KR920010745A - 반도체 장치의 저항소자 형성방법 - Google Patents

반도체 장치의 저항소자 형성방법 Download PDF

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Abstract

내용 없음

Description

반도체 장치의 저항소자 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도(a)-(d)는 본 발명에 따른 반도체 장치의 저항소자 형성을 설명하기 위한 제조공정도이다.

Claims (1)

  1. 제1산화층상에 제1다결정실리콘, 산화막, 질화막을 순차적으로 형성시키는 공정과, 상기 질화막을 포토에칭공정에 의하여 소정의 간격으로 패터닝하는 공정과, 상기 질화막을 마스크로 사용하여 상기 제1다결정실리콘을 완전산화하여 제2산화층으로 형성하는 공정과, 상기 질화막을 제거한 후 제2다결정실리콘을 도포하는 공정과, 상기 제2다결정실리콘을 저항소자로 사용되는 부분만 남기는 공정으로 이루어진 반도체 장치의 저항소자 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019900018356A 1990-11-13 1990-11-13 반도체 장치의 저항소자 형성방법 KR0166799B1 (ko)

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