KR910008490A - 방사선 민감성 포지티브 레지스트 조성물 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (6)
- 알칼리 가용성 수지, 퀴논디아지드 화합물 및 3-메록시부틸 아세테이트를 함유하는 용매를 포함하는 포지티브 레지스트 조성물
- 제1항에 있어서, 퀴논디아지드 화합물이 1,2-벤조퀴논 디아지드-4-술폰산 에스테르 및 1,2-나프토퀴논 디아지드-4-술폰산 에스테르 및 1,2-나프토퀴논 디아지드-5-술폰산 에스테르로 구성된 군으로 부터 선택한 한 이상인 포지티브 레짓트 조성물
- 제1항에 있어서, 알칼리 가용성 수지에 대한 증감제의 중량비가 1:1 내지 1:7인 포지티브 레지스트 조성물
- 제1항에 있어서, 용매가 3-메톡시부틸 아세테이트와 톨루엔, 크실렌, 에틸아세테이트 및 부틸아세테이트로 구성된 군으로 부터 선택한 하나 이상의 다른 용매를 포함하는 포지티브 레지스트 조성물
- 제1항에 있어서, 용매내의 3-메톡시부틸 아세테이트의 양이 용매의 전중량에 대하여 30내지 100중량%인 포지티브 레지스트 조성물
- 제1항에 있어서, 고형분의 함량이 3 내지 50중량%인 포지티브 레지스트 조성물※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP266993/1989 | 1989-10-13 | ||
JP1266993A JPH03127067A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | ポジ型感放射線性レジスト組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910008490A true KR910008490A (ko) | 1991-05-31 |
Family
ID=17438572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900016201A KR910008490A (ko) | 1989-10-13 | 1990-10-12 | 방사선 민감성 포지티브 레지스트 조성물 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0422667A1 (ko) |
JP (1) | JPH03127067A (ko) |
KR (1) | KR910008490A (ko) |
CA (1) | CA2027368A1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100299688B1 (ko) * | 1999-08-30 | 2001-09-13 | 한의섭 | 포지티브형 포토레지스트 조성물 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3523176A1 (de) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Hoechst Ag | Strahlungsempfindliche beschichtungsloesung und verfahren zur herstellung einer strahlungsempfindlichen schicht auf einem schichttraeger |
JPS62123444A (ja) * | 1985-08-07 | 1987-06-04 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | ポジ型感放射線性樹脂組成物 |
-
1989
- 1989-10-13 JP JP1266993A patent/JPH03127067A/ja active Pending
-
1990
- 1990-10-11 CA CA002027368A patent/CA2027368A1/en not_active Abandoned
- 1990-10-12 KR KR1019900016201A patent/KR910008490A/ko not_active Application Discontinuation
- 1990-10-12 EP EP90119599A patent/EP0422667A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03127067A (ja) | 1991-05-30 |
CA2027368A1 (en) | 1991-04-14 |
EP0422667A1 (en) | 1991-04-17 |
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