KR940003091A - 박막 전계 트랜지스터의 제조방법 - Google Patents

박막 전계 트랜지스터의 제조방법 Download PDF

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KR940003091A
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문정환
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    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
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Abstract

본 발명은 박막전계 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로서, 그 목적은 실리콘(5)상에 소오스/드레인 이온주입 마스크(6)를 적용하여 이온주입을 차동적으로 행하는데 있다.
종래의 박막전계 트랜지스터의 제조방법에서는 채널에 실리콘이온주입을 할때 마스크 없이 행하기 때문에 결정성장이 무작위적, 동시 다발적으로 일어나 전기적으로 중요한 부위도 결정립계가 일반영역과 비슷하여 트랜지스터의 작동효과가 약하였다. 이런단점을 개선하기 위해 본 발명에서는 증착된 채널에 전체적으로 1차 실리콘 이온을 주입한후에, 소오스/드레인 이온주입 마스크(6)를 설치한 후 2차 실리콘 이온주입을 행하여, 재결정화가 채널영역에서 소오스/드레인 방향으로 일어나도록 하였다.

Description

박막 전계 트랜지스터의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명에 따른 채널 증착후의 박막 전계 트랜지스터의 단면도.
제 2 도는 제 1 도의 채널상에 1차 실리콘 이온주입 공정도.
제 3 도는 제 1 도의 채널상에 소오스/드레인 마스크설치후 2차 실리콘주입 공정도.
제 4 도는 어닐링 처리후의 결정성장 방향을 나타낸 도면.
제 5 도는 실리콘 이온주입 마스크로서 사용되는 SiO2층의 단면도.

Claims (2)

  1. (가) 실리콘 기판(1), 절연막(2), 게이트(3), 게이트 절연층(4), 채널 및 소오스/드레인을 형성하기 위한 층을 순서적으로 적층시키는 단계와, (나) 상기 채널 및 소오스/드레인을 형성하기 위한 층에 실리콘 이온주입을 행하는 단계와, (다) 상기 채널을 형성하기 위한 층상에 소오스/드레인 이온주입 마스크(6) 설치후에 2차로 실리콘 이온주입을 행한 후, 상기 마스크(6)을 제거시키는 단계와, (라) 어닐링하여 채널과 소오스/드레인(7) 영역을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 전계 트랜지스터의 제조방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 (다)단계에서의 2차 이온주입량은 (나)단계의 1차 이온주입량 보다 많게 하고, 상기 (나)단계를 실행하기 전에 상기 채널이 형성될 층위에 SiO2막(9)을 증착시켜서, 이 Sio2막(9)을 마스크로 사용하는 것을 특징으로 하는 박막 전계 트랜지스터의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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