KR950034415A - 반도체 소자의 미세패턴 제조방법 - Google Patents

반도체 소자의 미세패턴 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR950034415A
KR950034415A KR1019940011008A KR19940011008A KR950034415A KR 950034415 A KR950034415 A KR 950034415A KR 1019940011008 A KR1019940011008 A KR 1019940011008A KR 19940011008 A KR19940011008 A KR 19940011008A KR 950034415 A KR950034415 A KR 950034415A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
forming
layer
conductive layer
pattern
layer pattern
Prior art date
Application number
KR1019940011008A
Other languages
English (en)
Inventor
정진기
정문식
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019940011008A priority Critical patent/KR950034415A/ko
Publication of KR950034415A publication Critical patent/KR950034415A/ko

Links

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체소자의 미세패턴 제조방법에 관한것으로서, 소정의 기판상에 배선이 되는 도전층을 도포하고, 상기 도전층과는 식각선택비차가 비교적 큰 물질로 식각장벽층을 형성하며, 상기 식각장병층상에 분해능한계치의 실리콘층 패턴을 형성하고, 상기 실리콘층 패턴을 소정 두께 열산화시킨 후, 전면 이방성식각하여 남아있는 실리콘층 패턴의 측변에 산화막 스페이서를 형성하여, 상기 남아있는 실리콘층 패턴을 제거하고, 상기 산화막 스페이서를 마스크로 노출되어 있는 식각장병층을 제거하며, 상기 식각장벽층 패턴을 식각 마스크로하여 노출되어 있는 도전층을 제거하여 도전층패턴으로된 배선을 형성하였으므로, 배선의 라인/스페이스를 분해능 한계치 이하로 감소시켜 반도체소자를 고집적화할 수 있다.

Description

반도체 소자의 미세패턴 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1A도 내지 제1G도는 본 발명에 따른 반도체소자의 미세패턴 제조공정도.

Claims (3)

  1. 소정구조의 반도체기판상에 배선이 되는 도전층을 형성하는 공정과, 상기 도전층상에 도전층과 식각선택 비차가 있는 물질로 식각장벽층을 형성하는 공정과, 상기 식각장벽층상에 실리콘층 패턴을 형성하는 공정과, 상기 실리콘층 패턴을 소정 두께 열산화시켜 열산화막을 형성하는 공정과, 상기 열산화막을 전면 이방성식각하여 상기 남아있는 실리콘층 패턴의 측벽에 산화막 스페이서를 형성하는 공정과, 상기 남아있는 실리콘층 패턴을 형성하는 공정과, 상기 열산화막을 마스크로 하여 노출되어 있는 식각장벽층은 식각하여 식각장벽층 패턴을 형성하는 공정과, 상기 산화막 스페이서를 제거하는 공정과, 상기 식각장벽층 패턴에 의해 노출되어 있는 도전층을 제거하여 도전층 패턴으로된 배선을 형성하는 공정을 구비하는 반도체소자의 미세패턴 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 도전층을 텅스텐층, 폴리실리콘층, Al/Si/Cu로 이루어지는 군에서 임의로 선택되는 하나의 층으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 미세패턴 제조방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 도전층의 하부에 상기 도전층과의 계면특성을 향상시키기 위한 밀착층을 추가로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 미세패턴 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940011008A 1994-05-20 1994-05-20 반도체 소자의 미세패턴 제조방법 KR950034415A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940011008A KR950034415A (ko) 1994-05-20 1994-05-20 반도체 소자의 미세패턴 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940011008A KR950034415A (ko) 1994-05-20 1994-05-20 반도체 소자의 미세패턴 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR950034415A true KR950034415A (ko) 1995-12-28

Family

ID=66682137

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940011008A KR950034415A (ko) 1994-05-20 1994-05-20 반도체 소자의 미세패턴 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR950034415A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010003465A (ko) * 1999-06-23 2001-01-15 김영환 반도체 소자의 미세 패턴 형성 방법
KR100298458B1 (ko) * 1999-04-15 2001-09-26 김영환 반도체 소자의 배선 형성 방법
KR100406725B1 (ko) * 2001-09-25 2003-11-21 이종덕 극미세 다중 패턴의 형성 방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100298458B1 (ko) * 1999-04-15 2001-09-26 김영환 반도체 소자의 배선 형성 방법
KR20010003465A (ko) * 1999-06-23 2001-01-15 김영환 반도체 소자의 미세 패턴 형성 방법
KR100406725B1 (ko) * 2001-09-25 2003-11-21 이종덕 극미세 다중 패턴의 형성 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960043106A (ko) 반도체장치의 절연막 형성방법
KR970051945A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR950034415A (ko) 반도체 소자의 미세패턴 제조방법
KR960005789A (ko) 반도체소자의 콘택홀 제조방법
KR970051844A (ko) 반도체 장치의 얼라인 키 패턴 형성방법
KR960026585A (ko) 반도체소자의 소자분리 산화막의 제조방법
KR960026297A (ko) 반도체소자의 미세패턴 제조방법
KR960030327A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR970052317A (ko) 반도체 장치의 미세 접촉창 형성 방법
KR950027971A (ko) 반도체소자의 미세패턴 제조방법
KR960015751A (ko) 반도체소자의 미세패턴 형성방법
KR960002547A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR940016508A (ko) 경사면을 갖는 반도체 소자의 콘택 제조 방법
KR940010366A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 제조방법
KR970003564A (ko) 반도체소자의 미세패턴 제조방법
KR970052486A (ko) 측벽 산화막을 가지는 접촉창 형성 방법
KR970018072A (ko) 미세 접촉창을 형성할 수 있는 반도체 장치의 제조 방법
KR960026209A (ko) 미세콘택 형성방법
KR960026174A (ko) 반도체 메모리장치의 매몰접촉창 형성방법
KR900015320A (ko) 트렌치 미세패턴 형성방법
KR970016758A (ko) 중합체(polymer)를 이용한 미세패턴 형성방법
KR940002950A (ko) 반도체 장치의 접촉창 형성방법
KR960026303A (ko) 미세패턴 형성방법
KR950009947A (ko) 반도체 소자의 제조방법
KR950021096A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination