KR950024353A - 불휘발성 메모리회로 - Google Patents
불휘발성 메모리회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950024353A KR950024353A KR1019950001509A KR19950001509A KR950024353A KR 950024353 A KR950024353 A KR 950024353A KR 1019950001509 A KR1019950001509 A KR 1019950001509A KR 19950001509 A KR19950001509 A KR 19950001509A KR 950024353 A KR950024353 A KR 950024353A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- memory cell
- memory
- nonvolatile memory
- generating
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/32—Timing circuits
Abstract
본 발명은, 독출시에 가하는 스트레스를 회로적으로 완화하여 불휘발성 메모리의 리드보유특성(데이터 유지성)의 향상을 도모한다.
전기적으로 프로그램 가능한 불휘발성 메모리 셀로 이루어진 메모리 셀 어레이(11)와, 상기 메모리 셀 어레이에 대해 외부신호에 따라서 행디코더(12), 열디코더(13)를 매개로 어드레스를 지정하고, 액세스동작을 행하는 메모리 주변회로와, 어드레스의 변화에 응하여 일정기간 메모리 셀의 선택을 허가하는 신호를 발생하는 신호(ATD1)를 발생하면서 이 신호(ATD1)성립기간 내에 메모리 셀로부터의 독출 데이터를 래치하는 래치회로(22)를 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예에 따른 불휘발성 메모리회로의 독출계의 회로도.
Claims (3)
- 전기적 프로그램 가능한 불휘발성 메모리 셀로 이루어진 메모리 셀 어레이(11)와, 이 메모리 셀 어레이에 대해서 외부신호에 따른 행디코더(12), 열디코더(13)를 매개로어드레스를 지정하고 액세스동작을 행하는 메모리 주변회로, 액세스의 변화에 응하여 일정 기간 메모리셀의 선택을 허가하는 신호를 발생하는 신호발생수단(21)및, 상기 신호의 성립기간내에 메모리 셀로부터의 독출 데이터를 래치하는 래치수단(22)을 구비하고, 상기 신호의 성립기간 이외에서는 모든 메모리 셀을 비 선택으로 하는 것을 특징으로 하는 불휘발성 메모리회로.
- 제1항에 있어서, 상기 신호의 성립기간 이외에서는 행디코더(12) 열디코더(13)에서의 선택동작을 금지해 모든 메모리 셀을 비선택으로 하는것을 특징으로 하는 불휘발성 메모리회로.
- 제1항에 있어서, 상기 상기 래치수단(11)의 달성을 위한 상기 신호발생수단(11)의 신호보다도 상승이 늦고, 하강이 빠른 래치신호를 발생하는 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 불휘발성 메모리회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP757994A JPH07220487A (ja) | 1994-01-27 | 1994-01-27 | 不揮発性メモリ回路 |
JP94-7579 | 1994-01-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950024353A true KR950024353A (ko) | 1995-08-21 |
KR0159452B1 KR0159452B1 (ko) | 1999-02-01 |
Family
ID=11669730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950001509A KR0159452B1 (ko) | 1994-01-27 | 1995-01-27 | 불휘발성 메모리회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5515323A (ko) |
JP (1) | JPH07220487A (ko) |
KR (1) | KR0159452B1 (ko) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08293198A (ja) * | 1995-04-21 | 1996-11-05 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体記憶装置 |
US5649129A (en) * | 1995-06-07 | 1997-07-15 | National Instruments Corporation | GPIB system including controller and analyzer |
KR0179793B1 (ko) * | 1995-12-28 | 1999-04-15 | 문정환 | 반도체 메모리의 센스 앰프 출력 제어 회로 |
US6190966B1 (en) * | 1997-03-25 | 2001-02-20 | Vantis Corporation | Process for fabricating semiconductor memory device with high data retention including silicon nitride etch stop layer formed at high temperature with low hydrogen ion concentration |
US6119251A (en) * | 1997-04-22 | 2000-09-12 | Micron Technology, Inc. | Self-test of a memory device |
US5825715A (en) * | 1997-05-13 | 1998-10-20 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and apparatus for preventing write operations in a memory device |
JP3411186B2 (ja) * | 1997-06-06 | 2003-05-26 | シャープ株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US6259633B1 (en) * | 1999-10-19 | 2001-07-10 | Advanced Micro Devices, Inc. | Sense amplifier architecture for sliding banks for a simultaneous operation flash memory device |
JP4667594B2 (ja) * | 2000-12-25 | 2011-04-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 薄膜磁性体記憶装置 |
JP2008097699A (ja) * | 2006-10-11 | 2008-04-24 | Nec Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0711325Y2 (ja) * | 1987-12-24 | 1995-03-15 | 住友精密工業株式会社 | プレートフィン型熱交換器 |
JP2892757B2 (ja) * | 1990-03-23 | 1999-05-17 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JP2876830B2 (ja) * | 1991-06-27 | 1999-03-31 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR940003408B1 (ko) * | 1991-07-31 | 1994-04-21 | 삼성전자 주식회사 | 어드레스 천이 검출회로(atd)를 내장한 반도체 메모리 장치 |
IT1253678B (it) * | 1991-07-31 | 1995-08-22 | St Microelectronics Srl | Architettura antirumore per memoria |
-
1994
- 1994-01-27 JP JP757994A patent/JPH07220487A/ja active Pending
-
1995
- 1995-01-23 US US08/376,831 patent/US5515323A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-01-27 KR KR1019950001509A patent/KR0159452B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0159452B1 (ko) | 1999-02-01 |
JPH07220487A (ja) | 1995-08-18 |
US5515323A (en) | 1996-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4636982A (en) | Semiconductor memory device | |
KR850008023A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR920018766A (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치 | |
KR910010516A (ko) | 반도체 메모리장치 | |
KR920013446A (ko) | 블럭라이트 기능을 구비하는 반도체기억장치 | |
KR980700663A (ko) | 아날로그 기록 및 재생용 기억 셀 (storage cell for analog recording and playback) | |
KR920013472A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR960026802A (ko) | 반도체 메모리 소자 | |
KR950024353A (ko) | 불휘발성 메모리회로 | |
KR910020733A (ko) | 스태틱형 메모리 | |
JPH0561720B2 (ko) | ||
KR910013285A (ko) | 불휘발성 반도체메모리 | |
KR910015999A (ko) | 반도체 메모리장치 | |
KR910020728A (ko) | 반도체 기억장치의 데이터버스 클램프회로 | |
KR960025777A (ko) | 프리챠지 회로를 갖는 반도체 메모리 디바이스 | |
EP1248267A2 (en) | Semiconductor memory device and information processing system | |
KR880013070A (ko) | 디지탈 신호처리장치 | |
US6067274A (en) | Semiconductor memory device having a burst mode | |
KR970007103B1 (ko) | 반도체 기억 장치 | |
KR910020450A (ko) | 반도체기억장치를 위한 테스트장치 | |
KR960032495A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR890017705A (ko) | 반도체메모리장치 | |
KR950020173A (ko) | 저전력 동작 모드를 갖춘 메모리를 가진 데이타 처리 시스템 및 그 방법 | |
KR870009294A (ko) | 비트 슬라이스 프로세서용 레지스터 파일 | |
KR960018902A (ko) | 동기식 메모리장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110630 Year of fee payment: 14 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |