KR890012313A - 반도체 기억장치 - Google Patents

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KR890012313A
KR890012313A KR1019890000140A KR890000140A KR890012313A KR 890012313 A KR890012313 A KR 890012313A KR 1019890000140 A KR1019890000140 A KR 1019890000140A KR 890000140 A KR890000140 A KR 890000140A KR 890012313 A KR890012313 A KR 890012313A
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KR
South Korea
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data
memory cell
memory
parity
coupled
Prior art date
Application number
KR1019890000140A
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English (en)
Inventor
노부오 요시다
데루히사 시미즈
Original Assignee
미다 가쓰시게
가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • G06F12/10Address translation
    • G06F12/1027Address translation using associative or pseudo-associative address translation means, e.g. translation look-aside buffer [TLB]
    • G06F12/1036Address translation using associative or pseudo-associative address translation means, e.g. translation look-aside buffer [TLB] for multiple virtual address spaces, e.g. segmentation

Abstract

내용 없음.

Description

반도체 기억장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명의 적용된 가상기억방식을 채택하는 메모리관리장치가 형성된 반도체기판의 일예를 도시한 평면도.
제 2 도는 본 발명이 적용된 메모리시스템의 구성도.
제 3 도는 본 발명이 적용된 어드레스변환버퍼를 포함하는 메모리장치의 일예를 도시한 블럭도.
제 4 도는 제 3 도에 도시한 어드레스변환버퍼의 패리티전달회로 및 패리티검사회로의 일예를 도시한 회로도.

Claims (10)

  1. 다수의 워드선, 다수의 상보 데이터선과 대응하는 워드선 및 대응하는 상보데이터선에 각각 결합된 다수의 메모리셀(MC)로 구성되며, 상기 각각의 워드선이 다수의 비트 데이타를 유지하는 제 1 의 메모리셀, 상기 데이타가 정상인가 아닌가를 나타내는 데이타를 유지하는 제 2 의 메모리셀, 상기 데이타에 대해서 패리티데이타를 유지하는 제 3 의 메모리셀, 상기 제 2 의 메모리셀 내의 데이타가 변화되었는가의 여부를 판정하기 위한 데이타를 유지하는 제 4 의 메모리셀에 결합된 메모리어레이, 상기 다수의 워드선이 결합되고, 공급된 어드레스신호에 따라서 하나의 워드선을 선택하는 선택수단, 상기 선택수단에 의해 선택된 하나의 워드선에 결합된 상기 메모리셀대에 유지된 데이타가 공급되고, 공급된 상기 제2 및 제 4 의 메모리셀내에 유지된 각각의 데이타의 내용이 서로 일치하는가의 여부를 판단하여 그 판단결과를 출력하는 검사수단, 상기 제 1 의 메모리셀내의 데이타와 상기 제 2 의 메모리 셀내의 데이타가 검사수단을 거쳐서 공급되고, 상기 검사수단에서 일치신호를 받으면 상기 제 1 의 메모리셀내의 데이타와 상기 제 2 의 메모리셀내의 데이타를 출력하는 출력수단을 포함하는 반도체기억장치.
  2. 특허청구의 범위 제 1 항에 있어서, 상기 검사수단(14)은 패리티전달회로(16)과 패리티검사회로(17)을 포함하는 반도체기억장치.
  3. 특허청구의 범위 제 2 항에 있어서, 상기 패리티전달회로(16)은 다수의 배타논리합회로(EO1,EO2)를 포함하는 반도체기억장치.
  4. 특허청구의 범위 제 2 항에 있어서, 상기 패리티검사회로(17)은 다수의 배타적논리합회로(EO3∼EO9)와 적어도 하나의 인버터회로(N1)을 포함하는 반도체기억장치.
  5. 특허청구의 범위 제 1 항에 있어서, 상기 각각의 메모리셀은 스테이틱형 메모리셀인 반도체기억장치.
  6. CUP, 상기 CUP에 결합된 캐시메모리수단(2)와 상기 CPU 및 캐시메모리수단에 결합된 메모리관리장치(1)을 갖는 하나의 반도체기판상에 형성된 마이크로컴퓨터에 있어서, 상기 메모리관리장치(1)은 다수의 워드선, 다수의 상보데이타선과 대응하는 워드선 및 대응하는 상보데이터선에 각각 결합된 다수의 메모리셀(MC)로 구성되며 상기 각각의 워드선이 다수의 비트데이타를 유지하는 제 1 의 메모리셀, 상기 데이타가 정상인가 아닌가를 나타내는 데이타를 유지하는 제 2 의 메모리셀, 상기 데이타에 대해서 패리티데이타를 유지하는 제 3 의 메모리셀, 상기 제 2 의 메모리셀내의 데이타가 변화되었는가의 여부를 판정하기 위한 데이타를 유지하는 제 4 의 메모리셀에 결합되어 있는 메모리어레이, 상기 다수의 워드선에 결합되고, 공급된 어드레스신호에 따라서 하나의 워드선을 선택하는 선택수단, 상기 선택수단에 의해 선택된 하나의 워드선에 결합된 상기 메모리셀내에 유지된 데이타가 공급되고, 공급된 상기 제2 및 제 4 의 메모리셀내에 유지된 각각의 데이타의 내용이 서로 일치하는 가의 여부를 판단하여 그 판단결과를 출력하는 검사수단, 상기 제 1 의 메모리셀내의 데이타와 상기 제 2 의 메모리셀내의 데이타가 검사수단을 거쳐서 공급되고, 상기 검사수단으로부터 일치신호를 받으면 상기 제 1 의 메모리셀내의 데이타와 상기 제 2 의 메모리셀내의 데이타를 출력하는 출력수단을 포함하는 마이크로컴퓨터.
  7. 특허청구의 범위 제 6 항 있어서, 상기 검사수단(14)는 패리티전달회로(16)과 패리티검사회로(17)을 포함하는 마이크로컴퓨터.
  8. 특허청구의 범위 제 7 항에 있어서, 상기 패리티전달회로(160)은 다수의 배타적 논리합회로(EO1,EO2)를 포함하는 마이크로컴퓨터.
  9. 특허청구의 범위 제 7 항에 있어서, 상기 패리티검사회로(17)은 다수의 배타논리합회로(EO3∼EO9)와 적어도 하나의 인버터회로(N1)을 포함하는 마이크로컴퓨터.
  10. 특허청구의 범위 제 6 항에 있어서, 상기 각각의 메모리셀은 스테이틱형 메모리셀인 마이크로컴퓨터.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890000140A 1988-01-12 1989-01-07 반도체 기억장치 KR890012313A (ko)

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JP63004417A JP2595277B2 (ja) 1988-01-12 1988-01-12 メモリ管理装置
JP63-4417 1988-01-12

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KR890012313A true KR890012313A (ko) 1989-08-25

Family

ID=11583713

Family Applications (1)

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KR1019890000140A KR890012313A (ko) 1988-01-12 1989-01-07 반도체 기억장치

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US (1) US4959835A (ko)
EP (1) EP0324535A3 (ko)
JP (1) JP2595277B2 (ko)
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0446534A3 (en) * 1990-03-16 1992-08-05 John Fluke Mfg. Co., Inc. Method of functionally testing cache tag rams in limited-access processor systems
JPH0418648A (ja) * 1990-05-11 1992-01-22 Mitsubishi Electric Corp キャッシュを有するデータ処理装置及びそのデータアクセス方法
US5392302A (en) * 1991-03-13 1995-02-21 Quantum Corp. Address error detection technique for increasing the reliability of a storage subsystem
US5355377A (en) * 1993-11-23 1994-10-11 Tetra Assoc. Inc. Auto-selectable self-parity generator
US5477553A (en) * 1994-07-22 1995-12-19 Professional Computer Systems, Inc. Compressed memory address parity checking apparatus and method
US5867511A (en) * 1997-04-14 1999-02-02 International Business Machines Corporation Method for high-speed recoverable directory access
AU2003231363A1 (en) * 2003-04-17 2004-11-04 Fujitsu Limited Semiconductor device, reset control system, and memory reset method
KR101149816B1 (ko) * 2004-05-28 2012-05-25 삼성전자주식회사 캐쉬 메모리의 캐쉬 히트 로직
CN101361278B (zh) * 2006-01-19 2012-02-01 富士通株式会社 奇偶校验位生成电路、计数电路以及计数方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57205883A (en) * 1981-06-10 1982-12-17 Fujitsu Ltd Address conversion versus buffer controlling system
US4602368A (en) * 1983-04-15 1986-07-22 Honeywell Information Systems Inc. Dual validity bit arrays
DE3572233D1 (en) * 1984-09-28 1989-09-14 Siemens Ag Circuit arrangement for clearing storage entries in an address translation memory
JPS61264599A (ja) * 1985-05-16 1986-11-22 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
NL8600217A (nl) * 1986-01-30 1987-08-17 Philips Nv Dataverwerkende inrichting bevattende een geheugeninrichting voorzien van een coincidentieschakeling die in een foutherkennings- en een coincidentiemode schakelbaar is.
US4809278A (en) * 1986-04-21 1989-02-28 Unisys Corporation Specialized parity detection system for wide memory structure
US4785452A (en) * 1986-04-25 1988-11-15 International Business Machines Corporation Error detection using variable field parity checking

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Publication number Publication date
EP0324535A2 (en) 1989-07-19
JPH01180654A (ja) 1989-07-18
EP0324535A3 (en) 1991-04-10
US4959835A (en) 1990-09-25
JP2595277B2 (ja) 1997-04-02

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