TW295650B - - Google Patents

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Α6 Β6 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明（1 ) 本發明Ί条瞄於主動矩陣裝置（·例如液晶顯示器）之電子驅 動鼋路，包含若干雷路塊*各具有成並聯電路路徑形式之 冗餘，並另係闞於一棰自我澜試與程式化此等電路之方法 。本發明尤指（但非專指）在供此種主動矩陣装軍之移位暫 存器提供冗餘，並且該電路可由在主動矩陣裝置之絕緣基 Η上所形成之薄瞋鼋路元件構成。 主動矩陣裝置之驅動電路结合至裝置基片，較之由主動 矩陣装置提供外部連接，使習知矽積體電路片形式之驅動 鼋路分開之較習知方法·具有若干優點。此等優點包括裝 置較為輕巧，減低電連接之複雑性，Μ及可能降低製造成 本。如果使用輿用以製造主動矩陣装置相容之薄膜電路技 術製造驅動電路，則基本上能以很少或不另加成本，在裝 置基Η上製成驅動電路。但此為假定驅動電路结合不顯著 影響工作装置之生產量。驅動電路上之缺陷（諸如短路或 開路）導致必須剔除在其他方面為良好之装置。對於形成 習知之行或列驅動電路主要元件之一之移位暫存器，此問 題尤其廉重。 此種習知之行驅動電路為將脈衢嫌入移位暫存器之_入 ，而藉Μ掃描主動矩陣。此输入脈衝必須正確通遇暫存器 所有諸級，Μ便驅動罨路正確操作。一暫存器级内之缺陷 ，將會導致所有陳後諸级產生不正確之移位输出。因此重 要的是，暫存器應該無缺陷。美國專利說明書US-A-5 06 3 378號中便考慮到此問題，其全部內容特予併人本文 作為參考資料。 -3- 本紙張又度適用中國國家標準（CNS) τ .1規格（210 X 297公釐〉 {請先"讀背'<;±4事項再堉寫本頁) 裝— —， 訂----I-变 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A6 ____B6__ 五、發明説明（2 ) US-z^-S 063 378號中所建議之罨子軀動鼋路分為一系列 之罨路塊，每一電路塊有成並聯罨路路徑形式之冗餘，·其 提供替代性路線安排通《該電路塊。該電路也包含一開關 ，用Μ自每一霉路塊選揮何一並聯電路路徑將行用以自該 電路塊提供檐出。US-A-5 063 378號之電路，其中之轚路 塊僅包含單级之移位暫存器，並且開闞為一連接在轚路塊 間之姐合苐電路，Μ控制每级暫存器之並瞄罨路路徑之何 一串瞄耱出將行傳«至次級之暫存器。US-A-5 063 378號 未說明组合器霉路或驅動器罨路如何可防止來自二並聯暫 存器之掃描信號出現在行導線上。並《路徑可在主動矩陣 之一側，或例如在矩陣之相對阐邊。US-A-5 063 37 8號之 主動矩陣為一液晶顯示器（liquid crystal display，簡稱 LCD) ° 在製成LCD陣列以及所有其電路後，使用移位暫存器路 徑之一（第一）順序啟動主動矩陣之每一連績行。如果在此 第一移位暫存器路徑之一级檢出缺陷，則連接至有缺陷级 輸出之姐合器電路必須予Μ重新構形，將來自對應级並聯 (第二）移位暫存器路徑之掃描信號安排路線至次级第一移 位暫存器路徑。此係在製造該装置時完成作為最後鈒。在 大多數情形，姐合器電路利用雪射光束使一易熔達接嫌斷 開，而予Μ重新構形。然而，Μ此方式將姐合器電路重新 構形，需要雷射光束在連接線上準確定位’否則可能損壊 電路之相鄰部份。US-A-5 063 378號中也建議免用雷射， 代之為將一特殊電勢加至姐合器電路之一届或多涸轤入， (請先閱讀背"之注急事項再塡寫本頁) 裝 訂 逡 本紙張尺度通用中國國家標準（CNS)甲4规格（210 X 297公坌） 2956i>〇 A6 經濟部中央標準局R工消費合作社印製 B6_ 五、發明説明（3 ) 俾調節姐'合器電器，而將掃描信號重新安排路線。 Μ此方式提供移位暫存器冗餘*雖可大為改進工作顯示 器之生產量*但是根據本發明採用一不同方法澜試及控制 冗餘，則可作成進一步之顯著改進。 根據本發明·提供一種供主動矩陣装置之電子驅動電路 ，包含若干電路塊，各具有成並聯電路路徑形式之冗餘， 其提供·替代性路線安排通過該電路塊，並包含一開W ·用 以自每一鬌路塊選擇何一並I»電路路埭將行用以自該電路 塊提供檐出。根據本發明之此種電子騙動装置•其特激為 也包含一連接至並_電路路徑之測試及控制装置*此装置 自一並聯電路路徑取得一输入，並且有一澜試信號輸入用 W對該並聯電路路徑作電測試，Μ及測試及控制裝置響應 其電測試而使其本身電轉變，在一連接至開闞之输出產生 —控剌信號，用以控制可一並聯電路路徑用Μ提供檐出供 主動矩陣裝置。 因此，鏊於US-A-5 063 378號需要外部測試顯示器（包 括光測量及（或）經由探針之外部電测量），Μ確定那些易 熔連接線斷開（Κ罨方式或藉雷射），本發明使一自並聯霣 路路徑取得输入之測試及控制装置與驅動電路结合。在驅 動電路内使用加至測試及控剌装置其他输入之测試信號， 進行該霉路之測試。驅動霣路因此具有自我測試能力。響 應其自身之電測試•測試及控制裝置然後自身轉變，提供 输出至開Μ，用以控制至主動矩陣装置之输出。 在測試及控制裝置内包括一響應並聯電路路徑之本身電 ------.-----------------1 ------裝------.叮^----ίιΜ^ {請先閱讀背而之注意笋項再塡寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4规格（_210 X 297公釐） 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A6 B6 五、發明説明（4 ) 澜試而自一記憶狀態轉變至另一記憶狀態之籣單記憶元件 ，例如一鎖存器，便可很容易達成澜試及控制装置之自我 程式化。此記憶元件之狀態然後控制在該罨路随後正常操 作時，使用那些電路路徑及输出。 施加適當之測試信號，根據本發明之測試及控制装置便 允許檢测（並藉重新安排路線而避免）可能在此驅動《路出 琨之大·多數類型之缺陷，甚至可能所有類型之缺陷。此等 缺陷例如為一始終為高或始終為低之鎗出信號•或反相之 输出信號•或一由於時鐘線路短路之信號。 再者，主動矩陣驅動轚路每次接通時，均可進行根據本 發明所提供之自我測試及程式化，並且其因此將會在主動 矩陣装置之工作期限修正該電路内所可能產生之缺陷。此 特色因為申講人等發現，驅動裝置中之缺陷可能不僅形成 在製造時所產生之缺點，缺陷也可能由於電路之操作，例 如由於驅動罨路中之持鑛高餳®及電流所致之短路或開路 或電晶體特性退化，而為特別有利。因此，電路每次接通 時，冗餘之自我測試及程式化*對延長驅動霣路之工作期 限特別有益。電子驅動轚輅因此可連接至例如脈衝產生器 或與其相结合，此眤衝產生器產生程式脈衝，Μ供控制電 路之接通；此等脈衝可包含加至罨路塊·Μ及加至測試及 控制装置之系統测試脈衢•用Μ測試每一連績之電路塊， 並藉Μ就毎一電路塊使澜試及控制裝置電程式化，俾於電 路接通完成時，選擇何一並聯電路路徑用Μ自電路塊提供 繪出。本發明因此也提供一種在接通時Μ此方式使驅動電 (請先間讀背θ之注悉事項再塡寫本頁) -6- 表紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公發） 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A6 ______B6_ 五、發明説明（5 ) 路自我測'試及程式化之方法。· 根撺本發明提供測試及控制裝置，並姐嫌為與電路塊及 一開闉有闞之方式，對於移位暫存器冗餘設計特別合宜。 因此，在根據本發明之驅動電路之一棰實施例，一埋串竃 路塊可形成一移位暫存器，掃描脈衡可沿其傳播，以在暫 存器之系列並行移位输出提供掃描信號，每一電路塊之並 賺竃路輅Μ至少有一移位输出，並有一串行_入及串行鎗 出供掃描脈衝。根撺本發明，此種電路可另具特微為每一 電路塊有其本身之测試及控制装置耦合至個別霣路塊之串 行输出，以及每一級暫存器之移位_出有其自己之開闞耦 合至個別電路塊之測試及控制裝置。 測試及控制装置也可包含一路線安排電路，此電路取前 一霣路塊之串行输出及也取控制信號作為输入，Μ確定第 一或第二電路路徑之串行输出將行傅输至次一電路塊之串 行输入。路線安排電路可為致使串行输出在其傳输時反相 〇 在移位暫存器之情形，每一霣路塊可包含一系列数级之 移位暫存器，因此可具有對應之一糸列開闞及來自其霣路 路徑之移位输出。每一測試及控制裝置可設計為湎試及程 式化通遇其電路塊之超過二個替代並賺路徑。 在現藉實例並參照附圓予Μ說明之本發明實腌例中•詳 细舉例說明根據本發明之此等及其他諸多特色，在附圏中 圈1為一霣子驅動電路之方塊圖，此霣路包含一根據本 -7- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS>甲4規格（210 X 297公釐） -----,----J-------：--{------裝------訂------來--Ί (請先間讀背而-注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A6 B6 五、發明説明（6 ) 發明所構、成，並用Μ掃描主動矩陴装置之移位暫存器； 圓2為一测試及控制裝置及開闢之方塊圖，其為在圖1 雷路之移位暫存器塊之一之最後暫存器級之串行輸出； 圖3為圖2之最後暫存器级中一電路路徑實例之方塊画 ，該實實例包含二反相器； 圃4為一反相器》例之電路_ •此賁例*合用於圈1之 移位暫存絮及國3之暫存器级； 圖5為一開W實例之電路圖，此賁例遴合用於圓1及2 之電路； 圈6為测試及儲存電路實例之罨路圖，此《路通合用於 圖2之測試及控制装置； 圖7為一路線安排電路之電路圖，此®路逋合用於圖2 之測試及控制装置；Μ及 圖8為適合用Κ控制圖1之驅動竃路接通之一糸列程式 脈衝之實例。 圖1示一驅動電路20，30構成及结合在主動矩陣装置之 絕緣基Η 19上。根據本發明提供冗餘澜試及控制，可獲致 良好之製造生產能力，即令裝置罨路20，30结合在與該裝 置之主動矩陣10之同一基片19上，並且如下文所說明可延 長該装置之工作期限。在本發明實施例之此一實例，主動 矩陣10Μ習知方式經由行及列線22及11予Μ定址。驅動電 路20，30提供行線22之習知驅動裝置。列嫌11之驅動霣路 可结合在同一基片19上，並且也可包括根據本發明之冗餘 测試及選擇。 ______-___________________i______裝_______訂------良 ——, (請先間:#背3 .'/注意事項再塡寫本頁) - 8 - 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公發） 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A6 ___B6_ 五、發明説明（7) 主動矩、装置可例如為一液晶顯示器（LCD)，或任何其 他平板顯示裝置。主動矩陣10包含一陣列之薄膜開關元件 12，在基片19上與薄膜行及列嫌22及11構成整體。基Η 19可為一種低成本玻璃形成顯示器之後平面。開關元件 12Μ已知方式藉線22及11之信號予以定址，俾控剌顬示器 之像元13。 -然而·，傭1之主動矩陣裝置可予設計為供十分不同之功 能，例如一種影像®測器有一矩陣之薄膜影像感測元件（ 例如光電二極管），並且其由闞連之電路20，30等予以驅 動，Μ代替為平板顯示器。在另一形式，主動矩陣可為 一數據儲存器，包含使一陣列之儲存装置，例如薄膜電容 器13定址之薄膜開關元件12。 可將一糸列各種材料（例如導體，絕緣體，半導體•半 絕緣體）之薄膜敷著在基片19上*藉Κ已知方式形成矩陣 10及驅動電路20及30之個別電路元件及連接線，薄膜予W 處理（例如藉蝕刻及摻雜），Μ形成諸電路元件及其連接之 不同部位及圖案。 各種薄膜裝置技術之任何一種，均可用以在基片19上製 成主動矩陣10及驅動電路20，30之電路元件及連接。因此 ，矩陣10之開闞元件12及驅動電路20，30之電路元件可為 薄膜霣晶體（thin-fil· transistor,簡稱TFT);並且其可 使用例如TFT技術，諸如US-A-5 063 378號中所述者形成 。不過，矩陣10之開闞元件12可為薄膜二極管 (thin_filn diode簡稱TFD) ’並可使用一種混合式薄膜技 --------------------------裝-------.玎------^ (請先閲讀背5之注意事項再填寫本頁) -9- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公货） 經濟部中央標準局员工消費合作钍印製 A6 ______B6_ 五、發明説明（8 ) 術，諸如Ί 992年3月20日所提出之待決英國專利申請案 9206086.2 (本公司案號PHB 33784號）中所述之TFD及TFT技 術，形成供矩陣10之TFD及供驅動®路20，30之TFT 。 GB 92 06 086.2號之全部内容特予併人本文作為參考資料。 圓1之騮動電路20，30包含一翰出驅動器區段20，利用 掃描信號蘧動矩陣行線22，此等掃描信»係呈形式為來自 移位暫存器®段30之並行移位输出23(S)之鼷衝。每一掃 描_出線23(S)有其自己之蝓出鼷動器電路21。電路21嫌 衝線23上所收到之掃描脈® •並藉信號0E調整傅轤至線 22之脈衝定時。電路21可為已知形式，故將不予進一步說 明及圖示。 移位暫存器區段30分為一系列電路塊30A · 30B等。每一 罨路塊有內建之冗餘•其形式為提供替代路線安排通過該 電路塊之並聯鼋路路徑31及32。在圖1之實例，每一電路 塊30A，30B等包含一系列多级a, b----ai之移位暫存器30· 並且每一並聪路徑31a,31b——31»有對應系列之並行移位 输出。在每一霉路塊30 A，30B等中可例如有約達20個此種 級。每一電路塊也有一串行输入I及一串行输出〇 ，供一 掃描脈街STV K —《合主動矩陣10之掃描速率之計時頻率 ，沿暫存器傳播。在圔式為求清晰，故未示電源及暫存器 之時鐘連接，並且在圈1及2中Μ方塊形式篛單例示該霣 路。 根據本發明，將暫存器之諸區段劃分並以此方式重複， _ 1 0 _ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） -----------Γ-----------^ ------裝------訂------ (請先閱讀背'口";1意事項再場寫本頁) 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 295650 A6 __B6_ 五、發明説明（9 ) Μ及包栝'小测試及控制罨路34測試各區段並自動選擇工作 區段供移位暫存器信號之重新安排路線*而藉Μ在移位暫 存器30提供自我測試及冗餘選擇。 暫存器30之每一電路塊30Α，30Β等有其自己之测試及控 制裝置34耦合至個別罨路塊之串行轤出0 °每一罨路塊之 每一级a,其移位蝓出S有届別之開翡33耦合至儸 別霭路塊）〇 A，30B等之測試及控制装置34。如圃2及6中 更清楚所示*每一零路塊之瀏試及控制裝置34有测試信號 輸入TH及TLK及蝓入IA(NS)及IB(NS)來自該電路塊之並明 電路路徑31及32 ·Μ供電测試每一並瞄霣路路徑31及32。 每一鼋路装置34包含一記憶元件，諸如一觸發器或鎖存器 。測試及控制裝置34響應其電测試，設定或重設其記憶元 件，產生控制信號ΑΟΚ* Β0Κ，而賴Κ使其自身電程式化。 在一输出耦合至關逋開關33之此控制信號Α0Κ，Β0Κ，用Κ 控制何一並聯菫路路徑31及32用以在線23上提供移位输出 ，以供掃描主動矩陣10之諸列22。如圖2及7更清楚所示 *測試及控制装置34也包含一路線安排電路34b ，此霄路 取前一罨路塊30A之串行翰出0(NS) ，Μ及也取控制信號 ΑΟΚ，Β0Κ作為鎗入ΙΑ及IB，Μ確定第一或第二電路路徑 31或32之半行输出將行傳鎗至次一霣路塊30Β之串行输入 I 〇 圖3至7中示電路之詳细實例，其可構成有η-溝道TFT ，以形成圈1及2之移位暫存器區段30之電路塊。此等罨 路顯然均可很容易Μ薄膜霄路元件（特別是TFT)形成在装 ------.----^--------'------裝------ΪΤ----r—R (請先閱讀背S之注意事項再塡寫本頁) -11- 本紙張又度適用中國國家標準（CNS)甲4规格（210 X 297公發） 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 A6 __B6_ 五、發明説明（10) 置基片Iff上。 圖3示移位暫存器之—罨路塊30A之第一或第二並聪路 徑31或32之最後级^之實例。此實例中之每一暫存器级包 含二串聯之反相器50，並有一由一信號（團3中之CKI)予 K計時之输入通路TFT 51,及一由一信號（圈3中之 CKF)予Μ計時之反_通路TFT 52。圈4中示形成每一反相 器之TPT 55及56之一種邃當配置。二不重II時鐘信號CKI 及（：1^可用以對通過速續諸级3，1),...111之蝓入誠衝51'7計 時，但請予察知，在諸替代级，TFT 51及52至時鐘CKI及 CKF之連接予K逆反；因此，在级（m-l)，時鐘CKF連接至 FTF 51 ，而時鐘CKI連接至TFT 52。暫存器30之每一路 徑31及32，其每一级a，b____有一取自第二反相器50之串 行輸出S ，而傳至输出開關33者即為此输出S 。然而每一 雷路塊30A，30B等之最後级m也有一反相串行输出NS， 此输出取自二反相器50之第一反相器，並且傳至該電路塊 之澜試及控制裝置34。測試及控制裝置34使此信號NS在其 傳（輸至次一霄路塊時反相。 如圖5中所示*每一 _出開闞33可僅僅由二TFT 28及 29分別耦合至第一及第二電路路徑31及32之输出S 。TFT 28及29之檷極由測試及控制装置34所產生之信號Β0Κ及 Α0Κ予Μ控制。在搡作時，信號A01(及Β0Κ為在相反之理輯 雷平，因而僅只二TFT 28及29之一被接通，並且因而僅只 暫存器路徑31及32之一之输出信號S在输出線23傳至轤出 驅動器罨路21。 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） -----,-----..--------11/ -----裝------訂—---_-'氧------- (請先閱讀背ϋ;±-事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A6 ___ B6 ___ 五、發明説明) 每一霉'路塊30A* 30B等之澜試及控制装置34，可包含一 如匾6中所示之测試及儲存電路3 4a ，及一如圖7中所示 之路線安排電路34b 。傳檐柵極34b為一有共同負載TFT 45之TFT 41至44之簡單信號開醑電路。禰極34b自前一電 路塊最後級m之反相输出NS取得轤入IA及IB，並由測試及 儲存電路所產生之二相反埋輯電平之信號AOK及BOK予K控 制。依控刺信號AOI(及BOK之各別邏輯電平而定，傳至次一 霣路塊之進位输出COUT，由來自《路路徑31之轤入IA或由 來自電路路徑32之輸入IB予以決定。測試及齡存霄路34a 可包含一種具有例如圖6中所示TFT 60至69，46及47®路 構形之雙穗態。電路3 4a自前一電路塊之最後级m之反相IS 出NS取得檐入ΙΑ及IB，並由加至暫存器區段30之所有测試 及控制裝置34之测試信號TL及TH予以控制。TL將一高理輯 雷平脈衝加至該電路，而TH加一低理輯電平贓衝。圃6之 雙穩態依施加二測試控制信號脈衝TL及TH之一或另一時， 二输入IA及IB之狀態予以設定或重設。雙穩態為在其轤出 相反邏輯電平之二信號Α0Κ及Β0Ι(時產生。 圔8示系列測試脈衝STV(T)，TH及TL之實例，於移位暫 存器區段30在根據本發明之方法接通時，此等脈衢可用於 自我澜試及冗餘選擇。因此•一產生程式鼷銜用Μ控制驅 動電路20，30及主動矩陣10接通之脈衢產生器連接至窜路 30，甚至可结合在装置基片19上。當裝置接通時，便首先 進入自我測試方式，以確定那些電路塊30Α，30Β等之何一 電路路徑31及32在工作，及何者故障，其次並設定或重設 -----·----„--------i---一 -------------^^ <請先閱讀背而之注意事項再塡"本頁) -13- 本紙張尺度適用中國a家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A6 __B6__ 五、發明説明（12 ) 毎一澜試'及控制裝置34之雙穩態記憶元件（圖6)，俾選擇 工作路徑。此項测試之確切程序依所採用之特定電路設計 而定，但圖8中示一種可能之順序。 在_8中，持續時間A對應於測試第一電路塊30 A及選 擇其冗餘所費之時間，持續時間B則為對電路塊30B等所 費之阐後對應時間。因此，每一罨路塊30A * 30B * 30C等 為厢序·予澍試及程式化。 在測試周期A開始時•至第一電路塊30 A之移位暫存器 諸级31a,31b,...32a,32b____之输入STV(T)取為低。它在 此低雷平保持一段期間Tp大於一信號通遇整涸暫存器30予 Μ計時所費之時間。測試控制綸入TH然後在一段短時間取 為低。ΤΗ上之低電平導使满試及儲存電路34a(圃6)潮試其 記憶元件目前所選擇之移位暫存器路徑31及32之蝓出HS。 TFT 62及63之櫊極上之低雷平信號TH使此二TFT 62及63斷 開，因而雙穗態Β0Κ及Α0Κ電平之狀態由來自電路塊之串行 输出NS之输入信號IA或IB所決定。設若例如信號Α0Κ為在 高狀態指示選擇暫存器路徑31，則測試來自路徑31之输入 IA。如果IA之電平由於暫存器路徑31上之故障而為低，則 記憶元件便行自動重設*因而選擇暫存器路徑32。因此* 如果IA為低，便無電流能夠流過TFT 65 ;因為TFT 63斷開 ，於是，在Β0Κ之電壓因為上牽TFT 46必定升高。Β0Κ之 升高將TFT 60接通，因而霣流流過TFT 64，並且Α0Κ因此 變低。如果IA之轚平為高，則暫存器路徑31可能在正確工 作，或則暫存器路徑31上可能有故障產生高進位信號NS; -14- 衣紙張尺度適用中國1家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） -----^----- I------.--| -------裝------訂 遂 (請先間讀背5二注-事項再塡寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A6 B6_ 五、發明説明（1 J ) 在任一情、，記憶元件之狀態均保持不變。输入STV(T)然 後取為高，在一段期間Tp後，再次啟動測試及儲存電路 34a (圖6)，這一次藉取TL為高。取TL為高，導使TFT 68及 69被接通。再次予以測試之暫存器输出由記憶元件之狀態 所決定。例如，設若信號AOi(為在高狀態•則測試來自路 徑31之输入IA。如果输入IA由於故陣而為高，則記憶元件 便行自·動Μ設，因而其然後選擇來自暫存器路徑32之输入 ΙΒ。如果輸入ΙΑ為低，則暫存器路徑31正在正確作用•並 且記憶元件之吠態不變。 在上段所述之情況，测試暫存器路徑31，如果路徑31未 通過測試，則重設記憶元件。此種未通過導致選擇暫存器 路徑32。然而，如果所測試者為暫存器路徑32，如果檢澜 出故障，則將重設記憶元件，因而然後將選擇暫存器路徑 31 〇 Κ此方式輪流澜試每一雷路塊30Α，30Β，30C等，Μ通 過移位暫存器區段30設定所有暫存器路徑。在周期Α測試 第一電路塊30A *在周期B测試第二電路塊30B ，等等。 在每一澜試周期A，B，C等•雖然所有測試及控制装置 34均操作，但所有Μ後之测試及控制装置34均會檢测一霣 路塊上之故蹿，因為進位信號中之誤差將會傳播通過移位 暫存器30，因此每一電路塊30 A，30Β等必須按其順序重複 澜試循環。在完成测試時· TH及TL然後保持在其不起作用 雷平，然後並K規律之黻衡STV加至第一级31a，32a之输 入I ，使該裝置正常操作。 ------------^--------Γ--{ ------裝------訂------攻----- (請先閱讀背"之注意事項再場寫本頁} -15- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） 經濟部中央標準局S工消費合作社印製 A6 _ B6__ 五、發明説明（1払） 因為裝'置每次接通時，便發生此種自我澜試及冗餘選擇 ，根據本發明之此種配置因此也將會改正（在裝置下次接 通時）該装置之使用限期在雷路内所發生之缺陷。這延長 該裝置之工作期限。 在本發明之範圍Μ内·顯然可能有很多變化及修改。因 此，例如在一種修改之测試程式，可在澜試順序使時鐘埭 CKI及CKF保持至高缠輯霄平，Μ便拥試信號STV(T>較快速 傳播通《移位暫存器。因此•可將周期TpM此方式縮短至 傅播延埋通過暫存器。在圖3至7中雖然僅示η-溝道TFT ，但在CMOS (互補金饜氧化物半琴體）TFT技術可構成具有 相同功能之電路。 為減少雷路塊30A> 30B等之並聯電路路徑上有缺陷及故 障之危險，可能宜減少每一電路塊上之暫存器级數，及（ 或）並聪窜路路徑數。如果希望，一儷或多個並聯電路路 徑31及32可位於主動矩陣10之相反側。無論如何，宜使諸 並職電路路徑分開足夠距離，K便單一缺陷（例如由於一 粒灰麕）不可能影響超遇一條並聯路徑。 可使用取自圓3之第二反相器50之未反相繪出S ，代替 將反相串行输出NS输入测試及控制裝置34，在此情形可使 用一未反相路線安排罨路。 在上述之特定實施例，僅有二並聯暫存器路徑31及32可 用Μ提供每一電路塊30A，30B等之输出。僅二路徑之一（ 例如路徑31)需予Κ測試。經拥試之路徑31，如果此路徑 31通《测試，便供装置操作使用。如果經測試之路徑31未 -----.-----Ρ --------,---{------裝------^氧 (請先閱讀背而-注意事項再填宵本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4规格（210 X 297公坌） 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A6 B6 五、發明説明（15) 通過測試~，則選擇另一路徑32M供使用，此另一路徑32無 需加W测試。在此情況，使用雙穩態電路程式化測試及控 制装置34之記憶狀態以產生控制信號ΑΟΚ，BOK時，刖可設 計雙《態電路為致使其始终在一與测試路徑31對應之狀態 啟動。 在上述之諸實施例，通遇移位暫存器30施加澜試信號 STV (T>，並且自移位暫存器30外面施加測試信號TH及TL至 澜試及控制装置34 ;並且在該装置接通時施加此等信號 STV (Ή，ΤΗ及TL。在此情形，测試及控制裝置34設定其内 部記憶狀態，俾規劃在操作周期之持鑕期間將行使用何一 路徑31或32，直到該装置斷開。不遇，在一棰替代性配置 ，可不僅在該裝置斷開時，並且在該裝置操作時連續自移 位暫存器30内取得所有加至測試及控制裝置34之测試信號 Ο 雖然特別有利於移位暫存器，但本發明可在供主動矩陣 裝置之其他驅動電路構形用以自我測試及冗餘選擇。因此 *例如圖1之输出驅動器區段20可包含驅動器電路20中之 最大FTF 。根據本發明重新安排路線可用以避免此等大型 TFT中之缺陷。因此，每一输出驅勖器電路21可包含並聯 電路路徑，此等路徑根據每一電路塊21之個別湎試及控制 裝置提供替代性路嫌安排通過每一電路線21。當罨路20* 30接通時，测試及控制裝置測試並聯電路路徑，並可雷程 式化每一電路塊之倨別記憧元件，以控制使用何一路徑提 供翰出至行線22。 本纸張又度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） ----------_--------I---^ ------裝！-----訂----^--哉 (請先閱讀背-.6之注*事項再塡寫本頁) A6 A6 經濟部中央標準局R工消費合作钍印製 B6 五、發明説明（16 ) 精於此'項技藝者參閲本說明，·將會明白其他種種變化及 修改。此等變化及修改可包括主動矩陣装置之驅動電路及 其諸姐成部份在設計，製造及使上所已知，並且可替代本 文中所己說明之諸特色或可除其K外予以使用之同等及其 他特色。雖然申謫專利範圍在本申請案經簡列為諸特色之 特定組合，但請予瞭解，本案說明之範圍也包括本文中所 明顯或sr含掲示之任何新穎特色，或諸特色之任何新類姐 合，或其任何綜合，而不論其是杏闞於在任何一項申謫專 利範騸所申謫專利之同一發明，並且不論是否減輕本發明 所減輕之任何或所有相同技術問題。申請人謹此表明，在 依法提出本申請案或自其導出之任何另外申請案時，最斩 之申謫專利範圃可簡列為此諸特色及（或）此諸特色之姐合 -18- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公穿)

Claims (1)

1. ABCD

   Τ7Π (.» /4 第82106761¾專利申請案 中文申請專利範園修正本（85年8月) 申請專利範圍 1. 一種供主動矩陣装置之霣子糴動霣路，包含若干霣路塊 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ’各具有成並聯霣路路徑形式之冗餘部分•該霣路路徑 提供替代性路線安排通過霣路塊，及一開闥用於自毎一 霄路塊選擇並聯霄路路徑之何者將行用Μ自該霄路塊提 供输出，其特徴為，該電子驅動霄路也包含一連接至並 聯霣路路徑之測試及控制装置*此測試及控制装置自一 並聯霄路路徑取得输入*並有一拥試信號轤入用以霣測 試該並聯電路路徑，Κ及测試及控制装置響應其《測試 而使本身霣轉變，Μ在與開Μ連接之输出處產生控制信 號*用以控制並聪《路路运之何者將行用Μ提供输出供 主動矩陣装置。 2. 根撺申請專利範圈第1項之霣路，其中一糸列霣路塊形 成一移位暫存器•一掃描脈衝沿其傳播，Μ在暫存器之 系列並行移位艙出提供掃描信號* Κ及每一《路塊之並 聯電路路徑至少有一移位檐出並有一供掃描脈衢之串行 输入及串行檐出•該《路之另外特擞為每一《路塊有其 自己之測試及控制装置•連接至儸別《路塊之串行轤出 ，並且暫存器每一级之移位输出有其自己之開Η，連接 至«別《路塊之澜試及控制装置。 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 3- 根據申請專利範圍第2項之霣路，其中每一《路塊包含 移位暫存器之糸列數级，並因而有對應之糸列開《及來 自其霄路路徑之移位输出。 4. 根揀申請專利範園第2或第3項之霣路*其中拥試及控 制装置也包含一路線安排霣路級•此霣路级取前一《路 塊之串行檐出及也取控制信號作為输入* Μ確定第一或 本紙張尺度逋用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210 X 297公釐） 經濟部中央標準局負工消费合作社印裝 A8 Βδ C8 D8六、申請專利範圍 第二霣路路徑之串行轤出將行傅输至次一鼋路塊之串行 輪入。 5. 根據申請專利範園第4項之《路，其中移位暫存器之每 一級包含二成串脚之反相器》其中自每一霣路塊取至測 試及控制装置之串行輸出為取自該霣路最後級中二反相 器之第一反相器•以及其中路埭安排霣路使霄路塊之串 行输出在傳_至次一霣路塊之串行输入時反相。 6. 根據申請專利範圍第1或第2項之霄路，其中每一霄路塊 有第一及第二霣流路徑以提供冗餘部分·Μ及其中測試 及控制装置有一在第一及餐二《路路徑被測試及控制装 置濟試時•響應在其轤出發生之變化而予Μ設定之雙樓 態。 7. 根據申請專利範圍第2或第3項之霣路•其中每一《路塊 有第一及第二《流路徑Μ提供冗餘部分♦ Κ及其中測試 及控制装置有一在第一及第二霄路路徑被濟試及控制装 置测試時•響應在其翰出發生之赛化而予Μ設定之雙穩 態*且其中供每一掃描鎗出之開闢包含一第一S擇開闞 ，用Μ選擇第一霣路路徑之搏描输出，及一第二選擇開 闢，用Μ選揮第二霣路路徑之揮描鎗出· Μ及其中雙穩 態有第一及第二檐出•各為另一之逆反·並提供控制信 號•第一選擇開闞由雙穩態之第一翰出予Μ控制•而第 二選擇開W由雙穩態之第二输出予Κ控制。 3- 根據申請專利範圍第1或第2項之《路，其另外特徵為， 霣路塊，開闞Μ及測試及控制裝置係Μ薄膜霣路元件所 構成》此等霣路元件形成於主動矩陣装置之絕緣基片上 --------「裝------訂--^---r J ^ * ^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本X ) .__________- 2 -_ 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS )八4胡及（210Χ297公釐） 2ΰ6〇30 AS Β8 C8 D8_____ 六、申請專利範圍 並提供驅動《路用以掃描該矩陣之諸列。 9. 根據申諝專利範圍第8項之《路，其中主動矩陣裝置為 液晶顬示器。 10. —種自我測試及程式化根據申請專利範圍第1或第2項之 罨路之方法，其特徴為*將程式_衝加至《子强動霣路 以控制電子驅動霣路之接通，該程式臟街包含加至箱霣 路塊及加至滴試及控制装置之糸列測試腌衝，用以測試 每一連績之霄路塊*並«Μ鼋程式化每一霣路塊之測試 及控制装置•俾於完成霣路之接通時•埋擇並聯霄路路 徑之何者用Κ自霉路塊提沒轤出。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本纸張尺度逋用中國國家標準（CNS } Α4規格（210Χ297公釐）