KR960013486B1 - 광헤드 장치 및 이를 이용한 위치설정 시간 측정방법 - Google Patents

광헤드 장치 및 이를 이용한 위치설정 시간 측정방법 Download PDF

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Abstract

내용 없음.

Description

광헤드 장치 및 이를 이용한 위치설정 시간 측정방법
제1도는 종래의 광헤드 장치의 구성도.
제2도는 본발명 광헤드 장치의 구성도.
제3도는 제2도의 신호 처리부에 대한 상세한 구성도.
제4도는 제3도의 섹터마크 검출부에 대한 헤더정보 영역의 예시도.
제5도는 제4도의 섹터 시작점의 섹터마크 패턴 예시도.
제6도는 사용자 입력으로부터 초기값을 설정하기 위한 초기화 알고리즘 예시도.
제7도는 명령 실행시간을 측정하기 위한 명령 실행 계산플로우챠트.
제8도는 호스트 시스템 스크린 상에서 위치 설정시간을 측정하기 위한 플로우챠트이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 반도체 레이저 2 : 평행원형 조준렌즈
3 : 빔 스플리터 4 : 반사경
5 : 조정렌즈 6 : 디스크
7 : 자장코일 8 : 촛점 렌즈
9 : 1/2파장판 편광빔스플리터 10,11 : 광검출기
12 : 전류/전압 변환부 15 : 광헤드 제어부
16 : 광헤드 구동부 17 : 신호 처리부
18 : 인터페이스부 19 : 호스트 시스템
20 : 요철 비트 분리 스위치 21 : 펄스 검출부
22 : 섹터마크 검출부 23 : 위상 보정부
24 : 마이크로 콘트롤러
본 발명은 광디스크 드라이브(optical Disk Drive 이하 ODD라 칭함)광헤드를 이용하여 원하는 목표 트랙(Target track)으로 광헤드(Optic head)를 이동시키는데 소요되는 위치 설정시간(Seek Time)을 보조 측정 장비없이 호스트 시스템 스크린상에서 측정할 수 있는 광헤드 장치 및 이를 이용한 위치 설정시간 측정방법에 관한 것이다.
일반적으로 위치설정시간을 측정하는 방법은, 해당 다바이스에 특정의 측정장비를 사용하여 다바이스로부터 전기적 신호를 측정장비의 입력단으로 인가한 후, 측정장비를 통해 전기적 신호로 분석으로써, 다시 위치설정시간을 계산하는 방식을 쓰고 있다.
따라서, 기존 방식으로 위치설정시간을 측정하는 것은 원하는 목표 트랙을 찾았는지를 확인할 수 있는 별도의 소프트웨어가 필요하다. 또한, 확인과정후에 실지 위치설정시간을 계산하기 위해서는 측정장비에 인가된 전기적 신호로 위치설정시간을 계산하여야 하는데, 전기적 신호를 발생하는 디바이스의 하드웨어 구성시 구성 부품에 오차가 있을 수 있으며, 위치설정시간을 계산하는 불편함과 신뢰성이 저하되는 문제를 갖고 있었다.
한편, 미국 특허 제5,063,545호에는 광헤드에서 읽혀지는 트래버스(Traverse)데이타를 검출하는 트래버스 데이타 검출수단(100)과, 억세스(Access)속도를 나타내는 M상부차수데이타 비트를 형성하기 위해 설정된 시간 간격에서 트래버스 데이타 신호의 편차를 검출하는 제1속도 데이타 형성수단(101-103)과, 트래킹 에러 데이타 신호(Tracking error data signal)를 검출하는 트래킹에러수단(104)과, 억세스 속도(Acces velocity)를 나타내는 N부하차수데이타비트를 형성하기 위해 트래킹에러수단(104)에 의해 트래킹 에러 데이타 신호의 편차를 검출하는 제2속도 데이타 형성수단(105-107)을 구비하여 ODD에서 광헤드가 디스크의 목표트랙에 억세스하는 속도를 검출하는 장치 및 방법에 대하여 기술되고 있으나, 광헤드를 목표 트랙으로 이동시키는데 소요되는 시간인 위치설정시간(Seek time)의 측정에 관한 기술은 언급되어 있지 않다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여, 광자기 디스크 장치에서 정보의헤더 신호를 재생하여 섹터마크를 검출하며, 마이크로 콘트롤러의 인터럽트 발생으로 섹터마크 검출을 인식하게 함으로써, 호스트로부터 명령이 전송된 시간과 호스트시스템 내부의 타이머를 이용하여, 광헤드가 목표 트랙으로 이동하는데 소요되는 시간을 계산하여, 특별 측정 장비없이도 위치설정시간을 계산할 수 있도록 함을 특징으로 한다.
즉, 위치설정시간을 측정하기 위해 접근시간(Access Time : 호스트 시스템에서 지시한 목표 트랙으로 광헤드를 이동시켜 정보가 기록된 곳까지 찾아가는데 소요되는 시간)에서 회전 지연시간(Latency Time : 디스크가 1/2 바퀴 도는데 소요되는 시간)을 뺀 시간으로 위치설정시간(Seek Time)을 계산하는 방식을 사용하여, 사용자가 입력한 디스크 포멧 및 디스크를 회전시키기 위한 모터의 회전수등을 입력받아 회전 지연 시간을 계산하고, 위치설정시간 측정장치로부터 디스크 트랙에 요철비트로 기록된 헤더정보의 시작을 나타내는 섹터마크를 드라이브 마이크로 콘트롤러에서 감지하여 호스트 시스템을 구동하기까지의 시간을 측정함으로써 접근시간을 측정하여 위치설정시간을 계산하도록 한 것이다.
이하, 본 발명의 일실시예를 첨부도면을 참조로 하여 상세히 설명한다.
제2도는 본 발명에 따른 광헤드 장치의 블럭 구성도를 나타낸 것으로 빔을 발산하는 반도체 레이저(1)와, 이 반도체 레이저(1)에서 발산된 빔을 평행한 원형빔으로 조준하는 평행원형 조준렌즈(Collimator lenz)(2)와, 이 평행원형 조준렌즈(2)에의해 조준된 원형 빔을 분할하는 빔스플리터(Beamsplitter)(3)와, 빔스플리터(3)에서 분할된 광빔의 경로를 바꾸는 반사경(Optical path changing mirror)(4)과, 이 반사경(4)에서 경로가 바뀐빔에 의해 디스크(6)의 미세 촛점을 형성하는 조정렌즈(5)와, 전류의 방향으로 자장의 방향을 제어하여 상기 디스크(6)에 기록, 소거의 동작을 행하는 자장 코일(7)과, 상기 빔 스플리터(3)에 의해 경로가 변경된 빔의 촛점 거리를 제어하는 촛점 렌즈(8)와, 이 촛점 렌즈(8)에 의해 촛점거리가 제어된 빔을 투과 및 반사시키는 1/2파장판 편광빔스플리터(polarizing beam splitter)(9)와 이 1/2파장판 편광 빔스플리터(9)에 의해 반사 및 투과된 광을 검출하여 전류 신호로 변환하는 광검출기(beam detector)(10),(11)와 이 광검출기(beam detector)(10), (11)에서 검출되어 변환된 전류 신호를 전압으로 변환하는 전류/ 전압 변환부(Current/Volt. Converter)(12)와, 이 전류/전압 변환부(12)에서 변환된 전압의 고주파수 잡음을 필터링하는 저역 통과 필터(13)와, 이 저역통과 필터(Low pass fillter)(13)에서 필터링된 신호를 피드백 신호 및 데이타 신호로 각각 분리하는 데이타 신호 분리부(14)와, 이 데이타 신호 분리부(14)에서 분리된 피드백 신호에 의해 광헤드 구동장치(16)를 제어하는 광헤드 제어부(15)와, 상기 데이타 신호분리부(14)에서 분리된 데이타 신호를 처리하여 호스트 시스템(19)에 제공토록 인터페이스(18)로 인가하며, 호스트시스템(19)으로부터의 위치설정 명령어 코드를 인터페이스(18)를 통해 제공받아 인식하여 광헤드제어부(15)에 광헤드 제어신호를 제공하는 신호 처리부(17)와, 이 신호 처리부(17)에서 처리된 신호를 호스트 시스템(19)으로 전송하고 호스트 시스템(19)의 명령어 코드를 신호처리부(17)로 회송하는 인터페이스부(18)로 구성한다.
상기 신호 처리부(17)는 제3도에 도시한 바와 같이, 데이타 신호 분리부(14)에서 분리된 데이타 신호의 요철 비트를 분리하는 요철비트 분리 스위치(20)와, 이 요철 비트 분리 스위치(20)에서 분리된 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환시키는 펄스 검출부(21)와, 이 펄스 검출부(21)에서 변조된 디지탈 신호의 섹터마크(Sector mark)를 검출하는 섹터마크 검출부(22)와, 이 섹터마크 검출부(22)에서 검출된 신호의 위상을 보정하여 동기를 맞추는 위상 보정부(23)와, 이 위상 보정부(23) 및 상기 섹터마크 검출부(22)의 출력에 의해 요철비트 분리 스위치(20)를 제어하는 마이크로 콘트롤러(24)로 구성한다.
상기와 같이 구성한 본 발명의 작용 및 효과를 상세히 설명하면 다음과 같다.
디스크 헤더 섹터에 일정한 패턴으로 기록된 섹터마크를 검출하는 광헤드 장치의 위치설정시간을 측정하기 위해, 반도체 레이저(1)에서 발산된 빔은 평행 원형 조준렌즈(2)에 의해 평행한 원형 빔이 되고, 빔 스플리터(3)를 거쳐 반사경(4)에서 조정렌즈(5)로 광빔의 경로를 바꾼다. 경로가 바뀐 빔은 조정렌즈(5)에 의해 디스크(6)에 미세 촛점을 형성한다. 자장코일(7)의 전류방향으로 자장의 방향을 제어해 기록, 소거의 동작을 행한다.
한편, 상기 디스크(6)로부터 반사된 빔은 조정렌즈(5)를 통해 일정량의 반사광이 빔 스플리터(3)에서 경로가 변경되어, 1/2 파장만 평관 빔 스플리터(9)에 도달하여 투과빔 및 반사광이 각각의 광검출기(10),(11)에 도달한다.
또한 기록, 소거가 가능한 사용자 데이타 촛점렌즈(8)는 광검출기(10), (11)의 광크기를 차동구성방식으로 이용하기 위한 촛점거리 제어용으로 사용한다. 광검축기(10), (11)에서 검출된 광신호는 전류신호를 바뀌고, 전류신호는 전류/전압 변환부(12)에서 전압의 값으로 바뀐다. 디스크(6)로부터 고주파수인 잡음을 제거하기 위해 저역통과 필터(13)를 거친 신호는 데이타 신호 분리부(14)에서 광헤드 구동부(16)를 구동하여 디스크(16)표면에 광빔의 크기를 일정하게 유지시키고 트랙을 추종하기 위한 피드백 신호와, 데이타 검출을 위한 데이타 신호를 각각 분리해 낸다.
상기 데이타 신호부리부(14)에서 분리된 데이타 신호는 신호처리부(17)에서 섹터마크를 검출하여 호스트시스템(19) 및 드라이브의 전체 명령 실행시간을 계산하게 된다. 그리고 일반적으로 광자기 디스크의 정보 기록 형태를 2가지 형태로 기록되고 헤더부 영역과 데이타부 영역으로 구분된다. 헤더부는 요철 비트의 기록형태로 기록된 사용자가 기록할 수 없는 영역(Read Only 이하 RO라 칭함)이며, 데이타부는 사용자가 기록, 소거 및 재생이 가능한 영역(Magnetic Optic 이하 MO라 칭함)이다.
그리고, 신호 처리부(17)의 요철 비트분리스위치(20)는 신호RO와 신호MO를 분리하기 위해 섹터마크 검출부(22)에서 발생된 신호를 마이크로 콘트롤러(24)의 인터럽트 감지선으로 입력하여 요철 비트분리 스위치(20)를 제어함으로써, 신호RO와 신호MO가 분리된다.
펄스 검출부(21)는 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환시켜 섹터마크 검출부(22)를 통해 위상 보정부(23)에 입력한다.
위상 보정부(23)는 요철 비트 분리스위치(20)에서 분리된 신호MO의 위상을 보정하여 마이크로 콘트롤러(24)가 디코드할 수 있도록 동기를 맞추는 역활을 한다.
상기 섹터마크 검출부(22)가 섹터마크를 검출하기 위한 헤더 정보영역은 제4도에 도시한 바와같이, 사용자가 기록할 수 없는 영역(RO)으로 기록방법이 요철화된 요철비트정보의 일부분인 섹터마크 시작점은 항상 일정 마크가 발견되면 마이크로 콘트롤러(24)로 인터럽트(interrupt)를 발생시켜 섹터마크가 감지되었음을 알리도록 한다. 일반화된 헤더 정보영역의 섹터 시작점을 표시하는 섹터마크가 헤더정보영역의 시작점을 나타낸다.
상기와 같이 헤더정보영역이 섹터 시잠점을 가리키는 섹터마크 패턴을 제5도와 같이 예시할 수 있는바, T는 채널 비트로 각 섹터당 기록될 수 있는 최소 크기를 나타내고, 2T는 1바이트에 해당된다. 한편, 호스트 시스템(19)에서 사용자로부터 드라이브 특성 및 디스크 포멧(Format)을 입력받는 과정(1A)과, 입력된 변수로부터 드라이브 하드웨어 구성 및 디스크 포멧에 상관없이 위치설정 시간을 계산하기 위한 글로벌 변수를 설정하는 사용자 입력(1B)은 제6도에 도시한 바와같이, 알피엠(RPM : Revolution Per Minute)은 디스크(6)를 회전시키기 위한 드라이브 스핀들 모터(Spindle Motor)의 분당 회전수이고, 티티엔(TTN; Total Tracks Number)은 사용자 디스크의 총 트랙수를, 에스피티(SPT; Sectors Per Track)는 디스크(6)의 한 트랙당 섹터수를 나타내는 것으로 사용자 드라이브의 하드웨어 및 디스크 포멧의 특성을 입력받는 과정(1A)과; 입력된 값을 알고 리즘상 글로벌 변수로 지정하기 위한 알피에스(RPS; Rovolution Per Sec), 티피알(TPR; Time Per Revolution), 티피에스(TPS; Time Per Sector),에이티피에스(ATPS; Average Time Per Sector), 지연시간(Latency Time;스핀들 모터가 1/2바퀴 도는데 걸리는 시간)등의 글로벌 변수를 사용장 입력과정(1A)으로부터 계산하여 스핀들 모터의 회전수 및 디스크 형식에 상관없이 글로벌 변수로 초기화시키는 과정(1B)으로 이루어진다.
제7도는 호스트 시스템(19) 및 드라이브 하드웨어에서의 전체 명령 전달시간을 계산하기 위한 순서도로서 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 호스트 시스템(19)에서 신호처리부(17)로 제4도 및 제5도와 같은 섹터마크(Sector Mark 이하 SM이라 칭함)를 찾을 것을 지시한다(2A). 호스트 시스템(19)의 내부 타이머(도시하지 않았음)는 SM탐색(Search)명령이 실행되는 순간 타이머를 클리어하여 시간 측정을 위해 카운트 시작을 준비한다(2B). 호스트 시스템(19)은 인터페이스부(18)를 거쳐 신호처리부(17)의 마이크로 콘트롤러(24)의 요철분리 단자를 구동하여 요철비트분리 스위치(20)에서 정보 RO를 받아 들인다(2C). 신호 처리부(17)의 펄스 검출부(21)에서는 아날로그 상태의 RO정보를 디지탈 정보로 변환시켜 섹터마크 검출부(22)로 인가하여, 정보(RO)중 제5도와 같은 일정한 패턴의 섹터마크 신호를 검출하게 된다.
섹터마크가 검출되면, 마이크로 콘트롤러(24)의 인터럽트 단자에 섹터마크 검출신호를 보낸다(2D).
마이크로 콘트롤러(24)는 일정시간 즉, 제6도의 초기화 과정(1B)의 변수인 지연시간의 상수배의 시간지연동안 섹터마크가 검출되었는가를 감지함으로써, RO영역의 정보파괴 및 디스크(6)의 신뢰성을 검사할 수 있다(2E).
일정시간동안 섹터마크 검출신호가 감지되지 않으면, 에러가 있으므로 판단하여 호스트 시스템(19)에 에러 메세지 코드를 보내고, 에러가 감지되면 모든 실행을 종료한다(2I). 반면 섹터마크SM 검출신호가 감지되면 마이크로 콘트롤러(24)는 호스트 시스템(19)의 타이머에 인터럽트를 발생시켜 타이머의 카운트를 중지하고(2F), 이때의 시간을 변수 명령어 시간(Instruction Time)에 저장한 후(2G), 호스트 타이머를 클리어 시킨다(2H).
이와 같은 방법으로, 변수명령어 시간에는 호스트 및 사용자가 드라이브에서 명령을 실행시키는 시간이 기록된다. 그리고 호스트 및 사용자가 드라이브에서 명령을 실행시키는 시간이 기록된다. 그리고 호스트 시스템(19)에서 위치 설정 명령을 지시하여 광헤드를 목표 트랙으로 이동시켜 광헤드가 위치 설정하는데 소요되는 시간을 계산하는 본발명 광헤드 장치의 위치설정시간 측정방법은 제8도와 같이 도시할 수 있는바 이를 상세히 설명하면 다음과 같다. 위치 설정시간은 목표 트랙 또는 섹터를 찾아가는데 소요되는 접근시간에서 디스크(6)가 1/2바퀴 도는데 소요되는 지연시간(Latency Time)을 감안하여 위치설정시간을 계산한다.
즉, 호스트 시스템(19)에서 위치설정(Seek) 명령을 지시하면(3A), 마이크로콘트롤러(24)로 위치설정(Seek) 명령어를 전송하기 전에 명령전달 시간을 계산한다(3B). 이때 명령전달 시간 계산의 과정은 제7도의 순서와 같다.
호스트 시스템(19)은 위치설정시간 측정장치를 구동하기 위해 위치설정 명령어를 전송한다(3C). 위치설정 명령어를 전송한 후 호스트 시스템(19)의 타이머를 구동하여 카운트를 시작한다(3D). 전송된 위치설정 명령어는 인터페이스부(18)를 거쳐 신호처리부(17)의 마이크로 콘트롤러(24)에 전송된다.
마이크로 콘트롤러(24)는 호스트 시스템(19)으로부터 전송된 위치설정 명령어 코드를 인식하여 광헤드 제어부(15)에 광헤드 제어신호를 인가한다(3E). 마이크로 콘트롤러(24)로부터 디지탈 신호를 받아 광헤드 구동부(16)에 필요한 아날로그 신호는 광헤드 구동부(16)를 구동하여 목표 트랙으로 광헤드를 이동시킨다(3G). 광헤드의 이동을 마치면 위치설정의 신뢰성 검사를 위하여 요철 비트로 기록된 헤더 정보중 트랙번호를 읽어 광헤드가 위치한 트랙을 읽은 후, 마이크로 콘트롤러(24)는 목표 트랙과의 일치 여부를 비교한다(3H). 그리고 오차값 보정을 위해 광헤드 제어부(15)를 구동하여 정확한 목표 트랙에 도달할 때까지 오차값 보정 과정을 반복하며(3I), 일정시간 즉, 변수 지연시간의 정수배 시간지연동안 목표 트랙에 광헤드가 도달하였는가를 검사한다(3J).
일정시간동안 목표 트랙을 찾지 못하면, 호스트 시스템(19)에 에러 메서지 코드를 전송하여 위치설정 명령이 실패하였음을 알려준다(3M).
반면에, 목표 트랙의 정확한 위치에 광헤드가 위치하면 마이크로 콘트롤러(24)는 호스트 시스템(19)의 타이머를 중단시키는 인터럽트를 발생시켜 변수를 위치설정 정지시간(Seek Stop Time)에 저장한다(3K). 목표 트랙을 성곡적으로 찾는 시점까지의 순수 광헤드 이동시간(Seek Time)은 전체 실행시간이 저장된 변수(Seek Stop Time-Seek Start Time)에서 디스크(6)가 1/2 회전되는데 소요되는 시간이 저장된 변수(Latency Time)와 호스트 시스템(19) 및 드라이브 전체에서의 명령 실행시간이 저장된 변수(Instruction Time)를 빼어 위치설정시간(Seek Time)을 계산한다(3L). 즉, Seek Time=Seek Stop Time-Seek Start Time-Latency Time-Instruction Time과 같이 계산한다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본발명은, 호스트 시스템 및 드라이브 하드웨어 구성에 상관없이 호스트 시스템 스크린 상에서 위치설정시간 측정이 가능하고, 디스크 포맷 형태 즉, 한 트랙당 섹터의 수, 총트랙수 등의 디스크 구조에 관계없이 위치설정 시간을 측정할 수 있다.
또한 위치설정시간을 측정함으로써, 광헤드 구동장치의 신뢰성 검사 및 드라이브 전체에 대한 신뢰성 검사를 할 수 있는 효과가 있다.

Claims (4)

  1. 빔을 발산하는 반도체 레이저(1)와, 이 반도체 레이저(1)에서 발사된 빔을 평행한 원형빔으로 조준하는 평행원형 조준렌즈(2)와, 이 평행 원형 조준렌즈(2)에 의해 조준된 원형 빔을 분할하는 빔 스플리터(3)와, 이 빔 스플리터(3)에서 분할된 광빔의 경로를 바꾸는 반사경(4)과, 이 반사경(4)에서 경로가 바뀐 빔에 의해 디스크(6)의 미세 촛점을 형성하는 조정렌즈(5)와, 전류의 방향으로 자장의 방향을 제어하여 상기 디스크(6)에 기록, 소거의 동작을 행하는 자장 코일(7)과, 상기 빔스플리터(3)에 의해 경로가 변경됨 빔의 촛점거리를 제어하는 촛점렌즈(8)와, 이 촛점렌즈(8)에 의해 촛점거리가 제어된 빔을 투과 및 반사시키는 1/2 파장판 편광빔스플리터(9)와, 이 1/2 파장판 편광빔스플리터(9)에 의해 반사 및 투과된 광을 검출하여 전류 신호로 변환하는 광검출기(10), (11)와, 이 광검출기(10), (11)에서 검출되어 변환된 전류신호를 전압으로 변환하는 전류/전압 변환부(12)와, 이 전류/전압 변환부(12)에서 변환된 전압의 고주파수 잡음을 필터링하는 저역 통과 필터(13)와, 이 저역 통과 필터(13)에서 필터링한 신호를 피드백 신호 및 데이타 신호로 각각 분리하는 데이타 신호분리부(14)와, 이 데이타 신호 분리부(14)에서 분리된 피드백 신호에 의해 광헤드 구동장치(16)를 제어하는 광헤드 제어부(15)와, 상기 데이타 신호 분리부(14)에 분리된 데이타에서 섹타마크를 추출하여 호스트시스템(19)에 제공토록 인터페이스부(18)로 인가하여, 호스트시스템(19)로부터의 위치설정 명령어 코드를 인터페이스부(18)를 통해 제공받아 인식하여 광헤드 제어부(15)에 광헤드제어신호를 제공하는 신호처리부(17)와, 이 신호처리부(17)에서 처리된 신호를 호스트 시스템(19)으로 전송하고 호스트시스템(19)의 명령어코드를 신호처리부(17)로 회송하는 인터페이스부(18)로 구성함을 특징으로 하는 광헤드 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 신호처리부(17)는 상기 데이타 신호분리부(14)에서 분리된 데이타 신호의 요철비트를 분리하는 요철 비트 분리스위치(20)와, 이 요철 비트 분리스위치(20)에서 분리된 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환시키는 펄스 검출부(21)와, 이 펄스 검출부(21)에서 변환된 디지탈 신호의 섹터마크를 검출하는 섹터마크 검출부(22)와, 이 섹터마크 검출부(22)에서 검출된 신호의 위상을 보정하여 동기를 맞추는 위상보정부(23)와, 이 위상 보정부(23) 및 상기 섹터마크 검출부(22)의 출력에 의해 요철 비트 분리스위치(20)를 제어하는 마이크로 콘트롤러(24)로 구성함으로 특징으로 하는 광헤드 장치.
  3. 호스트 시스템(19)에서 위치설정 명령을 지시하여 광헤드를 목표 트랙으로 이동시켜 광헤드가 위치설정하는데 소요되는 시간을 계산하기 위하여 호스트 시스템(19)에서 위치설정(Seek) 명령어를 검출하는 단계(3A)와, 검출된 명령어 전달시간을 계산하는 단계(3B)와, 명령전달시간 계산후 호스트 시스템(19)의 위치설정 명령어를 전송하는 단계(3C)와, 전송된 명령어에 의해 호스트 시스템(19)의 타이머를 구동하여 카운트를 시작하는 단계(3D)와, 전송된 명령어 코드를 인식한 마이크로 콘트롤러(24)에서 위치설정 기능을 지시하는 단계(3E)와, 마이크로 콘트롤러(24)로 부터의 디지탈 신호를 받아 광헤드 구동에 필요한 아날로그 신호로 변환하기 위해 광헤드 제어부(15)를 구동하는 단계(3F)와, 광헤드 제어부(15)로부터의 아날로그 신호로 광헤드 구동부(16)를 구동하여 목표 트랙으로 광헤드를 이동시키는 단계(3E)와, 광헤드 이동을 마치면 광헤드가 위치한 트랙을 읽은후 마이크로 콘트롤러(24)에서 목표 트랙과의 일치여부를 비교하는 단계(3H)와, 오차값 보정을 위해 광헤드 제어부(15)를 구동하여 정확한 목표 트랙에 도달할 때까지 오차값 보정과정을 반복하는 단계(3I)와, 오차값 보정후 일정시간동안 목표 트랙에 광헤드가 도달하였는가를 검사하는 단계(3J)와, 목표 트랙의 정확한 위치에 광헤드가 위치하면 마이크로 콘트롤러(24)에서 호스트 시스템(19)의 타이머를 중단시키는 인터럽트를 발생시켜 변수를 위치 설정 정지시간에 저장하는 단계(3K)와, 전체 실행시간이 저장된 변수에서 디스크가 1/2 회전되는데 소요되는 시간이 저장된 변수와 전체 명령 실행 시간이 저장된 변수를 빼어 목표 트랙을 성공적으로 찾는 시점까지의 순수 광헤드 이동시간인 위치 설정시간을 계산하는 단계(3L)와, 상기 단계(3J)에서 일정시간동안 목표 트랙을 찾지 못하면 호스트 시스템(19)에서 에러메세지 코드를 전송하여 위치 설정 명령이 실패하였음을 알려주는 단계(3M)로 이루어짐을 특징으로 하는 광헤드 장치의 위치 설정시간 측정방법.
  4. 제3항에 있어서 명령 전달시간을 계산하는 단계(3B)는 호스트 시스템(19)에서 섹터마크(SM) 위치설정 명령을 지시하는단계(2A)와, 섹터마크 위치설정 명령일 실행되는 순간 호스트 시스템(19)의 내부타이머를 클리어하여 시간측정을 위해 카운트 시작을 준비하는 단계(2B)와 호스트 시스템(19)의 내부타이머가 클리어된 후 마이크로 콘트롤러(24)의 요철 분리신호선을 구동하는 단계(2C)와, 요철분리 신호선 구동에 의해 신호 처리부(17)를 구동하여 아날로그 정보를 디지탈 정보로 변환시켜 일정한 패턴의 섹터마크 신호를 검출하는 단계(2D)와, 섹터마크가 검출되면 마이크로 콘트롤러(24)의 인터럽트 단자에 섹터마크 검출신호를 보내어 마이크로 콘트롤러(24)에서 일정시간동안 섹터마크 검출신호가 검출되었는가를 감지하는 단계(2E)와, 섹터마크 검출신호가 감지되면 호스트 시스템(19)의 타이머에 인터럽트를 발생시켜 타이머의 카운트를 중지하는 단계(2F)와, 변수에 명령 실행시간 기록후 호스트 타이머를 클리어시켜 초기 상태로 복귀하는 단계(2H)와, 상기단계(2E)에서 일정시간 동안 섹터마크 검출신호가 감지되지 않으면 호스트 시스템(19)에 에러 메세지 코드를 보낸후 모든 실행을 종료하는 단계(2I)로 이루어짐을 특징으로 하는 광헤드 장치의 위치 설정시간 측정방법.
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