KR950023986A - 인쇄회로기판의 상호접속부 검사장치 및 인쇄회로기판 검사방법 - Google Patents

인쇄회로기판의 상호접속부 검사장치 및 인쇄회로기판 검사방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 인쇄회로기판용 검사 시스템을 제공하며, 특히 검사 장치위에 상기 인쇄회로기판을 위치설정하기 위한 기계 관찰수단과, 다층 테스트 프로브 핀 가이드(a mulltilayer test probe pin guide)를 통하여 연장된 신축형 테스트 프로브 핀(telescoping test probe pins)을 갖는 검사 시스템을 제공한다. 또한, 본 발명은 상기 검사 시스템을 이용하여 인쇄회로기판을 검사하기 위한 방법도 제공한다.

Description

인쇄회로기판의 상호접속부 검사장치 및 인쇄회로기판 검사방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 검사용 고정구의 일부 측면도

Claims (2)

  1. 다수의 위치설정 기준부(a plurality of positioning fiducials)를 갖는 인쇄회로 기판(a printed circuit board)의 상호접속부 검사용 검사장치(a tester)에 있어서 ; a. 고정구(a fixture)와 ; b. 검사 대상의 인쇄 회로 기판상에 있는 전기 접점(electrical contacts)용 다수의 핀 프로브(a plurality of pin probes)를 가지며, 상기 각 핀 프로브는 ; i. 핀 프로브 플레이트(a pin probe plate)로부터 검사 대상의 인쇄회로기판을 향하여 외향으로 연장되고 상기 인쇄회로기판과 마주하는 환상의 고정 몸체부(an annular, fixed body portion)와, ii. 상기 고정 몸체부로부터 검사 대상의 인쇄회로기판까지 종방향으로 외향 연장된 이동가능한 상측 몸체부(a movable upper body portion)를 구비하는 상기 핀 프로브 플레이트와 ; c. 검사 대상의 인쇄 회로기판을 견고하게 유지시키기 위한 인쇄회로기판 홀더(a printed circuit board holder)와 ; d. 상기 핀 프로브 플레이트와 상기 인쇄회로기판 홀더사이에 개재 되며, 개개의 핀 프로브와 대응하는 다수의 개구(a plurality of apertures)를 각기 갖고, 상기 개개의 핀 프로브는 상기 대응하는 개개의 개구를 통하여 연장되는 다층 핀 프로브 가이드(a muulitilayer pin probe guide)와 ; e. 검사 대상의 인쇄회로기판의 기준부(fidurcials)를 위치 설정하기 위한 광섬유 기계 관찰 수단(fiber optic machine vision means)과, ; f. 상기 기준부를 위치 설정하기 위한 상기 광섬유 기계 관찰 수단에 응답하여 상기 인쇄회로기판 홀더를 이동시키기 위한 측방향 이동수단(lateral movement means)을 포함하는 검사장치.
  2. 상호 접속부의 보전성(interconnect integrity)에 대해 검사 대상이 되는 상호접속부와, 다수의 위치설정 기준부를 갖는 인쇄 회로기판을 검사하기 위한 방법에 있어서 ; a. 상기 인쇄회로기판을 인쇄회로기판 검사용 고정구(a printed circuit board test fixture)의 인쇄회로기판 홀더수단(printed circuit board holder means)내에 배치하는 단계와 ; b. 상기 위치설정 기준부를, 검사 대상의 인쇄회로기판의 기준부를 위치 설정하기 위한 광섬유 기계 관찰수단으로 위치 설정하는 단계와 ; c. 검사대상의 상호접속부를, 핀 프로브 플래이트(a pin probe plate)로부터 검사 대상의 인쇄회로기판까지 외향으로 연장된 핀 프로브와 접촉시키는 단계로서, 상기 각 핀 프로브는 ; i. 상기 핀 프로브 플레이트로부터 검사 대상의 인쇄회로기판을 향하여 외향으로 연장되고 상기 인쇄 회로기판과 마주하는 환상의 고정 몸체부(an annular, fixed body portion)와, ii. 상기 고정 몸체부로부터 검사 대상의 인쇄회로기판까지 종 방향으로 외향 연장된 이동가능한 상측 몸체부(a movable upper body portion)를 구비하며, 상기 핀 프로브는 상기 핀 프로브 플레이트와 상기 인쇄회로기판 홀더사이에 개재된 다층 핀 프로브 가이드(a multilayer pin probe guide)를 통하여 연장되고, 상기 핀 프로브 가이드의 각 층은 개개의 핀 프로브와 대응하는 다수의 개구(a plurality of apertures)를 갖고, 상기 개개의 핀 프로브는 상기 대응하는 개개의 개구를 통하여 연장되는 상기 접촉단계를 포함하는 인쇄회로기판 검사방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940040057A 1994-01-06 1994-12-30 인쇄회로기판의 상호접속부 검사장치 및 인쇄회로기판 검사방법(printed circuit board test fixture and method) KR0135657B1 (ko)

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