KR940027193A - 박막트랜지스터 제조방법 - Google Patents

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KR940027193A KR1019930007843A KR930007843A KR940027193A KR 940027193 A KR940027193 A KR 940027193A KR 1019930007843 A KR1019930007843 A KR 1019930007843A KR 930007843 A KR930007843 A KR 930007843A KR 940027193 A KR940027193 A KR 940027193A
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박병우
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이헌조
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
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Abstract

본 발명은 TFT-LCD에 관한 것으로 LCD의 개구율 및 화질을 향상시킬 수 있도록 한 TFT 제조방법에 관한 것으로, 기판(5) 위에 게이트(6)을 형성하고 통상적인 방법으로 절연막(7), 활성층(8), 오믹접촉층(9)을 형성하고 소오스/드레인 영역에 실리콘(15)과 고융점금속(16)을 형성하여 열처리 공정으로 상기 실리콘(15)과 고융점 금속(16)을 실리사이드화 한 것이다. 따라서 소오스/드레인은 실리사이드로 형성하므로서 LCD의 개구율 및 화질이 향상된다.

Description

박막트랜지스터 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 3도는 본 발명의 박막트랜지스터 공정 단면도.

Claims (1)

  1. 절연기판(5) 위에 게이트(6) 전극을 형성하고 게이트(6) 전극 위에 제 1 절연막(7)을 형성하는 공정과, 제 1절연막(7) 위에 활성층(8)과 활성층(8) 상부 양측에 오믹접촉층(9)을 형성하는 공정과, 소오스/드레인 영역에 실리콘층(15) 및 고융점금속(16)을 형성하는 공정과, 열처리하여 실리콘층(15)과 고융점금속(16)을 실리사이드화 하는 공정을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 박막트랜지스터 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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