KR940007590A - 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로와 구동 회로를 프로그래밍 및 자기 테스팅 하는 방법 - Google Patents

능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로와 구동 회로를 프로그래밍 및 자기 테스팅 하는 방법 Download PDF

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Abstract

LCD또는 다른 능동 매트릭스 장치(10)용 시프트 레지스터(30) 또는 다른 전자 구동 회로 (20,30)는 병렬 회로경로(31,32) 형태에 대해 여분을 각각 갖는 직렬 회로 블럭(30A, 30B 등등)을 포함한다. 회로가 턴온되면, 전기-테스팅 및 여분의 선택은 상기 블럭(30A, 30B 등등)과 관련된 각 테스트 및 제어 장치(34)에 의해 수행된다.
테스트 및 제어장치(34)는 하나 이상의 스위치(33)에 결합된 출력에서 제어 신호를 발생하기 위하여 상기 경로의 전기적 테스팅에 응답하여 전기적으로 프로그램되는 쌍안정과 같은 메모리 소자를 구비한다. 스위치(33)는 능동적 매트릭스 장치(10)에 출력(23)을 제공하는 병렬 회로를 제어한다. 각 테스트 및 제어장치(34)는 또한 제어 신호에 의해 제어되는 루팅 회로를 구비하는데, 그 이유는 다음 블럭의 모든 직렬 입력에 대해 블럭의 보정 직렬 출력을 전송하기 때문이다.

Description

능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로와 구동 회로를 프로그래밍 및 자기 테스팅 하는 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따라 구성된 시프트 레지스터를 구비하며 능동 매트릭스 장치를 스캔하는데 도움이 되는 전자 구동회로의 블럭도,
제2도는 제1도의 시프트 레지서트 블럭 회로중 하나의 최종 레지스터 단계의 직렬 출력에서의 스위치와 테스트 및 제어 장치에 관한 블럭도,
제3도는 두개의 인버터를 구비한 최종 레지서트 단계내의 하나의 회로 경로중 한 예에 관한 브럭도,
제4도는 제1도의 시프트 레지스터 및 제3도의 레지스터 단계내에서 적절히 사용되는 하나의 인버터 예에 관한 회로도.

Claims (10)

  1. 회로 블럭을 통하여 변경 루팅을 제공하는 병렬 경로 형태로 여분을 갖추는 각 회로 블럭과, 상기 병렬회로 경로가 상기 블럭으로부터 출력을 제공하는데 사용될 각 블럭으로 부터 선택하기 위한 스위치를 구비하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로에 있어서, 병렬 회로 경로에 결합된 전자 구동 회로는 또한 병렬 회로 경로로부터의 입력과 병렬 회로 경로를 전기적으로 테스팅하는 테스트 신호 입력을 갖는 테스트 및 제어 장치를 구비하며, 전기 테스팅에 응답하는 테스트 및 제어장치는 병렬 회로 경로가 능동 매트릭스 장치에 대한 출력을 제공하는데 사용되는 제어용 스위치에 결합된 출력에서 제어신호를 발생하기 위해 전기적으로 그 자체를 스위치하는 것을 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로.
  2. 제1항에 있어서, 일련의 회로 블럭은 스캐닝 펄스가 레지서터의 연속의 병렬 시프트 출력에서 스캐닝 신호를 제공하기 위해 전달됨에 따라 시프트 레지스터를 형성하고, 각 블럭의 병렬 회로 경로가 적어도 하나의 시프트 출력과, 스캐닝 펄스에 대한 직렬 입력 및 직렬 출력을 가지며, 상기 회로는 각 블럭이 각 블럭의 직렬 출력에 결합된 테스터 및 제어 장치 그 자체를 가지며, 레지스터 각 단계의 시프트 출력이 각 블럭의 테이스 및 제어장치에 결합된 스위치 그 자체를 갖는 것을 또한 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동회로.
  3. 제2항에 있어서, 각 블럭은 시프트 레지서터의 연속 단을 구비하여 이에 따라 상기 회로 경로로부터 스위치 및 시프트 출력에 대응하는 연속부를 갖는 것을 또한 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로.
  4. 제2항에 있어서, 테스트 및 제어장치는 또한 앞 블럭의 직렬 출력을 입력으로써 처리하는 루팅 회로게이트와, 제1 또는 제2회로 경로의 직렬 출력이 다음 블럭의 직렬 입력에 전송되는 지의 여부를 결정하기 위한 제어신호를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로.
  5. 제4항에 있어서, 각 시프트 레지스터의 단은 직렬로 두개의 인버터를 구비하며, 각 블럭으로부터 테스트 및 제어 장치까지 처리되는 직렬 출력은 상기 블럭의 최종 단에서 두개의 인버터 중 첫번째 것을 취하며, 푸팅회로는 다음 블럭의 직렬 출력에 대한 전송시 블럭의 직렬 출력을 인버트하는 것을 또한 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로.
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서, 각 회로 블럭은 여분을 제공하기 위해 제1 및 제2전류 경로를 가지며, 테스트 및 제어장치는 테스트 및 제어 장치에 의해 테스트될 때 제1 및 제2회로 경로의 출력으로 발생하는 변화에 응답하여 셋트되는 쌍안정 소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 능동 매트릭스장치용 전자 구동 회로.
  7. 제2항 또는 제6항에 있어서, 각 스캐닝 출력에 대한 스위치는 제1회로 경로의 스캐닝 출력을 선택하는 제1선택 스위치와 제2회로 경로의 스캐닝 출력을 선택하는 제2선택 스위치를 구비하며, 쌍안정 소자는 다른 출력의 반전이면서 제어 신호를 제공하는 제1및 제2출력을 가지며, 상기 제1선택 스위치는 쌍안정 소자의 제1출력에 의해 제어되며, 제2선택 스위치는 쌍안정 소자의 제2출력에의해 제어되는 것을 또한 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로.
  8. 제1항에 있어서, 회로 블럭, 스위치 및 테스트와 제어장치는 능동 매트릭스 장치의 절연 기판상에 형성된 박막 회로 소자로 구성되며, 매트릭스의 로우를 스캐닝하는 구동회로를 제공하는 것을 또한 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동회로.
  9. 제8항에 있어서, 능동 매트릭스 장치는 액정 디스플레이이인 것을 또한 특징으로 하는 능동 매트릭스 장치용 전자 구동 회로.
  10. 제1항에 청구된 바와 같은 회로의 자기 테스팅 및 프로그램 방법에 있어서, 프로그램 펄스는 전자 구동회로의 턴온을 제어하기 위해 전자 구동 회로에 인가되며, 여기서, 프로그램 펄스는 회로 블럭 및 각 연속의 블럭을 테스팅하는 테스트 및 제어 장치에 인가되며 그에 따라서 상기 회로의 턴온이 완성되면 회로 블럭으로 부터 출력을 제공하는데 사용되는 병렬 회로 경로를 선택하도록 각 블럭에 대한 테스트 및 제어장치를 전기적으로 프로그램하기 위해 인가되는 테스트 펄스의 시퀀스를 구비하는 것을 특징으로 하는 회로의 자기 테스팅 및 프로그래밍 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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