KR950033510A - 반도체 시험장치용 드라이버 회로 - Google Patents
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Abstract
현격히 소비 전력을 감소시킬 수 있고, 전원 전압은 낮게 설정할 수 있으며, 온도 상승 대책도 간소하게 끝낼 수 있는 드라이버 회로를 실현한다.
이 때문에 반도체 시험용장치의 출력단(615)으로 하여 레벨과 로우 레벨을 바꾸어 출력하는 드라이버 회로에 있어서, 전류 스위치에 의해 설정된 기간, 출력 전류를 공급하는 전류원 수단(703)을 구비한다. 그리고, 해당 전류원 출력을 주어진 입력 전압(603)으로 에미터 폴로워 출력하는 전압 출력 수단을 구비한다. 그리고, 상기 구성에 의해 구성되는 하이 레벨 증폭기(613)를 구비하고, 해당 구성에 의해 이루어지는 로우 레벨 증폭기(614)도 구비하며, 반도체 시험장치용의 저소비 전력 드라이버 회로를 구성한다.
또한, 무부하시의 소비 전류를 감소시키는 회로 방식으로 저소비 전력화를 실현하는 드라이버 회로로 하는 것을 목적으로 한다. 이 때문에 정전압의 차동 스위칭 신호와 부전압의 차동 스위칭 신호를 받아서 다이오드 브리지 DB71, DB72를 스위칭하여 아날로그 전압 신호 VH 또는 VL을 출력단의 트랜지스터에 공급하고, 트랜지스터 Q107와 Q112로 커런트 미러를 형성하여 상보형 구성의 NPN 트랜지스터 Q112와 PNP 트랜지스터 Q113를 A급 바이어스를 부여하여 버퍼 증폭하고, 출력단 out1으로 출력시킨다. 또한, 드라이버 금지 동작시에 1/0 스파이크를 감소시킨 드라이버 회로를 실현한다.
이 때문에 제1스위칭 단자에는 하이 레벨 입력 전압 VH을 인가하고, 제2스위치 단자에는 제1전압 출력 수단의 베이스 전압 VA을 인가하며, 해당 제1전류원 수단에 대한 제어 전류 신호를 입력 단자에 접속시키고, 출력 단자를 해당 제1전류원 수단에 부여하는 제1스윗칭 수단(758,760)을 구비하며, 해당 전압 VA이 해당 하이레벨 입력 전압 VH와 일치할 때까지 해당 제1전류원 수단이 온이 되는 것을 금지시키며, 동일하게 로우 레벨측에도 구비하여 구성된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예1에 의한 드라이버 회의 개념도, 제3도는 본 발명의 실시예 3에 의한 드라이버 회로도.
Claims (10)
- 반도체 시험용 장치의 출력단(615)으로하이 레벨과 로우 레벨을 바꾸어 출력하는 드라이버 회로에 있어서, 전류 스위치에 의해 설정된 기간, 출력 전류를 공급하는 제1전류원 수단(703)과, 부여된 하이 레벨 입력 전압(603)에서 에미터 폴로워 출력하는 제1전압 버퍼 수단(701)과, 상기 제1전류원 출력에 따라서, 상기 제1전압 버퍼 출력치로 출력전위를 결정하는 베이스 접지의 제1전압 출력 수단(702)으로 구성되는 하이 레벨 증폭기(613)와; 전류 스위치에 의해 설정된 기간, 출력 전류를 공급한는 제2전류원수단(803)과, 부여된 로우 레벨 입력 전압(604)에서 에미터 폴로워 출력하는 제2전압 버퍼수단(801)과, 상기 제2전류원 출력에 따라서, 상기 제2전압 버퍼 출력치로 출력전위를 결정하는 베이스 접지의 제2전압 출력 수단(802)으로 구성되는 로우 레벨 증폭기(614)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 시험장치용의 저소비 전력 드라이버 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 출력단(615)의 출력 전류의 증감을 검출하는 제1검출 수단(704,705,706,707,708)을 구비하고, 상기 제1검출치에 따라서, 상기 제1전류원 수단(703)의 전류치를 제어하는 제1피드백 제어수단(709)을 구비하고, 상기 출력단(615)의 출력 전류의 증감을 검출하는 제2검출 수단(804,805,806,807,808)을 구비하고, 상기 제2검출치에 따라서, 해당 제2전류원 수단(803)의 전류치를 제어하는 제2피드백 제어수단(809)을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 시험장치용의 저소비 전력 드라이버 회로.
- 제2항에 있어서, 상기 제1검출치에 따라서, 일정한 최소의 전류원값을 얻는 제1클램프 수단(710)을 구비하여, 상기 제2검출치에 따라서, 일정한 최소의 전류원값을 얻는 제2클램프 수단(810)을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 시험장치용의 저소비 전력 드라이버 회로.
- 정전압의 차동 스위치 신호(Henb1, Lenb1)와, 부전압의 차동 스위치 신호(Henb2, Lenb2)와, 출력단(out1)의 하이/로우 레벨을 부여하는 아날로그 전압 신호(VH,VL)를 받아서 버퍼 증폭하여 출력시키는 저소비 전력 드라이버 회로에 있어서, 상기 정전압의 차동 스위치 신호(Henb1, Lenb1)를 받아서 첫번째로 양쪽의 전위가 Henb1<Lenb1일 때는 다이오드 브리지(DB71)에 전류(i6)를 공급하고, 두번째로 양쪽의 저위가 Henb1Lenb1 일 때는 다이오드 브리지(DB72)로의 전류(i2)와 출력 드라이버부(520)로의 전류(i3)를 공급하는 정전압 스위치부(511)를 구비하고, 부전압의 차동 스위치 신호(Henb2, Lenb2)를 받아서 첫번째로 양쪽의 전위가 Henb2<Lenb2일 때에는 다이오드 브리지(DB72)로부터의 전류(i2)를 싱크(sink)하고, 두번째로 양쪽의 전위가 Henb2<Lenb2일 때는 다이오드 브리지(DB71)로부터의 전류(i7)와 출력 드라이버부(520)로부터의 전류(i8)를 싱크하는 부전압 스위치부(512)를 구비하고, 출력단(out1)의 하이 레벨을 주는 아날로그 전압 신호(VH)를 받아서 상기 정전압 스위치부(511)와 부전압 스위치부(512)에 의해서 아날로그 전압 신호(VH)를 스위치한 신호를 브리지를 구성하는 다이오(D16) 1개분 시프트한 탭위치로부터 출력시키고, 출력 드라이버부(520)의 NPN트렌지스터(Q112)의 베이스에 공급하여 적어도 6개의 다이오드로 브리지를 구성하는 다이오드 브리지(DB71)를 구비하고, 출력단(out1)의 로우 레벨을 부여하는 아날로그 전압 신호(VL)를 받아서 상기 정전압 스위치부(511)와 부전압 스위치부(512)에 의해서 아날로그 전압 신호(VL)를 스위치한 신호를 브리지를 구성하는 다이오드(D27) 1개분 시프트한 탭위치로부터 출력하고, 출력 드라이버부(520)의 PNP 트랜지스터(Q113)의 베이스에 공급하여, 적어도 6개의 다이오드로 브리지를 구성하는 다이오드 브리지(DB72)를 구비하고, 첫번째로 상기 다이오드 브리지(DB71)로부터의 출력단과, 정전압 스위치부(511)로부터의 전류(i3) 출력단을 접속하여 받고, 두번째로 상기 다이오드 브리지(DB72)로부터의 출력단과 부전압 스위치부(512)로부터의 전류(i8)출력단을 접속하여 받아서 양 입력단간에 흐르는 전류(i3≒18)에 의해 NPN 트랜지스터(Q107)와 PNP 트랜지스터(Q108) 2개의 베이스와 에미터간의 전위차(2×Vbe)에 의한 바이어스 전위를 발생시켜서 상보형 구성의 NPN트랜지스터(Q112)와 PNP트랜지스터(Q118)를 A급 바이어스를 부여하여 아날로그 전압 신호(VH, VL)를 버퍼 증폭하고, 출력단(out1)으로 출력하는 출력 드라이버부 (520)를 구비한 것을 특징으로 하는 드라이버 회로.
- 제4항에 있어서, NPN트랜지스터(Q107,Q112)를 커런트 미러로 형성하여 양쪽의 콜렉터 전류비를 (Q107);(Q112)=1:P로 하는 칩사이즈의 NPN 트랜지스터 (Q107,Q112)와; PNP트린재스터(Q108,Q113)를 커런트 미러로 형성하여 양쪽의 콜렉터 전류비를 (Q108):(Q113)=1:P로 하는 칩사이즈의 PNP 트린지스터(Q108,Q113)를 구비한 것을 특징으로 한 드라이버 회로.
- 제4항 또는 제5항에 있어서, 다이오드 브리지(DB71,DB72)가 OFF 상태에 있는 측에 미소한 전류를 주는 정전류부(501) 및 정전류부(502)를 구비한 것을 특징으로 하는 드라이버 회로.
- 제4항 또는 제5항에 있어서, 출력단의 NPN 트랜지스터(Q112)의 콜렉터에 정전원측의 과전류를 방지하는 전류 제한부(50)와; 출력단의 PNP 트랜지스터(Q113)의 콜렉터에 부전원측의 과전류를 방지하는 전류 제한부(51)를 구비하는 것을 특징으로 한느 드라이버 회로.
- 제6항에 있어서, 출력단의 NPN 트랜지스터(Q112)의 콜렉터에 정전원측의 과전류를 방지하는 전류 제한부(50)와; 출력단의 PNP트랜지스터(Q113)의 콜렉터에 부전원측의 과전류를 방지하는 전류 제한부(51)를 구비하는 것을 특징으로 하는 드라이버 회로.
- 패턴 입력 신호를 받아서 정전압 레벨로 시프트한 차동 스위치 신호(Henb1, Lenb1)와, 부전압 레벨로 시프트한 차동 스위치 신호(Henb2, Lenb2)를 출력하는 레벨 시프트 회로(400)를 구비하며, 출력단(out1)의 하이/로우 레벨을 부여하는 아날로그 전압 신호(VH,VL)를 받아서 버퍼 증폭하여 출력시키는 저소비 전력 드라이버 회로에 있어서, 제4항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 구성 수단의 드라이버 회로를 적어도 1개 구비하고 있는 것을 특징으로하는 드라이버 회로.
- 반도체 시험용장치의 출력단(615)에 드라이버 출력 모드시에는 하이레벨과 로우 레벨을 바꿔 출력하고, 인히비트 모드시에는 양 레벨을 하이 임피던스로 바꾸어 출력시키는 드라이버 회로에 있어서, 출력 전류를 공급하는 제1전류원 수단(703)의 전(前)단에, 제1스위치 단자(758)에는 하이 레벨 입력 전압 VH(603)을 인가하고, 제2스위치 단자(760)에는 제1전압 출력 수단(702)에 베이스 전압 VA를 인가하며, 해당 제1전류원 수단(703)에 대한 제어 전류 신호를 입력단자에 접속하고, 출력 단자를 해당 제1전류원 수단(703)에 부여하는 제1스윗칭 수단(758,760)을 구비하며, 해당 전압 VA이 해당 하이 레벨 입력 전압 VH과 일치할 때까지 해당 제1전류원 수단(703)이 온이 되는 것을 금지하고, 출력 전류를 공급하는 제2전류원 수단(803)의 전단에, 제3스위치단자(858)에는 로우 레벨 입력 전압 VL(604)을 인가하고, 제4스위치 단자(860)에는 제2전압 출력 수단(802)의 베이스 전압 VC을 인가하며, 해당 제2전류원 수단(803)에 대한 제어 전류 신호를 입력단자에 접속하여, 출력 단자를 해당 제2전류원 수단(803)에 부여하는 제2스윗칭 수단(858,860)을 구비하고, 해당 전압 VC이 해당 로우 레벨 입력 전압 VL과 일치할 때까지 해당 제2전류원 수단(803)이 은이 되는 것을 금지시킨것을 특징으로 하는 드라이버 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101505894B1 (ko) * | 2012-05-31 | 2015-03-25 | 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 | 전류 오버슈트 제한 회로 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6157224A (en) * | 1998-12-23 | 2000-12-05 | Raytheon Company | High speed pin driver integrated circuit architecture for commercial automatic test equipment applications |
JP2001257578A (ja) * | 2000-03-09 | 2001-09-21 | Nec Corp | ドライバ回路 |
WO2002047268A1 (fr) * | 2000-12-05 | 2002-06-13 | Advantest Corporation | Circuit de commande |
TW490649B (en) * | 2000-12-29 | 2002-06-11 | Ind Tech Res Inst | Drive circuit of a single matrix-type organic electrically triggered light emission pixel |
US6400193B1 (en) | 2001-05-17 | 2002-06-04 | Advantest Corp. | High speed, high current and low power consumption output circuit |
WO2005057229A1 (ja) * | 2003-12-09 | 2005-06-23 | Advantest Corporation | バッファー回路及びドライバ回路 |
JP2007303986A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Advantest Corp | 直流試験装置 |
JP4553395B2 (ja) * | 2007-06-15 | 2010-09-29 | シャープ株式会社 | オシロスコープおよびそれを用いた半導体評価装置 |
JP5572283B2 (ja) * | 2007-10-29 | 2014-08-13 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | 電圧検知回路 |
CN101458649B (zh) * | 2007-12-12 | 2012-03-28 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 主机板定时开机电路 |
US8207775B2 (en) * | 2010-08-30 | 2012-06-26 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | VOL up-shifting level shifters |
US8901972B2 (en) * | 2013-01-08 | 2014-12-02 | Analog Devices, Inc. | Pin driver circuit with improved swing fidelity |
CN105322921B (zh) * | 2015-11-25 | 2018-05-22 | 珠海万力达电气自动化有限公司 | 一种单极性ad采样调理电路 |
CN110291410B (zh) * | 2017-01-06 | 2021-10-26 | 艾利维特半导体公司 | 低功率有源负载 |
CN108508342B (zh) * | 2018-05-28 | 2020-07-17 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种igbt短路过流检测电路 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3767942A (en) * | 1971-03-10 | 1973-10-23 | Multiplex Communicat Inc | Solid state relay |
US3800166A (en) * | 1972-07-03 | 1974-03-26 | Motorola Inc | High voltage solid state switching techniques |
JP2945508B2 (ja) * | 1991-06-20 | 1999-09-06 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
US5399913A (en) * | 1992-09-02 | 1995-03-21 | Exide Elecronics Corp. | Gate-drive circuit |
US5418484A (en) * | 1993-07-01 | 1995-05-23 | International Business Machines Corp. | Line fault detection system with a differential driver |
FR2708134A1 (fr) * | 1993-07-22 | 1995-01-27 | Philips Electronics Nv | Circuit échantillonneur différentiel. |
US5465059A (en) * | 1994-04-18 | 1995-11-07 | Silicon Systems, Inc. | Method and apparatus for timing acquisition of partial response class IV signaling |
US5488322A (en) * | 1994-08-29 | 1996-01-30 | Kaplinsky; Cecil H. | Digital interface circuit with dual switching points for increased speed |
-
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-
1996
- 1996-10-10 US US08/728,831 patent/US5699001A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101505894B1 (ko) * | 2012-05-31 | 2015-03-25 | 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 | 전류 오버슈트 제한 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19519624C2 (de) | 2003-12-11 |
DE19519624A1 (de) | 1995-11-30 |
KR0181307B1 (ko) | 1999-04-01 |
US5699001A (en) | 1997-12-16 |
US5654655A (en) | 1997-08-05 |
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