KR970007090Y1

KR970007090Y1 - 집적소자의 시험장치

Info

Publication number: KR970007090Y1
Application number: KR2019910022683U
Authority: KR
Inventors: 김관우
Original assignee: 금성일렉트론 주식회사; 문정환
Priority date: 1991-12-18
Filing date: 1991-12-18
Publication date: 1997-07-15
Also published as: KR930015332U

Abstract

내용없음

Description

집적소자의 시험장치

제1도는 본 고안 집적소자의 시험장치의 회로도.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

1 : 카운터2 : 디코더

3 : 집적소자용 소켓4 : 시험결과표시부

5 : 버퍼6 : 소켓선택부

IN1,IN2 : 인버터RY1 : 릴레이

LED1,LED11,LED12 : 발광다이오드

DF1,DF2 : 플립플롭

본 고안은 집적소자를 시험하는 장치에 관한 것으로, 특히 번인보드(Burn-in Board)에 장착된 집적소자의 시험장치에 관한 것이다.

종래에는 집적소자를 시험할 경우 번인공정을 거친 후 다시 집적소자의 시험을 진행하게 되어 있다.

이때, 번인공정을 진행하는 경우 집적소자를 번인보드에 장착시키고 난 후 이 번인 보드를 번인 장비에 삽입하여 적정시간 동안 번인을 실시하여 불량품을 제거한다.

그리고, 번인공정이 끝나면 번인 보드에 장착되어 있는 집적소자들을 제거하여 스리브(Sleeve)에 이동시켜 패키지시험(Package test) 공정에서 핸들러(Handler)를 이용하여 집적소자의 시험을 수행한다.

따라서, 집적소자를 핸들러에 장착시켜 시험을 하고 집적소자의 시험을 완료하면 다시 핸들러에서 집적소자를 제거시키므로 이에 따라 집적소자의 핸들링시 장착 및 제거의 횟수가 많아 시험자의 손이 많이 접촉되어 집적소자의 다리가 굽는 경우가 높아 양산손실이 증가하는 문제점이 있었다.

본 고안은 이러한 문제점을 감안하여 번인보드에 집적소자를 삽입하고 번인장비에서 번인을 실시한 다음 번인보드에 삽입되어있는 집적소자를 제거하지 않고 시험장비를 이용하여 집적소자를 시험하도록 번인보드에 시험장비를 인터페이스하는 집적소자의 시험장비를 안출한 것으로, 이를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

시험장비의 시험시작번호(ST)를 인가받아 계수하는 카운터(1)와, 이 카운터(1)의 출력신호를 받아 디코딩하는 디코더(2)와, 이 디코더(2)의 신호에 따라 발광 다이오드(LED1)를 점등하고 릴레이(RY1)를 구동시켜 집적소자용 소켓(3)을 선택하는 소켓선택부(6)와, 집적소자의 시험이 끝난 후 시험결과신호에 따라 시험결과를 표시하는 시험결과표시부(4)와, 시험장비의 시험종료신호(EOT)를 상기 카운터(1)로 출력하는 버퍼(5)로 구성한 것으로, 상기 시험결과표시부(4)는 소자양품신호를 플립플롭(EF1)을 통해 발광 다이오드(LED11)에 인가하고 소자불량신호를 플립플롭(DF2)을 통해 발광 다이오드(LED12)에 인가되게 구성한다.

상기 집적소자용 소켓(3)은 디코더(2)의 출력에 따라 16개를 삽입하여 각 출력마다 릴레이와 발광 다이오드를 부가하고, 각 집적소자용 소켓(3)에 시험결과표시부(4)를 연결하여 구성하고, 이때 번인보드는 스위치를 부가하여 번인을 할 경우 시험장비에서 나오는 신호들을 한 보드위에 삽입된 전제품에 동일하게 입력되도록 함과 아울러 집적소자를 시험할 경우 각각의 집적소자에 시험장비의 신호들이 입력되도록 하여 번인공정과 시험공정을 선택 수행한다.

이와 같이 구성한 본 고안 집적소자의 시험장치의 작용 및 효과를 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 번인보드(Burin-in Board)에 설치된 스위치를 절환하여 번인공정을 선택하고, 번인보드에 집적소자를 삽입한 후 번인장비에서 번인을 실시하며, 번인공정이 끝나면 스위치를 절환하여 시험공정을 선택한 후 번인 보드를 시험장비에 접속시키고 시험시작 버튼을 누르면 시험시작번호를 출력한다.

이때, 시험시작번호(ST)를 인가받은 카운터(1)는 카운트한 출력신호를 순차적으로 디코더(2)의 입력으로 출력하고, 이 카운터(1)의 출력신호를 인가받은 디코더(2)는 순차적으로 출력(QO-Q15)을 저전위로하여 발광 다이오드를 점등시키고 릴레이를 구동하여 순차적으로 집적소자용 소켓을 선택함으로써 집적소자의 시험을 수행한다.

즉, 카운터(1)의 출력신호에 의해 디코더(2)의 출력(QO)이 저전위가 되면 발광 다이오드(LED1)가 점등하고 릴레이(RY1)를 구동시켜 집적소자용 소켓(3)에 시험장비의 신호경로를 형성시켜 집적소자의 시험을 수행한다.

그리고, 시험을 완료하면 시험장비는 집적소자의 양품, 불량을 판별하여 시험결과표시부(4)에 시험결과번호를 출력하므로 시험한 집적소자가 양품이면 소자양품신호를 플립플롭(DF1)을 통해 발광 다이오드(LED11)에 인가하여 점등시키고 시험한 집적소자가 불량이면 소자불량신호를 플립플롭(DF2)을 통해 발광 다이오드(LED12)에 인가하여 점등시킨다.

또한, 집적소자의 시험이 종료되면 시험장비는 시험종료신호(EOT)를 버퍼(5)를 통해 상기 카운터(1)에 인가하여 시험시작번호(ST)로 함으로써 디코더(2)의 출력을 순차적으로 저전위로 하여 집적소자용 소켓을 선택하고 집적소자를 시험한다.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 고안 집적소자의 시험장비는 한 장의 번인보드를 번인공정과 시험공정을 수행할 수 있게 패턴(Pattern)을 제작하여 핸들러에 투여될 필요가 없으며 공정마다 집적소자를 삽입하고 제거할 필요가 없으므로 공정이 단순화하고 소자의 제조단가가 절감하는 효과가 있다.

Claims

시험장비의 시험시작번호(ST)를 인가받아 계수하는 카운터(1)와, 이 카운터(1)의 출력신호를 인가받아 출력(QO-Q15)을 선택하는 디코더(2)와, 이 디코더(2)의 출력(QO-Q15)에 따라 발광 다이오드(LED1)를 점등시키고 릴레이(RY1)를 구동시켜 집적소자용 소켓(3)을 선택하는 소켓선택부(6)와, 시험장비의 시험결과신호에 따라 집적소자의 양품, 불량을 표시하는 시험결과표시부(4)와, 시험장비의 시험종료신호(EOT)를 인가받아 다음시험시작번호(ST)로 인가하는 버퍼(5)로 구성한 것을 특징으로 하는 집적소자의 시험장비.