KR930010559A - 아이씨 시험 접속 제어회로 - Google Patents

아이씨 시험 접속 제어회로 Download PDF

Info

Publication number
KR930010559A
KR930010559A KR1019910020067A KR910020067A KR930010559A KR 930010559 A KR930010559 A KR 930010559A KR 1019910020067 A KR1019910020067 A KR 1019910020067A KR 910020067 A KR910020067 A KR 910020067A KR 930010559 A KR930010559 A KR 930010559A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
chip
signal
circuit
socket
Prior art date
Application number
KR1019910020067A
Other languages
English (en)
Other versions
KR950006579B1 (ko
Inventor
배정환
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, 금성일렉트론 주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019910020067A priority Critical patent/KR950006579B1/ko
Publication of KR930010559A publication Critical patent/KR930010559A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR950006579B1 publication Critical patent/KR950006579B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 아이씨의 시험 접속 장치에 관한 것으로, 일반적으로 사용되고 있는 종래의 아이씨 시험회로는 아이씨 소켓에 접속된 아이씨 칩의 시험이 완료된 후 양품 또는 불량품을 확인하고 아이씨 소켓에서 시험된 아이씨 칩을 제거하고 시험될 새로운 아이씨 칩을 아이씨 소켓에 접속해야 하는 순서를 반복 진행해야 되므로 아이씨 시험 완료후 새로운 아이씨 칩으로 교체 접속되기 까지 불필요한 시간의 낭비가 많게 된다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 종래 회로의 결함으로 감안하여 멀티플레서를 통해 하나의 아이씨에 대한 테스트를 진행하는 도중에 다른 아이씨를 장착하여 하나의 아이씨에 대한 시험이 끝나면 곧바로 다음 칩에 대한 시험이 진행될 수 있도록 하여 새로운 아이씨 칩을 시험회로에 접속시키기 까지의 시간을 감소시킬 수 있어 아이씨 칩의 시험 생산성을 향상시킬 수 있으며, 알람 모드의 작동을 선택할 수 있어 아이씨 시험중 시험 장치 혹은 시험 회로 또는 아이씨 칩에 이상이 발생할 경우 이를 감지하여 아이씨에 대한 시험을 정지시킴으로써 잘못된 상태하에서의 아이씨 시험의 진행을 방지할 수 있도록 창안된 것이다.

Description

아이씨 시험 접속 제어회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명 아이씨 시험 접속 제어회로도, 제3도는 본 발명 아이씨 시험 접속 제어회로에서의 각부 파형에 대한 타이밍도.

Claims (1)

  1. 스타트 스위치(SW3, SW4)의 입력에 의하여 아이씨에 대한 테스트 신호를 출력하는 아이씨 테스트 구동신호 발생부(12-1, 12-2)와, 상기 테스트 구동신호 발생부(12-1, 12-2)로부터 래치(11-1, 11-2)를 통해 입력되는 아이씨 테스트 신호를 인가받아 테스터(1)로 아이씨에 대한 테스트 시작 신호를 출력하는 스타트 신호 발생부(9-1, 9-2)와, 테스트 아이씨에 대한 테스트의 진행과 테스트의 결과로서 나타나는 PASS 또는 FAIL의 상태를 외부로 디스플레이하는 디스플레이부(31)와, 제1 또는 제2 아이씨에 대한 테스트시 테스터(1)로 입력되는 신호 또는 상기 테스터(1)로부터 출력되는 제어신호를 선택적으로 입출력하여 제1 아이씨 또는 제2 아이씨에 대한 테스트가 선택적으로 수행되도록 스위칭 작용을 하는 멀티플렉서(2-1∼2-5)와, 실피신호(FAIL)가 연속적으로 발생할 때 카운터(3-1∼3-2)를 동작시켜 일정 수에 도달하면 아이씨에 대한 테스트가 스타트되지 못하도록 외부로 제어신호를 출력하는 스타트 신호 제어부(30)로 구성된 것을 특징으로 하는 아이씨 시험 접속제어회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910020067A 1991-11-12 1991-11-12 아이씨 시험 접속 제어회로 KR950006579B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910020067A KR950006579B1 (ko) 1991-11-12 1991-11-12 아이씨 시험 접속 제어회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910020067A KR950006579B1 (ko) 1991-11-12 1991-11-12 아이씨 시험 접속 제어회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930010559A true KR930010559A (ko) 1993-06-22
KR950006579B1 KR950006579B1 (ko) 1995-06-19

Family

ID=19322678

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910020067A KR950006579B1 (ko) 1991-11-12 1991-11-12 아이씨 시험 접속 제어회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR950006579B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6572290B2 (ja) * 2017-11-22 2019-09-04 ファナック株式会社 電子機器の異常検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR950006579B1 (ko) 1995-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0046404B1 (en) Apparatus for the dynamic in-circuit testing of electronic digital circuit elements
US11114137B2 (en) Bidirectional data pin, clock input pin, shift register, debug circuitry
JPH02268281A (ja) 多数ピン集積回路の試験方法及び試験装置
KR940006230A (ko) 반도체 집적회로장치 및 그 기능시험방법
JPH07260857A (ja) 液晶表示装置の駆動回路および液晶表示装置
KR930010559A (ko) 아이씨 시험 접속 제어회로
EP0382360A3 (en) Event qualified testing architecture for integrated circuits
SU1114994A1 (ru) Устройство дл контрол и настройки цифровых узлов
SU1695390A1 (ru) Схема управлени жидкокристаллическим экраном
KR970007090Y1 (ko) 집적소자의 시험장치
JPS6454380A (en) Electronic circuit package with automatic testing function
KR900001312Y1 (ko) 와이어리스 기판(pwa)전용 시험 장치
KR890008735Y1 (ko) 콘트롤러를 사용한 복수라인 검사회로
JPH0611492Y2 (ja) 電路瞬断瞬接試験機
SU1709318A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых блоков
JP3001017B2 (ja) Ｉｃ試験装置
SU1674019A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых интегральных схем
JPH01199174A (ja) 複合パルス検査装置
JP2001004706A (ja) 半田不良検査方法
JPH03122579A (ja) 半導体集積回路
JPS635276A (ja) 検査装置
JPS6464249A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH05107317A (ja) 集積回路試験装置
KR19990051367A (ko) 테스트 평가 모드를 갖는 반도체 장치
JPH02269984A (ja) 部品実装プリント基板試験方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20050524

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee