KR200141102Y1 - 통신장비 자동시험장치 - Google Patents

통신장비 자동시험장치 Download PDF

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Abstract

1. 청구범위에 기재된 고안이 속한 기술분야
통신장비에 구비된 모듈들의 기능을 자동으로 시험하는 장치에 관한 것이다.
2. 고안이 해결하고자 하는 기술적 과제
통신장비에 구비된 모든 모듈들의 기능을 하나의 시험 치구만을 사용하여 시험할 수 있는 자동시험장치를 제공한다.
3. 고안의 해결방법의 요지
시험 대상 모듈의 입출력 신호선들을 특성에 따라 분류하여 시험 치구에 연결하는 변환 치구를 구비한다.
4. 고안의 중요한 용도
통신장비의 모듈을 하나의 시험 치구만을 사용하여 자동으로 시험하는데 이용한다.

Description

통신장비 자동시험장치
제1도는 본 고안의 실시예에 따른 자동시험장치의 블럭구성도
[고안의 상세한 설명]
본 고안은 통신장비에 구비된 모듈(module)의 기능을 시험하는 장치에 관한 것으로, 특히 각 모듈의 기능을 자동으로 시험하는 자동시험장치(automatic test equipment)에 관한 것이다.
통상적으로 통신장비들은 각각 고유한 기능을 수행하는 다수의 모듈로 이루어지며 모듈들의 복합적인 동작에 의해 해당 통신장비의 기능이 수행된다. 이러한 통신장비에서 어떤 모듈에 이상이 발생되면 고장의 정도에 따라 전체적인 기능이 중지될 수도 있다. 그러므로 각 모듈의 고장 여부에 대한 시험이 필수적이다.
이전에는 숙련된 기술자가 시험 대상 모듈을 해당 통신장비에 연결된 상태에서 통신장비의 외부로 이탈시켜 오실로스코프(oscilliscope)와 같은 계측기에 연결한 후 해당 모듈의 회로도나 동작파형도를 참조하면서 고장 여부를 시험하여 왔다. 그러나 이러한 시험 방법은 숙련된 기술자가 없는 경우에는 고장난 모듈에 대한 시험을 수행할 수 없으며, 또한 모듈을 통신장비에 직접 연결한 상태에서 시험을 하므로 고장 수리시에도 해당 통신장비가 없으면 불가능해진다.
이에따라 통신장비의 모듈마다 해당 기능에 따른 동작상태를 자동으로 시험하여 고장 유무를 진단하는 자동시험장치가 널리 사용되고 있다. 현재 사용되는 자동시험장치는 시험 대상 모듈을 특별히 제작된 시험 치구(jig)를 통해 계측기 또는 자동시험장치의 주장비에 구비되는 대향회로에 연결한다. 그리고 시험 대상 모듈에 전원과 필요한 신호를 인가하여 시험 대상 모듈의 기능을 수행시켜 시험하고, 그때 시험 대상 모듈의 출력신호를 계측기 또는 대향회로로서 시험함으로써 고장 여부를 시험한다. 이때 계측기는 자동시험장치의 주장비에 의해 제어되며, 시험 대상 모듈로부터 출력되는 신호의 파형 특성이나 출력 임피던스 등을 주로 계측한다. 그리고 대향회로는 계측기로서 시험할 수 없는 시험 대상 모듈의 기능을 시험하기 위한 회로이다. 예를들어 시험 대상 모듈이 송신부일 경우에는 대향회로는 그에 대응하는 수신부를 대향회로로서 사용한다. 또한 시험 치구는 자동시험장치의 주장비에 의해 제어되며 시험 대상 모듈과 계측기간, 시험 대상 모듈과 주장비간의 인터페이스(interface)를 제공한다. 이때 자동시험장치의 주장비는 시험 결과를 모니터나 프린터를 통해 출력한다.
상기한 바와 같은 자동시험장치를 이용함으로써 시험 대상 모듈을 정확하고 신속하게 자동으로 시험할 수 있게 된다.
그러나 상기한 자동시험장치에 사용되는 시험 치구는 시험 대상 모듈들마다 적합하게 설계 및 제작되어야 한다. 이에따라 상기한 자동시험장치는 한가지 모듈만을 시험하여 시험할 경우에는 유용하나, 실제 통신장비에 구비되는 모듈들은 통상적으로 수십가지 이상인 것을 감안하면 실제 사용하는데 많은 문제를 초래한다. 즉, 하나의 자동시험장치만을 사용하여 통신장비에 구비된 여러가지 모듈들을 모두 시험할 수 있도록 할 경우에는 자동시험장치가 아주 복잡해진다. 이는 첫번째로, 시험하고자하는 통신장비의 모든 모듈들 각각이 대향회로들을 자동시험장치의 주장비에 모두 실장해야 하기 때문이다. 두번째로, 시험 대상 모듈들은 그 입출력신호들의 특성이 각각 다를 것이므로 시험 치구 설계시 이를 고려해야 한다. 즉, 종래에 사용되어 왔었던 치구는 각각의 시험 대상 모듈마다 달리 가져가야 하므로 하나의 통신장비에 구비된 모듈의 갯수만큼의 시험 치구가 필요하다. 이러한 경우 유사한 형태의 시험 치구를 시험 대상 모듈의 갯수만큼 많이 만들어야 할 뿐만아니라 대향회로와 시험 치구간을 연결하기 위한 신호선들의 갯수도 그에따라 크게 증가된다.
상기한 바와 같이 종래의 자동시험장치는 시험 대상 모듈들에 대한 시험 치구의 호환성이 없으므로써 많은 수의 모듈들을 가지는 통신장비를 시험할 경우에는 자동시험장치가 대단히 복잡해지는 단점이 있었다. 또한 신호선들의 갯수가 크게 증가됨에 따라 케이블 제작이 곤란해질 뿐만아니라 대향회로도 복잡해지게 된다.
따라서 본 고안의 목적은 통신장비에 구비된 모든 모듈들의 기능을 하나의 시험 치구만을 사용하여 시험할 수 있는 자동시험장치를 제공함에 있다.
본 고안의 다른 목적은 대향회로와 시험 치구간 신호선의 갯수를 대폭적으로 감소시키며 대향회로를 간단하게 할 수 있는 자동시험장치를 제공함에 있다.
상기한 목적들을 달성하기 위한 본 고안은 시험 대상 모듈의 입출력 신호선들을 특성에 따라 분류하여 시험 치구에 연결하는 변환 치구를 구비함을 특징으로 한다. 또한 상기 시험 치구는 시험 대상 모듈에 인가하기 위한 논리신호를 발생하며, 시험 대상 모듈의 출력신호를 선택적으로 다시 시험 대상 모듈에 입력시킨다.
이하 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기 설명 및 첨부도면에서 구체적인 많은 특정 상세들이 본 고안의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있다. 이들 특정 상세들 없이 본 고안이 실시될 수 있다는 것은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에게 자명한 것이다. 또한 본 고안의 요지를 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.
제1도는 본 고안의 실시예에 따른 통신장비 자동시험장치의 블럭구성도를 보인 것으로, 전술한 통상적인 자동시험장치에서 변환 치구(104)를 추가함과 아울러 시험 치구(102)를 변경한 것이다. 그러므로 주장비(100)와 계측기(108)는 기본적으로 통상적인 자동시험장치와 동일하다. 다만 시험 치구(102)의 변경에 따라 주장비(100)가 시험 치구(102)를 제어하도록함과 아울러 대향회로(110)가 종래에 비해 간단하게 구성된다. 그리고 시험 대상 모듈(106)은 시험하고자하는 통신장비의 모듈들중 하나로서 시험 대상의 통신장비에 구비된 모든 모듈이 될 수 있다.
상기 변환 치구(104)는 시험 대상 모듈(106)의 입출력 신호선들을 특성에 따라 분류하여 시험 치구(102)에 연결한다. 이때 변환 치구(104)는 시험 대상 모듈(106)의 입출력 신호선들을 예를 들어 8가지, 즉 디지탈 입력신호선과, 디지탈 출력신호선과, 디자탈 양방향신호선과, 아나로그 입력신호선과, 아나로그 출력신호선과,아나로그 양방향신호선과, 제어신호선과, 전원선중 하나로 분류하여 시험 치구(102)에 연결한다. 이러한 변환 치구(104)는 통상적인 콘넥터(connector)로서 제작한다. 디지탈 입력신호선은 시험 치구(102)로부터 시험 대상 모듈(106)에 시험신호로서 디지탈신호들을 입력하기 위한 신호선이다. 디지탈 출력신호선은 시험 대상 모듈(106)로부터 출력되는 디지탈신호들을 시험 치구(102)에 인가하기 위한 신호선이다. 디지탈 양방향신호선은 시험 대상 모듈(106)이 프로세서(processor)를 구비하는 경우 주장비(100)의 대향회로(110)와 통신을 하기 위한 신호선으로서 시험 대상 모듈(106)을 디버깅(debugging)하는데 사용된다. 아나로그 입력신호선은 시험 치구(102)로부터 시험 대상 모듈(106)에 시험신호로서 아나로그신호들을 입력하기 위한 신호선이다. 아나로그 출력신호선은 시험 대상 모듈(106)로부터 출력되는 아나로그신호들을 시험 치구(102)에 인가하기 위한 신호선이다. 아나로그 양방향신호선은 시험 대상 모듈(106)이 선로 특성 계측이 가능한 팁/링(tip/ring)을 가지는 모듈인 경우 이를 계측하기 위해 사용된다. 제어신호선은 시험 대상 모듈(106)을 시험하기 위한 제어신호를 시험 대상 모듈(106)에 인가하기 위한 신호선이다. 전원선은 시험 대상 모듈(106)의 동작에 필요한 전원을 인가하기 위한 신호선이다.
이때 분류된 신호선 각각의 갯수는 시험할 통신장비에 구비된 모듈들의 모든 신호선들을 상기한 8가지로 분류하고 각 분류별로 최대의 갯수로 설정하면 된다. 이를 3개의 모듈의 예를들어 보이면 하기 표(1)과 같다.
표(1)
이와 같이 시험 대상 모듈(106)의 입출력신호선을 신호 특성별로 분류함으로써 하나의 시험 치구(102)로서 여러가지의 모듈들을 시험하는데 공용할 수 있게 되며 케이블 제작이 용이해진다.
상기한 변환 치구(104)를 통한 시험 대상 모듈(106)을 주장비(100)에 연결하는 시험 치구(102)는 주장비(100)의 제어신호와 시험신호 및 전원을 시험 대상 모듈(106)에 인가하며, 주장비(100)의 제어에 의해 시험 대상 모듈(106)의 출력신호를 계측기(108)와 주장비(100)에 선택적으로 인가한다. 시험 치구(102)는 상기한 8가지의 신호선중에 디지탈 출력신호, 디지탈 양방향신호, 아나로그 입력신호, 아나로그 출력신호, 제어신호, 전원 등은 그대로 주장비(100)의 대향회로(110)와 변환 치구(104)간에 연결한다.
상기한 바와 같은 시험 치구(102)에 구비되는 제1,제2멀티플렉서(114,116)와 신호발생부(118)와 릴레이(120)를 살펴보면 다음과 같다. 제1멀티플렉서(114)는 디지탈 멀티플렉서로서 시험 대상 모듈(106)의 디지탈 출력신호중 필요한 신호를 주장비(100)의 제어에 의해 계측기(108)에 선택적으로 인가한다. 이때 제1멀티플렉서(114)의 출력은 제2멀티플렉서(116)에도 입력된다. 릴레이(120)는 주장비(100)의 제어에 의해 온될때 시험 대상 모듈(106)의 아나로그 출력신호와 아나로그 양방향신호를 계측기(108)에 인가한다. 신호발생부(118)는 시험 대상 모듈(106)에 디지탈 입력신호로서 인가하기 위한 하이 또는 로우의 논리신호를 주장비(100)의 제어에 의해 발생한다. 제2멀티플렉서(116)도 디지탈 멀티플렉서로서 제1멀티플렉서(114)의 출력신호와 주장비(100)의 대향회로(110)의 디지탈 시험신호와 신호발생부(118)의 출력신호중 하나를 주장비(100)의 제어에 의해 시험 대상 모듈(106)에 선택적으로 인가한다.
이러한 시험 치구(102)를 제어하여 시험 대상 모듈(106)을 시험하는 주장비(100)는 대향회로(110)와 제어 및 전원부(112)를 구비하며, 시험 대상 모듈(106)의 기능을 시험하기 위한 제어신호와 시험신호를 발생하여 전원과 함께 시험 대상 모듈(106)에 시험 치구(102)를 통해 인가한다. 이때 대향회로(110)는 전술한 바와 같이 계측기(108)로서 시험할 수 없는 시험 대상 모듈의 기능을 시험하기 위한 회로로서, 제어 및 전원부(112)의 제어에 의해 시험 대상 모듈(106)의 출력신호로부터 시험 대상 모듈(106)의 기능을 시험한다.
상기한 바와 같은 자동시험장치에 있어서 시험 대상 모듈(106)을 시험할 경우, 제어 및 전원부(112)는 대향회로(110)와 시험 치구(102)를 제어하여 시험 대상 모듈(106)의 기능 시험에 필요한 신호들을 시험 대상 모듈(106)에 인가한다. 이러한 상태에서 제어 및 전원부(112)는 시험에 따른 시험 대상 모듈(106)의 동작에 의해 처리된 출력신호를 계측하는 계측기(108)와 대향회로(110)의 결과로부터 시험 대상 모듈(106)의 고장 여부를 진단한다.
이때 만일 시험 대상 모듈(106)의 디지탈 출력신호를 계측기(108)로서 계측하고자 한다면 제어 및 전원부(112)는 제1멀티플렉서(114)를 제어하여 시험 대상 모듈(106)의 디지탈 출력신호를 계측기(108)에 인가되도록 한다. 이와달리 시험 대상 모듈(106)의 디지탈 출력신호나 디지탈 양방향 신호를 대향회로(110)로서 시험하고자 한다면 제어 및 전원부(112)는 제1멀티플렉서(114)를 제어하여 시험 대상 모듈(106)의 디지탈 출력신호가 계측기(108)에 인가되는 것을 차단한다. 그리고 시험 대상 모듈(106)의 아나로그 출력신호 또는 아나로그 양방향신호를 계측기(108)로서 계측하고자 한다면 제어 및 전원부(112)는 릴레이(120)을 온시켜 시험 대상 모듈(106)의 아나로그 출력신호를 계측기(108)에 연결한다. 이와 달리 시험 대상 모듈(106)의 아나로그 출력신호 또는 아나로그 양방향신호를 대향회로(110)로서 시험하고자 한다면 제어 및 전원부(112)는 릴레이(120)를 오프시켜 시험 대상 모듈(106)의 아나로그 출력신호가 계측기(108)에 인가되는 것을 차단한다.
한편 시험 대상 모듈(106)에 단순히 논리신호를 인가해야 할 필요가 있을 경우, 제어 및 전원부(112)는 신호발생부(118)를 제어하여 필요한 논리신호를 발생하고 제2멀티플렉서(116)을 제어하여 신호발생부(118)의 논리신호를 디지탈 입력신호로서 시험 대상 모듈(106)에 인가한다. 또한 별도의 대향회로(110)를 사용치 않고 시험 대상 모듈(106)의 디지탈 출력신호를 루프백(loopback)하여 시험이 가능한 경우, 제어 및 전원부(112)는 제1멀티플렉서(114)를 제어하여 시험 대상 모듈(106)의 디지탈 출력신호중에 필요한 신호를 선택하고 제2멀티플렉서(118)을 제어하여 시험 대상 모듈(106에 인가한다.
이와 같이 신호발생부(118)의 논리신호를 시험 대상 모듈(106)에 인가하거나 시험 대상 모듈(106)의 출력신호를 루프백시킴으로써 대향회로(110)를 보다 간단하게 할 수 있으며 주장비(100)와 시험 치구(102)간의 인터페이스를 위한 신호선 갯수를 줄일 수 있게 된다.
상술한 바와 같이 본 고안은 통신장비에 구비된 모든 모듈들의 기능을 하나의 시험 치구만을 사용하여 시험할 수 있는 잇점이 있다. 또한 시험 치구에 루프백 기능과 논리신호 발생기능을 추가함으로써 대향회로와 시험 치구간 신호선의 갯수를 대폭적으로 감소시키며 대향회로를 간단하게 할 수 있다.
한편 상술한 본 고안의 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 여러가지 변형이 본 고안의 범위에서 벗어나지 않고 실시할 수 있다. 특히 본 고안의 실시예에서는 변환치구(104)를 사용하는 것 뿐만아니라 신호발생부(118)를 사용하며 시험 대상 모듈(106)의 출력신호를 시험신호로서 루프백시키는 것을 예시하였으나, 필요에 따라 신호발생부(118)나 루프백을 위한 제2멀티플렉서(116)는 사용치 않을 수도 있다. 따라서 고안의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 실용신안등록 청구의 범위와 실용신안등록 청구의 범위의 균등한 것에 의해 정하여져야 한다.

Claims (7)

  1. 통신장비의 모듈을 자동으로 시험하여 고장 유무를 시험하기 위한 자동시험장치에 있어서,
    시험 대상 모듈의 입출력 신호선들을 특성에 따라 분류하여 시험 치구에 연결하는 변환 치구를 구비함을 특징으로 하는 자동시험장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 변환 치구가, 상기 시험 대상 모듈의 입출력 신호선들을 디지탈 입력신호선과, 디지탈 출력신호선과, 디지탈 양방향신호선과, 아나로그 입력신호선과, 아나로그 출력신호선과, 아나로그 양방향신호선과, 제어신호선과, 전원선중 하나로 분류하여 상기 시험 치구에 연결함을 특징으로 하는 자동시험장치.
  3. 통신장비의 모듈을 자동으로 시험하여 고장 유무를 시험하기 위한 자동시험장치에 있어서,
    시험에 따른 대상 모듈의 출력신호를 계측하는 계측기와,
    상기 시험 대상 모듈의 출력신호로부터 상기 시험 대상 모듈의 기능을 시험하기 위한 대향회로를 구비하며, 상기 시험 대상 모듈의 기능을 시험하기 위한 제어신호와 시험신호를 발생하여 전원과 함께 상기 시험 대상 모듈에 인가하며, 상기 계측기와 대향회로의 결과로부터 상기 시험 대상 모듈의 고장 여부를 진단하는 주장비와,
    상기 시험 대상 모듈을 상기 주장비에 연결하고, 상기 주장비의 제어신호와 시험신호 및 전원을 상기 시험 대상 모듈에 인가하며, 상기 주장비의 제어에 의해 상기 시험 대상 모듈의 출력신호를 상기 계측기와 주장비에 선택적으로 인가하는 시험 치구와,
    상기 시험 대상 모듈의 입출력 신호선들을 특성에 따라 분류하여 상기 시험 치구에 연결하는 변환 치구를 구비함을 특징으로 하는 자동시험장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 변환 치구가, 상기 시험 대상 모듈의 입출력 신호선들을 디지탈 입력신호선과, 디지탈 출력신호선과, 디지탈 양방향신호선과, 아나로그 입력신호선과, 아나로그 출력신호선과, 아나로그 양방향신호선과, 제어신호선과, 전원선중 하나로 분류하여 상기 시험 치구에 연결함을 특징으로 하는 자동시험장치.
  5. 상기 시험 대상 모듈의 디지탈 출력신호중 필요한 신호를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 계측기에 선택적으로 인가하는 멀티플렉서와,
    상기 시험 대상 모듈의 아나로그 출력신호와 아나로그 양방향신호를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 계측기에 선택적으로 인가하는 릴레이를 구비함을 특징으로 하는 자동시험장치.
  6. 제4항에 있어서, 상기 시험 치구가,
    상기 시험 대상 모듈의 디지탈 출력신호중 필요한 신호를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 계측기에 선택적으로 인가하는 제1멀티플렉서와,
    상기 시험 대상 모듈의 아나로그 출력신호와 아나로그 양방향신호를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 계측기에 선택적으로 인가하는 릴레이와,
    상기 제1멀티플렉서의 출력신호와 상기 주장비의 디지탈 시험신호중 하나를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 시험 대상 모듈에 선택적으로 인가하는 제2멀티플렉서를 구비함을 특징으로 하는 자동시험장치.
  7. 제4항에 있어서, 상기 시험 치구가,
    상기 시험 대상 모듈의 디지탈 출력신호중 필요한 신호를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 계측기에 선택적으로 인가하는 제1멀티플렉서와,
    상기 시험 대상 모듈의 아나로그 출력신호와 아나로그 양방향신호를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 계측기에 선택적으로 인가하는 릴레이와,
    상기 시험 대상 모듈에 디지탈 입력신호로서 인가하기 위한 논리신호를 상기 주장비의 제어에 의해 발생하는 신호발생부와,
    상기 제1멀티플렉서의 출력신호와 상기 주장비의 디지탈 시험신호와 상기 신호발생부의 출력신호중 하나를 상기 주장비의 제어에 의해 상기 시험 대상 모듈에 선택적으로 인가하는 제2멀티플렉서를 구비함을 특징으로 하는 자동시험장치.
KR2019960019688U 1996-06-30 1996-06-30 통신장비 자동시험장치 KR200141102Y1 (ko)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100817102B1 (ko) * 2006-12-06 2008-03-27 서울메트로 열차무선기지국에 실장된 통화용 카드의 통합 시험기

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