KR20210135537A - 검사 장치 및 포장체 제조 장치 - Google Patents

Abstract

보다 적정한 양부 판정을 행할 수 있는 검사 장치 등을 제공한다. PTP 필름에 대하여 X선을 조사하는 동시에, PTP 필름을 투과한 X선에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 X선 투과 화상이 취득된다. X선 투과 화상을 기초로, PTP 필름에 관련된 검사가 실행된다. 검사에서는, 정제의 수용 공간에 대응하는 수용 영역(2b) 및 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역(3b)이 특정되고, 각 영역에서 이물질의 유무가 검사된다. 정제의 파편 또는 가루가 수용 영역(2b)에 있는 경우, 그 정제의 파편 또는 가루가 이물질로서 검출되지 않고, 정제의 파편 또는 가루가 플랜지부 영역(3b)에 있는 경우, 그 정제의 파편 또는 가루가 이물질로서 검출되도록 구성된다. 검사 대상이 수용 영역(2b)인지 플랜지부 영역(3b)인지의 차이에 따라, 정제의 파편이나 가루가 이물질로서 검출되는지의 여부를 적절하게 바꿀 수 있어, 보다 적정한 양부 판정을 행할 수 있다.

Description

검사 장치, 포장체 제조 장치 및 포장체 제조 방법

본 발명은, 정제를 수용한 포장체를 검사할 때에 사용되는 장치 및 방법에 관한 것이다.

종래, 의약품이나 식료품 등의 각종 분야에 있어서, 정제를 포장하는 포장 시트로서, PTP(Press Through Package) 시트가 널리 이용되고 있다.

PTP 시트는, 정제를 수용하기 위한 포켓부가 형성된 용기 필름과, 그 용기 필름에 대하여 포켓부의 개구측을 밀봉하도록 취착된 커버 필름을 구비하고 있고, 포켓부를 외측으로부터 가압하여, 거기에 수용된 정제에 의해 덮개가 되는 커버 필름을 뚫음으로써, 그 정제를 꺼내는 것이 가능하게 구성되어 있다.

이러한 PTP 시트는, 띠상의 용기 필름에 대하여 포켓부를 형성해 가는 포켓부 형성 공정, 그 포켓부 내에 정제를 충전해 가는 충전 공정, 그 포켓부의 개구측을 밀봉하도록 용기 필름의 포켓부 둘레에 형성되는 플랜지부에 대하여 띠상의 커버 필름을 취착하여, PTP 필름을 제조하는 취착 공정, 그 PTP 필름으로부터 최종 제품이 되는 PTP 시트를 분리하는 분리 공정 등을 거쳐 제조된다.

일반적으로, PTP 시트의 제조시에는, PTP 필름이나 PTP 시트(이하, 이들을 포장체라고 총칭한다)를 대상으로 한 검사가 행하여진다. 검사에는, 포켓부 내의 수용 공간이나 포켓부 둘레의 플랜지부에 있어서의, 금속편이나 정제의 파편, 가루 등의 이물질의 유무에 관한 검사가 포함된다.

근년에는, 차광성이나 방습성의 향상 등을 도모한다는 관점에서, 용기 필름 및 커버 필름의 양 필름이 알루미늄 등을 기재로 한 불투명 재료에 의해 형성되는 경우도 많아지고 있다.

이러한 경우, 상기 각종 검사는 X선 검사 장치 등을 사용하여 행하여지게 된다(예를 들어, 특허문헌 1 등 참조). 일반적으로 X선 검사 장치는, 포장체에 대하여 X선을 조사하는 X선 발생기(X선원)와, 그 포장체를 투과한 X선을 검출하는 X선 검출기를 구비하고, 그 X선의 투과량에 기초하여 각종 검사를 행한다. 또한, 검사 방법으로는, X선 검출기에 의해 얻어진 X선 화상을 농담별로 세그먼트화(분할)하고, 세그먼트화된 각 화상에 대하여 최적의 이물질 검출 알고리즘을 적용함으로써, 이물질의 검출을 행하는 방법이 알려져 있다(예를 들어, 특허문헌 2 등 참조).

일본 공개특허공보 2013-253832호 일본 공개특허공보 2004-301748호

그런데, 포장체에 이물질로서 검출될 수 있는 것(정제의 파편이나 가루, 금속편 등)이 존재하는 경우라도, 그것의 존재 위치나 종류에 따라서는, 포장체를 양품이라고 판정해도 그다지 문제 없는 경우가 있다. 예를 들어, 정제의 파편이나 가루가 수용 공간(포켓부 내)에 위치하는 경우, 이 수용 공간에 존재하는 파편이나 가루를 포함한 정제 성분을 복용함으로써 하나의 정제를 복용하였을 때와 변함이 없는 효능을 얻을 수 있는 것이라면, 이 정제의 파편 등을 이유로 하여 포장체를 불량이라고 판정하지 않아도 되는 경우가 있다. 한편, 정제의 파편이나 가루가 플랜지부에 위치할 때(즉 정제의 파편 등이 양 필름 사이에 끼어 있을 때)에는, 시일성의 저하를 초래할 우려가 있기 때문에, 이 정제의 파편 등을 이유로 하여 포장체를 불량이라고 판정할 필요가 있다.

이에 대하여, 상술한 종래의 검사 방법에서는, 예를 들어, 정제의 파편이나 가루를 일률적으로 이물질로서 검출하는 것 같은 설정이면, 정제의 파편 등의 존재 위치에 상관 없이, 포장체를 불량이라고 판정해 버려, 결과적으로, 제조 비용의 증대를 초래할 우려가 있다. 한편, 예를 들어, 정제의 파편이나 가루를 일률적으로 이물질로서 검출하지 않는 것 같은 설정이면, 정제의 파편 등이 플랜지부에 있는 포장체를 양품이라고 판정해 버려, 결과적으로, 포장체의 품질 저하를 초래할 우려가 있다.

한편, 상기 과제는, PTP 포장뿐만 아니라, SP(Strip Package) 포장 등, 정제를 포장하는 다른 포장 분야에 있어서도 발생할 수 있는 것이다. 또한, X선에 한정하지 않고, 테라헤르츠 전자파 등, 포장체를 투과하는 다른 전자파를 사용하는 경우에 있어서도 발생할 수 있는 것이다.

본 발명은, 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로서, 그 목적은, 보다 적정한 양부 판정을 행할 수 있는 검사 장치, 포장체 제조 장치 및 포장체 제조 방법을 제공하는 것에 있다.

이하, 상기 목적을 해결하기에 적합한 각 수단에 대해, 항을 나누어 설명한다. 한편, 필요에 따라 대응하는 수단에 특유의 작용 효과를 부기한다.

수단 1. 불투명 재료로 이루어지는 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 제2 필름이 취착되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 검사하기 위한 검사 장치로서,

상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 전자파 조사 수단과,

상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치되는 동시에, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 수단과,

상기 촬상 수단에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관련된 검사를 실행 가능한 화상 처리 수단을 구비하는 동시에,

상기 화상 처리 수단은,

상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 수단과,

소정의 제1 임계값을 이용하여 상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 동시에, 소정의 제2 임계값을 이용하여 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 이물질 유무 판정 수단을 갖고,

상기 제1 임계값은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 정제에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되고,

상기 제2 임계값은, 상기 제1 임계값보다 높고, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 상기 플랜지부에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.

한편, 이하의 수단에 있어서도 동일하지만, 상기 「포장체」에는, 제품이 되는 시트상 포장체(예를 들어 「PTP 시트」나 「SP 시트」 등의 포장 시트)나, 그 시트상 포장체가 분리되기 전의 띠상 포장체(예를 들어 「PTP 필름」이나 「SP 필름」 등의 포장 필름)가 포함된다. 또한, 전자파로는, X선 또는 테라헤르츠 전자파를 들 수 있다.

또한, 「전자파 투과 화상에 있어서의 정제에 상당하는 부분의 휘도」는, 예를 들어, 포장체에 대한 전자파의 조사 조건이나 촬상 수단에 의한 촬상 조건 등을 동일하게 한 뒤에 사전에 얻어진 전자파 투과 화상에 있어서의 정제 부분의 휘도여도 되고, 검사시에 취득되는 정제에 상당하는 부분의 휘도여도 된다. 또한, 「전자파 투과 화상에 있어서의 플랜지부에 상당하는 부분의 휘도」는, 예를 들어, 포장체에 대한 전자파의 조사 조건이나 촬상 수단에 의한 촬상 조건 등을 동일하게 한 뒤에 사전에 얻어진 전자파 투과 화상에 있어서의 플랜지부의 휘도여도 되고, 검사시에 취득되는 플랜지부에 상당하는 부분의 휘도여도 된다.

상기 수단 1에 의하면, 수용 공간에 대응하는 수용 영역과 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역이 특정된다. 그리고, 수용 영역에서는, 전자파 투과 화상에 있어서의 정제에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아(어두워)지는 값으로 설정된 제1 임계값을 이용하여 이물질의 유무가 검사된다. 따라서, 수용 영역에 대한 검사에서는, 전자파 투과 화상에 있어서의 휘도가 제1 임계값을 하회하는 부분이 이물질이라고 판정되고, 정제의 파편이나 가루가 수용 영역(수용 공간)에 존재하고 있었다고 해도, 그것을 이물질로서 검출되지 않도록 할 수 있다. 그 때문에, 수용 공간에 있는 정제의 파편이나 가루를 이유로 하여, 포장체를 불량이라고 판정하는 것을 방지할 수 있다.

한편, 플랜지부 영역에서는, 제1 임계값보다 높고, 또한, 전자파 투과 화상에 있어서의 플랜지부에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정된 제2 임계값을 이용하여 이물질의 유무가 검사된다. 따라서, 플랜지부 영역에 대한 검사에서는, 전자파 투과 화상에 있어서의 휘도가 제2 임계값을 하회하는 부분이 이물질이라고 판정되고, 정제의 파편이나 가루가 플랜지부 영역(플랜지부)에 존재한 경우, 이것을 이물질로서 검출할 수 있다. 즉, 플랜지부에 있는 정제의 파편이나 가루에 기초하여, 포장체를 불량이라고 판정할 수 있다. 한편, 정제의 파편 등을 이물질로서 보다 확실하게 검출 가능하게 하기 위해서는, 제2 임계값을, 전자파 투과 화상에 있어서의 정제에 상당하는 부분의 휘도보다 높아지는 값으로 설정하는 것이 바람직하다.

이와 같이 상기 수단 1에 의하면, 검사 대상이 수용 공간(수용 영역)인지 플랜지부(플랜지부 영역)인지의 차이에 따라, 정제의 파편이나 가루가 이물질로서 검출되는지의 여부를 적절하게 바꿀 수 있어, 보다 적정한 양부 판정을 행할 수 있다. 그 결과, 제조 비용의 증대 억제나 포장체의 품질 향상을 도모할 수 있다.

한편, 금속편을 검출 가능하게 되도록 제1 임계값을 설정함으로써, 결과적으로, 수용 공간이나 플랜지부에 존재하는 금속편을 이물질로서 검출할 수 있다. 따라서, 포장체에 금속편이 존재하는 경우에는, 금속편의 존재 위치에 상관 없이, 포장체를 불량이라고 판정할 수 있다. 한편, 통상 금속편은 정제의 파편 등보다 어둡게 나타나기 때문에, 예를 들어, 제1 임계값을, 전자파 투과 화상에 있어서의 금속편에 상당하는 부분의 휘도보다 높아지는 값으로 설정함으로써, 금속편을 이물질로서 검출하는 것이 가능하게 된다.

수단 2. 불투명 재료로 이루어지는 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 제2 필름이 취착되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 검사하기 위한 검사 장치로서,

상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 전자파 조사 수단과,

상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치되는 동시에, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 수단과,

상기 촬상 수단에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관련된 검사를 실행 가능한 화상 처리 수단을 구비하는 동시에,

상기 화상 처리 수단은,

상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 수단과,

상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무 및 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 각각 판정하는 이물질 유무 판정 수단을 갖고,

상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하기 위한 제1 임계값과, 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하기 위한 제2 임계값을 각각 따로따로의 다른 값으로 설정한 것을 특징으로 하는 검사 장치.

상기 수단 2에 의하면, 수용 공간에 대응하는 수용 영역과 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역이 특정된 뒤에, 수용 영역에서는 제1 임계값을 이용하여 이물질의 유무가 판정되고, 플랜지부 영역에서는, 제1 임계값과는 다른 별도의 제2 임계값을 이용하여 이물질의 유무가 판정된다. 따라서, 검사 대상이 수용 공간인지 플랜지부인지의 차이에 따라, 이물질로서 검출되는 것을 적절하게 바꿀 수 있어, 보다 적정한 양부 판정을 행할 수 있다. 그 결과, 제조 비용의 증대 억제나 포장체의 품질 향상을 도모할 수 있다.

수단 3. 불투명 재료로 이루어지는 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 제2 필름이 취착되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 검사하기 위한 검사 장치로서,

상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 전자파 조사 수단과,

상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치되는 동시에, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 수단과,

상기 촬상 수단에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관련된 검사를 실행 가능한 화상 처리 수단을 구비하는 동시에,

상기 화상 처리 수단은,

상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 수단과,

상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무 및 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 각각 판정하는 이물질 유무 판정 수단을 갖고,

상기 이물질 유무 판정 수단은, 정제의 파편 또는 가루가 상기 수용 영역에 있는 경우, 그 정제의 파편 또는 가루를 이물질로서 검출하지 않고, 정제의 파편 또는 가루가 상기 플랜지부 영역에 있는 경우, 그 정제의 파편 또는 가루를 이물질로서 검출 가능하게 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 장치.

상기 수단 3에 의하면, 수용 공간에 대응하는 수용 영역과 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역이 특정된 뒤에, 정제의 파편 또는 가루가 수용 영역에 있는 경우에는, 그 정제의 파편 또는 가루가 이물질로서 검출되지 않고, 정제의 파편 또는 가루가 플랜지부 영역에 있는 경우에는, 그 정제의 파편 또는 가루가 이물질로서 검출된다. 따라서, 검사 대상이 수용 공간(수용 영역)인지 플랜지부(플랜지부 영역)인지의 차이에 따라, 정제의 파편이나 가루가 이물질로서 검출되는지의 여부를 적절하게 바꿀 수 있어, 보다 적정한 양부 판정을 행할 수 있다. 그 결과, 제조 비용의 증대 억제나 포장체의 품질 향상을 도모할 수 있다.

수단 4. 상기 제1 필름 및 상기 제2 필름 중의 적어도 일방은, 내부 공간이 상기 수용 공간을 형성하는 포켓부를 갖는 동시에, 금속제 필름 또는 금속층을 갖는 필름으로 구성되어 있고,

상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 정제에 상당하는 부분을 특정하는 동시에, 특정한 부분의 주위에 위치하는 고리상의 그림자 부분을 상기 수용 공간의 윤곽으로서 특정하고, 그 윤곽의 내측을 상기 수용 영역으로서 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 수단 1 내지 3 중 어느 하나에 기재된 검사 장치.

제1 필름 및 제2 필름 중의 적어도 일방이, 포켓부를 갖는 동시에, 금속제 필름 또는 금속층을 갖는 필름으로 형성되어 있는 경우, 전자파 투과 화상에서는, 정제의 주위에 위치하고 포켓부(수용 공간)의 외연에 대응하는 고리상 부위가, 주위와 비교하여 어두운 그림자 부분으로서 나타나게 된다.

이 점을 이용하여, 상기 수단 4에 의하면, 정제에 상당하는 부분을 특정하는 동시에, 특정한 부분의 주위에 위치하는 고리상의 그림자 부분을 수용 공간의 윤곽으로서 특정하고, 그 윤곽의 내측을 수용 영역으로서 특정하도록 구성되어 있다. 따라서, 수용 영역을 보다 정확하게, 또한, 비교적 간단히 특정할 수 있다.

수단 5. 상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 정제에 상당하는 부분을 특정하는 동시에, 특정한 부분을 팽창시켜 이루어지는 영역을 상기 수용 영역으로서 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 수단 1 내지 3 중 어느 하나에 기재된 검사 장치.

상기 수단 5에 의하면, 비교적 간단한 처리에 의해, 수용 영역을 어느 정도 정확하게 특정(추정)할 수 있다. 따라서, 양부 판정에 관련된 처리 부담의 저감을 도모하면서, 충분히 양호한 검사 정밀도를 담보할 수 있다.

한편, 상기 수단 5나 후술하는 수단 6, 7은, 제1 필름 및 제2 필름이, 예를 들어 가시광 등을 투과하지 않는 합성 수지 재료로 형성되어 있어, 전자파 투과 화상에 있어서 수용 공간의 외연에 대응하는 고리상 부위가 어두운 그림자 부분으로서 나타나지 않는 것 같은 경우에 특히 유효하다.

수단 6. 상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 정제에 상당하는 부분을 특정하는 동시에, 특정한 부분의 중심 또는 무게 중심을 취득하고, 취득한 중심 또는 무게 중심 및 상기 수용 공간의 위치에 관한 설계상의 데이터에 기초하여 상기 수용 영역을 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 수단 1 내지 3 중 어느 하나에 기재된 검사 장치.

상기 수단 6에 의하면, 비교적 간단한 처리에 의해, 수용 영역을 어느 정도 정확하게 특정(추정)할 수 있다. 이에 의해, 양부 판정에 관련된 처리 부담의 저감을 도모하면서, 충분히 양호한 검사 정밀도를 담보할 수 있다.

수단 7. 상기 포장체를 촬상하여, 상기 포장체의 외관에 관련된 외관 화상을 취득하는 외관 촬상 수단과,

상기 외관 촬상 수단에 의해 취득된 외관 화상에 있어서의 상기 수용 공간의 위치를 특정하는 수용 공간 특정 수단을 갖고,

상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간 특정 수단에 의해 특정된 상기 수용 공간의 위치에 기초하여 상기 수용 영역을 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 수단 1 내지 3 중 어느 하나에 기재된 검사 장치.

상기 수단 7에 의하면, 외관 촬상 수단 및 수용 공간 특정 수단에 의해, 포장체에 있어서의 수용 공간의 실제의 위치가 특정되고, 이 특정된 위치에 기초하여 수용 영역이 특정된다. 따라서, 수용 영역을 매우 정확하게 특정할 수 있어, 우수한 검사 정밀도를 실현할 수 있다.

수단 8. 수단 1 내지 7 중 어느 하나에 기재된 검사 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 포장체 제조 장치.

상기 수단 8에 의하면, 상기 수단 1 등과 동일한 작용 효과가 발휘되게 된다.

수단 9. 불투명 재료로 이루어지는 띠상의 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 띠상의 제2 필름이 취착되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 얻을 때에 이용되는 포장체 제조 방법으로서,

반송되는 띠상의 상기 제1 필름과, 반송되는 띠상의 상기 제2 필름을 취착하는 취착 공정과,

상기 제1 필름과 상기 제2 필름 사이에 형성되는 상기 수용 공간 내에 정제를 충전하는 충전 공정과,

상기 취착 공정 및 상기 충전 공정을 거쳐 얻어진 상기 포장체의 검사를 실행하는 검사 공정을 구비하고,

상기 검사 공정은,

소정의 전자파 조사 수단에 의해, 상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 조사 공정과,

상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치된 촬상 수단을 사용하여, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 공정과,

상기 촬상 공정에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관한 양부 판정을 행하는 양부 판정 공정을 포함하고,

상기 양부 판정 공정은,

상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 공정과,

소정의 제1 임계값을 이용하여 상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 동시에, 소정의 제2 임계값을 이용하여 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 이물질 유무 판정 공정을 갖고,

상기 제1 임계값은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 정제에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되고,

상기 제2 임계값은, 상기 제1 임계값보다 높고, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 상기 플랜지부에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 포장체 제조 방법.

상기 수단 9에 의하면, 상기 수단 1과 동일한 작용 효과가 발휘되게 된다.

도 1은 PTP 시트의 사시도이다.
도 2는 PTP 시트의 부분 확대 단면도이다.
도 3은 PTP 필름 및 검사 영역 등을 나타내는 모식도이다.
도 4는 PTP 포장기의 개략 구성도이다.
도 5는 X선 검사 장치의 전기적 구성을 나타내는 블록도이다.
도 6은 X선 검사 장치의 개략 구성을 나타내는 모식도이다.
도 7은 제조 공정을 나타내는 플로우차트이다.
도 8은 제1 실시형태에 있어서의 영역 특정 공정을 나타내는 플로우차트이다.
도 9는 이물질 유무 판정 공정을 나타내는 플로우차트이다.
도 10은 X선 투과 화상이나 시트 농담 화상을 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 11은 수용 공간 검사용의 농담 화상을 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 12는 제1 임계값이나 도 11의 A-A´선 상에 있어서의 휘도 변화를 나타내는 그래프이다.
도 13은 플랜지부 검사용의 농담 화상을 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 14는 제2 임계값이나 도 13의 B-B´선 상에 있어서의 휘도 변화를 나타내는 그래프이다.
도 15는 제2 실시형태에 있어서의 영역 특정 공정을 나타내는 플로우차트이다.
도 16은 제3 실시형태에 있어서의 영역 특정 공정을 나타내는 플로우차트이다.
도 17은 제4 실시형태에 있어서의 X선 검사 장치의 개략 구성도이다.
도 18은 제4 실시형태에 있어서의 X선 검사 장치의 일부에 대한 전기적 구성을 나타내는 블록도이다.
도 19는 제4 실시형태에 있어서의 영역 특정 공정을 나타내는 플로우차트이다.
도 20은 다른 실시형태에 있어서의 SP 시트를 나타내는 평면도이다.

이하에, 실시형태에 대하여 도면을 참조하면서 설명한다.

〔제1 실시형태〕

먼저 포장 시트(시트상 포장체)로서의 PTP 시트(1)에 대하여 설명한다.

도 1, 2에 나타내는 바와 같이, PTP 시트(1)는, 복수의 포켓부(2)를 구비한 용기 필름(3)과, 포켓부(2)를 막도록 하여 용기 필름(3)에 취착된 커버 필름(4)을 갖고 있다. 본 실시형태에서는, 「용기 필름(3)」이 「제1 필름」을 구성하고, 「커버 필름(4)」이 「제2 필름」을 구성한다.

본 실시형태에 있어서의 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)은, 알루미늄을 기재(주재료)로 한 불투명 재료에 의해 구성되어 있다. 예를 들어 용기 필름(3)은, 알루미늄 라미네이트 필름(알루미늄 필름에 대하여 합성 수지 필름을 라미네이트한 것)에 의해 형성되어 있다. 한편, 커버 필름(4)은, 알루미늄 필름에 의해 형성되어 있다.

PTP 시트(1)는, 평면시 대략 직사각형상으로 형성되고, 그 4코너가 원호상으로 둥그스름한 형상으로 되어 있다. PTP 시트(1)에는, 시트 폭 방향을 따라 배열된 2개의 포켓부(2)로 이루어지는 포켓부열이, 시트 길이 방향으로 5열 형성되어 있다. 즉, 합계 10개의 포켓부(2)가 형성되어 있다. 각 포켓부(2)의 내부 공간인 수용 공간(2a)에는, 정제(5)가 1개씩 수용되어 있다.

또한, PTP 시트(1)에는, 소정 수(본 실시형태에서는 2개)의 포켓부(2)를 포함하는 시트 소편(6) 단위로 분리 가능하게 하기 위한 분리선으로서의 절취선(7)이 시트 폭 방향을 따라 복수 형성되어 있다.

덧붙여, PTP 시트(1)에는, 시트 길이 방향 일단부에 있어서, 정제 명칭이나 로트 넘버 등의 각종 정보(본 실시형태에서는 「ABC」의 문자)가 각인된 태그부(8)가 부설되어 있다. 태그부(8)는, 포켓부(2)가 형성되어 있지 않고, 5개의 시트 소편(6)으로 이루어지는 시트 본체부(1a)와의 사이에서 1개의 절취선(7)에 의해 구획되어 있다.

본 실시형태의 PTP 시트(1)(도 1 참조)는, 띠상의 용기 필름(3)과 띠상의 커버 필름(4)이 취착되어 이루어지는 「띠상 포장체」로서의 띠상의 PTP 필름(9)(도 3 참조)으로부터 최종 제품인 PTP 시트(1)를 직사각형 시트상으로 블랭킹하는 공정 등을 거쳐 제조된다.

도 3에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에 따른 PTP 필름(9)은, 필름 폭 방향으로 PTP 시트(1)의 블랭킹 범위(Ka)(이하, 간단히 「시트 블랭킹 범위(Ka)」라고 한다.)가 2개 늘어서는 레이아웃으로 되어 있다. 또한, PTP 필름(9)에 있어서는, 태그부(8)에 상당하는 부분이 필름 폭 방향 중앙부에 위치하는 구성으로 되어 있다.

다음으로, 상기 PTP 시트(1)를 제조하는 PTP 포장기(10)의 개략 구성에 대하여 도 4를 참조하여 설명한다. 본 실시형태에서는, 「PTP 포장기(10)」가 「포장체 제조 장치」를 구성한다.

도 4에 나타내는 바와 같이, PTP 포장기(10)의 최상류측에서는, 띠상의 용기 필름(3)의 원단이 롤상으로 권회되어 있다. 롤상으로 권회된 용기 필름(3)의 인출단측은, 가이드 롤(13)에 안내되어 있다. 용기 필름(3)은, 가이드 롤(13)의 하류측에 있어서 간헐 이송 롤(14)에 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송 롤(14)은, 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있어, 용기 필름(3)을 간헐적으로 반송한다.

가이드 롤(13)과 간헐 이송 롤(14) 사이에는, 용기 필름(3)의 반송 경로를 따라, 포켓부 형성 수단으로서의 포켓부 형성 장치(16)가 배치 설치되어 있다. 이 포켓부 형성 장치(16)에 의해, 냉간 가공에 의해 용기 필름(3)의 소정의 위치에 복수의 포켓부(2)가 한번에 형성된다. 포켓부(2)의 형성은, 간헐 이송 롤(14)에 의한 용기 필름(3)의 반송 동작간의 인터벌 중에 행하여진다.

단, 본 실시형태에 있어서의 PTP 포장기(10)는, 용기 필름(3)을, 알루미늄제뿐만 아니라, 예를 들어 PP(폴리프로필렌)나 PVC(폴리염화비닐) 등의 비교적 경질로 소정의 강성을 갖는 열가소성 수지 재료에 의해서도 제조 가능하게 구성된 포장기(겸용기)이다. 그 때문에, 포켓부 형성 장치(16)의 상류측에 있어서, 용기 필름(3)을 가열하여 유연한 상태로 하기 위한 가열 장치(15)를 구비하고 있다. 물론, 알루미늄제의 용기 필름(3)을 형성하는 경우에는 가열 장치(15)는 사용되지 않는다.

간헐 이송 롤(14)로부터 내보내진 용기 필름(3)은, 텐션 롤(18), 가이드 롤(19) 및 필름 받이 롤(20)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 필름 받이 롤(20)은, 일정 회전하는 모터에 연결되어 있기 때문에, 용기 필름(3)을 연속적으로 또한 일정 속도로 반송한다. 텐션 롤(18)은, 용기 필름(3)을 탄성력에 의해 긴장되는 쪽으로 잡아당긴 상태로 되어 있어, 상기 간헐 이송 롤(14)과 필름 받이 롤(20)의 반송 동작의 상이에 의한 용기 필름(3)의 늘어짐을 방지하여 용기 필름(3)을 상시 긴장 상태로 유지한다.

가이드 롤(19)과 필름 받이 롤(20) 사이에는, 용기 필름(3)의 반송 경로를 따라, 충전 수단으로서의 정제 충전 장치(21)가 배치 설치되어 있다.

정제 충전 장치(21)는, 포켓부(2)에 정제(5)를 자동적으로 충전하는 기능을 갖는다. 정제 충전 장치(21)는, 필름 받이 롤(20)에 의한 용기 필름(3)의 반송 동작과 동기하여, 소정 간격마다 셔터를 여는 것에 의해 정제(5)를 낙하시키는 것으로, 이 셔터 개방 동작에 따라 각 포켓부(2)에 정제(5)가 충전된다.

한편, 띠상으로 형성된 커버 필름(4)의 원단은, 최상류측에 있어서 롤상으로 권회되어 있다. 롤상으로 권회된 커버 필름(4)의 인출단은, 가이드 롤(22)을 통하여 가열 롤(23) 쪽으로 안내되어 있다. 가열 롤(23)은, 상기 필름 받이 롤(20)에 압접 가능하게 되어 있고, 양 롤(20, 23) 사이에 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이 보내지게 되어 있다.

그리고, 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이, 양 롤(20, 23) 사이를 가열 압접 상태에서 통과함으로써, 용기 필름(3)의 포켓부(2) 둘레의 플랜지부(3a)(도 1, 2 참조)에 대하여 커버 필름(4)이 첩착되어, 포켓부(2)가 커버 필름(4)으로 막힌다. 이에 의해, 정제(5)가 각 포켓부(2)에 충전된, 「포장체」로서의 PTP 필름(9)이 제조된다. 한편, 가열 롤(23)의 표면에는, 시일용의 그물코상의 미세한 볼록조가 형성되어 있고, 이것이 강하게 압접함으로써, 강고한 시일이 실현되게 되어 있다.

또한, 필름 받이 롤(20)에는, 도시하지 않은 인코더가 설치되어 있고, 그 필름 받이 롤(20)이 소정량 회전할 때마다, 즉 PTP 필름(9)이 소정량 반송될 때마다, 후술하는 X선 검사 장치(45)에 대하여 소정의 타이밍 신호를 출력하도록 구성되어 있다.

필름 받이 롤(20)로부터 내보내진 PTP 필름(9)은, 텐션 롤(27) 및 간헐 이송 롤(28)의 순서로 걸려 장착되어 있다.

간헐 이송 롤(28)은, 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있기 때문에, PTP 필름(9)을 간헐적으로 반송한다. 텐션 롤(27)은, PTP 필름(9)을 탄성력에 의해 긴장되는 쪽으로 잡아당긴 상태로 되어 있어, 상기 필름 받이 롤(20)과 간헐 이송 롤(28)의 반송 동작의 상이에 의한 PTP 필름(9)의 늘어짐을 방지하여 PTP 필름(9)을 상시 긴장 상태로 유지한다.

필름 받이 롤(20)과 텐션 롤(27) 사이에는, PTP 필름(9)의 반송 경로를 따라 X선 검사 장치(45)가 배치 설치되어 있다. X선 검사 장치(45)는, 포켓부(2)의 이상(본 실시형태에서는, 포켓부(2) 내에 있어서의 이물질의 유무)의 검출이나, 포켓부(2) 이외의 플랜지부(3a)의 이상(본 실시형태에서는, 플랜지부(3a) 상에 존재하는 이물질의 유무)의 검출을 주목적으로 한 X선 검사를 행하기 위한 것이다. 물론, 검사 항목은, 이들에 한정되는 것은 아니며, 다른 검사 항목을 실시해도 된다. 본 실시형태에서는, 「X선 검사 장치(45)」가 「검사 장치」를 구성한다.

간헐 이송 롤(28)로부터 내보내진 PTP 필름(9)은, 텐션 롤(29) 및 간헐 이송 롤(30)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송 롤(30)은, 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있기 때문에, PTP 필름(9)을 간헐적으로 반송한다. 텐션 롤(29)은, PTP 필름(9)을 탄성력에 의해 긴장되는 쪽으로 잡아당긴 상태로 되어 있어, 상기 간헐 이송 롤(28, 30) 사이에서의 PTP 필름(9)의 늘어짐을 방지한다.

간헐 이송 롤(28)과 텐션 롤(29) 사이에는, PTP 필름(9)의 반송 경로를 따라, 절취선 형성 장치(33) 및 각인 장치(34)가 순서대로 배치 설치되어 있다.

절취선 형성 장치(33)는, PTP 필름(9)의 소정 위치에 상기 절취선(7)을 형성하는 기능을 갖는다. 각인 장치(34)는, PTP 필름(9)의 소정 위치(상기 태그부(8)에 대응하는 위치)에 상기 각인 「ABC」를 붙이는 기능을 갖는다.

간헐 이송 롤(30)로부터 내보내진 PTP 필름(9)은, 그 하류측에 있어서 텐션 롤(35) 및 연속 이송 롤(36)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송 롤(30)과 텐션 롤(35) 사이에는, PTP 필름(9)의 반송 경로를 따라, 시트 블랭킹 장치(37)가 배치 설치되어 있다. 시트 블랭킹 장치(37)는, PTP 필름(9)을 PTP 시트(1) 단위로 그 외연을 블랭킹하는 시트 블랭킹 수단(분리 수단)으로서의 기능을 갖는다.

시트 블랭킹 장치(37)에 의해 블랭킹된 PTP 시트(1)는, 컨베이어(39)에 의해 반송되어, 완성품용 호퍼(40)에 일단 저류된다. 단, 상기 X선 검사 장치(45)에 의해 불량품이라고 판정된 경우, 그 불량품이라고 판정된 PTP 시트(1)는, 완성품용 호퍼(40)로 보내지지 않고, 도시하지 않은 배출 수단으로서의 불량 시트 배출 기구에 의해 별도 배출되어, 도시하지 않은 불량품 호퍼에 이송된다.

연속 이송 롤(36)의 하류측에는, 재단 장치(41)가 배치 설치되어 있다. 그리고, 시트 블랭킹 장치(37)에 의한 블랭킹 후에 띠상으로 남은 불필요 필름부(42)는, 상기 텐션 롤(35) 및 연속 이송 롤(36)에 안내된 후, 재단 장치(41)로 유도된다. 여기서, 연속 이송 롤(36)은 종동 롤이 압접되어 있어, 불필요 필름부(42)를 협지하면서 반송 동작을 행한다.

재단 장치(41)는, 불필요 필름부(42)를 소정 치수로 재단하는 기능을 갖는다. 재단된 불필요 필름부(42)(스크랩)는 스크랩용 호퍼(43)에 저류된 후, 별도 폐기 처리된다.

한편, 상기 각 롤(14, 19, 20, 28, 29, 30) 등은, 그 롤 표면과 포켓부(2)가 대향하는 위치 관계로 되어 있으나, 간헐 이송 롤(14) 등의 각 롤의 표면에는, 포켓부(2)가 수용되는 오목부가 형성되어 있기 때문에, 포켓부(2)가 찌부러져 버리는 일이 없다. 또한, 포켓부(2)가 간헐 이송 롤(14) 등의 각 롤의 각 오목부에 수용되면서 이송 동작이 행하여짐으로써, 간헐 이송 동작이나 연속 이송 동작이 확실하게 행하여진다.

PTP 포장기(10)의 개략은 이상과 같지만, 이하에 상기 X선 검사 장치(45)의 구성에 대하여 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 도 5는, X선 검사 장치(45)의 전기적 구성을 나타내는 블록도이다. 도 6은, X선 검사 장치(45)의 개략 구성을 나타내는 모식도이다.

도 5, 6에 나타내는 바와 같이, X선 검사 장치(45)는, PTP 필름(9)에 대하여 X선을 조사하는 X선 조사 장치(51)와, 그 X선이 조사된 PTP 필름(9)의 X선 투과 화상을 촬상하는 X선 라인 센서 카메라(52)와, X선 조사 장치(51)나 X선 라인 센서 카메라(52)의 구동 제어 등 X선 검사 장치(45) 내에 있어서의 각종 제어나 화상 처리, 연산 처리 등을 실시하기 위한 제어 처리 장치(53)를 구비하고 있다.

본 실시형태에 있어서 「X선」이 「전자파」에 상당한다. 또한, 「X선 투과 화상」이 「전자파 투과 화상」을 구성하고, 「제어 처리 장치(53)」가 「화상 처리 수단」을 구성하고, 「X선 조사 장치(51)」가 「전자파 조사 수단」을 구성하고, 「X선 라인 센서 카메라(52)」가 「촬상 수단」을 구성한다.

한편, X선 조사 장치(51) 및 X선 라인 센서 카메라(52)는, X선을 차폐 가능한 재질로 구성된 차폐 박스(도시 생략) 내에 수용되어 있다. 차폐 박스는, PTP 필름(9)을 통과시키기 위한 슬릿상의 개구가 형성되어 있는 것 외에는, 외부로의 X선의 누설을 극력 억제한 구조로 되어 있다.

X선 조사 장치(51)는, 연직 방향 하향으로 반송되는 PTP 필름(9)의 용기 필름(3)측에 배치되어 있다. X선 조사 장치(51)는, PTP 필름(9)의 폭 방향 중심부와 상대하는 위치에, X선을 조사하는 조사원(51a)을 갖고 있다. 조사원(51a)은, X선의 발생원이나 X선을 뽑아내기 위한 콜리메이터(각각 도시 생략)를 갖고 있어, PTP 필름(9)의 폭 방향으로 소정의 확산(팬각)을 갖는 팬빔상의 X선을, 용기 필름(3)측으로부터, PTP 필름(9)에 대하여 조사 가능하게 구성되어 있다. X선 조사 장치(51)에 의한 X선의 조사각(팬각)은, PTP 필름(9)의 폭 방향으로 늘어서는 2매분의 PTP 시트(1)에 대응하는 범위를 조사 가능한 각도로 설정되어 있다. 한편, PTP 필름(9)의 반송 방향에 대해서도 소정의 확산을 갖는 콘빔상의 X선을 조사 가능한 구성으로 해도 된다.

X선 라인 센서 카메라(52)는, PTP 필름(9)의 반송 방향과 직교하는 방향을 따라 X선 조사 장치(51)와 대향하도록, PTP 필름(9)을 사이에 두고 X선 조사 장치(51)와는 반대측(본 실시형태에서는 커버 필름(4)측)에 배치되어 있다.

X선 라인 센서 카메라(52)는, PTP 필름(9)을 투과한 X선을 검출 가능한 복수의 X선 검출 소자가 필름 폭 방향을 따라 1열로 늘어서 이루어지는 X선 라인 센서(52a)를 갖고, PTP 필름(9)을 투과한 X선을 촬상(노광) 가능하게 구성되어 있다. X선 검출 소자로는, 예를 들어 신틸레이터에 의한 광 변환층을 갖는 CCD(Charge Coupled Device) 등을 들 수 있다.

그리고, X선 라인 센서 카메라(52)에 의해 취득된, 휘도에 관한 농담을 갖는 X선 투과 화상은, PTP 필름(9)이 소정량 반송될 때마다, 그 카메라(52) 내부에 있어서 디지털 신호(화상 신호)로 변환된 뒤에, 디지털 신호의 형태로 제어 처리 장치(53)(화상 데이터 기억 장치(74))에 대하여 출력된다. 그리고, 제어 처리 장치(53)는, 그 X선 투과 화상을 화상 처리하는 등을 하여 후술하는 각종 검사를 실시한다.

다음으로, 제어 처리 장치(53)에 대하여 도 5를 참조하여 설명한다. 제어 처리 장치(53)는, X선 검사 장치(45) 전체의 제어를 담당하는 마이크로컴퓨터(71), 키보드나 마우스, 터치 패널 등으로 구성되는 입력 장치(72), CRT나 액정 등의 표시 화면을 갖는 표시 장치(73), 각종 화상 데이터 등을 기억하기 위한 화상 데이터 기억 장치(74), 각종 연산 결과 등을 기억하기 위한 연산 결과 기억 장치(75), 각종 정보를 미리 기억해 두기 위한 설정 데이터 기억 장치(76), 검사에 관련된 소프트웨어를 기억하기 위한 검사 루틴 기억 장치(77) 등을 구비하고 있다. 한편, 이들 각 장치(72∼77)는, 마이크로컴퓨터(71)에 대하여 전기적으로 접속되어 있다.

마이크로컴퓨터(71)는, 연산 수단으로서의 CPU(71a)나, 각종 프로그램을 기억하는 ROM(71b), 연산 데이터나 입출력 데이터 등의 각종 데이터를 일시적으로 기억하는 RAM(71c) 등을 구비하고, 제어 처리 장치(53)에 있어서의 각종 제어를 담당하는 동시에, PTP 포장기(10)와 각종 신호를 송수신 가능하게 접속되어 있다.

이러한 구성 하, 마이크로컴퓨터(71)는, 예를 들어 X선 조사 장치(51)나 X선 라인 센서 카메라(52)를 구동 제어하여, PTP 필름(9)에 관련된 X선 투과 화상을 취득하는 촬상 처리나, 그 X선 투과 화상을 기초로 PTP 필름(9)의 소정 부위를 검사하는 검사 처리, 그 검사 처리에 관련된 검사 결과를 PTP 포장기(10)의 불량 시트 배출 기구 등으로 출력하는 출력 처리 등을 실행한다.

화상 데이터 기억 장치(74)는, X선 라인 센서 카메라(52)에 의해 취득되는 X선 투과 화상을 비롯하여, 마스킹 처리된 마스킹 화상이나, 이치화 처리된 이치화 화상 등의 각종 화상 데이터를 기억한다.

연산 결과 기억 장치(75)는, 검사 결과 데이터나, 그 검사 결과 데이터를 확률 통계적으로 처리한 통계 데이터 등을 기억한다. 이들 검사 결과 데이터나 통계 데이터는, 적절히 표시 장치(73)에 표시시킬 수 있다.

설정 데이터 기억 장치(76)는, 검사에 사용되는 각종 정보를 기억한다. 이들 각종 정보로서, 예를 들어 PTP 시트(1), 포켓부(2) 및 정제(5)의 형상 및 치수, 검사 영역(Kb)을 획정하기 위한 시트 프레임의 형상 및 치수, 포켓 프레임의 형상 및 치수, 이치화 처리에 사용되는 휘도 임계값, 각종 양부 판정을 행할 때에 이용되는 기준값(예를 들어, 노이즈에 의한 영향을 제외하기 위한 소정값 Lo 등) 등이 설정 기억되어 있다.

설정 데이터 기억 장치(76)에는, 휘도 임계값으로는, 제1 임계값(δ1), 제2 임계값(δ2) 및 제3 임계값(δ3)이 미리 기억되어 있다. 제1 임계값(δ1)은, X선 투과 화상에 있어서의 정제(5)에 상당하는 부분의 휘도(예를 들어, 정제(5)에 상당하는 부분의 휘도 중 가장 낮은 휘도)보다 낮고, X선 투과 화상에 있어서의 금속편 등의 이물질에 상당하는 부분의 휘도보다 높아지는 값으로 설정되어 있다.

제2 임계값(δ2)은, 제1 임계값(δ1)과는 다른 값으로, 제1 임계값(δ1)보다 높고, X선 투과 화상에 있어서의 플랜지부(3a)에 상당하는 부분의 휘도(예를 들어, 플랜지부(3a)에 상당하는 부분의 휘도 중 가장 낮은 휘도)보다 낮아지는 값으로 설정되어 있다. 한편, 본 실시형태에 있어서, 제2 임계값(δ2)은, X선 투과 화상에 있어서의 정제(5)에 상당하는 부분의 휘도보다 높아지는 값으로 설정되어 있다.

제3 임계값(δ3)은, 정제(5)나 포켓부(2)의 외연 부분을 특정하기 위한 휘도 임계값으로, X선 투과 화상에 있어서의 정제(5)에 상당하는 부분의 휘도나, X선 투과 화상에 있어서 정제(5)의 주위에 나타나는 그림자 부분(2c)(도 10 참조)의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되어 있다.

한편, 「X선 투과 화상에 있어서의 정제(5)나 이물질, 플랜지부(3a)에 상당하는 부분의 휘도」는, PTP 필름(9)에 대한 X선의 조사 조건이나 X선 라인 센서 카메라(52)에 의한 촬상 조건 등을 동일하게 한 뒤에 사전에 얻어진 X선 투과 화상에 있어서의 정제 부분이나 이물질 부분, 플랜지 부분의 휘도이다. 또한, 「X선 투과 화상에 있어서의 정제(5)나 이물질, 플랜지부(3a)에 상당하는 부분의 휘도」는, 검사시에 X선 투과 화상에 기초하여 취득되고, 검사시에 적절히 갱신되는 것이어도 된다.

또한, 본 실시형태에서는, 검사 영역(Kb)으로서, PTP 필름(9)에 있어서의 PTP 시트(1)에 대응하는 영역 중, 태그부(8)에 대응하는 영역을 제외한, 5개의 시트 소편(6)으로 이루어지는 시트 본체부(1a)에 대응하는 영역이 설정되어 있다(도 3 참조).

검사 루틴 기억 장치(77)는, 검사 처리를 실행하기 위한 소프트웨어를 기억한다. 검사 루틴 기억 장치(77)에 기억되는 소프트웨어에는, 영역 특정용 소프트웨어(77a) 및 양부 판정용 소프트웨어(77b)가 포함된다.

영역 특정용 소프트웨어(77a)는, 설정 데이터 기억 장치(76)에 기억된 시트 프레임의 형상 및 치수에 기초하여, X선 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역(본 실시형태에서는, 검사 영역(Kb))을 특정하는 프로그램과, 상기 제3 임계값(δ3)을 이용하여, 특정한 검사 영역(Kb)에 있어서의, 수용 공간(2a)에 대응하는 수용 영역(2b)(도 10 참조) 및 플랜지부(3a)에 대응하는 플랜지부 영역(3b)(도 10 참조)을 특정하는 프로그램을 포함한다.

또한, 양부 판정용 소프트웨어(77b)는, 제1 임계값(δ1)을 이용하여 수용 영역(2b)에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 프로그램과, 제2 임계값(δ2)을 이용하여 플랜지부 영역(3b)에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 프로그램을 포함한다. 한편, 상기와 같이, 제1 임계값(δ1) 및 제2 임계값(δ2)은 다른 값이기 때문에, 수용 영역(2b) 및 플랜지부 영역(3b)에서는, 이물질로서 판정되는 것이 다르게 된다.

X선 라인 센서 카메라(52)에 의해, 제품이 되는 PTP 시트(1)의 적어도 1매분에 관련된 X선 투과 화상이 취득되면, 마이크로컴퓨터(71)에 의해, 영역 특정용 소프트웨어(77a) 및 양부 판정용 소프트웨어(77b)가 실행된다.

영역 특정용 소프트웨어(77a)가 실행되면, 먼저, X선 투과 화상에 대하여 상기 시트 프레임이 설정됨으로써, X선 투과 화상에 있어서의 검사 영역(Kb)이 획정된다. 또한, 그 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상이, 시트 농담 화상(Xa)(도 10 참조. 단, 도 10에서는, 시트 농담 화상(Xa)의 일부만을 나타낸다)으로서 취득되는 동시에, 그 시트 농담 화상(Xa)이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

한편, 도 10에 나타내는 바와 같이, X선 투과 화상이나 시트 농담 화상(Xa)에 있어서, 플랜지부 영역(3b)과 수용 영역(2b) 중 정제(5)를 제외한 영역 사이에서는, 명암의 차가 거의 없다. 이들 영역에 관련된 화상은, 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)만을 투과한 X선에 기초하여 얻어지기 때문이다. 한편, X선 투과 화상이나 시트 농담 화상(Xa)에 있어서, 정제(5)에 대응하는 영역인 정제 영역(5b)은, 플랜지부 영역(3b) 등과 비교하여 어두운 상태가 된다. 정제(5)의 두께에 의존하여 X선이 감쇠하기 때문이다. 또한, X선 투과 화상이나 시트 농담 화상(Xa)에 있어서, 금속편 등의 이물질에 대응하는 제1 이물질 영역(100b)은, 정제 영역(5b)보다 어두운 상태가 된다. 금속편 등의 이물질은, 정제(5)보다 X선을 차폐하기 쉽기 때문이다. 한편, 정제(5)의 파편이나 가루에 대응하는 제2 이물질 영역(100c)은, 정제 영역(5b)과 대략 동일한 밝기 또는 이들보다 약간 밝은 것이 된다.

시트 농담 화상(Xa)이 취득되면, 제3 임계값(δ3)을 이용하여, 그 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 이치화 처리가 실시된다. 예를 들어 상기 제3 임계값(δ3) 이상을 「1(명부)」, 상기 제3 임계값(δ3) 미만을 「0(암부)」으로 하여 시트 농담 화상(Xa)이 이치화 화상으로 변환되는 동시에, 이 이치화 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 본 실시형태에 있어서, 이치화 화상에서는, 정제(5)나 그림자 부분(2c)에 상당하는 부분이 「0(암부)」으로서 나타난다.

이어서, 상기 이치화 화상에 대하여 괴처리가 실행된다. 괴처리로는, 이치화 화상의 「0(암부)」 및 「1(명부)」에 대하여 각각 연결 성분을 특정하는 처리와, 각각의 연결 성분에 대하여 라벨 붙임을 행하는 라벨 붙임 처리가 행하여진다. 여기서, 각각 특정되는 각 연결 성분의 점유 면적은 X선 라인 센서 카메라(52)의 화소에 따른 도트수로 나타내어진다.

그리고, 괴처리에 의해 특정된 「0(암부)」의 연결 성분 중에서, 정제(5)에 상당하는 연결 성분 즉 정제 영역(5b)이 특정된다. 정제(5)에 상당하는 연결 성분은, 소정의 좌표를 포함하는 연결 성분, 소정의 형상인 연결 성분, 혹은 소정의 면적인 곳의 연결 성분 등을 판단함으로써 특정할 수 있다.

이어서, 괴처리에 의해 특정된 「0(암부)」의 연결 성분 중에서, 정제(5)에 상당하는 연결 성분의 주위에 위치하고, 포켓부(2)의 외연에 상당하는 고리상의 그림자 부분(2c)이 특정된다. 고리상의 그림자 부분(2c)의 특정은, 예를 들어, 정제(5)에 상당하는 연결 성분에 대하여 소정의 위치 관계에 있는 연결 성분을 판단하는 것 등에 의해 특정할 수 있다. 그리고, 고리상의 그림자 부분(2c)이 수용 공간(2a)의 윤곽으로서 특정된다.

다음으로, 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa))에 있어서의 수용 공간(2a)의 윤곽의 내측이, 수용 영역(2b)으로서 특정된다. 그리고, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여, 특정된 수용 영역(2b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시된다. 이러한 마스킹 처리가 행하여진 화상은, 수용 공간 검사용의 농담 화상(Xb)(도 11 참조)으로서 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

또한, 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa))에 있어서의 수용 영역(2b) 이외의 영역이, 플랜지부 영역(3b)으로서 특정된다. 그리고, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여, 특정된 플랜지부 영역(3b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시된다. 이러한 마스킹 처리가 행하여진 화상은, 플랜지부 검사용의 농담 화상(Xc)(도 13 참조)으로서 기억된다.

또한, 영역 특정용 소프트웨어(77a)에 이어서, 양부 판정용 소프트웨어(77b)가 실행된다. 양부 판정용 소프트웨어(77b)가 실행되면, 상기 제1 임계값(δ1)을 이용하여, 수용 공간 검사용의 농담 화상(Xb)에 대하여 이치화 처리가 실시된다. 보다 상세하게는, 제1 임계값(δ1) 이상을 「1(명부)」, 상기 제1 임계값(δ1) 미만을 「0(암부)」으로 하여 수용 공간 검사용의 농담 화상(Xb)이 이치화 화상으로 변환되는 동시에, 이 이치화 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

여기서, 제1 임계값(δ1)은, 농담 화상(Xb)에 있어서의 수용 영역(2b)의 휘도(B1)나 정제 영역(5b)의 휘도(B2)보다 낮고(어둡고), 농담 화상(Xb)에 있어서의 제1 이물질 영역(100b)(금속편 등의 이물질에 관련된 영역)의 휘도(B3)보다 높은 것이다(도 12 참조). 한편, 도 12는, 제1 임계값(δ1)이나 도 11의 A-A´선 상에 있어서의 농담 화상(Xb)의 휘도 변화 등을 모식적으로 나타내는 그래프이다. 따라서, 그 이치화 화상에 있어서, 수용 공간(2a), 정제(5) 및 그 파편이나 가루는 각각 「1(명부)」로서, 금속편 등의 이물질은 「0(암부)」으로서 나타나게 된다.

이어서, 수용 공간 검사용의 이치화 화상에 괴처리를 실시함으로써, 암부분의 면적값이 상기 소정값 Lo 이상이 된 괴부분이 추출된다(노이즈의 영향을 고려하여, Lo 미만인 괴가 제거된다). 그리고, 괴부분이 존재하는 경우에는, 금속편 등의 이물질이 존재한다고 판정된다. 한편, 괴부분이 존재하지 않는 경우에는, 이물질이 존재하지 않는다고 판정된다. 한편, 금속편 등의 이물질이 존재하는지의 여부의 판정은, 각 수용 영역(2b)의 각각을 대상으로 행하여진다.

또한, 상기 제2 임계값(δ2)을 이용하여, 플랜지부 검사용의 농담 화상(Xc)에 대하여 이치화 처리가 실시된다. 보다 상세하게는, 상기 제2 임계값(δ2) 이상을 「1(명부)」, 상기 제2 임계값(δ2) 미만을 「0(암부)」으로 하여, 플랜지부 검사용의 농담 화상(Xc)이 플랜지부 검사용의 이치화 화상으로 변환되는 동시에, 이 이치화 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

여기서, 제2 임계값(δ2)은, 제1 임계값(δ1)보다 높고, X선 투과 화상에 있어서의 플랜지부 영역(3b)의 휘도(B4)보다 낮은(어두운) 것이다(도 14 참조). 한편, 도 14는, 제2 임계값(δ2)이나 도 13의 B-B´선 상의 농담 화상(Xc)의 휘도 변화 등을 모식적으로 나타내는 그래프이다. 따라서, 그 이치화 화상에 있어서, 플랜지부(3a)는 「1(명부)」로서, 정제(5)의 파편이나 가루 및 금속편 등은 「0(암부)」으로서 나타나게 된다.

그리고, 플랜지부 검사용의 이치화 화상에 괴처리를 실시함으로써, 암부분의 면적값이 상기 소정값 Lo 이상이 된 괴부분이 추출된다(Lo 미만인 괴가 제거된다). 그리고, 플랜지부(3a)에 괴부분이 존재하는 경우에는, 이물질이 존재한다고 판정되는 한편, 괴부분이 존재하지 않는 경우에는, 이물질이 존재하지 않는다고 판정된다.

결과적으로, 본 실시형태에서는, 정제(5)의 파편 또는 가루가 수용 영역(2b)에 있는 경우, 그 정제(5)의 파편 또는 가루가 이물질로서 검출되지 않고, 정제(5)의 파편 또는 가루가 플랜지부 영역(3b)에 있는 경우, 그 정제(5)의 파편 또는 가루가 이물질로서 검출되게 되어 있다.

본 실시형태에서는, 「마이크로컴퓨터(71)」, 「설정 데이터 기억 장치(76)」 및 영역 특정용 소프트웨어(77a)를 기억하는 「검사 루틴 기억 장치(77)」에 의해, 「영역 특정 수단」으로서의 「영역 특정부(78)」(도 5 참조)가 구성된다. 또한, 「마이크로컴퓨터(71)」, 「설정 데이터 기억 장치(76)」 및 양부 판정용 소프트웨어(77b)를 기억하는 「검사 루틴 기억 장치(77)」에 의해, 「이물질 유무 판정 수단」으로서의 「이물질 유무 판정부(79)」(도 5 참조)가 구성된다.

다음으로 X선 검사 장치(45)에 의해 행하여지는 검사 공정을 포함하는, PTP 시트(1)의 제조 공정에 대하여 설명한다.

도 7에 나타내는 바와 같이, 먼저, 단계 S1의 포켓부 형성 공정에 있어서, 용기 필름(3)에 대하여, 포켓부 형성 장치(16)에 의해 포켓부(2)가 순차적으로 형성되어 간다. 이어서, 단계 S2의 충전 공정에 있어서, 정제 충전 장치(21)에 의해 포켓부(2)의 수용 공간(2a)으로 정제(5)가 충전된다.

충전 공정에 이어서는, 단계 S3의 취착 공정이 행하여진다. 취착 공정에서는, 상기 양 롤(20, 23) 사이에, 반송되는 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이 보내짐으로써, 용기 필름(3)에 커버 필름(4)이 취착되어, PTP 필름(9)이 얻어진다.

그 후, X선 검사 장치(45)를 사용한 단계 S4의 검사 공정이 행하여진다. 검사 공정 S4는, 단계 S41의 조사 공정, 단계 S42의 촬상 공정 및 단계 S43의 양부 판정 공정을 포함한다.

단계 S41의 조사 공정에서는, 마이크로컴퓨터(71)에 의해 X선 조사 장치(51) 및 X선 라인 센서 카메라(52)가 구동 제어됨으로써, PTP 필름(9)에 대하여 X선이 조사된다. 또한, 단계 S42의 촬상 공정에서는, PTP 필름(9)이 소정량 반송될 때마다, X선 라인 센서 카메라(52)에 의해, PTP 필름(9)을 투과한 X선을 촬상한 일차원적인 X선 투과 화상이 취득된다.

그리고, X선 라인 센서 카메라(52)에 의해 취득된 X선 투과 화상은, 그 카메라(52) 내부에 있어서 디지털 신호로 변환된 뒤에, 디지털 신호의 형태로 제어 처리 장치(53)(화상 데이터 기억 장치(74))에 대하여 출력된다.

보다 상세하게는, X선 조사 장치(51)로부터 PTP 필름(9)에 대하여 상시 X선을 조사한 상태에서, 상기 인코더로부터 타이밍 신호가 마이크로컴퓨터(71)로 입력되면, 마이크로컴퓨터(71)에 의해, X선 라인 센서 카메라(52)에 의한 노광 처리가 개시된다.

그리고, 다음의 타이밍 신호가 입력되면, 그때까지 포토다이오드 등의 수광부에 축적된 전하가 통합하여 시프트 레지스터로 전송된다. 계속해서, 시프트 레지스터에 전송된 전하가, 다음의 타이밍 신호가 입력될 때까지의 동안에, 전송 클록 신호에 따라, 순차적으로, 화상 신호(X선 투과 화상)로서 출력된다.

즉, 상기 인코더로부터 소정의 타이밍 신호를 입력한 시점부터, 다음으로 타이밍 신호를 입력할 때까지의 시간이 X선 라인 센서 카메라(52)에 있어서의 노광 시간이 된다.

한편, 본 실시형태에서는, PTP 필름(9)의 반송 방향에 있어서의 X선 라인 센서(52a)의 폭, 즉 CCD 1개분의 폭에 상당하는 길이만큼, PTP 필름(9)이 반송될 때마다, X선 라인 센서 카메라(52)에 의해 X선 투과 화상이 취득되는 구성으로 되어 있다. 물론, 이와는 다른 구성을 채용해도 된다.

X선 라인 센서 카메라(52)로부터 출력된 X선 투과 화상은, 화상 데이터 기억 장치(74)에 시계열로 순차적으로 기억되어 간다.

그리고, PTP 필름(9)이 소정량 반송될 때마다 상기 일련의 처리가 반복하여 행하여짐으로써, 화상 데이터 기억 장치(74)에는, 최종적으로 PTP 필름(9)의 폭 방향으로 늘어서는 2매의 PTP 시트(1)에 관련된 X선 투과 화상이 기억된다. 이와 같이 하여, 제품이 되는 PTP 시트(1)에 관련된 X선 투과 화상이 취득되면, 마이크로컴퓨터(71)에 의해, 단계 S43의 양부 판정 공정이 실행된다.

단계 S43의 양부 판정 공정(검사 루틴)에서는, 단계 S431의 영역 특정 공정 및 단계 S433의 이물질 유무 판정 공정이 이 순서로 행하여진다. 한편, 양부 판정 공정은, 제품이 되는 각 PTP 시트(1)의 각각에 대하여 행하여지는 처리이다. 따라서, 본 실시형태에서는, PTP 필름(9)이 1매의 PTP 시트(1)에 상당하는 분만큼 반송될 때마다, X선 투과 화상에 포함되는 2매의 PTP 시트(1)에 관련된 부분의 각각에 대하여 양부 판정 공정이 행하여지게 된다.

먼저, 단계 S431의 영역 특정 공정에 대하여 도 8의 플로우차트를 참조하여 설명한다. 영역 특정 공정에서는, 먼저, 단계 S4311의 검사 화상 취득 처리가 실행된다. 상세하게는, X선 투과 화상 중, 검사 대상이 되는 PTP 시트(1)에 관련된 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)로부터 검사 화상으로서 판독 출력된다.

이어서, 단계 S4312에 있어서, 판독 출력된 검사 화상에 대하여 상기 시트 프레임이 설정됨으로써, X선 투과 화상에 있어서의 검사 영역(Kb)이 획정되어, 시트 농담 화상(Xa)이 얻어진다. 얻어진 시트 농담 화상(Xa)은, 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

한편, 본 실시형태에 있어서, 상기 시트 프레임의 설정 위치는, PTP 필름(9)과의 상대 위치 관계에 의해 미리 정해져 있다. 그 때문에, 본 실시형태에서는, 시트 프레임의 설정 위치가 검사 화상에 따라 그때마다, 위치 조정되는 일은 없으나, 이에 한정하지 않고, 위치 어긋남의 발생 등을 고려하여, X선 투과 화상으로부터 얻어지는 정보를 기초로 시트 프레임의 설정 위치를 적절히 조정하는 구성으로 해도 된다.

또한, 계속되는 단계 S4313의 정제 부분 특정 처리에 있어서는, 먼저, 제3 임계값(δ3)을 이용하여, 얻어진 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 이치화 처리가 실시되는 동시에, 그 처리에 의해 얻어진 이치화 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 그 후, 상기 이치화 화상에 대하여 괴처리가 실행되는 동시에, 괴처리에 의해 특정된 「0(암부)」의 연결 성분 중에서, 정제(5)에 상당하는 연결 성분(정제(5)에 상당하는 부분)이 특정된다.

이어서, 단계 S4314에 있어서, 괴처리에 의해 특정된 정제(5)에 상당하는 부분의 주위에 위치하는 고리상의 그림자 부분(2c)이 특정된다.

그 후, 단계 S4315에 있어서, 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa))에 있어서의 그림자 부분(2c)의 내측이 수용 영역(2b)으로서 특정된다. 그리고, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 특정된 수용 영역(2b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되는 동시에, 이러한 마스킹 처리에 의해 얻어진, 수용 공간 검사용의 농담 화상(Xb)이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

그리고, 영역 특정 공정의 마지막에는, 단계 S4316의 플랜지부 영역 특정 처리가 행하여진다. 단계 S4316에 있어서는, 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa)) 중 수용 영역(2b) 이외의 영역을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되는 동시에, 이러한 마스킹 처리에 의해 얻어진, 플랜지부 검사용의 농담 화상(Xc)이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

이어서, 단계 S433의 이물질 유무 판정 공정에 대하여 도 9의 플로우차트를 참조하여 설명한다.

먼저, 단계 S4331에 있어서, 단계 S4315의 처리에서 얻어진 수용 공간 검사용의 농담 화상(Xb)에 대하여, 제1 임계값(δ1)을 이용하여 이치화 처리가 실시되는 동시에, 이치화 처리에 의해 얻어진 수용 공간 검사용의 이치화 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 이어서, 단계 S4332에 있어서, 수용 공간 검사용의 이치화 화상에 대하여 괴처리가 실시됨으로써, 면적값이 상기 소정값 Lo 이상이 된 괴부분이 추출된다.

그 후, 단계 S4333에 있어서, 전체 포켓부(2)의 이물질 유무 플래그의 값이 「0」으로 설정된다. 「이물질 유무 플래그」는, 포켓부(2)(수용 공간(2a))에 있어서의 이물질의 유무에 관련된 판정 결과를 나타내기 위한 것으로, 연산 결과 기억 장치(75)에 설정된다. 포켓부(2)에 이물질이 존재하지 않는 경우에는, 그 포켓부(2)에 대응하는 이물질 유무 플래그의 값이 「1」로 설정된다.

계속되는 단계 S4334에 있어서는, 연산 결과 기억 장치(75)에 설정된 포켓 번호 카운터의 값 C가 초기값인 「1」로 설정된다. 한편, 「포켓 번호」란, 1매의 PTP 시트(1)에 관련된 검사 영역(Kb) 내에 있어서의 10개의 포켓부(2)의 각각에 대응하여 설정된 일련번호로, 포켓 번호 카운터의 값 C(이하, 간단히 「포켓 번호 C」라고 한다)에 의해, 포켓부(2)나 수용 영역(2b)의 위치를 특정할 수 있다.

그리고, 단계 S4335에 있어서, 포켓 번호 C가 1 검사 영역당(1매의 PTP 시트(1)당)의 포켓수 N(본 실시형태에서는 「10」) 이하인지의 여부가 판정된다.

단계 S4335에서 긍정 판정된 경우에는 단계 S4336으로 이행하여, 상기 수용 공간 검사용의 이치화 화상을 기초로, 현재의 포켓 번호 C(예를 들어 C=1)에 대응하는 수용 영역(2b)(포켓부(2))에 있어서의, 이물질의 유무가 판정된다. 여기서는, 수용 영역(2b)에 괴부분이 있으면, 그 수용 영역(2b)에는 금속편 등의 이물질이 있다고 판정되고, 그대로 단계 S4338로 이행한다. 한편, 수용 영역(2b)에 괴부분이 없으면, 단계 S4337로 이행한다.

단계 S4337에서는, 현재의 포켓 번호 C에 대응하는 수용 영역(2b)(포켓부(2))에 금속편 등의 이물질은 없다고 판정되고, 그 포켓 번호 C에 대응하는 이물질 유무 플래그의 값이 「1」로 설정된다. 그 후, 단계 S4338로 이행한다.

단계 S4338에서는, 현재의 포켓 번호 C에 「1」이 더하여짐으로써, 새로운 포켓 번호 C가 설정된다. 그 후, 단계 S4335로 되돌아간다.

그리고, 새롭게 설정한 포켓 번호 C가 아직 포켓수 N(본 실시형태에서는 「10」) 이하인 경우에는, 다시 단계 S4336으로 이행하여, 상기 일련의 이물질 유무에 관련된 판정 처리가 반복 실행된다.

한편, 새롭게 설정한 포켓 번호 C가 포켓수 N을 초과하였다고 판정된 경우, 즉 단계 S4335에서 부정 판정된 경우에는, 모든 포켓부(2)(수용 영역(2b))에 관한 이물질의 유무 판정이 종료되었다고 간주하고, 단계 S4339로 이행한다.

단계 S4339에서는, 단계 S4316의 처리에서 얻어진 플랜지부 검사용의 농담 화상(Xc)에 대하여, 제2 임계값(δ2)을 이용하여 이치화 처리가 실시되는 동시에, 이치화 처리에 의해 얻어진 플랜지부 검사용의 이치화 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 이어서, 단계 S4340에 있어서, 플랜지부 검사용의 이치화 화상에 대하여 괴처리가 실시됨으로써, 면적값이 상기 소정값 Lo 이상이 된 괴부분이 추출된다.

계속되는 단계 S4341에서는, 플랜지부(3a)가 양품인지의 여부가 판정된다. 상세하게는, 플랜지부 검사용의 이치화 화상을 기초로, 플랜지부 영역(3b)에 괴부분이 존재하는지의 여부가 판정된다.

여기서 부정 판정된 경우에는 단계 S4342로 이행한다. 한편, 긍정 판정된 경우 즉 플랜지부(3a)에 정제(5)의 파편 등의 이물질이 있다고 판정된 경우에는, 단계 S4344로 이행한다.

단계 S4342에서는, 검사 영역(Kb) 내의 전체 포켓부(2)의 이물질 유무 플래그의 값이 「1」인지의 여부가 판정된다. 여기서 긍정 판정된 경우, 즉 검사 영역(Kb) 내의 모든 포켓부(2)에 이물질이 존재하지 않는 경우에는, 단계 S4343에 있어서, 그 검사 영역(Kb)에 대응하는 PTP 시트(1)가 「양품」이라고 판정되고, 양부 판정 공정이 종료된다.

한편, 단계 S4342에 있어서 부정 판정된 경우, 즉 검사 영역(Kb) 내의 전체 포켓부(2) 중의 적어도 하나에 이물질이 존재하는 경우에는, 단계 S4344로 이행한다.

단계 S4344에서는, 검사 영역(Kb)에 대응하는 PTP 시트(1)가 「불량품」이라고 판정되고, 양부 판정 공정이 종료된다.

한편, 단계 S4343의 양품 판정 처리, 및 단계 S4344의 불량품 판정 처리에서는, 검사 영역(Kb)에 대응하는 PTP 시트(1)에 관한 검사 결과가, 연산 결과 기억 장치(75)에 기억되는 동시에, PTP 포장기(10)(불량 시트 배출 기구를 포함한다)에 대하여 출력된다.

도 7로 되돌아가, 단계 S4의 검사 공정 후에는, 단계 S5의 절취선 형성 공정에 있어서, 절취선 형성 장치(33)에 의해 PTP 필름(9)의 소정 위치에 절취선이 형성된다. 또한, 계속되는 단계 S6의 각인 공정에 있어서, 각인 장치(34)에 의해 PTP 필름(9)에 각인이 형성된다. 그 후, 단계 S7의 분리 공정이 행하여짐으로써, PTP 시트(1)의 제조 공정이 종료된다. 분리 공정에서는, 시트 블랭킹 장치(37)에 의해 PTP 필름(9)이 블랭킹되어, PTP 필름(9)으로부터 PTP 시트(1)가 분리됨으로써, PTP 시트(1)가 제조된다.

이상에서 상세하게 서술한 바와 같이, 본 실시형태에 의하면, 수용 영역(2b)에 대한 검사에서는, X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa))에 있어서의 휘도가 제1 임계값(δ1)을 하회하는 부분이 이물질이라고 판정되며, 정제(5)의 파편이나 가루가 수용 영역(2b)(수용 공간(2a))에 존재하고 있었다고 해도, 그것을 이물질로서 검출되지 않도록 할 수 있다. 그 때문에, 수용 공간(2a)에 있는 정제(5)의 파편이나 가루를 이유로 하여, PTP 필름(9) 나아가서는 PTP 시트(1)를 불량이라고 판정하는 것을 방지할 수 있다.

한편, 플랜지부 영역(3b)에 대한 검사에서는, X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa))에 있어서의 휘도가 제2 임계값(δ2)을 하회하는 부분이 이물질이라고 판정되며, 정제(5)의 파편이나 가루가 플랜지부 영역(3b)(플랜지부(3a))에 존재한 경우, 이것을 이물질로서 검출할 수 있다. 즉, 플랜지부(3a)에 있는 정제(5)의 파편이나 가루에 기초하여, PTP 필름(9) 나아가서는 PTP 시트(1)를 불량이라고 판정할 수 있다.

이와 같이 본 실시형태에 의하면, 검사 대상이 수용 공간(2a)(수용 영역(2b))인지 플랜지부(3a)(플랜지부 영역(3b))인지의 차이에 따라, 정제(5)의 파편이나 가루가 이물질로서 검출되는지의 여부를 적절하게 바꿀 수 있어, 보다 적정한 양부 판정을 행할 수 있다. 그 결과, 제조 비용의 증대 억제나 포장체의 품질 향상을 도모할 수 있다.

또한, 금속편을 검출 가능하게 되도록 제1 임계값(δ1)이 설정되어 있기 때문에, 결과적으로, 수용 공간(2a)이나 플랜지부(3a)에 존재하는 금속편을 이물질로서 검출할 수 있다. 따라서, PTP 필름(9)에 금속편이 존재하는 경우에는, 금속편의 존재 위치에 상관 없이, PTP 필름(9) 나아가서는 PTP 시트(1)를 불량이라고 판정할 수 있다.

또한, 본 실시형태와 같이, 용기 필름(3)이 포켓부(2)를 갖는 동시에, 용기 필름(3) 등이 금속제 필름 또는 금속층을 갖는 필름으로 형성되어 있는 경우, X선 투과 화상에서는, 정제(5)의 주위에 위치하고 포켓부(2)(수용 공간(2a))의 외연에 대응하는 고리상 부위가, 주위와 비교하여 어두운 그림자 부분으로서 나타나게 된다. 이 점을 이용하여, 본 실시형태에서는, 영역 특정부(78)에 의해, 정제(5)에 상당하는 부분이 특정되는 동시에, 특정한 부분의 주위에 위치하는 고리상의 그림자 부분(2c)이 수용 공간(2a)의 윤곽으로서 특정되고, 그 윤곽의 내측이 수용 영역(2b)으로서 특정된다. 따라서, 수용 영역(2b)을 보다 정확하게, 또한, 비교적 간단히 특정할 수 있다.

〔제2 실시형태〕

이어서, 제2 실시형태에 대하여 상기 제1 실시형태와의 차이점을 중심으로 설명한다. 상기 제1 실시형태와 본 제2 실시형태에서는, 단계 S431의 영역 특정 공정(즉, 영역 특정용 소프트웨어(77a)에 의한 처리) 중, 정제(5)에 상당하는 부분을 특정하는 처리(단계 S4313의 정제 부분 특정 처리) 후의 처리가 다르다.

보다 상세하게는, 본 제2 실시형태에서는, 도 15에 나타내는 바와 같이, 단계 S4313에 이어지는 단계 S4317에 있어서, 특정된 정제(5)에 상당하는 부분(정제 영역(5b))을 팽창시키는 처리가 행하여진다. 이 처리는, 예를 들어, 정제(5)에 상당하는 부분(정제 영역(5b))의 중심 또는 무게 중심을 특정한 뒤에, 그 중심 또는 무게 중심을 중심으로 하여, 그 정제(5)에 상당하는 부분(정제 영역(5b))을 미리 설정된 배율로 확대시키는 처리이다.

그 후, 단계 S4318에 있어서, 정제(5)에 상당하는 부분(정제 영역(5b))을 팽창시켜 이루어지는 영역이, 수용 영역(2b)으로서 특정된다. 그리고, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 수용 영역(2b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되는 동시에, 이러한 마스킹 처리에 의해 얻어진 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

또한, 단계 S4319에 있어서, 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa)) 중, 단계 S4318에서 특정된 수용 영역(2b) 이외의 영역이, 플랜지부 영역(3b)으로서 특정된다. 그리고, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 플랜지부 영역(3b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되는 동시에, 이러한 마스킹 처리에 의해 얻어진 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 한편, 이물질 유무 판정 공정은, 상기 제1 실시형태와 동일하게 행하여진다.

이상, 본 제2 실시형태에 의하면, 비교적 간단한 처리에 의해, 수용 영역(2b)을 어느 정도 정확하게 특정(추정)할 수 있다. 따라서, 양부 판정에 관련된 처리 부담의 저감을 도모하면서, 충분히 양호한 검사 정밀도를 담보할 수 있다.

〔제3 실시형태〕

이어서, 제3 실시형태에 대하여 상기 제1 실시형태와의 차이점을 중심으로 설명한다. 상기 제1 실시형태와 본 제3 실시형태에서는, 단계 S431의 영역 특정 공정(즉, 영역 특정용 소프트웨어(77a)에 의한 처리) 중, 정제(5)에 상당하는 부분을 특정하는 처리(단계 S4313의 정제 부분 특정 처리) 후의 처리가 다르다.

보다 상세하게는, 본 제3 실시형태에서는, 도 16에 나타내는 바와 같이, 단계 S4313의 처리에 의해 정제(5)에 상당하는 부분이 특정된 후, 단계 S4320에 있어서, 특정된 정제(5)에 상당하는 부분(정제 영역(5b))에 있어서의 중심 또는 무게 중심을 특정하는 처리가 행하여진다.

그 후, 단계 S4321에 있어서, 특정한 중심 또는 무게 중심과, 설정 데이터 기억 장치(76)에 기억된 설계상의 포켓부(2)의 데이터에 기초하여, 수용 영역(2b)이 특정된다. 설계상의 포켓부(2)의 데이터는, 설정 데이터 기억 장치(76)에 미리 기억되어 있다. 예를 들어, 특정한 중심 또는 무게 중심에 대하여, 설계상에 있어서의 포켓부(2)가 차지하는 평면 영역의 중심을 중첩한 상태로 하였을 때에, 그 평면 영역과 겹쳐지는 영역이 수용 영역(2b)으로서 특정된다. 그리고, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 수용 영역(2b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되는 동시에, 이러한 마스킹 처리에 의해 얻어진 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

그 후, 단계 S4322에 있어서, 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa)) 중, 단계 S4321에서 특정된 수용 영역(2b) 이외의 영역이 플랜지부 영역(3b)으로서 특정된다. 또한, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 플랜지부 영역(3b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되는 동시에, 이러한 마스킹 처리에 의해 얻어진 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 한편, 이물질 유무 판정 공정은, 상기 제1 실시형태와 동일하게 행하여진다.

이상, 본 제3 실시형태에 의하면, 비교적 간단한 처리에 의해, 수용 영역(2b)을 어느 정도 정확하게 특정(추정)할 수 있다. 이에 의해, 양부 판정에 관련된 처리 부담의 저감을 도모하면서, 충분히 양호한 검사 정밀도를 담보할 수 있다.

〔제4 실시형태〕

이어서, 제4 실시형태에 대하여 상기 제1 실시형태와의 차이점을 중심으로 설명한다. 본 제4 실시형태에서는, 도 17, 18에 나타내는 바와 같이, X선 검사 장치(45)는, X선 조사 장치(51) 및 X선 라인 센서 카메라(52)보다 상류에 배치 설치된 카메라(54)를 구비하고 있다. 본 실시형태에서는, 「카메라(54)」가 「외관 촬상 수단」을 구성한다. 또한, 수용 공간(2a)의 위치를 특정하기 위한 수용 공간 특정용 소프트웨어(77c)가 검사 루틴 기억 장치(77)에 기억되어 있다. 그리고, 마이크로컴퓨터(71)에 의해 수용 공간 특정용 소프트웨어(77c)가 실행됨으로써, 카메라(54)에 의해 취득된 PTP 필름(9)의 외관 화상을 기초로, 수용 공간(2a)의 위치가 특정되게 되어 있다.

카메라(54)로는, 소정의 가시광(예를 들어 적외광)에 감도가 있는 CCD 카메라가 채용되어 있다. 카메라(54)는, 도시하지 않은 조명 장치로부터 조사된 가시광(예를 들어 적외광)이 PTP 필름(9)을 비추고 있을 때에, 그 PTP 필름(9)을 반사한 광을 촬상한다. 카메라(54)가 촬상하여 얻어진 외관 화상(휘도 화상)은, 카메라(54) 내부에 있어서 디지털 신호(화상 신호)로 변환된 뒤에, 디지털 신호의 형태로 마이크로컴퓨터(71)에 입력되게 되어 있다.

또한, 본 제4 실시형태에서는, 영역 특정용 소프트웨어(77a)의 실행 전에, 마이크로컴퓨터(71)에 의해 수용 공간 특정용 소프트웨어(77c)가 실행된다. 수용 공간 특정용 소프트웨어(77c)가 실행되면, 카메라(54)에 의해 얻어진 외관 화상에 대하여 이치화 처리나 괴처리 등이 실시됨으로써, 외관 화상에 있어서의 수용 공간(2a)(포켓부(2))의 위치가 특정된다. 본 실시형태에서는, 「마이크로컴퓨터(71)」 및 수용 공간 특정용 소프트웨어(77c)를 기억하는 「검사 루틴 기억 장치(77)」에 의해, 「수용 공간 특정 수단」으로서의 「수용 공간 특정부(80)」가 구성된다.

또한, 상기 제1 실시형태와 본 제4 실시형태에서는, 단계 S431의 영역 특정 공정(즉, 영역 특정용 소프트웨어(77a)에 의한 처리)이 다르다.

보다 상세하게는, 본 제4 실시형태에서는, 도 19에 나타내는 바와 같이, 먼저, 단계 S4322에 있어서, PTP 필름(9)이 소정량 반송될 때마다, 카메라(54)에 의해, PTP 필름(9)을 반사한 광에 의한 이차원적인 외관 화상이 취득된다. 이 외관 화상에는, PTP 필름(9)의 폭 방향으로 늘어서는 2매의 PTP 시트(1)에 관련된 부분이 포함된다.

계속되는 단계 S4323에서는, 취득된 외관 화상을 기초로, 이치화 처리나 괴처리 등이 실시됨으로써, 수용 공간(2a)이 특정된다. 예를 들어, 외관 화상에 이치화 처리 및 괴처리가 실시된 뒤에, 괴부분의 형상이나 좌표를 이용하여 포켓부(2)의 외연에 상당하는 부분이 추출되고, 이 추출된 부분에 둘러싸이는 영역이 수용 공간(2a)으로서 특정된다.

그 후, 단계 S4324에 있어서, 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa))에 있어서, 특정된 수용 공간(2a)(포켓부(2))의 위치에 기초하여, 수용 영역(2b)을 특정하는 처리가 행하여진다. 예를 들어, 특정된 수용 공간(2a)(포켓부(2))의 위치 좌표가, 외관 화상과 검사 영역(Kb)에 대응하는 X선 투과 화상(시트 농담 화상(Xa))의 위치 어긋남의 분만큼 보정된다. 게다가, 시트 농담 화상(Xa) 중 보정 후의 수용 공간(2a)(포켓부(2))의 위치 좌표에 대응하는 영역이, 수용 영역(2b)으로서 특정된다. 그리고, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 수용 영역(2b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되어 이루어지는 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다.

그리고 마지막으로, 단계 S4325에 있어서, 특정된 수용 영역(2b) 이외의 영역이 플랜지부 영역(3b)으로서 특정되는 동시에, 시트 농담 화상(Xa)에 대하여 플랜지부 영역(3b)만을 추출하기 위한 마스킹 처리가 실시되어 이루어지는 화상이 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 한편, 이물질 유무 판정 공정은, 상기 제1 실시형태와 동일하게 행하여진다.

이상, 본 제4 실시형태에 의하면, 카메라(54) 및 수용 공간 특정부(80)에 의해, PTP 필름(9)에 있어서의 수용 공간(2a)의 실제의 위치가 특정되고, 이 특정된 위치에 기초하여 수용 영역(2b)이 특정된다. 따라서, 수용 영역(2b)을 매우 정확하게 특정할 수 있어, 우수한 검사 정밀도를 실현할 수 있다.

한편, 상기 실시형태의 기재 내용에 한정되지 않고, 예를 들어 다음과 같이 실시해도 된다. 물론, 이하에 있어서 예시하지 않는 다른 응용예, 변경예도 당연히 가능하다.

(a) 시트상 포장체(포장 시트)의 구성은, 상기 실시형태에 따른 PTP 시트(1)에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어 SP 시트를 검사 대상으로 해도 된다.

도 20에 나타내는 바와 같이, 일반적인 SP 시트(90)는, 알루미늄을 기재로 한 불투명 재료로 이루어지는 띠상의 2매의 필름(91, 92)을 중첩해 가는 동시에, 양 필름(91, 92) 사이에 정제(5)를 충전하면서, 그 정제(5)의 주위에 주머니상의 수용 공간(93)을 남기도록, 그 수용 공간(93)의 주위(도 20 중의 망점 모양 부분)의 양 필름(91, 92)을 접합함으로써, 띠상의 포장 필름으로 한 뒤에, 그 포장 필름을 직사각형 시트상으로 분리함으로써 형성되어 있다.

한편, SP 시트(90)에는, 1개의 수용 공간(93)을 포함하는 시트 소편(94) 단위로 분리 가능하게 하기 위한 분리선으로서, 시트 길이 방향을 따라 형성된 세로 절취선(95), 및 시트 폭 방향을 따라 형성된 가로 절취선(96)을 형성해도 된다. 또한, SP 시트(90)에는, 시트 길이 방향 일단부에 있어서, 각종 정보(본 실시형태에서는 「ABC」의 문자)가 인쇄된 태그부(97)를 부설해도 된다.

(b) PTP 시트(1) 단위의 포켓부(2)의 배열이나, 개수도 상기 실시형태의 양태(2열, 10개)에 조금도 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 3열 12개의 포켓부(2)(수용 공간(2a))를 갖는 타입을 비롯하여, 여러 가지 배열, 개수로 이루어지는 PTP 시트를 채용할 수 있다(상기 SP 시트에 대해서도 동일). 물론, 1개의 시트 소편에 포함되는 포켓부(2)(수용 공간(2a))의 수도 상기 실시형태에 조금도 한정되는 것은 아니다.

(c) 상기 실시형태에 따른 PTP 시트(1)에는, 분리선으로서, PTP 시트(1)의 두께 방향으로 관통한 절삭이 단속적으로 늘어선 절취선(7)이 형성되어 있으나, 분리선은, 이에 한정되는 것은 아니며, 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)의 재질 등에 따라 다른 구성을 채용해도 된다. 예를 들어, 단면 대략 V자상의 슬릿(하프컷선)과 같은 비관통의 분리선을 형성한 구성으로 해도 된다. 또한, 절취선(7) 등의 분리선이 형성되지 않는 구성으로 해도 된다.

(d) 제1 필름 및 제2 필름의 재질이나 층 구조 등은, 상기 실시형태에 따른 용기 필름(3)이나 커버 필름(4)에 관련된 구성에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어 상기 실시형태에서는, 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이, 알루미늄 등의 금속 재료를 기재로 하여 형성되어 있으나, 이에 한정하지 않고, 다른 재질의 것을 채용해도 된다. 예를 들어 가시광 등을 투과하지 않는 합성 수지 재료 등을 채용해도 된다.

(e) 띠상 포장체의 구성은 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니며, 다른 구성을 채용해도 된다.

상기 실시형태에 있어서, PTP 필름(9)은, 그 폭 방향을 따라 2시트분에 대응하는 수의 포켓부(2)가 배열된 구성으로 되어 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 예를 들어, 그 폭 방향을 따라 1시트분에 대응하는 수의 포켓부(2)가 배열된 구성이어도 된다. 물론, PTP 필름(9)은, 그 폭 방향을 따라 3매 이상의 시트분에 대응하는 수의 포켓부(2)가 배열된 구성이어도 된다.

또한, 상기 실시형태에서는, PTP 필름(9)의 폭 방향 중앙부에, 2매의 PTP 시트(1)의 각 태그부(8)에 대응하는 부위가 배치되도록 구성되어 있다. 이에 대하여, 2매의 PTP 시트(1)의 각 태그부(8)에 대응하는 부위가, PTP 필름(9)의 폭 방향 양단부에 배치되도록 구성해도 된다. 또한, 2매의 PTP 시트(1) 중, 일방의 PTP 시트(1)의 태그부(8)에 대응하는 부위가 PTP 필름(9)의 폭 방향 중앙부에 배치되고, 타방의 PTP 시트(1)의 태그부(8)에 대응하는 부위가 PTP 필름(9)의 폭 방향 단부에 배치되도록 구성해도 된다.

(f) 전자파 조사 수단의 구성은 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 상기 실시형태에서는, 전자파로서 X선을 조사하는 구성으로 되어 있으나, 이에 한정하지 않고, 테라헤르츠 전자파 등, PTP 필름(9)을 투과하는 다른 전자파를 사용하는 구성으로 해도 된다.

(g) 촬상 수단의 구성은 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어 상기 실시형태에서는, 촬상 수단으로서 신틸레이터를 사용한 CCD 카메라(X선 라인 센서 카메라(52))를 채용하였으나, 이에 한정하지 않고, X선을 다이렉트로 입사하여 촬상하는 카메라를 채용해도 된다.

또한, 상기 실시형태에서는, 촬상 수단으로서 CCD를 1열로 나열한 X선 라인 센서 카메라(52)를 채용하고 있으나, 이에 한정하지 않고, 예를 들어 PTP 필름(9)의 반송 방향으로 CCD열(검출 소자열)을 복수열 구비한 X선 TDI(Time Delay Integration) 카메라를 채용해도 된다. 이에 의해, 검사 정밀도 및 검사 효율의 가일층의 향상을 도모할 수 있다.

(h) X선 검사 장치(45)에 관련된 구성이나 배치 위치 등은, 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니다.

예를 들어 상기 실시형태에서는, PTP 필름(9)이 상하 방향으로 반송되는 위치에 있어서 X선 검사 장치(45)가 배치된 구성으로 되어 있으나, 이에 한정하지 않고, 예를 들어 PTP 필름(9)이 수평 방향으로 반송되는 위치나, 경사지게 반송되는 위치에 X선 검사 장치(45)를 배치한 구성으로 해도 된다.

또한, PTP 필름(9)의 크기나 레이아웃 등에 맞추어, X선 조사 장치(51) 및 X선 라인 센서 카메라(52)를, PTP 필름(9)의 반송 방향이나 PTP 필름(9)의 폭 방향, PTP 필름(9)에 대한 접리 방향을 따라 이동 가능한 위치 조정 기구(위치 조정 수단)를 구비한 구성으로 해도 된다.

또한, 상기 실시형태에서는, X선 조사 장치(51)가 PTP 필름(9)의 용기 필름(3)측에 배치되고, X선 라인 센서 카메라(52)가 PTP 필름(9)의 커버 필름(4)측에 배치된 구성으로 되어 있으나, 양자의 위치 관계를 반대로 하여, X선 조사 장치(51)를 커버 필름(4)측에 배치하고, X선 라인 센서 카메라(52)를 용기 필름(3)측에 배치한 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 「용기 필름(3)」이 「제2 필름」을 구성하고, 「커버 필름(4)」이 「제1 필름」을 구성하게 된다.

(i) 상기 실시형태에서는, PTP 필름(9)으로부터 PTP 시트(1)가 블랭킹되는 것보다 전공정에 있어서 X선 검사 장치(45)에 의한 X선 검사가 행하여지는 구성으로 되어 있으나, 이에 한정하지 않고, PTP 필름(9)으로부터 PTP 시트(1)가 블랭킹된 후공정에 있어서, PTP 시트에 대하여 검사를 행하는 구성으로 해도 된다. 예를 들어, 컨베이어(39)에 의해 반송되고 있는 PTP 시트(1)에 대하여 검사를 행하는 구성으로 해도 된다. 이 경우, 「PTP 시트(1)」가 「포장체」를 구성한다.

또한, 이 경우에는, X선 검사 장치(45)가 PTP 포장기(10) 내에 설치된 구성(인라인 구성)으로 해도 되고, X선 검사 장치(45)가 PTP 포장기(10)와는 별도로 설치된 구성(오프라인 구성)으로 해도 된다. 단, 오프라인 구성의 경우에는, 검사 대상이 되는 PTP 시트(1)의 위치나 방향이 X선 검사 장치(45)에 대하여 일정해지지않을 우려가 있기 때문에, 검사를 행함에 있어서, 사전에 PTP 시트(1)의 위치나 방향을 조정할 필요가 있다. 한편, PTP 시트(1)의 위치나 방향의 조정은 검사 속도 및 검사 정밀도의 저하를 초래할 우려가 있기 때문에, 이 점을 고려하면, 인라인 구성을 채용하는 편이 바람직하다.

(j) 상기 제4 실시형태에 있어서, 카메라(54)는, X선 조사 장치(51) 등보다 상류에 배치되어 있으나, X선 조사 장치(51) 등보다 하류에 배치해도 된다. 이 경우에는, 카메라(54)에 의해 PTP 필름(9)의 외관 화상이 얻어진 단계에서, 그 외관 화상의 취득 전에 얻어진 X선 투과 화상에 기초하여, 양부 판정 공정이 행하여지게 된다.

1…PTP 시트, 2…포켓부, 2a…수용 공간, 2b…수용 영역, 2c…그림자 부분, 3…용기 필름(제1 필름), 3a…플랜지부, 3b…플랜지부 영역, 4…커버 필름(제2 필름), 5…정제, 9…PTP 필름(포장체), 10…PTP 포장기(포장체 제조 장치), 45…X선 검사 장치(검사 장치), 51…X선 조사 장치(전자파 조사 수단), 52…X선 라인 센서 카메라(촬상 수단), 53…제어 처리 장치(화상 처리 장치), 54…카메라(외관 촬상 수단), 78…영역 특정부(영역 특정 수단), 79…이물질 유무 판정부(이물질 유무 판정 수단), 80…수용 공간 특정부(수용 공간 특정 수단).

Claims (9)

1. 불투명 재료로 이루어지는 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 제2 필름이 취착(取着)되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 검사하기 위한 검사 장치로서,
   상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 전자파 조사 수단과,
   상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치되는 동시에, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 수단과,
   상기 촬상 수단에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관련된 검사를 실행 가능한 화상 처리 수단을 구비하는 동시에,
   상기 화상 처리 수단은,
   상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 수단과,
   소정의 제1 임계값을 이용하여 상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 동시에, 소정의 제2 임계값을 이용하여 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 이물질 유무 판정 수단을 갖고,
   상기 제1 임계값은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 정제에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되고,
   상기 제2 임계값은, 상기 제1 임계값보다 높고, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 상기 플랜지부에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
2. 불투명 재료로 이루어지는 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 제2 필름이 취착되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 검사하기 위한 검사 장치로서,
   상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 전자파 조사 수단과,
   상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치되는 동시에, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 수단과,
   상기 촬상 수단에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관련된 검사를 실행 가능한 화상 처리 수단을 구비하는 동시에,
   상기 화상 처리 수단은,
   상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 수단과,
   상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무 및 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 각각 판정하는 이물질 유무 판정 수단을 갖고,
   상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하기 위한 제1 임계값과, 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하기 위한 제2 임계값을 각각 따로따로의 다른 값으로 설정한 것을 특징으로 하는 검사 장치.
3. 불투명 재료로 이루어지는 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 제2 필름이 취착되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 검사하기 위한 검사 장치로서,
   상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 전자파 조사 수단과,
   상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치되는 동시에, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 수단과,
   상기 촬상 수단에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관련된 검사를 실행 가능한 화상 처리 수단을 구비하는 동시에,
   상기 화상 처리 수단은,
   상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 수단과,
   상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무 및 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 각각 판정하는 이물질 유무 판정 수단을 갖고,
   상기 이물질 유무 판정 수단은, 정제의 파편 또는 가루가 상기 수용 영역에 있는 경우, 그 정제의 파편 또는 가루를 이물질로서 검출하지 않고, 정제의 파편 또는 가루가 상기 플랜지부 영역에 있는 경우, 그 정제의 파편 또는 가루를 이물질로서 검출 가능하게 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 제1 필름 및 상기 제2 필름 중의 적어도 일방은, 내부 공간이 상기 수용 공간을 형성하는 포켓부를 갖는 동시에, 금속제 필름 또는 금속층을 갖는 필름으로 구성되어 있고,
   상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 정제에 상당하는 부분을 특정하는 동시에, 특정한 부분의 주위에 위치하는 고리상의 그림자 부분을 상기 수용 공간의 윤곽으로서 특정하고, 그 윤곽의 내측을 상기 수용 영역으로서 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
5. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 정제에 상당하는 부분을 특정하는 동시에, 특정한 부분을 팽창시켜 이루어지는 영역을 상기 수용 영역으로서 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
6. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 정제에 상당하는 부분을 특정하는 동시에, 특정한 부분의 중심 또는 무게 중심을 취득하고, 취득한 중심 또는 무게 중심 및 상기 수용 공간의 위치에 관한 설계상의 데이터에 기초하여 상기 수용 영역을 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
7. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 포장체를 촬상하여, 상기 포장체의 외관에 관련된 외관 화상을 취득하는 외관 촬상 수단과,
   상기 외관 촬상 수단에 의해 취득된 외관 화상에 있어서의 상기 수용 공간의 위치를 특정하는 수용 공간 특정 수단을 갖고,
   상기 영역 특정 수단은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간 특정 수단에 의해 특정된 상기 수용 공간의 위치에 기초하여 상기 수용 영역을 특정하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 검사 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 포장체 제조 장치.
9. 불투명 재료로 이루어지는 띠상의 제1 필름과, 불투명 재료로 이루어지는 띠상의 제2 필름이 취착되는 동시에, 그 양 필름간에 형성되는 수용 공간 내에 정제가 수용된 포장체를 얻을 때에 이용되는 포장체 제조 방법으로서,
   반송되는 띠상의 상기 제1 필름과, 반송되는 띠상의 상기 제2 필름을 취착하는 취착 공정과,
   상기 제1 필름과 상기 제2 필름 사이에 형성되는 상기 수용 공간 내에 정제를 충전하는 충전 공정과,
   상기 취착 공정 및 상기 충전 공정을 거쳐 얻어진 상기 포장체의 검사를 실행하는 검사 공정을 구비하고,
   상기 검사 공정은,
   소정의 전자파 조사 수단에 의해, 상기 포장체에 대하여, 상기 제1 필름측으로부터 상기 포장체를 투과 가능한 전자파를 조사하는 조사 공정과,
   상기 포장체를 사이에 두고 상기 전자파 조사 수단과 대향하도록 상기 제2 필름측에 배치된 촬상 수단을 사용하여, 상기 포장체를 투과한 전자파에 기초하여, 휘도에 관련된 농담을 갖는 전자파 투과 화상을 취득하는 촬상 공정과,
   상기 촬상 공정에 의해 취득된 전자파 투과 화상을 기초로, 상기 포장체에 관한 양부 판정을 행하는 양부 판정 공정을 포함하고,
   상기 양부 판정 공정은,
   상기 전자파 투과 화상에 있어서의 소정의 검사 영역에 있어서, 상기 수용 공간에 대응하는 수용 영역 및 상기 수용 공간의 둘레의 플랜지부에 대응하는 플랜지부 영역을 특정하는 영역 특정 공정과,
   소정의 제1 임계값을 이용하여 상기 수용 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 동시에, 소정의 제2 임계값을 이용하여 상기 플랜지부 영역에 있어서의 이물질의 유무를 판정하는 이물질 유무 판정 공정을 갖고,
   상기 제1 임계값은, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 정제에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되고,
   상기 제2 임계값은, 상기 제1 임계값보다 높고, 상기 전자파 투과 화상에 있어서의 상기 플랜지부에 상당하는 부분의 휘도보다 낮아지는 값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 포장체 제조 방법.

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