KR860000408B1 - 집적회로 설치장치 - Google Patents

집적회로 설치장치 Download PDF

Info

Publication number
KR860000408B1
KR860000408B1 KR1019830005615A KR830005615A KR860000408B1 KR 860000408 B1 KR860000408 B1 KR 860000408B1 KR 1019830005615 A KR1019830005615 A KR 1019830005615A KR 830005615 A KR830005615 A KR 830005615A KR 860000408 B1 KR860000408 B1 KR 860000408B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
support end
integrated circuit
cam
socket
support
Prior art date
Application number
KR1019830005615A
Other languages
English (en)
Other versions
KR840006701A (ko
Inventor
엘. 헥사머 도날드
디. 스펜스 랜디
헤셀베르그 조니
Original Assignee
커스텀 오토메이션 디자인 인코포레이티드
엘. 헥사머 도날드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 커스텀 오토메이션 디자인 인코포레이티드, 엘. 헥사머 도날드 filed Critical 커스텀 오토메이션 디자인 인코포레이티드
Publication of KR840006701A publication Critical patent/KR840006701A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR860000408B1 publication Critical patent/KR860000408B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Communication Control (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

집적회로 설치장치
제1도는 본 발명에 따른 집적회로 설치장치의 첫번째 바람직한 예를 도시한 측단면도.
제2도는 제1도의 장치에 집적회로가 삽입된 것을 도시한 측단면도.
제3도는 본 발명에 따른 집적회로 설치장치의 두번째 바람직한 예를 도시한 분해도.
제4도는 제3도의 장치에서 캠슬릇의 작용을 도시한 확대 정면도.
제5도는 본 발명에 따른 집적회로 설치 장치의 세번째 바람직한 예를 도시한 투시도의 일부.
제6도는 제5도의 장치에서 캠표면의 작동을 도시한 전개도.
제7도는 제5도의 장치에 따른 형태의 설치받침대가 사용된 것을 도시한 투시도의 일부.
제8도는 제7도의 장치에서 캠표면에 작동을 도시한 전개도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 지지단 12 : 집적회로
14 : 스프링 16, 18 : 벽
20, 22 : 스프링 24 : 기저부
26 : 도체칼날 접촉부 28 : 유연성목
30 : 소켓 32 : 구멍
34 : 구형부재 36 : 스프링
38 : 슬릇 40 : 피벗지지핀
42 : 캠슬릇 44 : 벽
48 : 제1걸쇠 50 : 제2차 걸쇠
52 : 제2차 걸쇠 54 : 제2차 걸쇠
56 : 설치받침대 60 : 캠슬릇
62 : 회전캠 64, 66 : 캠동작부
본 발명은 집적회로 설치장치에 관한 것으로서 특히 신속하고 용이하게 집적회로를 삽입 및 방출시키기 위한 장치를 포함하고 있는 집적회로 설치장치에 관한 것이다.
집적회로는 보통 금속 납 프레임에 설치되어 세라믹 또는 플래스틱 상자에 보관된다. 이러한 포장은 듀얼 인라인 포장(dual in-line puckage DIP)으로 알려진 것으로서 포장의 두 측면에 금속납이 뻗어있는 구조로 되어 있다. 그러나 최근에는 집적 회로가 종래의 리드 대신에 모서리 접속기름 갖춘 구조를 하고 있다. 모서리 접속기는 포장의 각 모서리 또는 중의 몇개를 따라 설치할 수 있다.
작동성태에서 금속 리드를 갖춘 집적 회로는 인쇄된 회로판에 납땜 고정시키거나 인쇄된 회로판에 설치된 소켓이 삽입시킨다. 일반적으로 소켓은 각 리드와 마찰 접속기를 수용하는 구멍을 포함하고 있어 각각의 리드를 소켓내의 접속기와 도체 접촉된 상태를 유지시켜 준다. 집적회로는 이러한 소켓에 삽입시킨 후 다른 장소에서 제거 및 다시 삽입시켜야 하는 경우에 집적 회로의 리드가 소켓의 구멍에 정확하게 일치되도록하여 금속리드가 휘거나 부러지는 결과를 방지하는 것이 중요하다.
집적회로의 모서리 접속기는 집적회로를 소켓에 설치하는데 따른 문제점을 없애주기 위한 것이었다. 그러나 각각의 모서리 접속기가 소켓과 도체 접속하여 적절하게 작동되는 것을 확실할 필요가 있다. 따라서 이 분야의 기술자들은 집적회로의 설치 및 제거가 간편한 집적회로 설치장치를 필요로 하게 되었다.
본 발명의 목적은 첫째 보다 개선된 집적회로 설치장치를 제적하기 위한 것이고, 둘째, 집적회로를 신속하에 삽입 및 제거시킬 수 있는 설치장치를 제적하기 위한 것이고, 세째, 집적회로와 회로의 리드를 손상시키지 않고 신속하게 집적회로를 삽입 및 제거 할 수 있는 집적회로 설치장치를 제적하기 위한 것이며 네째, 구조가 간단하고 제적비용이 절감되는 집적회로 설치장치를 제적하기 위한 것이다.
상기한 목적의 설치장치는 집적회로를 지지하는데 사용되며 기계적으로 상승위치에 편향되어 있는 지지단을 포함하고 있다. 지지단은 하강위치로 밀쳐져서 그 위치에 일시 유지될 수도 있다. 설치 장치는 지지단체에 인접설치된 다수의 도전부재를 갖추고 있어 지지단이 하강위치에 있는 동안 집적회로의 리드와 도체 접속된다. 시험 및 사용시에 지지단을 상승위치로 회복시켜 자동적으로 집적회로를 방출시킬 수 있다.
첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.
제1도는 본 발명에 따른 집적회로 설치 장치에 대한 첫번째 바람직한 예를 도시한 측단면도이다. 제1도의 집적회로 설치장치는 집적회로(12)를 지지하는데 사용되는 지지단(10)을 포함하고 있다. 지지단(10)은 스프링(14)에 의해 제1도에 도시된 위치로 기계적 편향된다. 이 분야의 전문기술자이면 다른 여러가지 편향장치를 사용할 수도 있다는 것을 쉽게 할 수 있다.
지지단(10)은 벽(16, 18)으로 구성된 소켓(30) 내부에 설치되는 것이 바람직하며, 제1도와 제2도에서와 같이 본 예에서는 장방형 소켓(30)이며 벽(16, 18)과 연결되는 두 개의 벽을 더 갖추고 있다. 벽(16, 18)은 스프링(20, 22)에 의해 기저부(24)에 탄성설치된다.
여러개의 도체칼날접촉부(26)가 벽(16, 18) 내부에 설치되어 있으며, 각각은 유연성 목(28)을 포함하고 있어 제1도와 같이 칼날접촉부(26)가 피벗팅되도록 해준다. 본 예에서는 칼날접촉부(26)가 벽(16, 18)으로 선회하여 집적회로(12)가 소켓(30) 내부에 들어갈 수 있도록 하며 집적회로(12)의 리드와 도체 접속하게 된다. 또한 벽부재(16, 18) 각각에는 제2도에서와 같은 구멍(32)이 형성되어 있어 구형부재(34)를 받아들이도록 되어 있다. 스프링(36)에 의해 구형부재(34)는 편향되어 벽(16, 18)에 접촉하게 된다.
제2도는 제1도의 집적회로 설치 장치가 하강된 위치를 도시한 것이다. 도면에서 알 수 있는 바와 같이 집적회로(12)와 지지단(10)이 아랫쪽으로 내려감에 따라 스표링(36)의 편향력에 의해 구형부재(34)는 구멍(32)에 접촉하게 된다. 구형부재(34)가 구멍(32)에 접촉함에 따라 지지단(10)은 도시된 위치에서 구속되고 칼날접촉부(26)은 집적회로(12)의 리드에 도체접속되게 된다. 다수의 전기도체(도시 않했음)를 칼날접촉부(26)에 연결시켜 집적회로(12)를 시험 또는 사용할 수 있다.
본 예의 집적회로 설치장치로 부터 집적회로(12)를 신속하고 용이하게 제거시키기 위해서는 스프링(20, 22)의 편향력에 대해 벽(16, 18)을 아래로 밀어줌으로서 구멍(32)이 구형부재(34) 아랫쪽으로 움직이도록 한다. 그러면 스프링(36)에 의해 구형부재(34)는 구멍(32)을 탈출하여 지지단(10)으로 후진함으로서 스프링(14)에 의해 지지단(10)이 위쪽으로 움직여 집적회로(12)가 장치로 부터 빠져 나온다.
제3도는 본 발명의 집적회로 설치장치에 대한 두번째 바람직한 예를 도시한 내부 구조도이다.
상기 에와 같은 부품에 대해서는 제1도와 제2도의 부호를 그대로 사용하였다. 제3도에 도시되어 있는 바와 같이 소켓(30)은 일반적으로 장방형이며 벽(16, 18)을 포함한 4개의 벽으로 구형되어 있다. 칼날 접촉부(26)는 제1도에서와 같이 피벗 설치되어 있으며 집적회로(12)의 리드에 접촉하게 된다.
첫번째 예에서와 마찬가지로 소켓(30) 내부에 설치된 지지단(10)은 스프링(14)에 의해 위쪽으로 편향된다.
본 발명의 두면째 예에서는 지지단(10)의 적어도 한쪽 측면에 캠슬릇(42)이 설치되어 벽(44)의 슬릇(38)에 미끄럼 설치된 지지핀(40)에 피벗지지되는데 이용된다. 캠슬릇(42)과 피벗지지핀(40)이 상호 협조하여 제4도에 상세히 도시된 바와 같이 지지단(10)이 상승된 위치 및 하강된 위치에 구속되도록 한다.
전술한 첫번재 예에서와 같이 집적회로(12)가 설치된 지지단(10)이 하강된 위치에 있을 때 칼날 접촉부(26)가 집적회로(12)의 리드와 도체접속될 수 있다.
제4도는 제3도의 장치에서 캠슬릇(42)의 적동을 확대 도시한 평면도이다. 주입주형과 같은 종래의 방법으로 지지단(10)을 제적할 때에 지지단(10)의 한쪽 측면에 형성된 홈부가 캠슬릇(42)을 구성하고 있다.
캠슬롯(42)은 피벗 지지핀(40)과 접촉하며, 지지단(10)의 하강된 위치와 상승된 위치에 각각 대응되는 제1걸쇠(48)와 제2걸쇠(50)를 포함하고 있다. 캠슬릇(42)의 형상을 참조하면 잘 알 수 있는 바와 같이 지지단(10)이 아랫쪽으로 움직일 때 피벗지지핀(40)이 캠슬릇(42)의 위쪽으로 밀쳐져 캠슬릇(42)의 가상자리를 따라 2차 걸쇠(52)로 움직인다. 마찬가지 방법으로 지지단(10)이 제거될 때 스프링(14)에 의해 지지단(10) 및 캠슬릇(42)이 위쪽으로 밀쳐짐으로서 피벗지지핀(40)이 제4도의 경로를 따라 제2걸쇠(50)를 향하여 움직인다. 피벗 지지핀(40)이 제2걸쇠(50)에 걸려있는 동안은 지지단(10)이 상승된 위치에 있게되고 스프링(14)에 의해 상승된 위치에 계속 유지된다.
피벗 지지핀(40)과 캠슬릇(42)의 다음 순환과정은 지지단(10)이 아랫쪽으로 밀쳐질 때 일어난다. 즉 캠슬릇(42) 내에서 피벗 지지핀(20)이 상승하여 캠슬릇(42)의 가장자리를 따라 제2차 걸쇠(54)로 간다. 이 분야의 기술자이면 쉽게 알 수 있는 바와 같이 지지단(10)에 가한 힘을 풀어주면 피벗 지지판(40)이 제1걸쇠(48)에 걸리게 되어 지지단(10)은 소켓(30) 내부의 하강된 위치에 머물게 된다.
이와 같이 지지단(10)을 아랫쪽으로 힘을 가하면 그 상승 위치와 하강 위치가 번갈아 반복된다. 이러한 단순동작으로서 조작자는 쉽고 정확하게 집적회로를 삽입 및 제거시킬 수 있다.
제5도에서 제8도는 본 발명의 세번째 바람직한 예를 도시한 투시도와 캠표면에 대한 전개도이다.
제5도의 예에서는 소켓(30)(도시 않했음)내부에 지지단(10)을 설치하기 위한 설치받침대(56)가 도시되어 있다. 설치받침대(56)는 내표면의 원주를 따라 설치된 여러개의 캠슬릇(58, 60)을 포함하고 있다. 캠슬롯(58)과 캠슬롯(60)은 설치받침대(56)의 원주상에 번갈아가며 형성되어 있고 캠슬롯(58)이 캠슬롯(60)보다 더 길다. 설치받침대(56) 내부에 설치된 회전캠(62)은 스프링(14)에 의해 위쪽으로 힘을 받게 되어 있으며 두개의 캠슬롯에 번갈아 가며 접촉하도록 설계되어 있다. 이와 같이 캠(62)은 캠슬롯(58) 또는 캠슬롯(60)에 맞물리게 된다. 이 분야 기술자이면 쉽게 알수 있는 바와 같이 회전캠(62)이 캠슬롯(58)에 접촉하게 되면 스프링(14)에 의해 캠(62)은 상승된 위치로 밀쳐진다. 반면에 캠(62)이 캠슬롯(60)에 접촉하게 될 때에는 캠슬롯(60)의 크기에 의해 스프링(14)의 힘을 지탱하여 캠(62)은 하강된 위치에 구속된다.
지지단(도시 않했음)은 설치받침대(56)에 끼워져 캠(62)의 돌출부에 접촉하도록 설계된 캠동작부(64)에 연결되어 있다.
제5도의 치장의 동작은 제6도에 도시된 전개도를 참조하면 잘 알수 있다. 제6도에 도시된 바와 같이 캠동작부(64)는 캠(62)의 상단부에 접촉하고 캠(62)는 캠슬롯(60)에 접촉되어 있다. 캠 동작부(61)에 연결된 지지단(10)을 아랫쪽으로 밀어주면 캠(62)은 아랫쪽으로 일켜진다. 캠 동작부(64)가 캠슬롯(58, 60)의 하단부(68)에 인접한 곳에 달하게 되면 스프링(14)의 탄성에 의해 제6도에 도시된 바와 같이 캠(62)이 오른쪽으로 회전하면서 위쪽으로 밀쳐진다. 캠 동작부(64)에 가해진 힘이 제거되면 캠(62)은 캠슬롯(58)에 접촉하게 된다.
이와는 반대로 캠(62)에 캠슬롯(58)에 접촉되어 있는 상태에서 스프링(14)의 탄성력에 대해 캠동작부(64)를 아랫쪽으로 밀어주면 캠(62)이 오른쪽으로 치우치게 되어 캠 동작부(64)에 가한 힘을 제거시켰을 때 캠(62)은 캠슬롯(60)에 접촉하게 된다. 두번째 경우와 같이 지지단(10)과 집적회로(12)를 아랫쪽으로 밀어줄 때마다 본 발명의 집적회로 설치치장는 상승 위치와 하강위치를 반복하게 됨으로서 집적회로의 설치 및 제거가 간편해진다.
제7도와 제8도는 본 발명의 세번째 예에서 다른 형태의 설치 받침대를 도시한 것이다. 제5도에서와 같이 설치받침대(56)는 내표면 원주상에 설치된 다수의 캠슬롯(58, 60)을 포함하고 있다. 캠슬롯(58)과 캠슬롯(60)은 설치받침대(56)의 원주를 따라 번갈아가며 설치되어 있으며, 캠슬롯(58)이 캠 슬롯(60) 보다 더길다. 설치 받침대(56) 내부에 설치된 회전캠(62)은 지지단(10)(도시 않했음)에 연결되어 있거나 지지단(10)에 형성되어 있다. 제5도에서와 같이 캠(62)은 캠 슬롯에 번갈아 접촉하게 설계되어 있으며, 스프링(14)의 작용에 의해 위쪽으로 편향된다.
제8도는 제7도의 치장에서 캠과 캠슬롯의 작용을 도시한 전개도이다. 제8도에 도시된 바와 같이 캠(62)에 연결된 지지단(도시 않했음)을 아랫쪽으로 눌러주면 캠(62)이 아랫쪽으로 움직여 캠동작부(66)에 접촉하게 된다. 캠(62)을 계속 아랫쪽으로 밀어주면 제8도에 도시된 바와 같이 아랫 방향 힘과 고정된 캠동작부(66) 및 캠(62)의 접촉면에 의해 캠(62)은 왼쪽으로 회전하게 된다. 지지단(도시 안했음)에 힘을 제거시키면 캠(62)은 스프링(14)의 탄성력에 의해 윗쪽으로 밀쳐져 캠슬롯(58, 60)의 밑면에 접촉하게 된다.
캠슬롯(58, 60)의 밑표면에서 캠(62)은 좌측으로 회전하게 됨으로서 캠(62)은 캠슬롯(58)에 접촉하게 된다. 마찬가지로 캠(62)이 캠슬롯(58)에 접촉하고 있는 상태에서 지지단(10)을 아랫쪽으로 눌러주면 캠(62)은 고정된 캠동작부(66)에 접촉하여 왼쪽으로 움직임으로서 지지단(10)힘 의를 제거시켰을 때 스프링(14)에 의해 캠(62)은 캠슬롯(60)으로 움직인다. 이 분야의 기술자이면 쉽게 알수 있는 바와 같이 지지단(10)을 아랫쪽으로 연속 동작시킴으로서 지지단은 상승위치와 하강위치를 번갈아 이동하게되어 집적회로의 설치 및 제거를 용이하고 확실하게 할 수 있다.
지금까지 기술한 내용은 본 발명의 이해를 돕기위한 몇가지 예를 설명한 것이지 본 발명에 어떠한 한계를 규정짓는 것은 아니다. 따라서 본 발명의 요지와 그 범위를 벗어나지 않고서도 상기한 예에 대한 여러가지 다른 변형 및 개조가 가능하다.

Claims (15)

  1. 지지단과 바이어스장치와 구속장치와 다수의 도전부채 및 방출장치로 구성된 집적회로 설치 장치로서, 제1위치와 제2위치 사이를 운동하는 지지단은 다수의 리드를 갖춘 집적회로를 지지하게 되어 있으며, 바이어스 장치가 지지단을 제1위치로 밀어주고, 구속장치에 의해 지지단이 제2위치에 일시 유지되게 되며 지지단에 인접 설치된 다수의도전부재는 지지단이 제2위치에 구속되어 있는 동안 지지단에 지지된 집적회로의 리드와 도체 접속되고, 방출장치에 의해 지지단이 제2위치로 부터 선택적으로 방출되는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  2. 제1항에 있어서, 제1위치는 상승 위치이며, 제2위치는 하강된 위치이고, 지지단이 아랫쪽으로 밀쳐짐에 따라 구속 장치가 작용하여 지지단을 하강된 위치에 유지시켜 주는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  3. 제2항에 있어서, 지지단이 아랫쪽으로 밀쳐짐에 따라 방출장치가 작동하여 하강위치로 부터 지지단을 방출시켜 주는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  4. 제2항에 있어서, 지지단은 회전캠에 연결되어 있으며, 캠은 원주상에 일정 간격으로 설치된 다수의 경사진 캠 슬롯 중의 어느 하나에 선택적으로 접촉하게 되어 있어 지지단을 아랫쪽으로 밀어줄 때마다 캠이 회전하게 되는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  5. 제1항에 있어서, 지지단은 지지단을 받아들이게 되어 있는 소켓 내부에 설치되어 있으며, 구속 장치는 지지단과 소켓 사이의 움직임을 일시제어하는 장치를 구성하는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  6. 제5항에 있어서, 구속 장치는 소켓 내부에 설치된 적어도 하나의 구멍과 지지단의 한쪽 측면에 설치되어 적어도 하나인 구멍에 일시적으로 삽입되는 적어도 하나의 돌기를 구성하는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  7. 제5항에 있어서, 구속 장치는 소켓 내부에 설치되어 수평운동하는 최소한 하나의 피벗장치와 지지단의 한쪽 측면에 설치되어 피벗장치에 접촉하게 되는 적어도 하나의 캠 슬롯을 구성하는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  8. 지지단과 소켓과다수의 전기전도 부재와 바이어스 장치와 제2구멍과 돌기 및 돌기 탈출 장치로 구성된 집적회로 설치장치로서, 상승위치와 하강위치 사이를 움직이는 지지단이 다수의 리드를 갖춘 집적회로를 지지하며, 제1구멍을 갖춘 소켓은 지지단 둘레에 접촉하게 되어 있고, 소켓 내부의 지지단에 진접 설치된 다수의 전기전도 부재는 지지단이 하강위치에 있을 때, 지지단에 지지된 집적회로의 리드와 도체 접촉하게 되며, 바이어스 장치가 지지단을 상승위치로 밀쳐주고, 제2구멍은 지지단의 한쪽 측면에 인접하여 소켓 내부에 설치되어 있으며, 지지단의 한쪽 측면의 돌기는 지지단이 아랫쪽으로 밀쳐짐에 따라 제2구멍에 접촉하여 접촉되어 있는 동안 지지단과 소켓사이이의 운동을 억제함으로서 지지단이 하강 위치에 구속되어 있고, 탈출 장치가 제2구멍으로 부터 돌기를 선택적으로 탈출시키는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  9. 제8항에 있어서, 바이어스 장치는 금속스프링으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  10. 제8항에 있어서, 돌기는 지지단의 한쪽 측면의 실린더형 구멍에 설치된 구형부재와 구형부재를 실린더형 구멍 바깥쪽으로 밀어주는 제2바이어스 장치를 구성하고 있는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  11. 제8항에 있어서, 제2바이어스 장치는 금속 스프링을 구성하고 있는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
  12. 지지단과 소켓과 다수의 도전부재와 바이어스 장치와 피벗 지지핀 및 캠슬롯으로 구성된 집적회로 설치 장치로서 상승 위치와 하강 위치 사이를 움직이는 지지단은 다수의 리드를 갖추고 잇는 집적회로를 지지하고 있으며, 제1구멍을 포함한 소켓은 지지단 주위를 접촉하게 되고, 지지단에 인접하여 소켓 내부에 설치된 다수의 도전부재는 지지단이 하강 위치에 있는 동안 지지단에 지지된 집적회로의 리드와 도체접속되게 되며, 바이어스 장치에 의해 지지단이 상승위치로 밀쳐지고, 피벗 지지핀은 소켓의 적어도 한쪽측면의 슬롯 구멍에 미끄럼 설치되어 있으며, 지지단의 적어도 한쪽 측면에 설치되어 피벗 지지핀을 수용하는 캠슬롯은 지지단이 아랫쪽으로 밀쳐질 때 피벗 지지핀이 제1걸쇠와 제2걸쇠 사이를 움직이게 하는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치 장치.
  13. 제12항에 있어서, 슬롯구멍은 지지단이 움직이는 경로에 수직한 것을 특징으로 하는 집적회로 설치 장치.
  14. 지지단과 소켓과 다수의 도전부재와 받침대와 회전캠 및 캠회전 장치로 구성되어 있는 집적회로 설치장치로서, 상승 위치와 하강 위치 사이를 움직이는 지지단은 다수의 리드를 갖추고 있는 집적회로를 지지하고 있으며, 제1구멍을 포함한 소켓은 지지단 둘레에 접촉하게 되고, 지지단에 인접하여 소켓 내부에 설치된 다수의 도전부재는 지지단이 하강위치에 있을 때 지지단에 지지된 집적회로의 리드와 도체 접촉되며, 받침대는 원주상에 일정 간격으로 번갈아 설치된 길로 짧은 캠 슬롯을 포함하고 있고, 캠 회전장치는 지지단이 아랫쪽으로 밀질쳐 때 캠을 회전시켜 주는 것을 특징으로 하는 집적회로설치 장치.
  15. 제14항에 있어서, 캠회전 장치는 제1캠에 선택적으로 접촉되는 제2캠을 구성하고 있는 것을 특징으로 하는 집적회로 설치장치.
KR1019830005615A 1982-11-29 1983-11-28 집적회로 설치장치 KR860000408B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US444971 1982-11-29
US06/444,971 1982-11-29
US06/444,971 US4498047A (en) 1982-11-29 1982-11-29 Integrated circuit mounting apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR840006701A KR840006701A (ko) 1984-12-01
KR860000408B1 true KR860000408B1 (ko) 1986-04-17

Family

ID=23767127

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019830005615A KR860000408B1 (ko) 1982-11-29 1983-11-28 집적회로 설치장치

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4498047A (ko)
EP (1) EP0127655A4 (ko)
JP (1) JPS60500153A (ko)
KR (1) KR860000408B1 (ko)
CA (1) CA1209725A (ko)
FI (1) FI843016A (ko)
NO (1) NO843040L (ko)
PH (1) PH21149A (ko)
WO (1) WO1984002195A1 (ko)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4686468A (en) * 1984-12-10 1987-08-11 Aseco Corporation Contact set for test apparatus for testing integrated circuit package
US4739257A (en) * 1985-06-06 1988-04-19 Automated Electronic Technology, Inc. Testsite system
US4683423A (en) * 1985-10-30 1987-07-28 Precision Monolithics, Inc. Leadless chip test socket
US4799897A (en) * 1985-12-30 1989-01-24 Dai-Ichi Seiko Kabushiki Kaisha IC tester socket
JPS62160676A (ja) * 1985-12-31 1987-07-16 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 ソケツト
DE3645268C2 (de) * 1986-01-29 1996-08-14 Amphenol Corp Kartenaufnehmner für ein Lesegerät für eine Chip-Karte
US4678255A (en) * 1986-04-03 1987-07-07 Wells Electronics, Inc. Chip connector
JPS632275A (ja) * 1986-06-23 1988-01-07 山一電機工業株式会社 Icソケツトにおけるic取出し機構
JPH0326628Y2 (ko) * 1986-06-24 1991-06-10
JPS6369375U (ko) * 1986-10-27 1988-05-10
FR2610455B1 (fr) * 1987-01-30 1989-06-09 Souriau & Cie Dispositif de connexion a autoverrouillage pour carte presentant des plages de contact en bout
JPH0541511Y2 (ko) * 1987-05-18 1993-10-20
JP2784570B2 (ja) * 1987-06-09 1998-08-06 日本テキサス・インスツルメンツ 株式会社 ソケツト
US4750890A (en) * 1987-06-18 1988-06-14 The J. M. Ney Company Test socket for an integrated circuit package
US4970460A (en) * 1987-10-05 1990-11-13 Aetrium, Inc. Controlled impedance testsite
JPH01119043A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
US4822295A (en) * 1987-12-17 1989-04-18 Ncr Corporation Small outline SMT test connector
US4886470A (en) * 1988-05-24 1989-12-12 Amp Incorporated Burn-in socket for gull wing integrated circuit package
JPH0636390B2 (ja) * 1989-03-22 1994-05-11 山一電機工業株式会社 Icソケット
US5030906A (en) * 1990-01-18 1991-07-09 Seagate Technology, Inc. Electrical connecting apparatus
US5081415A (en) * 1990-08-07 1992-01-14 United Microelectronics Corporation Load board insertion system
US5177436A (en) * 1991-05-21 1993-01-05 Aseco Corporation Contactor for testing integrated circuit chips mounted in molded carrier rings
JPH0734379B2 (ja) * 1991-10-15 1995-04-12 山一電機株式会社 電気部品用ソケット
JPH0752662B2 (ja) * 1992-12-26 1995-06-05 山一電機株式会社 Icソケット
JPH06105630B2 (ja) * 1992-12-26 1994-12-21 山一電機株式会社 Icソケット
JPH0831348B2 (ja) * 1993-04-30 1996-03-27 株式会社秩父富士 Icパッケージ用ソケット
KR950001317A (ko) * 1993-06-23 1995-01-03 프랭크 에이. 오울플링 번인(burn-in) 소켙 검사장치
JPH0831349B2 (ja) * 1993-07-13 1996-03-27 株式会社秩父富士 Icパッケージ用ソケット
JP2667638B2 (ja) * 1994-05-18 1997-10-27 山一電機株式会社 Icソケット
DE10136578B4 (de) * 2001-07-27 2005-05-04 Micronas Gmbh Verfahren zum Prüfen eines Chips mit einem Gehäuse und zum Bestücken einer Platine mit dem Gehäuse sowie Chip mit einem Gehäuse
TWI228961B (en) * 2002-10-21 2005-03-01 Benq Corp Portable apparatus with inward-pushing triggered mechanism for ejecting add-on device
US10663486B2 (en) * 2017-02-06 2020-05-26 International Business Machines Corporation Portable electrical noise probe structure

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3137276A (en) * 1955-08-30 1964-06-16 Kahn David Inc Protract-retract mechanism and writing instrument including same
US3188598A (en) * 1962-06-20 1965-06-08 Bell Telephone Labor Inc Printed circuit board connector
US3191329A (en) * 1963-06-21 1965-06-29 Radiant Pen Corp Display cap ball-point pen
DE1461643A1 (de) * 1964-06-27 1969-03-27 Ritter Kg J Kugeldruckmechanik fuer Schreibstifte
US3402379A (en) * 1966-03-14 1968-09-17 Korry Mfg Co Alternate latch and unlatch and eject mechanism operated by unidirectional forces
US3441853A (en) * 1966-06-21 1969-04-29 Signetics Corp Plug-in integrated circuit package and carrier assembly and including a test fixture therefor
US3442430A (en) * 1966-08-23 1969-05-06 Universal Instruments Corp Module insertion machine
US3414869A (en) * 1966-10-03 1968-12-03 Don F. Pascua Socket and carrier for multilead components
US3573617A (en) * 1967-10-27 1971-04-06 Aai Corp Method and apparatus for testing packaged integrated circuits
FR1603517A (ko) * 1967-12-14 1971-05-03
US3611250A (en) * 1969-09-10 1971-10-05 Amp Inc Integrated circuit module and assembly
US3805159A (en) * 1969-09-15 1974-04-16 Delta Design Inc Contactor unit for integrated circuit testing
US3701077A (en) * 1969-12-29 1972-10-24 Tech Inc K Electronic components
US4012097A (en) * 1975-10-17 1977-03-15 Everett/Charles, Inc. Combined test clip and component extraction tool
US4112363A (en) * 1976-12-27 1978-09-05 Lockheed Aircraft Corporation Multicontact test probe apparatus
US4190311A (en) * 1978-03-06 1980-02-26 Tektronix, Inc. Low-profile test clip adapter
US4329642A (en) * 1979-03-09 1982-05-11 Siliconix, Incorporated Carrier and test socket for leadless integrated circuit

Also Published As

Publication number Publication date
FI843016A0 (fi) 1984-07-30
JPS60500153A (ja) 1985-01-31
WO1984002195A1 (en) 1984-06-07
NO843040L (no) 1984-07-27
PH21149A (en) 1987-07-30
KR840006701A (ko) 1984-12-01
EP0127655A4 (en) 1985-04-25
US4498047A (en) 1985-02-05
CA1209725A (en) 1986-08-12
EP0127655A1 (en) 1984-12-12
FI843016A (fi) 1984-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR860000408B1 (ko) 집적회로 설치장치
EP0163414B1 (en) Integrated circuit test socket
US4268100A (en) Pivotally mounted printed circuit board holder
KR20030044827A (ko) 소켓
JPS6356678B2 (ko)
US6213804B1 (en) Socket and connector
JPS5873976A (ja) 電気コネクタ
JPH07240263A (ja) バーンインソケット
US5174784A (en) Electrical connection member for connecting a wire-shaped electrical conductor
US4354718A (en) Dual-in-line package carrier and socket assembly
KR100581237B1 (ko) 테스트용 소켓의 격자 배열
US5788526A (en) Integrated circuit test socket having compliant lid and mechanical advantage latch
US5597318A (en) ZIF for plastic chip carrier
US6045370A (en) Test socket for electronic module
US6075255A (en) Contactor system for a ball grid array device
US11237207B2 (en) Semiconductor test socket with a floating plate and latch for holding the semiconductor device
US6508659B1 (en) Electrical socket having a backup means
US6533595B2 (en) Socket for electrical parts
US6296504B1 (en) Socket for electrical parts
US20020022386A1 (en) Socket for BGA package
US6065986A (en) Socket for semiconductor device
KR100466483B1 (ko) 집적회로패키지용소켓장치
EP0004708A1 (en) Electrical connector with ejector mechanism
KR100267213B1 (ko) 캐리어모듈에 마이크로 비지에이(μBGA)타입의 소자를 로딩하여 소켓에 콘택하는 장치
US6077099A (en) Zero insertion force connector