KR900005612A - 4 마스크 레벨의 보호구조를 갖는 비정질 규소 박막 트랜지스터 - Google Patents

4 마스크 레벨의 보호구조를 갖는 비정질 규소 박막 트랜지스터

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KR900005612A
KR900005612A KR1019880012823A KR880012823A KR900005612A KR 900005612 A KR900005612 A KR 900005612A KR 1019880012823 A KR1019880012823 A KR 1019880012823A KR 880012823 A KR880012823 A KR 880012823A KR 900005612 A KR900005612 A KR 900005612A
Authority
KR
South Korea
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film
thin film
film transistor
amorphous silicon
silicon thin
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Application number
KR1019880012823A
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English (en)
Inventor
이강원
Original Assignee
최근선
주식회사 금성사
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Publication date
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내용 없음

Description

4 마스크 레벨의 보호구조를 갖는 비정질 규소 박막 트랜지스터
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 비정질 규소 박막트랜지스터의 구조를 나타낸 단면도,
제4도는 본 발명의 비정질 규소 박막 트랜지스터의 제조공정을 차례로 나타낸 단면도,
제5도는 본 발명의 비정질 규소 박막트랜지스터와 화소가 연결된 일실시예를 나타낸 단면도.

Claims (1)

  1. 비정질 박막트랜지스터에 있어서, 유리기판(1)상에 1700 내지 2500Å의 크롬으로 된 게이트 전극(2)과 그 위에 절연막으로서 2,000 내지 4,000Å의 소정의 금속(이하"a"라 약칭함)-SiN : H막(3), 300 내지 2,000Å의 a-Si : H막(4), 1,000 내지 3,000Å의 SiNX: H막(3')(단, x는 정수이다.)이 차례로 적층되어 있고, 그 위에 n+a-Si : H막(5)과 Al 전극이 연이어 증착되어 소오스 전극(6)과 드레인 전극(7)의 오믹층을 형성하고, 상기한 드레인의 단부에 접촉된 상태로 a-SiN : H막 위에 투명전도막(8)이 형성된 것을 특징으로 하는 4 마스크 레벨의 보호구조를 갖는 비정질 규소 박막 트랜지스터.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880012823A 1988-09-30 1988-09-30 4 마스크 레벨의 보호구조를 갖는 비정질 규소 박막 트랜지스터 KR900005612A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000037842A (ko) * 1998-12-02 2000-07-05 윤종용 박막트랜지스터 제조방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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