970003615A publication Critical patent/KR970003615A/ko

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 소자의 웨이퍼상의 게이트 산화막 형성을 위한 전처리 과정으로서 웨이퍼 세정방법을 개시한다. 개시된 방법은 웨이퍼를 순차적으로 황산 세정액, 플루오르화수소산 세정액, 질산 세정액 그리고 끝으로 염산 세정액에 침지시키는 단계를 포함한다. 개신된 방법에 의하면 질산 세정액에 침지시키는 단계를 포함하므로써 웨이퍼로부터 플루오르화물을 완전히 제거할 수 있으므로, 소자의 신뢰도가 크게 향상된다.

Description

웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

Claims (2)

  1. 웨이퍼 표면을 황산세정액으로 세정하고, 플루오르화수소산 세정액으로 세정하고, 끝으로 염산 세정액으로 세정하는 것을 포함하는 웨이퍼의 게이트산화막을 형성을 위한 진처리 방법에 있어서, 플루오르화수소산 세정액에 의한 세정후에, 질산 세정액으로 세정을 실시하여 웨이퍼 표면으로부터 플루오르화물을 제거하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 게이트 산화막 형성을 위한 전처리 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 세정액의 조성이 약 1 : 6부피비의 질산 : 탈이온수인 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 게이트 산화막 형성을 위한 진처리 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950015819A 1995-06-15 1995-06-15 웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법 KR970003615A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950015819A KR970003615A (ko) 1995-06-15 1995-06-15 웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950015819A KR970003615A (ko) 1995-06-15 1995-06-15 웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970003615A true KR970003615A (ko) 1997-01-28

Family

ID=66524502

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950015819A KR970003615A (ko) 1995-06-15 1995-06-15 웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970003615A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930020582A (ko) 반도체소자 제조공정의 비아 콘택형성방법
KR970013087A (ko) 반도체 장치의 제조방법 및 반도체 장치
JP3325739B2 (ja) シリコンウエーハの清浄化方法
KR970003615A (ko) 웨이퍼의 게이트 산화막의 형성을 위한 전처리 방법
JP2002329691A (ja) シリコンウェーハの洗浄方法
US3115424A (en) Process for the passivation of semiconductors
KR970010936A (ko) 반도체 장치의 세정에 사용되는 세정액 및 이를 이용한 세정방법
KR950001904A (ko) 게이트전극 형성방법
KR960026324A (ko) 반도체 장치의 패드 세정 방법
KR960026316A (ko) 반도체 기판의 세정방법
KR940001302A (ko) 프리-실리사이드 세정방법
KR950021187A (ko) 웨이퍼 세정방법
KR950004438A (ko) 과다증착된 폴리실리콘막 식각방법
KR950009955A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR950001930A (ko) 반도체 소자 크리닝 방법
KR930001380A (ko) 금속패턴 형성방법
KR970063551A (ko) 반도체 소자의 산화막 제거 방법
KR960039212A (ko) 반도체 소자의 게이트산화막 형성방법
KR940016535A (ko) 과산화수소를 이용한 웨트에칭후 처리방법
KR930022478A (ko) 반도체장치의 표면처리방법
KR970003573A (ko) 반도체 웨이퍼의 세정 방법
KR940027085A (ko) 반도체 소자의 게이트 폴리실리콘막 형성전의 세척 방법
KR950007007A (ko) 반도체 소자의 자연산화막 제거방법
KR970003599A (ko) 반도체 소자의 자연 산화막 제거방법
KR970003673A (ko) 반도체소자 제조시 금속 불순물 제거방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination