JP2900019B2 - 液晶ディスプレイ用セルの検査方法 - Google Patents
液晶ディスプレイ用セルの検査方法Info
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- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶ディスプレー用の
ＴＦＴを使用したアレイに対し、液晶を注入した後にお
けるディスプレー用セルの検査を行う為の方法に関する
ものである。
ＴＦＴを使用したアレイに対し、液晶を注入した後にお
けるディスプレー用セルの検査を行う為の方法に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】一般にＴＦＴ−ＬＣＤの検査は、アレイ
段階における検査、セル段階における検査だけでなく、
液晶の注入によって、ディスプレイ用セルとなった段階
後においても、各ピクセルにおける液晶のモジュールの
状態が正常であるか否かを判断する為に不可欠である。
段階における検査、セル段階における検査だけでなく、
液晶の注入によって、ディスプレイ用セルとなった段階
後においても、各ピクセルにおける液晶のモジュールの
状態が正常であるか否かを判断する為に不可欠である。
【０００３】出願人は既に平成５年特許願１３３７９６
号出願において、モジュールとなる前のアレイ又はセル
段階におけるＴＦＴ−ＬＣＤに関する検査方法に関する
技術を提唱している。
号出願において、モジュールとなる前のアレイ又はセル
段階におけるＴＦＴ−ＬＣＤに関する検査方法に関する
技術を提唱している。
【０００４】これは、図１の如き構成の各セルについ
て、図２に示すような等価回路において、ＴＦＴのドレ
イン側をアースを接続しているピクセル補助コンデンサ
ーＣｓと接続したアクティブカラーＬＣＤにおいて、図
３に示すように、ＴＦＴを所定時間ＯＮとして、ＬＣＤ
のセルコンデンサーにデータラインを通じて充電を行
い、次に、ＴＦＴを所定時間ＯＦＦの状態として当該充
電状態を保持した後、再度ＴＦＴをＯＮとして、ＴＦＴ
のソース及びドレインを通じて、アース側に接続してい
る抵抗を通して放電を行い、且つ放電電流検出用抵抗の
降下電圧出力によって、配線の接続状態が正常であるか
否か等の点を判断するＴＦＴ−ＬＣＤの検査方法を基本
構成としている。
て、図２に示すような等価回路において、ＴＦＴのドレ
イン側をアースを接続しているピクセル補助コンデンサ
ーＣｓと接続したアクティブカラーＬＣＤにおいて、図
３に示すように、ＴＦＴを所定時間ＯＮとして、ＬＣＤ
のセルコンデンサーにデータラインを通じて充電を行
い、次に、ＴＦＴを所定時間ＯＦＦの状態として当該充
電状態を保持した後、再度ＴＦＴをＯＮとして、ＴＦＴ
のソース及びドレインを通じて、アース側に接続してい
る抵抗を通して放電を行い、且つ放電電流検出用抵抗の
降下電圧出力によって、配線の接続状態が正常であるか
否か等の点を判断するＴＦＴ−ＬＣＤの検査方法を基本
構成としている。
【０００５】ところで、各ピクセルの液晶の注入によっ
てディスプレイ用セルとなった段階の後では、既にＴＦ
Ｔ−アレイ及びこれらの接続状態に関する検査が終了し
ており、結局液晶が注入された各セル毎におけるＴＦＴ
の画素電極と対向電極との間に介在するピクセルコンデ
ンサーＣＬＣが正常な放電値を示すか否かによって液晶
が注入されている各セルの状態が正常であるか否か即
ち、液晶のセル化が正常であるか否かが判断される。
てディスプレイ用セルとなった段階の後では、既にＴＦ
Ｔ−アレイ及びこれらの接続状態に関する検査が終了し
ており、結局液晶が注入された各セル毎におけるＴＦＴ
の画素電極と対向電極との間に介在するピクセルコンデ
ンサーＣＬＣが正常な放電値を示すか否かによって液晶
が注入されている各セルの状態が正常であるか否か即
ち、液晶のセル化が正常であるか否かが判断される。
【０００６】そして、ピクセルコンデンサーＣＬＣが正
常な放電値を示すか否かについては、図４（ａ）に示す
ように、既存のピクセル補助コンデンサーＣＳのアース
との接続を切断し、これによって、前記ピクセルコンデ
ンサーＣＬＣのみの構成状況を検査することが試みられ
ていた。
常な放電値を示すか否かについては、図４（ａ）に示す
ように、既存のピクセル補助コンデンサーＣＳのアース
との接続を切断し、これによって、前記ピクセルコンデ
ンサーＣＬＣのみの構成状況を検査することが試みられ
ていた。
【０００７】しかしながら、このような検査方法では、
純然たるピクセルコンデンサーＣＬＣの構成状況を検査
することができない。
純然たるピクセルコンデンサーＣＬＣの構成状況を検査
することができない。
【０００８】その原因は、図４（ｂ）に示すように、実
際にはピクセル補肋コンデンサーＣＳと対向電極８及
び、隣接するゲート線Ｇｉ＋１との間に、それぞれ浮遊
キャパシタンスが存在し、しかもその容量は極めて大き
い為、ピクセル補助コンデンサーＣＳの一方端とアース
との接続を断線して、ピクセルコンデンサーＣＬＣを測
定しても、何らピクセル補助コンデンサーＣＳを除外し
た検査を行なったことにはならないことが原因となって
いる。
際にはピクセル補肋コンデンサーＣＳと対向電極８及
び、隣接するゲート線Ｇｉ＋１との間に、それぞれ浮遊
キャパシタンスが存在し、しかもその容量は極めて大き
い為、ピクセル補助コンデンサーＣＳの一方端とアース
との接続を断線して、ピクセルコンデンサーＣＬＣを測
定しても、何らピクセル補助コンデンサーＣＳを除外し
た検査を行なったことにはならないことが原因となって
いる。
【０００９】即ち、図４（ｂ）において、ピクセル補助
コンデンサーＣＳに接続され、かつアースからフロート
している接続線の端子ＳＴと対向電極８との浮遊キャパ
シタンスをＣＦ１とし、端子ＳＴと隣接するゲート線Ｇ
ｉ＋１との浮遊キャパシタンスをＣＦ２とした場合、ピ
クセル補助コンデンサーＣＳは、浮遊キャパシタンスＣ
Ｆ１及びＣＦ２を介してアースと接続し、しかもピクセ
ル補助コンデンサーＣＳの容量値に比し、前記ＣＦ１、
ＣＦ２の容量値は、実際には１００倍以上の大きな容量
を有している為、前記端子ＳＴによって、ピクセル補助
コンデンサーＣＳをアースから除外して、ピクセルコン
デンサーＣＬＣのみを測定したつもりでも、実際にはピ
クセル補助コンデンサーＣＳによる影響を切り放して除
外することができないことによる。
コンデンサーＣＳに接続され、かつアースからフロート
している接続線の端子ＳＴと対向電極８との浮遊キャパ
シタンスをＣＦ１とし、端子ＳＴと隣接するゲート線Ｇ
ｉ＋１との浮遊キャパシタンスをＣＦ２とした場合、ピ
クセル補助コンデンサーＣＳは、浮遊キャパシタンスＣ
Ｆ１及びＣＦ２を介してアースと接続し、しかもピクセ
ル補助コンデンサーＣＳの容量値に比し、前記ＣＦ１、
ＣＦ２の容量値は、実際には１００倍以上の大きな容量
を有している為、前記端子ＳＴによって、ピクセル補助
コンデンサーＣＳをアースから除外して、ピクセルコン
デンサーＣＬＣのみを測定したつもりでも、実際にはピ
クセル補助コンデンサーＣＳによる影響を切り放して除
外することができないことによる。
【００１０】回路計算によって考えた場合、ＴＦＴのド
レイン側とアースとの間の全容量値は、 ＣＬＣ＋ＣＳ（ＣＦ１＋ＣＦ２）／（ＣＳ＋ＣＦ１＋Ｃ
Ｆ２） であり、ＣＦ１、ＣＦ２≫ＣＳであることから、前記前
キャパシタンスの値が、ＣＬＣ＋ＣＳと概略等しくな
り、ピクセル補助コンデンサーＣＳとアースとを切断し
たことによる効果が殆ど生じていないことに基づいてい
る（尚図４（ｂ）において、隣接するゲート線と対向電
極との間にも、本来浮遊キャパシタンスが存在するが、
両者は共にアースと接続され電圧差が存在しないので、
当該浮遊キャパシタンスの影響は無視できる。）。
レイン側とアースとの間の全容量値は、 ＣＬＣ＋ＣＳ（ＣＦ１＋ＣＦ２）／（ＣＳ＋ＣＦ１＋Ｃ
Ｆ２） であり、ＣＦ１、ＣＦ２≫ＣＳであることから、前記前
キャパシタンスの値が、ＣＬＣ＋ＣＳと概略等しくな
り、ピクセル補助コンデンサーＣＳとアースとを切断し
たことによる効果が殆ど生じていないことに基づいてい
る（尚図４（ｂ）において、隣接するゲート線と対向電
極との間にも、本来浮遊キャパシタンスが存在するが、
両者は共にアースと接続され電圧差が存在しないので、
当該浮遊キャパシタンスの影響は無視できる。）。
【００１１】
【発明が解決を必要とする課題】本願発明は、図４
（ａ）に示すが如き従来技術による検査方法の欠点を克
服し、純然たるＣＬＣによる充放電検査を実現する方法
を提供することを目的としている。
（ａ）に示すが如き従来技術による検査方法の欠点を克
服し、純然たるＣＬＣによる充放電検査を実現する方法
を提供することを目的としている。
【００１２】
【課題を解決する為の手段】上記の如き課題を解決する
為、本願発明は、 （１）．第一工程として、液晶を注入していない段階の
ＴＦＴを使用したアクティブカラー−ＬＣＤアレイにお
いて、ＴＦＴをＯＮとして、各電極に対応するピクセル
補助コンデンサーの充電を行い、次に、ＴＦＴをＯＦＦ
の状態として当該充電状態を保持した後、再度ＴＦＴを
ＯＮとして、ＴＦＴのソース及びドレインを通じて、ア
ース側に接続している抵抗を通して放電を行って当該放
電出力を測定し、第二工程として、液晶を注入すること
によって、ディスプレイ用セルとなった後のＴＦＴを使
用したアクティブカラー−ＬＣＤにおいて、前記第一工
程と同一のＴＦＴのＯＮ、ＯＦＦ及びこれに基づく充放
電及び測定を行ない、第一工程の放電出力と第二工程の
放電出力の差の積分値を求め、又は両放電出力の積分値
の差を求めることによって、各種液晶ディスプレイ用セ
ルの状態が正常であるか否かを判別する液晶ディスプレ
イ用セルの検査方法 （２）．第一工程として、液晶を注入していない段階の
ＴＦＴを使用したアクティブカラー−ＬＣＤアレイにお
いて、ＴＦＴをＯＮとして、各電極に対応するピクセル
補助コンデンサーの充電を行い、次に、ＴＦＴをＯＦＦ
の状態として当該充電状態を保持した後、再度ＴＦＴを
ＯＮとして、ＴＦＴのソース及びドレインを通じて、ア
ース側に接続している抵抗を通して放電を行って当該放
電出力を測定し、第二工程として、液晶を注入すること
によって、ディスプレイ用セルとなった後のＴＦＴを使
用したアクティブカラー−ＬＣＤにおいて、前記第一工
程と同一のＴＦＴのＯＮ、ＯＦＦ及びこれに基づく充放
電及び測定を行ない、第二工程における放電出力の時定
数から第一工程における放電出力の時定数を差し引くこ
とによって液晶ディスプレイ用セルの状態が正常である
か否かを判別する液晶ディスプレイ用セルの検査方法か
らなる。
為、本願発明は、 （１）．第一工程として、液晶を注入していない段階の
ＴＦＴを使用したアクティブカラー−ＬＣＤアレイにお
いて、ＴＦＴをＯＮとして、各電極に対応するピクセル
補助コンデンサーの充電を行い、次に、ＴＦＴをＯＦＦ
の状態として当該充電状態を保持した後、再度ＴＦＴを
ＯＮとして、ＴＦＴのソース及びドレインを通じて、ア
ース側に接続している抵抗を通して放電を行って当該放
電出力を測定し、第二工程として、液晶を注入すること
によって、ディスプレイ用セルとなった後のＴＦＴを使
用したアクティブカラー−ＬＣＤにおいて、前記第一工
程と同一のＴＦＴのＯＮ、ＯＦＦ及びこれに基づく充放
電及び測定を行ない、第一工程の放電出力と第二工程の
放電出力の差の積分値を求め、又は両放電出力の積分値
の差を求めることによって、各種液晶ディスプレイ用セ
ルの状態が正常であるか否かを判別する液晶ディスプレ
イ用セルの検査方法 （２）．第一工程として、液晶を注入していない段階の
ＴＦＴを使用したアクティブカラー−ＬＣＤアレイにお
いて、ＴＦＴをＯＮとして、各電極に対応するピクセル
補助コンデンサーの充電を行い、次に、ＴＦＴをＯＦＦ
の状態として当該充電状態を保持した後、再度ＴＦＴを
ＯＮとして、ＴＦＴのソース及びドレインを通じて、ア
ース側に接続している抵抗を通して放電を行って当該放
電出力を測定し、第二工程として、液晶を注入すること
によって、ディスプレイ用セルとなった後のＴＦＴを使
用したアクティブカラー−ＬＣＤにおいて、前記第一工
程と同一のＴＦＴのＯＮ、ＯＦＦ及びこれに基づく充放
電及び測定を行ない、第二工程における放電出力の時定
数から第一工程における放電出力の時定数を差し引くこ
とによって液晶ディスプレイ用セルの状態が正常である
か否かを判別する液晶ディスプレイ用セルの検査方法か
らなる。
【００１３】
【発明の作用】本願発明の作用原理を説明する。前記の
ように、本願発明では、液晶の注入によってモジュール
となる前における第一工程と、液晶の注入によって、デ
ィスプレイ用セルとなった後における第二工程とにおい
て、ＴＦＴについて同一の操作を行ない、かっ同様の放
電の検査を行ない、かつ前記（１）記載のように、両放
電出力の差の積分値を求めるか、又は両放電出力の時定
数の差を求めることになるが、最初に、第二工程のよう
に、ピクセル補助コンデンサーＣＳ及び液晶セル化によ
るピクセルコンデンサーＣＬＣが存在する場合について
説明を行なう。
ように、本願発明では、液晶の注入によってモジュール
となる前における第一工程と、液晶の注入によって、デ
ィスプレイ用セルとなった後における第二工程とにおい
て、ＴＦＴについて同一の操作を行ない、かっ同様の放
電の検査を行ない、かつ前記（１）記載のように、両放
電出力の差の積分値を求めるか、又は両放電出力の時定
数の差を求めることになるが、最初に、第二工程のよう
に、ピクセル補助コンデンサーＣＳ及び液晶セル化によ
るピクセルコンデンサーＣＬＣが存在する場合について
説明を行なう。
【００１４】図５に示す基本回路図において、図３に示
すようなゲート電圧ＶＧ、及びデータ電圧ＶＤを印加
し、当初スイッチＳｄをＯＮの状態とした場合には、ピ
クセル補助コンデンサーＣＳ及び液晶の注入によってモ
ジュールとなった段階における各ピクセルコンデンサー
ＣＬＣは、データ電圧ＶＤによってゲート電圧ＶＧのパ
ルス電圧が存在する期間中充電される。
すようなゲート電圧ＶＧ、及びデータ電圧ＶＤを印加
し、当初スイッチＳｄをＯＮの状態とした場合には、ピ
クセル補助コンデンサーＣＳ及び液晶の注入によってモ
ジュールとなった段階における各ピクセルコンデンサー
ＣＬＣは、データ電圧ＶＤによってゲート電圧ＶＧのパ
ルス電圧が存在する期間中充電される。
【００１５】尚、第１スイッチＳｄをＯＮとしている期
間では、第２スイッチＳｒはＯＦＦとしている。これ
は、データ電圧ＶＤを検査装置１１によって測定する必
要がないからである。
間では、第２スイッチＳｒはＯＦＦとしている。これ
は、データ電圧ＶＤを検査装置１１によって測定する必
要がないからである。
【００１６】次に、ゲート電圧ＶＧのパルスの導通期間
を過ぎて、ＴＦＴがＯＦＦとなった段階では、ＴＦＴの
ソース及びドレイン間の抵抗は、ＴＦＴがゲート電圧Ｖ
ＧによってＯＮの場合に比し１０５ないし１０６倍の大
きさとなるので、ピクセル補助コンデンサーＣＳ及び前
記ピクセルコンデンサーＣＬＣに充電された電荷はせい
ぜい漏洩によって順次減少する程度であって、充電され
た状態は維持される。
を過ぎて、ＴＦＴがＯＦＦとなった段階では、ＴＦＴの
ソース及びドレイン間の抵抗は、ＴＦＴがゲート電圧Ｖ
ＧによってＯＮの場合に比し１０５ないし１０６倍の大
きさとなるので、ピクセル補助コンデンサーＣＳ及び前
記ピクセルコンデンサーＣＬＣに充電された電荷はせい
ぜい漏洩によって順次減少する程度であって、充電され
た状態は維持される。
【００１７】次に、再びゲート電圧ＶＧのパルスの導通
によってＴＦＴのソースとドレインとの間がＯＮとなっ
たときに、第１スイッチＳｄをＯＦＦとし、該ドレイン
と波形検査器との間に介在するスイッチＳｒをＯＮとし
た場合には、ピクセルコンデンサーＣＳ及び前記コンデ
ンサーＣＬＣに蓄電された電荷は、ドレイン及びソース
に接続された抵抗Ｒｇを通じて放電されることになる。
によってＴＦＴのソースとドレインとの間がＯＮとなっ
たときに、第１スイッチＳｄをＯＦＦとし、該ドレイン
と波形検査器との間に介在するスイッチＳｒをＯＮとし
た場合には、ピクセルコンデンサーＣＳ及び前記コンデ
ンサーＣＬＣに蓄電された電荷は、ドレイン及びソース
に接続された抵抗Ｒｇを通じて放電されることになる。
【００１８】尚、図５においては、ピクセル補助コンデ
ンサーＣＳの一方端側は、アースと接続されており、こ
の点で、図４（ａ）に示す場合と相違しているが、実際
には、前記のように、ピクセル補助コンデンサーＣＳと
アースとの間を断線したところで、浮遊インダクタンス
によって、全体の容量に変りはないので、第二工程の測
定では、ピクセル補助コンデンサーＣＳの一方端とアー
スとの間は、接続又は切断の何れであってもよい。
ンサーＣＳの一方端側は、アースと接続されており、こ
の点で、図４（ａ）に示す場合と相違しているが、実際
には、前記のように、ピクセル補助コンデンサーＣＳと
アースとの間を断線したところで、浮遊インダクタンス
によって、全体の容量に変りはないので、第二工程の測
定では、ピクセル補助コンデンサーＣＳの一方端とアー
スとの間は、接続又は切断の何れであってもよい。
【００１９】また、第１スイッチＳｄをＯＦＦとするの
は、放電電流をデータ電源側に、流出させない為である
が、第１スイッチＳｄは、本発明の製造の不可欠な構成
要素ではない。
は、放電電流をデータ電源側に、流出させない為である
が、第１スイッチＳｄは、本発明の製造の不可欠な構成
要素ではない。
【００２０】但し、抵抗Ｒｇは、ＴＦＴ−ＬＣＤが製造
途中の段階で、各端子にガードリングが接続されている
場合には、各ＴＦＴのドレインと、ガードリングを含め
たアース間の抵抗であり、またガードリングを外した場
合には、検出器１１側における測定の便宜の為に、人為
的に接続された検出用抵抗であって、通常ＴＦＴがＯＮ
となっている場合のソースとドレインとの間の抵抗（Ｒ
ｏｎ）の１００分の１以下の程度に設計されている抵抗
である。
途中の段階で、各端子にガードリングが接続されている
場合には、各ＴＦＴのドレインと、ガードリングを含め
たアース間の抵抗であり、またガードリングを外した場
合には、検出器１１側における測定の便宜の為に、人為
的に接続された検出用抵抗であって、通常ＴＦＴがＯＮ
となっている場合のソースとドレインとの間の抵抗（Ｒ
ｏｎ）の１００分の１以下の程度に設計されている抵抗
である。
【００２１】第２スイッチＳｒをＯＮとすることによっ
て、放電に基づく電流又は電圧は波形検査装置によって
キャッチされるが、第２スイッチＳｒも又本発明の不可
欠な構成要素ではない。
て、放電に基づく電流又は電圧は波形検査装置によって
キャッチされるが、第２スイッチＳｒも又本発明の不可
欠な構成要素ではない。
【００２２】放電による電圧又は電流の波形の一部は、
図３の上から３番目に示すような鋸歯状波を呈するが、
その波形の過度解は、 ｖ２＝Ｖｇｅｘｐ｛−ｔ／（ＣＳ＋ＣＬＣ）（Ｒｏｎ＋
Ｒｇ）｝ によって表現され、その時定数は、Ｔ２＝（ＣＳ＋Ｃ
ＬＣ）（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）である。但し、Ｖｇはｔ＝０に
おける抵抗Ｒｇを端子電圧を示し、ｔ＝０の時間は、電
圧の立ち上がり時間を無視している。
図３の上から３番目に示すような鋸歯状波を呈するが、
その波形の過度解は、 ｖ２＝Ｖｇｅｘｐ｛−ｔ／（ＣＳ＋ＣＬＣ）（Ｒｏｎ＋
Ｒｇ）｝ によって表現され、その時定数は、Ｔ２＝（ＣＳ＋Ｃ
ＬＣ）（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）である。但し、Ｖｇはｔ＝０に
おける抵抗Ｒｇを端子電圧を示し、ｔ＝０の時間は、電
圧の立ち上がり時間を無視している。
【００２３】そして、前記第二工程による放電出力を求
める前段階として、第２図に示す基本回路において、セ
ル化前のＴＦＴ−ＬＣＤの接続状態によって、図３に示
すような順序にしたがって、ピクセル補助コンデンサー
ＣＳの充放電を行ない、その過度解は、 ｖ１＝Ｖｇｅｘｐ｛−ｔ／ＣＳ（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）｝ によって表現され、そのその放電波形の一部は、同様に
図３の上から３番目に示すような鋸歯状波を呈し、その
時定数はＴ１＝ＣＳ（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）である。
める前段階として、第２図に示す基本回路において、セ
ル化前のＴＦＴ−ＬＣＤの接続状態によって、図３に示
すような順序にしたがって、ピクセル補助コンデンサー
ＣＳの充放電を行ない、その過度解は、 ｖ１＝Ｖｇｅｘｐ｛−ｔ／ＣＳ（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）｝ によって表現され、そのその放電波形の一部は、同様に
図３の上から３番目に示すような鋸歯状波を呈し、その
時定数はＴ１＝ＣＳ（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）である。
【００２４】但し、Ｖｇはｔ＝０における抵抗Ｒｇの端
子電圧を示し、ｔ＝０の時間は、電圧の立ち上がり時間
を無視している。
子電圧を示し、ｔ＝０の時間は、電圧の立ち上がり時間
を無視している。
【００２５】前記ｖ２−ｖ１＝ｖを時間積分した場合に
は、 が得られる。
は、 が得られる。
【００２６】即ち、第一工程の放電出力と第二工程の放
電出力に対応する時間毎の差を積分するか、又は第二工
程の放電出力の時間積分と第一工程の放電出力の時間積
分との差によって、各ピクセルコンデンサーＣＬＣに対
応した出力の時間積分を察知することができる。
電出力に対応する時間毎の差を積分するか、又は第二工
程の放電出力の時間積分と第一工程の放電出力の時間積
分との差によって、各ピクセルコンデンサーＣＬＣに対
応した出力の時間積分を察知することができる。
【００２７】従って、前記積分値をＶｇ（Ｒｏｎ＋
Ｒｇ）によって割ることによって液晶モジュールによる
ピクセルコンデンサーＣＬＣを得ることができる。
Ｒｇ）によって割ることによって液晶モジュールによる
ピクセルコンデンサーＣＬＣを得ることができる。
【００２８】尚、前記積分値の差又は差の積分値は、実
際にはコンピュータによって行うことが多い。
際にはコンピュータによって行うことが多い。
【００２９】そして両時定数の差Ｔ＝Ｔ２−Ｔ１＝Ｃ
ＬＣ（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）であり，双方の出力曲線の時定数
の差によって液晶モジュールによるコンデンサーＣＬＣ
に対応した量が求められ、ＣＬＣ＝Ｔ／（Ｒｏｎ＋
Ｒｇ）によって、前記コンデンサーＣＬＣの値が判明す
る。
ＬＣ（Ｒｏｎ＋Ｒｇ）であり，双方の出力曲線の時定数
の差によって液晶モジュールによるコンデンサーＣＬＣ
に対応した量が求められ、ＣＬＣ＝Ｔ／（Ｒｏｎ＋
Ｒｇ）によって、前記コンデンサーＣＬＣの値が判明す
る。
【００３０】尚、前記各時定数Ｔ１及びＴ２は、各鋸刃
波による放電出力の減衰の度合いを以って、実際の測定
又はコンピュータによる計算によって算出することがで
きる。
波による放電出力の減衰の度合いを以って、実際の測定
又はコンピュータによる計算によって算出することがで
きる。
【００３１】他方、液晶モジュールによる各ピクセルコ
ンデンサーＣＬＣについては、液晶が正常に充満されて
いる場合の概略の値が事前に予測されている。
ンデンサーＣＬＣについては、液晶が正常に充満されて
いる場合の概略の値が事前に予測されている。
【００３２】従って、前記２つの方法によって求められ
たＣＬＣが当初設定されている予測値と一致している場
合には、液晶モジュールの状況が正常であることが判明
し、逆に当該予測値と一致していない場合には、液晶モ
ジュールの状況が異常であることが判明することにな
る。
たＣＬＣが当初設定されている予測値と一致している場
合には、液晶モジュールの状況が正常であることが判明
し、逆に当該予測値と一致していない場合には、液晶モ
ジュールの状況が異常であることが判明することにな
る。
【００３３】かくして、本願発明の前記（１）、（２）
の如き方法によって、液晶の注入の後における各ピクセ
ルの電極の状態が正常か異常かを正確に判別することが
可能となる。
の如き方法によって、液晶の注入の後における各ピクセ
ルの電極の状態が正常か異常かを正確に判別することが
可能となる。
【００３４】以上の基本原理を前提として、本願発明の
実施例にっいて説明する。
実施例にっいて説明する。
【００３５】
【実施例】図６は、本願において実際に使用される実施
例を示す。
例を示す。
【００３６】請求項２又は同４記載のように各画素に対
応して配列されたＴＦＴの各行のゲート線Ｇ１、Ｇ２，
…Ｇｍに対し、スイッチＳｇ１，Ｓｇ２，…Ｓｇｍを設
け、同様に各ＴＦＴの列に対するデータ線Ｄ１、Ｄ２、
Ｄ３、…Ｄｎに対し、スイッチＳｄ１、Ｓｄ２、…Ｓ
ｄｎを設け、かつ波形検査装置に対しても、各データ線
に対応して、スイッチＳｒ１、Ｓｒ２、…Ｓｒｎを設け
ている。
応して配列されたＴＦＴの各行のゲート線Ｇ１、Ｇ２，
…Ｇｍに対し、スイッチＳｇ１，Ｓｇ２，…Ｓｇｍを設
け、同様に各ＴＦＴの列に対するデータ線Ｄ１、Ｄ２、
Ｄ３、…Ｄｎに対し、スイッチＳｄ１、Ｓｄ２、…Ｓ
ｄｎを設け、かつ波形検査装置に対しても、各データ線
に対応して、スイッチＳｒ１、Ｓｒ２、…Ｓｒｎを設け
ている。
【００３７】図６において、液晶セル化前の段階におい
て、リレーを使用して、スイッチＳｇ１、Ｓｇ２、…Ｓ
ｇｎを順次切替えることによって、第一工程即ち、各ピ
クセルのピクセル補助コンデンサーＣＳによる放電出力
を検出することになる。
て、リレーを使用して、スイッチＳｇ１、Ｓｇ２、…Ｓ
ｇｎを順次切替えることによって、第一工程即ち、各ピ
クセルのピクセル補助コンデンサーＣＳによる放電出力
を検出することになる。
【００３８】次に、各ピクセルに液晶の注入が行われた
後においても、同様のリレー操作を行ない、ピクセル補
助コンデンサーＣＳ及び液晶の注入後におけるピクセル
コンデンサーＣＬＣの和であるＣＳ＋ＣＬＣによる各ピ
クセルの放電出力を求め、前記（１）記載のように、各
放電出力における時定数の差を求めるか、又は前記
（２）記載のように各放電出力の積分値の差の積分値を
求め、これによって液晶の注入後におけるピクセルコン
デンサーＣＬＣを算出して、各ピクセルにおける液晶の
状態が正常であるか否かを検査することが可能となる。
後においても、同様のリレー操作を行ない、ピクセル補
助コンデンサーＣＳ及び液晶の注入後におけるピクセル
コンデンサーＣＬＣの和であるＣＳ＋ＣＬＣによる各ピ
クセルの放電出力を求め、前記（１）記載のように、各
放電出力における時定数の差を求めるか、又は前記
（２）記載のように各放電出力の積分値の差の積分値を
求め、これによって液晶の注入後におけるピクセルコン
デンサーＣＬＣを算出して、各ピクセルにおける液晶の
状態が正常であるか否かを検査することが可能となる。
【００３９】
【発明の効果】このように、本願発明においては、従来
提案されている方法に比し、正確に液晶の注入による各
ピクセルコンデンサーＣＬＣに対応した量（前記（１）
のような時定数の差又は（２）記載の差の積分値又は積
分値の差）を算出し、これによって各ピクセルにおける
液晶が正常であるか否かを正確に判断することができ
る。
提案されている方法に比し、正確に液晶の注入による各
ピクセルコンデンサーＣＬＣに対応した量（前記（１）
のような時定数の差又は（２）記載の差の積分値又は積
分値の差）を算出し、これによって各ピクセルにおける
液晶が正常であるか否かを正確に判断することができ
る。
【００４０】特に前記（２）記載のように、両出力の積
分値の差又は差の積分値を求めた場合には、ＴＦＴとデ
ータ線との浮遊キャパシタンス、データ線とゲート線と
の浮遊キャパシタンス等による影響は、双方の差を求め
ることによって消去されており、浮遊キャパシタンスに
よる測定誤差を免れることができる。
分値の差又は差の積分値を求めた場合には、ＴＦＴとデ
ータ線との浮遊キャパシタンス、データ線とゲート線と
の浮遊キャパシタンス等による影響は、双方の差を求め
ることによって消去されており、浮遊キャパシタンスに
よる測定誤差を免れることができる。
【００４１】このように、本願発明は、従前の液晶セル
検査方法に比し、極めて重要な長所を有しており、その
価値は絶大である。
検査方法に比し、極めて重要な長所を有しており、その
価値は絶大である。
【００４２】
【図１】：見取図 液晶を構成する各ピクセルの構成の概略を示す。
【図２】：基本回路図 液晶セル化前のＴＦＴ一ＬＣＤ回路の基本構成を示す。
【図３】：入出力波形グラフ 本願発明において使用されるＴＦＴを操作することによ
る各入力及び各放電出力を示す。
る各入力及び各放電出力を示す。
【図４】（ａ）、（ｂ）：従来技術による液晶セル検査
方法の原理図、及びこの場合実際に存在する浮遊キャパ
シタンスの状況を示す回路図
方法の原理図、及びこの場合実際に存在する浮遊キャパ
シタンスの状況を示す回路図
【図５】：基本回路図 液晶セル化前のＴＦＴ−ＬＣＤ回路の基本構成を示す。
【図６】：全体回路図 本発明を具体的に実現する実施例の回路の構成を示す。
１：液晶を充満する空間（ＬＣＤ） ２：画素電極 ３：ゲート線 ４：ＴＦＴ ５：データ線 ６：共通電極 ７：カラーフィルター ８：偏光板 ９：ガラス基板 １１：検査器
Claims (4)
- 【請求項１】 第一工程として、液晶を注入していない
段階のＴＦＴを使用したアクティブカラー−ＬＣＤアレ
イにおいて、ＴＦＴをＯＮとして、各電極に対応するピ
クセル補助コンデンサーの充電を行い、次に、ＴＦＴを
ＯＦＦの状態として当該充電状態を保持した後、再度Ｔ
ＦＴをＯＮとして、ＴＦＴのソース及びドレインを通じ
て、アース側に接続している抵抗を通して放電を行って
当該放電出力を測定し、第二工程として、液晶を注入す
ることによって、ディスプレイ用セルとなった後のＴＦ
Ｔを使用したアクティブカラー−ＬＣＤにおいて、前記
第一工程と同一のＴＦＴのＯＮ、ＯＦＦ及びこれに基づ
く充放電及び測定を行ない、第一工程の放電出力と第二
工程の放電出力の差を積分するか又は、両放電出力の積
分値の差を求めることによって、各種液晶ディスプレイ
用セルの状態が正常であるか否かを判別する請求項１記
載の液晶ディスプレイ用セルの検査方法。 - 【請求項２】 複数のＴＦＴに接続されたゲート線、デ
ータ線の配列に従って各データ線毎及び各ゲート線毎に
順次検査を行うことによって、各液晶モジュールの電極
の検査を行なうことを特徴とする請求項１記載の液晶デ
ィスプレイ用セルの検査方法 - 【請求項３】 第一工程として、液晶を注入していない
段階のＴＦＴを使用したアクティブカラー−ＬＣＤアレ
イにおいて、ＴＦＴをＯＮとして、各電極に対応するピ
クセル補助コンデンサーの充電を行い、次に、ＴＦＴを
ＯＦＦの状態として当該充電状態を保持した後、再度Ｔ
ＦＴをＯＮとして、ＴＦＴのソース及びドレインを通じ
て、アース側に接続している抵抗を通して放電を行って
当該放電出力を測定し、第二工程として、液晶を注入す
ることによって、ディスプレイ用セルとなった後のＴＦ
Ｔを使用したアクテイブカラー−ＬＣＤにおいて、前記
第一工程と同一のＴＦＴのＯＮ、ＯＦＦ及びこれに基づ
く充放電及び測定を行ない、第二工程における放電出力
の時定数から第一工程における放電出力の時定数を差し
引くことによって液晶ディスプレイ用セルの状態が正常
であるか否かを判別する液晶ディスプレイ用セルの検査
方法。 - 【請求項４】 複数のＴＦＴに接続されたゲート線、デ
ータ線の配列に従って各データ線毎及び各ゲート線毎に
順次検査を行うことによって、各液晶モジュールの電極
の検査を行なうことを特徴とする請求項３記載の液晶デ
ィスプレイ用セルの検査方法
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10289595A JP2900019B2 (ja) | 1995-03-23 | 1995-03-23 | 液晶ディスプレイ用セルの検査方法 |
| US08/501,554 US5528163A (en) | 1995-03-23 | 1995-07-12 | Method of inspecting cells of liquid crystal display |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10289595A JP2900019B2 (ja) | 1995-03-23 | 1995-03-23 | 液晶ディスプレイ用セルの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08262092A JPH08262092A (ja) | 1996-10-11 |
| JP2900019B2 true JP2900019B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=14339604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10289595A Expired - Fee Related JP2900019B2 (ja) | 1995-03-23 | 1995-03-23 | 液晶ディスプレイ用セルの検査方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5528163A (ja) |
| JP (1) | JP2900019B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09159997A (ja) * | 1995-12-07 | 1997-06-20 | Sharp Corp | 液晶パネルの欠陥候補箇所検出方法 |
| US6518709B2 (en) * | 2000-10-16 | 2003-02-11 | Nec Corporation | Color organic EL display and method for driving the same |
| KR100479071B1 (ko) * | 2001-09-28 | 2005-03-25 | 엘지전자 주식회사 | 액정표시장치 검사시스템 및 그 방법 |
| JP4103544B2 (ja) * | 2002-10-28 | 2008-06-18 | セイコーエプソン株式会社 | 有機ｅｌ装置 |
| TWI341505B (en) * | 2006-11-27 | 2011-05-01 | Chimei Innolux Corp | Liquid crystal panel and driving method thereof |
| CN101191922B (zh) * | 2006-12-01 | 2010-04-14 | 群康科技(深圳)有限公司 | 液晶显示面板 |
| CN104991358B (zh) * | 2015-07-21 | 2018-07-13 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 阵列基板及其制作方法、控制方法、显示装置 |
| CN109887472A (zh) * | 2019-04-12 | 2019-06-14 | 安徽新华学院 | 一种tft-lcd像素电容快速充电功能解决方法 |
| CN110211195B (zh) * | 2019-05-22 | 2023-03-31 | 北京字节跳动网络技术有限公司 | 生成图像集合的方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5184082A (en) * | 1991-09-18 | 1993-02-02 | Honeywell Inc. | Apparatus and method for testing an active matrix pixel display |
| US5377030A (en) * | 1992-03-30 | 1994-12-27 | Sony Corporation | Method for testing active matrix liquid crystal by measuring voltage due to charge in a supplemental capacitor |
| GB9219836D0 (en) * | 1992-09-18 | 1992-10-28 | Philips Electronics Uk Ltd | Electronic drive circuits for active matrix devices,and a method of self-tasting and programming such circuits |
| US5428300A (en) * | 1993-04-26 | 1995-06-27 | Telenix Co., Ltd. | Method and apparatus for testing TFT-LCD |
-
1995
- 1995-03-23 JP JP10289595A patent/JP2900019B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-12 US US08/501,554 patent/US5528163A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5528163A (en) | 1996-06-18 |
| JPH08262092A (ja) | 1996-10-11 |
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