SU1674019A1 - Устройство дл контрол цифровых интегральных схем - Google Patents
Устройство дл контрол цифровых интегральных схем Download PDFInfo
- Publication number
- SU1674019A1 SU1674019A1 SU884389632A SU4389632A SU1674019A1 SU 1674019 A1 SU1674019 A1 SU 1674019A1 SU 884389632 A SU884389632 A SU 884389632A SU 4389632 A SU4389632 A SU 4389632A SU 1674019 A1 SU1674019 A1 SU 1674019A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- bus
- output
- comparator
- trigger
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике. Цель - повышение достоверности контрол и сокращение аппаратурных затрат - достигаетс введением в устройство элементов И 17, 18 и триггера 19. Устройство содержит также элемент 2 задержки, приемный регистр 3, логический компаратор 4, триггер 5, амплитудный компаратор 6, амплитудный формирователь 7, шину 8 дл подачи тактовых частот, шины 9 и 10 устройства, шины 11 и 12 дл подачи стробимпульса и опорного напр жени соответственно, шины 13 и 15 сигналов "Сброс" и брака соответственно, оперативное запоминающее устройство 1. 1 ил.
Description
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле цифровых интегральных микросхем.
Целью изобретения является повышение достоверности контроля и сокращение аппаратурных затрат за счет упрощения схемы устройства.
На чертеже приведена функциональная схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит оперативное запоминающее устройство 1 (ОЗУ), элемент 2 задержки, приемный регистр 3, логический компаратор 4, первый триггер 5 регистрации брака, амплитудный компаратор 6, амплитудный формирователь 7, шину 8 для подачи тактовой частоты, шину 9 для подачи задержанных на заданное время тактовых импульсов, служащих меткой времени для формирования перехода из Г в ”0 сигнала из ОЗУ, шину 10 для подачи задержанных на заданное время тактовых импульсов, слу. жащих меткой времени для формирования перехода из 0 в 1, шину 11 для подачи строб-импульсов, шину 12 для подачи опорного напряжения, шину 13 сигнала Сброс, клемму 14 для подключения контролируемой цифровой интегральной схемы (ЦИС), выходную шину 15 брака, три элемента И 16-18, второй триггер 19, с соответствующими связями.
Устройство работает следующим образом.
Оперативное запоминающее устройство 1 в каждом такте формирует четырехразрядное слово, которое по тактовым импульсам переписывается в приемный регистр 3. ‘
Первый выход регистра 3 обеспечивает выдачу ожидаемой реакции ЦИС, второй разрешение контроля реакции проверяемой ЦИС, третий - разрешение установки амплитудного формирователя в состояние 0, четвертый - разрешение установки амплитудного формирователя в состояние 1я.
1” на четвертом выходе приемного регистра разрешает прохождение сигнала с входной шины 9 для подачи задержанных на заданное время тактовых импульсов, служащих меткой времени для формирования перехода из Г в 0 сигнала из ОЗУ через элемент И 16 на S-вход триггера 19. Высокий уровень, установившийся при этом на выходе триггера 19, поступает через амплитудный формирователь 7 на клемму 14 для подключения проверяемой ЦИС.
на третьем выходе приемного регистра 3 разрешает прохождение сигнала с входной шины 10 для подачи задержанных на заданное время тактовых импульсов, слу жащих меткой времени для формирования перехода из 0 в 1 сигнала из ОЗУ на вход проверяемой цифровой интегральной схемы через элемент И 18 на R-вход триггера 19, в результате чего последний сбрасывается.
Если на третьем й четвертом выходе приемного регистра 3 уровни 1, то на входы триггера 19 поступают импульсы с шин 9 и 10 в одном такте, т.е. триггер 19 переключается два раза за такт, что соответствует режиму Длительность импульса меньше такта. Уровни 0” на третьем и четвертом выходах приемного регистра 3 запрещают прохождение этих импульсов, триггер 19 находится в предыдущем состоянии, а элемент И 17 переводит амплитудный формирователь 7 в третье состояние, характеризующееся высоким импендансом, и клемма 14 может служить выходом контролируемой ЦИС.
Сигнал с выхода ЦИС поступает через клемму 14 на сигнальный вход амплитудного формирователя, на второй вход которого подается опорное напряжение с шины
12. Результат сравнения запоминается на выходе логического компаратора 6 на время, определяемое длительностью строб-импульса. За это время на логическом компараторе 4 происходит сравнение реакции контролируемой микросхемы, поступающей с компаратора 6, с эталонной информацией, поступающей с приемного регистра 3 (первый выход). Результат сравнения с логического компаратора 4 при наличии разрешения сравнения в данном такте контроля, поступающего с приемного регистра 3 (второй выход) по началу строб-импульса. задержанного элементом задержки 2, записывается в первый триггер 5. Величина задержки элемента задержки выбирается такой, чтобы выходной сигнал амплитудного компаратора 6 успел после сравнения с эталонной информацией на логическом компараторе 4 поступить на вход D первого триггера 5. Если к моменту появления строб-импульса реакция контролируемой ЦИС не соответствует ожидаемой, первый триггер 5 устанавливает шину 15 брака в состояние Г - признак того, что результат контроля отрицательный. Для установления первого триггера 5 в исходное состояние служит шина 13.
Если вывод контролируемой ЦИС не двунаправленный, можно отключить сигнальный вход амплитудного компаратора 6 от выхода амплитудного формирователя 7. В этом случае устройство контролирует два вывода ЦИС, но при этом выход амплитудного формирователя 7 подключается толь5 ко на вход ЦИС, а вход амплитудного компаратора 6 только на выход проверяемой
ЦИС.
Claims (1)
- Формула изобретенияУстройство для контроля цифровых интегральных схем, содержащее элемент задержки, приемный регистр, логический компаратор, первый триггер, амплитудный компаратор, амплитудный формирователь, шину для подачи тактовой частоты, первую и вторую шину устройства, шину для подачи строб-импульса, шину для подачи опорного напряжения, шину сигнала Сброс, шину брака, клеммы для подключения объекта 15 контроля, оперативное запоминающее устройство, выходы которого соединены со входами приемного регистра, вход синхронизации которого соединен с шиной для подачи тактовой частоты, первый и второй 20 выходы - с первым входом логического компаратора и Е-входом первого триггера соответственно, вход синхронизации последнего через элемент задержки соединен с шиной для подачи строб-импульсов, 25 R-вход - с шиной сигнала Сброс, D-вход с выходом логического компаратора, а выход-с шиной брака, второй вход логического компаратора соединен с выходом амплитудного компаратора, опорный вход которого соединен с шиной для подачи опорного напряжения, сигнальный вход - с выходом амплитудного формирователя и клеммой для подключения объекта контроля, а стробирующий вход - с входом элемента задержки, первый элемент И, о т л и ч а10 ю щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля и сокращения аппаратурных затрат, в него введены два элемента И, второй триггер, S-вход которого соединен с выходом второго элемента И, R-вход - с выходом первого элемента И, а выход - с D-входом амплитудного формирователя, управляющий вход которого соединен с инверсным выходом третьего элемента И, первый вход которого соединен с первым входом третьего элемента И и третьим выходом приемного регистра, второй вход- с первым входом второго элемента И и четвертым выходом приемного регистра, второй вход первого элемента И соединен с первой шиной устройства, второй вход второго элемента И соединен со второй шиной устройства.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884389632A SU1674019A1 (ru) | 1988-01-05 | 1988-01-05 | Устройство дл контрол цифровых интегральных схем |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884389632A SU1674019A1 (ru) | 1988-01-05 | 1988-01-05 | Устройство дл контрол цифровых интегральных схем |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1674019A1 true SU1674019A1 (ru) | 1991-08-30 |
Family
ID=21360157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884389632A SU1674019A1 (ru) | 1988-01-05 | 1988-01-05 | Устройство дл контрол цифровых интегральных схем |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1674019A1 (ru) |
-
1988
- 1988-01-05 SU SU884389632A patent/SU1674019A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР N: 1193608.кл. G 01 R 31/28,1983. Техническое описание и инструкци по эксплуатации системы контрол цифровых интегральных схем -автоматизированной АМЦ 1134. АМЦ 2.746.051 ТО. Приложение 3. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5517109A (en) | Apparatus within an integrated circuit for automatically detecting a test mode of operation of the integrated circuit and selecting a test clock signal | |
KR980006247A (ko) | 지연 소자 시험 장치 및 시험 기능을 갖는 집적 회로 | |
US4897650A (en) | Self-characterizing analog-to-digital converter | |
KR100514335B1 (ko) | 다중 주기 발생기를 구비하는 집적 회로 테스터 | |
TW343282B (en) | Testing device for a semiconductor device | |
US5912899A (en) | Merged data memory testing circuits and related methods which provide different data values on merged data lines | |
US5479127A (en) | Self-resetting bypass control for scan test | |
JPH09166646A (ja) | 半導体装置 | |
US6470483B1 (en) | Method and apparatus for measuring internal clock skew | |
SU1674019A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых интегральных схем | |
CA2024746A1 (en) | Circuit and method for pulse width measurement | |
JPH10325854A (ja) | 半導体装置 | |
US4628253A (en) | Clock signal test circuit | |
JPS6154550A (ja) | 集積回路装置 | |
JP2002090426A (ja) | 半導体試験装置 | |
US6378092B1 (en) | Integrated circuit testing | |
JPH1073645A (ja) | 半導体デバイス試験装置 | |
US5497350A (en) | Integrated semiconductor memory device capable of switching from a memory mode to an internal test mode | |
KR900008788B1 (ko) | 테이터 회로를 구비한 반도체 집적회로장치 | |
JP2626899B2 (ja) | Icカード試験装置 | |
SU1684756A1 (ru) | Устройство дл функционального контрол цифровых интегральных схем | |
RU1798743C (ru) | Устройство дл функционального контрол больших интегральных схем | |
JPH0325880B2 (ru) | ||
SU532830A1 (ru) | Устройство контрол интегральных схем | |
JP2874248B2 (ja) | 診断用スキャンパス付き電子回路 |