KR930014069A - Dma 라이트 테스트 방법 - Google Patents

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KR930014069A
KR930014069A KR1019910023805A KR910023805A KR930014069A KR 930014069 A KR930014069 A KR 930014069A KR 1019910023805 A KR1019910023805 A KR 1019910023805A KR 910023805 A KR910023805 A KR 910023805A KR 930014069 A KR930014069 A KR 930014069A
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South Korea
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dma
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KR1019910023805A
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English (en)
Inventor
박정현
Original Assignee
이헌조
주식회사 금성사
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Abstract

본 발명은 DMA 라이트 시스템의 전송 에러를 체크하는 로직 및 방법에 관한 것으로, 일반적으로 사용되고 있는 종래의 DMA 라이트 테스트 회로는 메인 메모리로 부터의 데이타를 주변기기로 DMA 전송하는 과정에 대한 라이트 테스트를 수행할 경우에, 메인 메모리로 부터 출력되는 데이타는 메인 프래임 버퍼 및 버스를 통해 라이트로 전송되며, 이 데이타는 다시 버스 전송 버퍼 및 리드를 경유하여 DMA 버퍼에 보내져서 일시 저장되며 상기 DMA 버퍼에 저장된 데이타는 다시 데이타 전송 버퍼를 통해 램으로 전송된다.
이때 상기 씨피유는 메인 메모리로부터 출력된 데이타와 상기 램에 저장된 데이타를 서로 비교하여 전송과정에서 데이타의 전송에러가 발생하였는지를 테스트하게 되고, 만일 메모리로 부터 출력된 데이타와 램에서 수신된 데이타가 서로 다른 값을 갖는다면 이는 DMA 데이타 전송과정에서도 에러가 발생할 수 있는 것으로, 회로의 이상이 있음을 의미하게 된다.
따라서 기존의 회로는 상기와 같은 과정에 의해 메오리의 데이타를 실제로 주변기기로 보내지 않고서도 DMA과정에서 에러가 발생할 수 있음을 판단하게 된다.
그러나 상기와 같은 회로 및 방식에 의해 메모리 데이타의 전송을 테스트할 경우에는 많은 문제점 이 노출되는데 먼저, 상기의 회로는 테스트과정에서 많은 회로소자를 경유하므로 테스트의 수행 속도가 늦어지는 결함이 있고, 이에 따라 회로의 전반적이 기능의 저하가 발생하게 된다.
이에 따라 본 발명은 상기와 같은 종래 회로의 결함을 감안하여 단축된 경로를 통해 DMA 데이타 라이트 테스트가 수행되도록 하여 DMA 테스트에 따른 시스템의 속도저하 문제가 해결되도록 창안된 것이다.

Description

DMA 라이트 테스트 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 DMA 라이트 테스트 방법에 따른 회로도.
제3도는 제2도에서 수행되는 제어 흐름도.

Claims (1)

  1. 메인 메모리(4)에 순차적인 테스트 데이타를 저장하고 DMA 시스템을 DMA 라이트 테스트 모드로 설정한다음 DMA 테스트를 시작하여 메인 메모리(4)로 부터의 데이타를 메인 프래임 버스 테이타 버퍼(5) 및 라이트 버퍼(8)를 통해 버스 전송 버퍼(9)에 입력하고, 이 데이타를 상기 리드 버퍼(7)에서 순차적으로 증가하는 데이타와 비교를 하여 두 데이타가 서로 일치하면, 상기 메인 메모리(4)에 저장된 모든 테스트 데이타에 대하여 테스트를 수행하고, 두 데이타가 서로 일치하지 않으면 DMA 라이트 로직에 에러가 발생한 것으로 판정하는 DMA 라이트 테스트 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910023805A 1991-12-21 1991-12-21 Dma 라이트 테스트 방법 KR930014069A (ko)

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