KR0158422B1 - 실장형 회로소자 자동검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판(Printed circuit Board:PCB)상에 실장되는 회로소자를 자동적으로 검사하도록하는 실장형 회로소자 자동검사장치에 관한 것이다.

본 발명의 실장형 회로소자 자동검사장치는 인쇄회로기판에 실장된 회로소자가 접촉된 측정핀부에 포함되는 다수의 측정핀을 디코딩(decoding)방식과 엔코딩(encoding)방식에 의해서 순차적으로 선택하게 함으로써, 회로소자에 대한 측정작업수행이 용이하게 될 뿐만 아니라, 측정시간이 대폭적으로 단축되는 등과같은 특별한 효과가 있는 것이다.

Description

실장형 회로소자 자동검사장치

제1도는 본 발명에 따른 실장형 회로소자 자동검사장치의 회로도.

제2도는 본 발명에 의한 실장형 회로소자 자동검사장치의 1실시예를 보이는 구체회로도.

제3도는 본 발명에 의한 칩인에이블신호의 출력파형과 채널선택신호의 테이블.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 기존신호발생부 20 : 기준신호스위칭부

30 : 제1핀선택제어부 40 : 제1측정핀선택부

50 : 측정핀부 60 : 제2측정핀선택부

70 : 제2핀선택제어부 80 : 측정신호 스위칭부

90 : A/D컨버터 100 : 주제어부

본 발명은 인쇄회로기판(Printed circuit Board:PCB)상에 실장되는 회로소자를 자동적으로 검사하는 장치에 관한 것으로, 특히 인쇄회로기판에 실장된 회로소자가 접촉된, 측정핀부에 포함되는 다수의 측정핀을 디코딩(decoding)방식과 엔코딩(encoding)방식에 의해서 순차적으로 선택하게 함으로써, 회로소자에 대한 측정작업수행이 용이하게 될 뿐만아니라, 측정시간이 대폭적으로 단축되는 실장형 회로소자 자동검사장치에 관한 것이다.

일반적으로, 비디오 및 오디오신호를 처리하는 인쇄회로기판을 생산하는 과정은 크게 3가지로 나누어 볼 수 있는데, 첫번째로 인쇄회로기판에 해당부품(가변저항기(VR : Variable Resistor)등)을 부품장착기(칩 마운터:CHIP MOUNTER)로 장착하는 과정과, 둘째로 상기 해당부품이 장착된 인쇄회로기판의 이면을 이면검사기로 검사하는 과정과, 셋째로 상기 이면검사가 완료된 인쇄회로기판에 기준신호를 입력하여 출력되는 신호를 파형검사조정기(In-Circuit Tester)로 검사조정하는 과정이다.

본 발명은 상기 두번째와 세번째단계 사이에서 또는 생산하는 과정이 아닌 단지 검사하는 단계에서 인쇄회로기판에 실장되어 있는 회로소자를 검사하는 경우에 필요한 장치이다.

종래에 인쇄회로기판상의 회로소자를 자동적으로 검사하는 장치는 없으며, 단지 기존의 멀티메터(Multi-Meter)를 사용해서 다수의 피측정소자를 인위적으로 옮겨다니면서 수동적으로 측정해야하는 불편함이 있었다. 또한, 실장형 인쇄회로기판상의 전체 회로소자(부품)을 측정하기 위해서는 측정핀을 각각 측정하고자 하는 회로소자에 각각 이동시켜 측정해야하는 관계로 측정시간이 장시간 소요되는 문제점이 있었다.

본 발명은 상기한 문제점을 해결하고자 안출된 것이다.

따라서, 본 발명의 목적은 인쇄회로기판에 실장된 회로소자가 접촉된 측정핀부에 포함되는 다수의 측정핀을 디코딩(decoding)방식과 엔코딩(encoding)방식에 의해서 순차적으로 선택하게 함으로써, 회로소자에 대한 측정작업수행이 용이하게 될 뿐만아니라, 측정시간이 대폭적으로 단축되는 실장형 회로소자 검사장치를 제공하는데 있다.

상기한 바와같은 목적을 달성하기 위한 수단으로써, 본 발명에 의한 실장형 회로소자 자동검사장치는 검사선택신호가 외부로부터 입력되면 기준신호발생 제어신호와 칩인에이블신호 및 채널선택신호를 소정의 형식으로 출력하고, A/D컨버터로부터의 신호를 받아서 검사하도록된 주제어부; 상기 기준신호발생 제어신호에 의해서 기준신호를 발생시키는 기준신호발생부; 상기 칩인에이블신호에 의해서 기준신호발생부로부터의 기준신호를 스위칭하여 제1측정핀선택부로 제공하도록된 기준신호 스위칭부; 상기 칩인에이블신호에 의해서 내부에 포함된 다수의 디코더가 순차적으로 선택되고, 상기 채널선택신호에 의해서 선택된 디코더내 다수의 출력채널이 순차적으로 선택되도록된 제1핀선택제어부; 상기 제1핀선택제어부의 제어에 따라 다수의 측정핀을 순차적으로 선택하여 상기 기준신호 스위칭부의 출력신호를 선택된 측정핀으로 출력하도록된 제1측정핀선택부; 상기 제1측정핀선택부에 의해서 선택되는 다수의 제1측정핀열을 포함하고, 상기 제1측정핀열에 대응하여 피측정소자를 접속하도록된 제2측정핀열을 포함하는 측정핀부; 상기 측정핀부내 제2측정핀열을 제2핀선택제어부에 의해서 순차적으로 선택하고, 선택된 측정핀으로부터의 측정신호를 측정신호스위칭부로 출력하도록된 제2측정핀선택부; 상기 칩인에이블신호에 의해서 내부에 포함된 다수의 디코더가 순차적으로 선택되고, 상기 채널선택신호에 의해서 선택된 디코더내 다수의 출력채널이 순차적으로 선택되도록된 제2핀선택제어부; 상기 칩인에이블신호에 의해서 제2측정핀선택부로부터의 기준신호를 스위칭하여 A/D컨버터로 제공하도록 된 측정신호 스위칭부; 상기 측정신호 스위칭부로부터의 측정신호를 디지탈신호로 변환하여 상기 주제어부로 출력하도록된 A/D컨버터를 구비함을 특징으로 한다.

이하, 본 발명을 첨부도면을 참조하여 설명한다.

제1도는 본 발명에 따른 실장형 회로소자 자동검사장치의 회로도이다.

제1도를 참조하면, 본 발명의 장치는 검사선택신호(TS)가 외부로부터 입력되면 기준신호발생 제어신호(OS)와 칩인에이블신호(CE) 및 채널선택신호(S)를 소정의 형식으로 출력하고, A/D컨버터(90)로부터의 신호를 받아서 검사하도록된 주제어부(100)와, 상기 기준신호발생 제어신호(OS)에 의해서 기준신호를 발생시키는 기준신호발생부(10)와, 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 기준신호발생부(10)로부터의 기준신호를 스위칭하여 제1측정핀선택부(40)로 제공하도록된 기준신호 스위칭부(20)와, 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 내부 포함된 다수의 디코더가 순차적으로 선택되고, 상기 채널선택신호(S)에 의해서 선택된 디코더내 다수의 출력채널이 순차적으로 선택되도록된 제1핀선택제어부(30)와, 상기 제1핀선택제어부(30)의 제어에 따라 다수의 측정핀을 순차적으로 선택하여 상기 기준신호 스위칭부(20)의 출력신호를 선택된 측정핀으로 출력하도록된 제1측정핀 선택부(40)와, 상기 제1측정핀 선택부(40)에 의해서 선택되는 다수의 제1측정핀열을 포함하고, 상기 제1측정핀열에 대응관계로 피측정소자를 접속하도록된 제2측정핀열을 포함하는 측정핀부(50)와, 상기 측정핀부(50)내 제2측정핀열을 제2핀선택제어부(70)에 의해서 순차적으로 선택하고, 선택된 측정핀으로부터의 측정신호를 측정신호스위칭부(80)로 출력하도록 된 제2측정핀선택부(60)와, 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 내부에 포함된 다수의 디코더가 순차적으로 선택되고, 상기 채널선택신호(S)에 의해서 선택된 디코더내 다수의 출력채널이 순차적으로 선택되도록된 제2핀선택제어부(70)와, 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 제2측정핀선택부(60)로부터의 측정신호를 스위칭하여 A/D컨버터(90)로 제공하도록된 측정신호 스위칭부(80)와, 상기 측정신호 스위칭부(80)로부터의 측정신호를 디지탈신호로 변환하여 상기 주제어부(100)로 출력하도록된 A/D컨버터(90)를 구성한다.

제2도는 본 발명에 의한 실장형 회로소자 자동검사장치의 1실시예를 보이는 구체회로도이다.

제2도를 참조하면, 상기 주제어부(100)는 컴퓨터를 사용하며, 하나의 기준신호발생 제어신호(OS)를 출력한후에, 다수의 칩인에이블신호(CE1~CE4)를 순차적으로 출력하고, 다수의 채널선택신호(SA~SD)로 H 와 L 레벨의 조합으로 이루어지는 로직신호(Logic signal)를 출력하도록 프로그램이 내장된다.

상기 기준신호스위칭부(20)는 상기 다수의 칩인에이블신호(CE1~CE4)를 논리곱하는 논리소자(AND1)와, 상기 논리소자(AND1)의 출력에 의해서 구동되어 상기 기준신호 발생부(10)에서 제1측정핀제어부(40)로 제공되는 기준신호의 전송로를 스위칭하도록 구성된다.

상기 제1핀선택제어부(30)는 주제어부(100)의 칩인에이블신호(CE1~CE4) 각각에 의해서 4개의 디코더(31~34)가 순차적으로 인에이블(enable)되어 동작이 선택되고, 상기 선택된 디코더는 상기 주제어부(100)의 채널선택신호(SA~SD)에 의해서 16개의 출력채널(Y0~Y15)이 순차적으로 선택되도록 구성된다.

상기 제1측정핀선택부(40)는 상기 제1핀선택제어부(30)에 의해서 구동이 제어되도록 상기 제1핀선택제어부(30)에 포함되는 다수의 디코더(31~34)의 출력채널 각각에 접속되는 다수의 코일과, 상기 코일에 흐르는 전류에 의한 전자기력에 의해서 기준신호의 선로를 스위칭하는 접점을 포함하는 릴레이(RY40-1~RY40-64)로 구성된다.

상기 측정핀부(50)는 상기 다수의 릴레이(RY40-1~RY40-64)에 포함되는 접점에 각각 접속되고, 피측정소자의 일측에 접속되는 다수의 제1측정핀열(P1-1~P1-64)과, 상기 제1측정핀열(P1-1~P1-64)에 접속되는 피측정소자의 타측에 접속되는 제2측정핀열(P2-1~P2-64)로 구성된다.

상기 제2측정핀선택부(60)은 제2핀선택제어부(70)에 의해서 구동이 제어되도록 상기 제2핀선택제어부(70)에 포함되는 다수의 디코더의 출력채널 각각에 접속되는 다수의 코일과, 상기 코일에 흐르는 전류에 의한 전자기력에 의해서 측정신호의 선로를 스위칭하는 접점을 포함하는 릴레이(RY60-1~RY60-64)로 구성된다.

상기 제2핀선택제어부(70)은 주제어부(100)의 칩인에이블신호(CE1~CE4) 각각에 의해서 4개의 디코더(71~74)가 순차적으로 인에이블(enable)되어 동작이 선택되고, 상기 선택된 디코더는 상기 주제어부(100)의 채널선택신호(SA~SD)에 의해서 16개의 출력채널(Y0~Y15)이 순차적으로 선택되도록 구성된다.

상기 측정신호 스위칭부(80)는 상기 다수의 칩인에이블신호(CE1~CE4)를 논리곱하는 논리소자(AND1)와, 상기 논리소자(AND1)의 출력에 의해서 구동되어 상기 제2측정핀선택부(60)로부터의 측정신호를 스위칭하도록 구성된다.

제3도는 본 발명에 의한 칩인에이블신호의 출력파형과 채널선택신호의 출력테이블이다.

이하, 본 발명에 따른 작용 및 효과를 첨부도면에 의거해서 상세히 설명한다.

제1도, 제2도 및 제3도를 참조하면, 본 발명에 의한 주제어부(100)가 제3a도에 도시된 바와같이 검사선택신호(TS)가 외부로부터 입력되는 경우에 있어서, 상기 주제어부(100)에서는 제3도에 도시한 바와같은 기준신호발생 제어신호(OS)와, 칩인에이블신호(CE1~CE4) 및 채널선택신호(SA~SD)를 출력한다.

상기 주제어부(100)의 기준신호발생 제어신호(OS)에 의해서 기준신호발생부(10)에서 기준신호를 발생시키고, 상기 기준신호발생 제어신호(OS)에 의한 기준신호가 발생되는 동안에는 상기 칩인에이블신호(CE1~CE4)에 의해서 기준신호 스위칭부(20)가 온접점으로 동작하며, 상기 칩인에이블신호(CE1~CE4)에 의해서 제1핀선택제어부(30)내 디코더가 제3도에 도시한 바와같이 각각 특정한 시간에 선택된다.

이를 구체적으로 설명하면, 상기 기준신호발생 제어신호(OS)에 의한 기준신호가 발생되는 동안에는 상기 주제어부(100)의 칩인에이블신호(CE1~CE4)중에 하나는 제3도에 도시한 바와같이 로우(L)레벨로 되므로 상기 칩인에이블신호(CE1~CE4) 논리소자(AND1)에서 출력되는 신호는 항상 로우(L)레벨이다.

상기 주제어부(100)의 채널선택신호(SA~SD)에 의해서는 상기 4개의 디코더(31~34)중에 하나가 선택된 동안에, 제3d도에 도시한 바와같이 상기 선택된 디코더의 출력채널(Y0~Y15)을 특정시간동안 개별적으로 선택한다.

상기 선택된 디코더(31~34)에서 출력채널(Y0-Y15)이 선택되면 상기 선택된 출력채널에 접속된 릴레이가 구동되어 측정핀부(50)내 제1측정핀열의 특정핀으로 기준신호를 출력하게 되는 것이다. 이와같이 릴레이가 구동되는 것은 상기 디코더에서 선택된 출력채널과 전압이 공급되기 때문이다.

한편, 상기 제1핀선택제어부(30)가 동작하는 과정과 동일한 동작과정으로서, 상기 주제어부(100)의 칩인에이블신호(CE1~CE4)에 의해서 제2핀선택제어부(70)내 디코더가 제3도에 도시한 바와같이 각각 특정한 시간에 선택된다.

상기 주제어부(100)의 채널선택신호(SA~SD)에 의해서는 상기 4개의 디코더(71~74)중에 하나가 선택된 동안에, 제3d도에 도시한 바와같이 상기 선택된 디코더의 출력채널(Y0~Y15)을 특정시간동안 개별적으로 선택된다.

상기 선택된 디코더(71~74)에서 출력채널(Y0~Y15)이 선택되면 상기 선택된 출력채널에 접속된 제2측정핀선택부(60)의 릴레이가 구동되어 측정핀부(50)내 제2측정핀열중 특정핀으로부터 측정신호를 받아서 측정신호 스위칭부(80)로 출력한다.

상기 기준신호발생 제어신호(OS)에 의한 기준신호가 발생되는 동안에는 상기 주제어부(100)의 칩인에이블신호(CE1~CE4)중에 하나는 제3도에 도시한 바와같이 로우(L)레벨로 되므로 상기 칩인에이블신호(CE1~CE4) 논리소자(AND2)에서 출력되는 신호는 항상 로우(L)레벨이다. 따라서 상기 측정신호 스위칭부(80)가 온접점으로 구동되어 상기 측정신호는 A/D컨버터(90)에서 디지탈신호로 변환된 다음에 컴퓨터(100)로 입력됨과 동시에 컴퓨터의 내장된 소정의 프로그램에 의해서 검사하게 되는 것이다.

상술한 바와같은 본 발명은 인쇄회로기판에 실장된 회로소자가 접촉된 측정핀부에 포함되는 다수의 측정핀을 디코딩(decoding)방식과 엔코딩(endocing)방식에 의해서 순차적으로 선택하게 함으로써, 회로소자에 대한 측정작업수행이 용이하게 될 뿐만아니라, 측정시간이 대폭적으로 단축되는 등과같은 특유의 효과가 있는 것이다.

Claims (6)

1. 실장형 회로소자 검사장치에 있어서, 검사선택신호(TS)가 외부로부터 입력되면 기준신호발생 제어신호(OS)와 칩인에이블신호(CE) 및 채널선택신호(S)를 소정의 형식으로 출력하고, A/D컨버터(90)로부터의 신호를 받아서 검사하도록된 주제어부(100); 상기 기준신호발생 제어신호(OS)에 의해서 기준신호를 발생시키는 기준신호발생부(10); 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 기준신호발생부(10)로부터의 기준신호를 스위칭하여 제1측정핀선택부(40)로 제공하도록된 기준신호 스위칭부(20); 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 내부에 포함된 다수의 디코더가 순차적으로 선택되고, 상기 채널선택신호(S)에 의해서 선택된 디코더내 다수의 출력채널이 순차적으로 선택되도록된 제1핀선택제어부(30); 상기 제1핀선택제어부(30)의 제어에 따라 다수의 측정핀을 순차적으로 선택하여 상기 기준신호 스위칭부(20)의 출력신호를 선택된 측정핀으로 출력하도록 된 제1측정핀 선택부(40); 상기 제1측정핀 선택부(40)에 의해서 선택되는 다수의 제1측정핀열을 포함하고, 상기 제1측정핀열에 대응관계로 피측정소자를 접속하도록된 제2측정핀열을 포함하는 측정핀부(50); 상기 측정핀부(50)내 제2측정핀열을 제2핀선택제어부(70)에 의해서 순차적으로 선택하고, 선택된 측정핀으로부터의 측정신호를 측정신호스위칭부(80)로 출력하도록된 제2측정핀선택부(60); 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 내부에 포함된 다수의 디코더가 순차적으로 선택되고, 상기 채널선택신호(S)에 의해서 선택된 디코더내 다수의 출력채널이 순차적으로 선택되도록된 제2핀선택제어부(70); 상기 칩인에이블신호(CE)에 의해서 제2측정핀선택부(60)로부터의 측정신호를 스위칭하여 A/D컨버터(90)로 제공하도록된 측정신호 스위칭부(80); 상기 측정신호 스위칭부(80)로부터의 측정신호를 디지탈신호로 변환하여 상기 주제어부(100)로 출력하도록된 A/D컨버터(90)를 구비함을 특징으로 하는 실장형 회로소자 자동검사장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 주제어부(100)는 컴퓨터를 사용하며, 하나의 기준신호발생 제어신호(OS)를 출력한후에, 다수의 칩인에이블신호(CE1~CE4)를 순차적으로 출력하고, 다수의 채널선택신호(SA~SD)로 H와 L 레벨의 조합으로 이루어지는 로직신호(Login signal)를 출력하도록 프로그램이 내장됨을 특징으로하는 실장형 회로소자 자동검사장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 기준신호스위칭부(20)와 측정신호스위칭부(80)는 상기 다수의 칩인에이블신호(CE1~CE4)를 논리곱하는 논리소자(AND1)와, 상기 논리소자(AND1)의 출력에 의해서 구동되어 신호전송로를 스위칭하도록 구성함을 특징으로하는 실장형 회로소자 자동검사장치.
4. 제1항에 있어서, 상기 제1,2핀선택제어부(30,70)는 주제어부(100)의 칩인에이블신호(CE1~CE4) 각각에 의해서 4개의 디코더가 순차적으로 인에이블(enable)되어 동작이 선택되고, 상기 선택된 디코더는 상기 주제어부(100)의 채널선택신호(SA~SD)에 의해서 16개의 출력채널(Y0~Y15)이 순차적으로 선택되도록 구성함을 특징으로하는 실장형 회로소자 자동검사장치.
5. 제1항에 있어서, 상기 제1,2측정핀선택부(40,60)는 상기 제1,2핀선택제어부(30,70)에 의해서 구동이 제어되도록 상기 제1,2핀선택제어부(30,70)에 포함되는 다수의 디코더의 출력채널 각각에 접속되는 다수의 코일과, 상기 코일에 흐르는 전류에 의한 전자기력에 의해서 기준신호의 선로를 스위칭하는 접점을 포함하는 릴레이로 구성함을 특징으로 하는 실장형 회로소자 자동검사장치.
6. 제1항에 있어서, 상기 측정핀부(50)는 상기 다수의 릴레이(RY40-1~RY40-64)에 포함되는 접점에 각각 접속되고, 피측정소자의 일측에 접속되는 다수의 제1측정핀열(P1-1~P1-64)과, 상기 제1측정핀열(P1-1~P1-64)에 접속되는 피측정소자의 타측에 접속되는 제2측정핀열(P2-1~P2-64)로 구성함을 특징으로하는 실장형 회로소자 자동검사장치.