KR930001425A - Dram 셀의 캐패시터 제조방법 - Google Patents

Dram 셀의 캐패시터 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR930001425A
KR930001425A KR1019910009331A KR910009331A KR930001425A KR 930001425 A KR930001425 A KR 930001425A KR 1019910009331 A KR1019910009331 A KR 1019910009331A KR 910009331 A KR910009331 A KR 910009331A KR 930001425 A KR930001425 A KR 930001425A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
forming
gate
oxide film
electrode
capacitor
Prior art date
Application number
KR1019910009331A
Other languages
English (en)
Other versions
KR930011124B1 (ko
Inventor
한경섭
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, 금성일렉트론 주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019910009331A priority Critical patent/KR930011124B1/ko
Publication of KR930001425A publication Critical patent/KR930001425A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR930011124B1 publication Critical patent/KR930011124B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B12/00Dynamic random access memory [DRAM] devices

Landscapes

  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

DRAM 셀의 캐패시터 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1a-e도는 본 발명의 DRAM 셀의 캐패시터 제조방법을 설명하기 위한 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
21 : 요홈 5 : 캐패시터의 제1전극
7 : 캐패시터의 제2전극

Claims (1)

  1. 반도체 기판위에 장차 게이트가 될 부분에 이 게이트의 폭보다 좁은 창을 가지는 포토레지스터 마스크를 형성한 후 습식식각 공정으로 실리콘을 소정깊이까지 식각하여 요홈을 형성하고; 상기 포토레지스터 마스크를 제거한 후 웨이퍼 전체표면에 게이트 산화막을 형성시키고; 통상의 공정으로 게이트 폴리실리콘, 게이트 폴리실리콘 위의 산화막, 소스드레인, 및 사이드 월 스페이스를 형성하고; 상기 게이트 폴리실리콘위의 산화막의 요부위에서 부터, 사이드월 스페이스 및 소스 또는 드레인 영역위의 게이트 산화막 위에까지 도전성 물질로된 캐패시터의 제1전극을 형성하고; 상기 캐패시터의 제1전극을 감싸는 ONO 유전체막을 형성하고; 상기 유전체막 외부에 도전성 물질로된 캐패시터의 제2전극을 형성하는 공정들을 포함하여 이루어지는 DRAM 셀의 캐패시터 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910009331A 1991-06-05 1991-06-05 Dram 셀의 캐패시터 제조방법 KR930011124B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910009331A KR930011124B1 (ko) 1991-06-05 1991-06-05 Dram 셀의 캐패시터 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019910009331A KR930011124B1 (ko) 1991-06-05 1991-06-05 Dram 셀의 캐패시터 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930001425A true KR930001425A (ko) 1993-01-16
KR930011124B1 KR930011124B1 (ko) 1993-11-24

Family

ID=19315472

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910009331A KR930011124B1 (ko) 1991-06-05 1991-06-05 Dram 셀의 캐패시터 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR930011124B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR930011124B1 (ko) 1993-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960043238A (ko) 리세스 채널 구조를 갖는 반도체 소자 및 그의 제조방법
KR970024239A (ko) 반도체 기억장치와 그 제조방법(semiconductor memory device and method of manufacturing the same)
KR920022525A (ko) 디램셀의 캐패시터 제조 방법 및 그 구조
KR870001662A (ko) 반도체기억장치 및 그 제조방법
KR930020676A (ko) 반도체 메모리장치 및 그 제조방법
KR890003032A (ko) 반도체기억장치 및 그 제조방법
KR940002952A (ko) 반도체 장치 및 그 제조방법
KR930001425A (ko) Dram 셀의 캐패시터 제조방법
KR970054438A (ko) 경사진 게이트 산화막을 갖는 전력용 모스 소자 및 그 제조 방법
KR920007143A (ko) 핀-스택구조의 셀 제조방법
KR0166810B1 (ko) 메모리 셀 커패시터 제조방법
KR940001460A (ko) 반도체 소자의 ldd 제조방법
KR930015005A (ko) 디램셀의 제조방법
KR890008983A (ko) 반도체 메모리 장치 및 제조방법
KR900019017A (ko) 디램셀의 제조방법
KR930015085A (ko) Mosfet 제조방법
KR970052305A (ko) 반도체 소자의 제조 방법
KR970054244A (ko) 반도체소자의 제조방법
KR970054069A (ko) 반도체장치 및 그의 제조방법
KR940008095A (ko) 반도체메모리장치의 제조방법
KR920015446A (ko) 트랜지스터 제조방법
KR930017171A (ko) 커패시터 및 그 제조방법
KR950021678A (ko) Eeprom 반도체 기억장치 및 이의 제조방법
KR940010337A (ko) 반도체 기억장치 및 그 제조방법
KR970054134A (ko) 반도체 소자 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20051019

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee