KR960029906A - 레지스트 재료 - Google Patents
레지스트 재료 Download PDFInfo
- Publication number
- KR960029906A KR960029906A KR1019960002035A KR19960002035A KR960029906A KR 960029906 A KR960029906 A KR 960029906A KR 1019960002035 A KR1019960002035 A KR 1019960002035A KR 19960002035 A KR19960002035 A KR 19960002035A KR 960029906 A KR960029906 A KR 960029906A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- compound
- substituted
- straight chain
- resist
- acid generator
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/0045—Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/039—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
수직 배향 화합물을 화학 증폭식 레지스트에 첨가하여 노광 후 베이킹시의 산촉매화 및 현상 단계에서의 현상제의 침투가 레지스트의 깊이 방향으로 진행되도록 한다. 이렇게 함으로써 리도그래피 단계에서 레지스트 형상, 치수 균일성 및 해상력이 형상된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (7)
- 수직 배향 특성이 있는 직쇄 화합물이 첨가된, 적어도 수지 및 감광성 산 발생제를 함유하며, 감광성 산 발생제에 의해 생선된 산의 촉매 반응에 의해 그의 용해성이 변화하는 화학 증폭식 포지티스 레지스트 재료.
- 제1항에 있어서, 직쇄 화합물이 산의 존재시 가수분해되어 하드록실rl를 생성하는 치환기를 함유하는 것인 레지스트 재료.
- 제1항에 있어서, 직쇄 화합물이 치환된 시클로헥실 시클로헥산카르복실세이트 화합물, 치환된 아릴 시클로헥산카르복실레이트 화합물, 치환된 아릴 벤조에이트 화합물, 치환된 비페닐 화합물, 치환된 페닐피리미딘 화합물 및 치환된 페닐디옥산 화합물로 이루어진 군에서 선택된 것인 레지스트 재료.
- 제1항에 있어서, 레지스트 중의 수지가 자기장을 인가하지 않아도 분극 배향되는 것인 레지스트 재료.
- 수직 배향 특성이 있는 직쇄 화합물이 첨가된, 적어도 수지 및 감광성 산 발생제를 함유하며, 감광성 산 발생제에 의해 생성된 산의 촉매 반응에 의해 그의 용해성이 변화되는 화학 증폭식 네가티브 레지스트 재료.
- 제5항에 있어서, 직쇄 화합물이 히드록실기를 함유하는 것인 레지스트 재료.
- 제5항에 있어서, 직쇄 화합물이 치환된 시클로헥실 시클로헥산카르복실레이트 화합물, 치환된 아릴 시클로헥산카르복실레이트 화합물, 치환된 아릴 벤조에이트 화합물, 치환된 비페닐 화합물, 치환된 페닐피라미딘 화합물 및 치환된 페닐디옥산 화합물로 이루어진 군에서 선택된 것인 레지스트 재료.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7013140A JP2820051B2 (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | レジスト材料 |
JP95-13140 | 1995-01-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960029906A true KR960029906A (ko) | 1996-08-17 |
Family
ID=11824865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960002035A KR960029906A (ko) | 1995-01-30 | 1996-01-30 | 레지스트 재료 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5665519A (ko) |
JP (1) | JP2820051B2 (ko) |
KR (1) | KR960029906A (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1145339A1 (en) * | 1999-11-02 | 2001-10-17 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of producing vertical interconnects between thin film microelectronic devices and products comprising such vertical interconnects |
US20040265749A1 (en) * | 2003-06-26 | 2004-12-30 | International Business Machines Corporation | Fabrication of 3d rounded forms with an etching technique |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3750275T3 (de) * | 1986-06-13 | 1998-10-01 | Microsi Inc | Lackzusammensetzung und -anwendung. |
US4996123A (en) * | 1986-07-11 | 1991-02-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optically oriented photoresist pattern forming method using organic crystal in photoresist layer with specified refracting indices formula |
NL8802832A (nl) * | 1988-02-29 | 1989-09-18 | Philips Nv | Methode voor het vervaardigen van een gelaagd element en het aldus verkregen element. |
JPH01300250A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-04 | Tosoh Corp | フォトレジスト組成物 |
JPH0366118A (ja) * | 1989-08-04 | 1991-03-20 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPH03159114A (ja) * | 1989-11-16 | 1991-07-09 | Mitsubishi Electric Corp | 微細パターンの形成方法 |
JP2676981B2 (ja) * | 1990-06-01 | 1997-11-17 | 三菱電機株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JPH06118650A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-28 | Nippon Zeon Co Ltd | レジスト組成物 |
-
1995
- 1995-01-30 JP JP7013140A patent/JP2820051B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-01-30 US US08/593,939 patent/US5665519A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-01-30 KR KR1019960002035A patent/KR960029906A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2820051B2 (ja) | 1998-11-05 |
US5665519A (en) | 1997-09-09 |
JPH08202029A (ja) | 1996-08-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960008428A (ko) | 화학적으로 증폭된 방사선-민감성 조성물 | |
KR900700923A (ko) | 포토레지스트 조성물 | |
KR950019896A (ko) | 방사선 감응성 수지 조성물 | |
KR970067574A (ko) | 레지스트 패턴의 형성 방법 | |
KR950001418A (ko) | 레지스트 물질 | |
AU581199B2 (en) | Negative photoresist systems | |
KR970002470A (ko) | 포지티브형 포토레지스트 조성물 | |
TW353159B (en) | Method of developing positive photoresist and compositions therefor | |
KR970027119A (ko) | 아세탈기를 함유하는 알콕시-스틸렌 중합체와 그의 제조방법 및 알콕시-스틸렌 중합체를 주요 구성성분으로 하는 화학증폭형 포토레지스트 재료 | |
KR960029906A (ko) | 레지스트 재료 | |
KR970071129A (ko) | 디 또는 트리페닐모노테르펜 탄화수소 유도체, 용해 제어제 및 화학 증폭 포지형 레지스트 재료 | |
KR900003678A (ko) | 감광제 및 그 감광제를 사용한 감광성 수지조성물 및 그의 감광성 수지조성물을 사용한 패턴형성방법 | |
KR900018734A (ko) | 감광성조성물, 그것을 사용한 패턴형성방법 및 고분자화합물 | |
CN1109927C (zh) | 化学增强的光刻胶 | |
KR970071630A (ko) | 가교기를 갖는 고분자 화합물의 제조 방법 | |
KR960024674A (ko) | 방사선-민감성 조성물에 사용되는 광산 생성 조성물 | |
KR920003102A (ko) | 내식막 조성물 | |
KR940022195A (ko) | 감광성수지 | |
KR940012544A (ko) | 레지스트 패턴 형성방법 | |
KR900003686A (ko) | 포지티브-워킹 레지스트조성물용 현상액 | |
KR950012153A (ko) | 포지티브형 단편 조성물 및 패턴형성방법 | |
KR970049015A (ko) | 화학 증폭형 레지스트용 베이스 수지 | |
KR970049014A (ko) | 화학증폭형 레지스트용 베이스 수지 | |
KR970028848A (ko) | 감광성수지 조성물 및 이 조성물을 사용한 패턴형성방법 | |
KR960042194A (ko) | 감광성 수지판의 현상 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |