KR900013509A - 온도보상회로 - Google Patents
온도보상회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR900013509A KR900013509A KR1019900001681A KR900001681A KR900013509A KR 900013509 A KR900013509 A KR 900013509A KR 1019900001681 A KR1019900001681 A KR 1019900001681A KR 900001681 A KR900001681 A KR 900001681A KR 900013509 A KR900013509 A KR 900013509A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- coupled
- circuit
- base
- resistor
- voltage drop
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/04—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store with means for avoiding disturbances due to temperature effects
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/22—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only
- G05F3/222—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
- G05F3/225—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only with compensation for device parameters, e.g. Early effect, gain, manufacturing process, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a current or voltage as a predetermined function of the temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00369—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
- H03K19/00384—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/017509—Interface arrangements
- H03K19/017518—Interface arrangements using a combination of bipolar and field effect transistors [BIFET]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S323/00—Electricity: power supply or regulation systems
- Y10S323/907—Temperature compensation of semiconductor
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본 발명의 양호한 실시예를 사용한 TTL-CMOS변환 버퍼의 회로도.
제7도는 제6도의 회로에 대한 입력 임계 전압 대온도의 그래프도.
Claims (19)
- 전류 및 제1온도 계수의 함수로서 제1순방향 전압 강하를 갖는 베이스-에미터 접합을 갖는 트랜지스터, 및 바이폴라 트랜지스터의 베이스에 결합된 제1 및 제2저항기로 구성되고, 상기 제1저항기 및 다이오드가 상기 베이스에 직렬로 접속되고, 상기 다이오드가 전류 및 제2온도 계수의 함수로서 제2순방향 전압 강하를 갖고 있고, 상기 제2순방향 전압 강하가, 상기 제1저항기 양단 전압 강하가 상기 제1과 제2순방향 전압 강하사이의 차이에 비례하고 상기 전압 강하의 온도 계수가 상기 제1과 제2온도 계수 아이의 차이에 비례하도록, 상기 제1순방향 전압 강하 미만으로 되는 것을 특징으로 하는 온도 보상 전압 배율기.
- 제1항에 있어서, 상기 트랜지스터의 베이스에 결합된 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 배율기.
- 제1항에 있어서, 입력 노드, 출력 노드를 갖는 버퍼 회로, 및 상기 출력 노드에 결합된 제어 전극 및 상기 버퍼 회로에 결합된 전류 경로를 갖는 궤환 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 전압 배율기.
- 제3항에 있어서, 상기 트랜지스터의 베이스에 결합된 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 배율기.
- 제1항에 있어서, 콜렉터에 결합된 전압전원을 포함하는 것을 특징으로 하는 전압 배율기.
- 제1온도 계수를 갖는 베이스-에미터 접합을 갖고 있는 트랜지스터, 및 상기 베이스에 직렬로 접속된 저항 및 다이오드로 구성되고, 상기 다이오드가 저항 양단 전압 강하가 상기 제1과 제2온도 계수의 차이에 비례하는 제3온도계수를 갖도록, 제2온도 계수를 갖는 것을 특징으로 하는 온도 보상회로.
- 제6항에 있어서, 직렬로 함께 결합되고 상기 베이스에 결합된 다수의 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제6항에 있어서, 저항이 유니폴라 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 회로.
- 제6항에 있어서, 저항이 저항기로 구성된 것을 특징으로 하는 회로.
- 제6항에 있어서, 상기 보상 회로에 결합된 제2온도 보상회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제10항에 있어서, 제2회로가 제1회로의 트랜지스터의 베이스에 결합된 것을 특징으로 하는 회로.
- 제6항에 있어서, 다수의 직렬 접속 다이오드 및 다수의 보상 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제6항에 있어서, 베이스-에미터 접합이 제1순방향전압 강하를 갖고, 다이오드가 제2순방향 전압 강하를 갖고, 저항 양단 전압 강하가 제1과 제2전압 강하 사이의 차이에 비례하는 것을 특징으로 하는 회로.
- 바이폴라 논리 레벨 입력 신호를 수신하고 반전된 출력신호를 제공하기 위한 한쌍의 CMOS트랜지스터로 구성된 제1반전기, 제1반전기의 출력에 결합되고 CMOS논리 레벨의 출력을 제공하기 위한 한쌍의 CMOS트랜지스터로 구성된 제2반전기, 및 고-저 및 저-고 논리 레벨 전이 사이의 미분을 유지하기 위해 제2반전기와 제1반전기의 출력사이에 결합된 히스테리시스 회로로 구성되고, 상기 히스테리시스 회로가 제1반전기에 결합된 이의 에미터를 갖는 바이폴라 트랜지스터, 및 제1반전기에 직렬로 결합된 다이오드 및 제1저항기를 포함하는 온도 보상 동적 전압 기준 원으로 구성된 것을 특징으로 하는 BiCMOS논리레벨 변환기.
- 제14항에 있어서, 다이오드 및 제1저항기가 바이폴라 트랜지스터의 베이스에 결합된 것을 특징으로 하는 BiCMOS 변환기.
- 제14항에 있어서, 상기 바이폴라 트랜지스터의 베이스에 결합된 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 BiCMOS 변환기.
- 제14항에 있어서, 제2반전기의 출력과 히스테리시스 회로사이에 결합된 궤환 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 BiCMOS 변환기.
- 제14항에 있어서, 베이스-에미터 접합 및 다이오드 접합이 다이오드와 직렬로 된 저항기 양단 전압 강하에 선정된 순수 온도 계수를 제공하는 크기로 되는 것을 특징으로 하는 BiCMOS 변환기.
- 제18항에 있어서, 순수 온도 계수가 거의 제로인 것을 특징으로 하는 BiCMOS 변환기.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/310,275 US4956567A (en) | 1989-02-13 | 1989-02-13 | Temperature compensated bias circuit |
US310,275 | 1989-02-13 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR900013509A true KR900013509A (ko) | 1990-09-05 |
KR100192628B1 KR100192628B1 (ko) | 1999-06-15 |
Family
ID=23201754
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900001681A KR100192628B1 (ko) | 1989-02-13 | 1990-02-12 | 온도 보상 회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4956567A (ko) |
JP (1) | JP2837215B2 (ko) |
KR (1) | KR100192628B1 (ko) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02191012A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-26 | Nec Corp | 電圧発生回路 |
US5029295A (en) * | 1990-07-02 | 1991-07-02 | Motorola, Inc. | Bandgap voltage reference using a power supply independent current source |
US5225716A (en) * | 1990-09-17 | 1993-07-06 | Fujitsu Limited | Semiconductor integrated circuit having means for suppressing a variation in a threshold level due to temperature variation |
DE4201947C2 (de) * | 1992-01-24 | 1993-10-28 | Texas Instruments Deutschland | Integrierte Transistorschaltung mit Reststromkompensation |
US5359243A (en) * | 1993-04-16 | 1994-10-25 | Altera Corporation | Fast TTL to CMOS level converting buffer with low standby power |
KR100392556B1 (ko) * | 1994-01-31 | 2003-11-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 시모스회로용입력버퍼 |
US5532617A (en) * | 1994-03-25 | 1996-07-02 | Philips Electronics North America Corporation | CMOS input with temperature and VCC compensated threshold |
DE19621749C2 (de) * | 1996-05-30 | 1998-07-16 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum Erzeugen eines Widerstandsverhaltens mit einstellbarem positiven Temperaturkoeffizienten sowie Verwendung dieser Schaltungsanordnung |
US6559722B1 (en) | 1999-08-10 | 2003-05-06 | Anadigics, Inc. | Low bias current/temperature compensation current mirror for linear power amplifier |
JP4025203B2 (ja) * | 2003-01-08 | 2007-12-19 | 株式会社リコー | レベルシフト回路 |
US20040257125A1 (en) * | 2003-06-23 | 2004-12-23 | Cheng William W. | Trickle current-cascode DAC |
US7119578B2 (en) | 2003-11-24 | 2006-10-10 | International Business Machines Corp. | Single supply level converter |
US7009444B1 (en) * | 2004-02-02 | 2006-03-07 | Ami Semiconductor, Inc. | Temperature stable voltage reference circuit using a metal-silicon Schottky diode for low voltage circuit applications |
US20090130776A1 (en) * | 2005-09-01 | 2009-05-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Binding protein molecule |
JP2007306632A (ja) * | 2007-08-24 | 2007-11-22 | Ricoh Co Ltd | レベルシフト回路 |
US8093956B2 (en) * | 2009-01-12 | 2012-01-10 | Honeywell International Inc. | Circuit for adjusting the temperature coefficient of a resistor |
WO2013016575A2 (en) | 2011-07-28 | 2013-01-31 | Skyworks Solutions, Inc. | Low variation current multiplier |
FR3113344A1 (fr) * | 2020-08-04 | 2022-02-11 | Stmicroelectronics (Grenoble 2) Sas | Circuit convertisseur de niveaux |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3648153A (en) * | 1970-11-04 | 1972-03-07 | Rca Corp | Reference voltage source |
US4114053A (en) * | 1977-01-12 | 1978-09-12 | Johnson & Johnson | Zero temperature coefficient reference circuit |
JPS6028414B2 (ja) * | 1977-09-09 | 1985-07-04 | 株式会社日立製作所 | 半導体論理回路 |
US4228371A (en) * | 1977-12-05 | 1980-10-14 | Rca Corporation | Logic circuit |
SU860029A1 (ru) * | 1979-01-09 | 1981-08-30 | Предприятие П/Я А-7133 | Стабилизатор посто нного напр жени с защитой от перегрузок по току |
US4260946A (en) * | 1979-03-22 | 1981-04-07 | Rca Corporation | Reference voltage circuit using nested diode means |
US4313082A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-26 | Motorola, Inc. | Positive temperature coefficient current source and applications |
KR910008521B1 (ko) * | 1983-01-31 | 1991-10-18 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 반도체집적회로 |
US4542331A (en) * | 1983-08-01 | 1985-09-17 | Signetics Corporation | Low-impedance voltage reference |
US4745304A (en) * | 1985-05-03 | 1988-05-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Temperature compensation for ECL circuits |
JPS62221219A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Toshiba Corp | 論理回路 |
US4686449A (en) * | 1986-04-07 | 1987-08-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | JFET current source with high power supply rejection |
US4785230A (en) * | 1987-04-24 | 1988-11-15 | Texas Instruments Incorporated | Temperature and power supply independent voltage reference for integrated circuits |
-
1989
- 1989-02-13 US US07/310,275 patent/US4956567A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-02-12 KR KR1019900001681A patent/KR100192628B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-02-13 JP JP2032321A patent/JP2837215B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100192628B1 (ko) | 1999-06-15 |
JPH037423A (ja) | 1991-01-14 |
JP2837215B2 (ja) | 1998-12-14 |
US4956567A (en) | 1990-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR900013509A (ko) | 온도보상회로 | |
KR890004500A (ko) | 출력버퍼 | |
KR920020847A (ko) | 샘플밴드-갭 전압 기준 회로 | |
KR900003712A (ko) | 전압-전류 변환기 | |
KR870009543A (ko) | 차동 증폭 회로 | |
KR910013729A (ko) | 최대 또는 최소 레벨회로 | |
KR840008216A (ko) | 버퍼와 샘플 및 홀드회로 | |
KR890001287A (ko) | 논리 레벨 변환기 회로 | |
KR870001504A (ko) | 전류미터회로 | |
KR920013895A (ko) | 신호전압과 기준전압 사이의 차이에 비례하는 온도와 무관한 전류를 발생시키기 위한 집적회로 | |
GB1408985A (en) | Constant current circuits | |
KR900004096A (ko) | 증폭회로 | |
JPS61293022A (ja) | Ecl−ttl変換出力回路 | |
KR850008253A (ko) | 차동 증폭기 | |
KR930003543A (ko) | 전류 거울 회로 | |
KR880005743A (ko) | 비교기 | |
KR910021007A (ko) | 증폭기 | |
KR910019329A (ko) | Ecl 영역으로부터 나오는 신호 검출용 bicmos 입력회로 | |
KR900017185A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR860009553A (ko) | 저전압 디지탈투 아날로그 변환기 | |
KR900013706A (ko) | 차동 증폭기 | |
EP0486986B1 (en) | Buffer circuit | |
JP2545374B2 (ja) | 定電流源回路を有する差動増幅回路 | |
SU1589374A1 (ru) | Усилитель мощности низкой частоты | |
US5015967A (en) | Integratable amplifier circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20111228 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121227 Year of fee payment: 15 |
|
EXPY | Expiration of term |