CN113811761A - 检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种可进行更合适的合格与否判定的检查装置等。对PTP薄膜照射X射线，并且根据穿透PTP薄膜的X射线，取得具有亮度的浓淡的X射线穿透图像。根据X射线穿透图像，执行PTP薄膜的检查。就检查而言，特定出和片剂的收容空间相对应的收容区域2b、和收容空间周围的凸缘部相对应的凸缘部区域3b，在各区域检查有无异物。构成为：于片剂的碎片或粉末位于收容区域2b的场合，不将该片剂的碎片或粉末检测为异物，于片剂的碎片或粉末位于凸缘部区域3b的场合，将该片剂的碎片或粉末检测为异物。根据检查对象是收容区域2b或是凸缘部区域3b的差异，可适当地改变片剂的碎片或粉末是否被当成异物检测，可进行更合适的合格与否判定。

Description

检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法
技术领域
本发明有关一种在检查收容有片剂的包装体时所用的装置及方法。
背景技术
在已知的医药品、食品等的各种领域中，作为包装片剂的包装薄片，广泛利用PTP(Press Through Package；泡罩包装)薄片。
PTP薄片为具备形成有收容片剂的袋部的容器膜、及以对其容器膜密封袋部的开口侧的方式安装的盖膜，且构成为，由将袋部从外侧按压，再由其所收容的片剂扎破作为盖的盖膜，可取出该片剂。
这样的PTP薄片经过对带状的容器膜形成袋部的袋部形成工序、于该袋部内充填片剂的充填工序、对以密封该袋部的开口侧的方式对容器膜的袋部周围形成的凸缘部安装带状的盖膜以制造PTP薄膜的安装工序、及从该PTP薄膜切离成为最终制品的PTP薄片的切离工序等所制造。
一般而言，于制造PTP薄片时，进行以PTP薄膜或PTP薄片(以下，将这些总称为包装体)为对象的检查。检查中包含有：和在袋部内的收容空间或袋部周围的凸缘部有无金属片或片剂的碎片、粉末等的异物有关的检查。
近年来，从谋求遮光性或防湿性的提升等这类的观点，容器膜及盖膜两薄膜是由以铝等为基材的不透明材料所形成的情况变多。
这样的场合，上述各种检查为使用X射线检查装置等来进行(例如，参照专利文献1等)。一般而言，X射线检查装置具备对包装体照射X射线的X射线产生器(X射线源)、及检测穿透该包装体的X射线的X射线检测器，根据其X射线的穿透量进行各种检查。又，关于检查方法，已知一种将由X射线检测器所获得的X射线图像按浓淡分类作分段(分割)，由对经分段的各图像应用最佳的异物检测算法，以进行异物的检测的方法(例如，参照专利文献2等)。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本特开2013-253832号公报
[专利文献2]日本特开2004-301748号公报
发明内容
[发明要解决的课题]
即便是在包装体存在可检测为异物的情况(片剂的碎片或粉末、金属片等)的场合，有时会有即便根据该物的存在位置或种类而判定包装体为良品倒也没什么问题的场合。例如，在片剂的碎片或粉末是位于收容空间(袋部内)的场合，若因服用含有存在于此收容空间的碎片或粉末的片剂成分而能获得与服用1锭片剂时相同的效果，则也有不以此片剂的碎片等为由而将包装体判定为不良的场合。另一方面，片剂的碎片或粉末是位于凸缘部时(也即片剂的碎片等被两薄膜包夹时)，因为有招致密封性降低之虞，故有必要以此片剂的碎片等为由将包装体判定为不良。
对此，在上述已知的检查方法中，例如，当为将片剂的碎片或粉末一律检测为异物那样的设定时，会有下述危险，即，不根据片剂的碎片等的存在位置而将包装体判定为不良，结果招致制造成本增大。另一方面，例如，当为将片剂的碎片或粉末一律不检测为异物那样的设定时，会导致将片剂的碎片等位于凸缘部的包装体的情况判定为良品，结果是有招致包装体的质量降低之虞。
此外，上述课题不仅PTP包装，在SP(Strip Package；窄条包装)包装等、包装片剂的其他包装领域中也可能发生。又，不限于X射线，在使用兆赫电磁波等、穿透包装体的其他电磁波的场合也可能发生。
本发明有鉴于上述情况而作出，其目的在于，提供一种可进行更合适的合格与否判定的检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法。
[用以解决课题的方案]
以下，针对适合于解决上述目的的各方案分项作说明。此外，视需要在对应的方案附记特有的作用效果。
方案1.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所成的第1薄膜及由不透明材料所成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该检查装置具备：
电磁波照射机构，对前述包装体照射可从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄机构，以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并且根据穿透前述包装体的电磁波取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；及
图像处理机构，根据由前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，可执行涉及前述包装体的检查，并且
并且，前述图像处理机构具有：
区域特定机构，在前述电磁波穿透图像的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域、和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定机构，使用既定的第1阈值来判定前述收容区域中有无异物，并且使用既定的第2阈值来判定前述凸缘部区域中有无异物，
前述第1阈值设定成比前述电磁波穿透图像中相当于片剂的部分的亮度还低的值，
前述第2阈值设定成比前述第1阈值高且比前述电磁波穿透图像中相当于前述凸缘部的部分的亮度低的值。
此外，在以下的方案也相同，上述“包装体”包含有成为制品的薄片状包装体(例如“PTP薄片”或“SP薄片”等的包装薄片)或该薄片状包装体被切离前的带状包装体(例如“PTP薄膜”或“SP薄膜”等的包装薄膜)。进而，作为电磁波，可举出X射线或兆赫电磁波。
又，“电磁波穿透图像中相当于片剂的部分的亮度”，例如，也可为在将针对包装体的电磁波的照射条件和利用拍摄机构的拍摄条件等设为相同后所事先获得的电磁波穿透图像中的片剂部分的亮度，也可为检查时所取得的相当于片剂的部分的亮度。又，“电磁波穿透图像中相当于凸缘部的部分的亮度”，例如，也可为在将针对包装体的电磁波的照射条件和利用拍摄机构的拍摄条件等设为相同后所事先获得的电磁波穿透图像中的凸缘部的亮度，也可为检查时所取得的相当于凸缘部的部分的亮度。
根据上述方案1，特定出对应收容空间的收容区域及对应凸缘部的凸缘部区域。然后，在收容区域中，使用设定成比电磁波穿透图像中相当于片剂的部分的亮度还低(暗)的值的第1阈值来检查有无异物。因此，就针对于收容区域的检查而言，即便在电磁波穿透图像中的亮度低于第1阈值的部分被判定为异物，片剂的碎片或粉末存在于收容区域(收容空间)，也可不将其检测为异物。因此，可防止以位于收容空间的片剂的碎片或粉末为理由而将包装体判定为不良。
另一方面，在凸缘部区域，使用设定成比第1阈值高且比电磁波穿透图像中相当于凸缘部的部分的亮度低的值的第2阈值来检查有无异物。因此，就针对于凸缘部区域的检查而言，电磁波穿透图像中的亮度低于第2阈值的部分被判定为异物，在片剂的碎片或粉末存在于凸缘部区域(凸缘部)的场合，可将此检测为异物。也即，可根据位于凸缘部的片剂的碎片或粉末，将包装体判定成不良。此外，为了更可靠地将片剂的碎片等当作异物来检测，第2阈值较佳为设定成比电磁波穿透图像中相当于片剂的部分的亮度高的值。
如此一来，根据上述方案1，根据检查对象是收容空间(收容区域)还是凸缘部(凸缘部区域)的差异，可适当地改变是否将片剂的碎片或粉末检测为异物，可进行更合适的合格与否判定。其结果，可谋求抑制制造成本的增大、提升包装体的质量。
此外，根据以可检测金属片的方式设定第1阈值，结果而言，可将存在于收容空间或凸缘部的金属片检测为异物。因此，于包装体存在有金属片的场合，可不根据金属片的存在位置，而将包装体判定为不良。此外，因为通常金属片为被表现成比片剂的碎片等还暗，所以例如，根据将第1阈值设定成比电磁波穿透图像中相当于金属片的部分的亮度高的值，可将金属片检测为异物。
方案2.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所成的第1薄膜及由不透明材料所成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该检查装置具备：
电磁波照射机构，对前述包装体照射可从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄机构，以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并且根据穿透前述包装体的电磁波取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；
图像处理机构，根据由前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，可执行涉及前述包装体的检查，
并且前述图像处理机构具有：
区域特定机构，在前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域、和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定机构，分别判定前述收容区域中有无异物及前述凸缘部区域中有无异物，
将用以判定前述收容区域中有无异物的第1阈值及用以判定前述凸缘部区域中有无异物的第2阈值分别设定成各个不同的值。
根据上述方案2，于特定对应收容空间的收容区域与对应凸缘部的凸缘部区域后，在收容区域中使用第1阈值来判定异物的有无，在凸缘部区域中，使用不同于第1阈值的其他的第2阈值来判定异物的有无。因此，根据检查对象是收容空间还是凸缘部的差异，可适当地改变是否当作异物来检测的情况，能进行更合适的合格与否判定。其结果，可谋求抑制制造成本的增大、提升包装体的质量。
方案3.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所成的第1薄膜及由不透明材料所成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该检查装置具备：
电磁波照射机构，对前述包装体照射可从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄机构，以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并根据穿透前述包装体的电磁波取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；
图像处理机构，根据由前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，可执行涉及前述包装体的检查，
并且，前述图像处理机构具有：
区域特定机构，在前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域及和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定机构，分别判定前述收容区域中有无异物及前述凸缘部区域中有无异物，
前述异物有无判定机构构成为：在片剂的碎片或粉末位于前述收容区域的场合，不将该片剂的碎片或粉末检测为异物，而在片剂的碎片或粉末位于前述凸缘部区域的场合，可将该片剂的碎片或粉末检测为异物。
根据上述方案3，于特定对应收容空间的收容区域与对应凸缘部的凸缘部区域后，在片剂的碎片或粉末位于收容区域的场合，该片剂的碎片或粉末没有被检测为异物，在片剂的碎片或粉末位于凸缘部区域的场合，该片剂的碎片或粉末被检测为异物。因此，根据检查对象是否在收容空间(收容区域)或是否在凸缘部(凸缘部区域)的差异，可适当地改变片剂的碎片或粉末是否被检测为异物，能进行更合适的合格与否判定。其结果，可谋求抑制制造成本的增大、提升包装体的质量。
方案4.如方案1至3中任一方案的检查装置，其中前述第1薄膜及前述第2薄膜中至少一者具有内部空间形成前述收容空间的袋部，并由金属制薄膜或具有金属层的薄膜所构成，
前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域中，特定相当于片剂的部分，并且将位于已特定的部分的周围的环状的暗影特定为前述收容空间的轮廓，将该轮廓的内侧特定为前述收容区域。
在第1薄膜及第2薄膜中至少一者具有袋部，并且以金属制薄膜或具有金属层的薄膜来形成的场合，电磁波穿透图像中，位于片剂的周围且和袋部(收容空间)的外缘相对应的环状部位被表示成比周围还暗的暗影。
利用这点，根据上述方案4，构成为：特定相当于片剂的部分，并将位于已特定的部分周围的环状的暗影特定为收容空间的轮廓，将该轮廓的内侧特定为收容区域。因此，可更正确且较简易地特定收容区域。
方案5.如方案1至3中任一方案的检查装置，其中前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域特定相当于片剂的部分，并且使已特定的部分膨胀所成的区域作为前述收容区域而特定。
根据上述方案5，根据较简单的处理，可将收容区域作某程度正确地特定(推定)。因此，可谋求减低合格与否判定的处理负担，并担保充分良好的检查精度。
此外，上述方案5或后述的方案6、7为，第1薄膜及第2薄膜以不让例如可视光等穿透的合成树脂材料所形成，在电磁波穿透图像中对应收容空间的外缘的环状部位不被表示成暗的暗影那样的场合特别有效。
方案6.如方案1至3中任一方案的检查装置，其中前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域特定相当于片剂的部分，并且取得已特定的部分的中心或重心，根据已取得的中心或重心及前述收容空间的位置有关的设计上的数据来特定前述收容区域。
根据上述方案6，根据较简单的处理可将收容区域作某程度正确地特定(推定)。由此，可谋求减低合格与否判定的处理负担，并担保充分良好的检查精度。
方案7.如方案1至3中任一方案的检查装置，其中具有：
外观拍摄机构，拍摄前述包装体，取得涉及前述包装体的外观的外观图像；
收容空间特定机构，特定由前述外观拍摄机构所取得的外观图像中的前述收容空间的位置，
前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域，根据由前述收容空间特定机构所特定的前述收容空间的位置来特定前述收容区域。
根据上述方案7，根据外观拍摄机构及收容空间特定机构，特定包装体中收容空间的实际位置，根据该特定的位置来特定收容区域。因此，能极正确地特定收容区域，可实现优异的检查精度。
方案8.一种包装体制造装置，其特征为，具备如方案1至7中任一方案的检查装置。
根据上述方案8，可获得和上述方案1等同样的作用效果。
方案9.一种包装体制造方法，为在获得包装体时所用的包装体制造方法，该包装体安装有由不透明材料所成的带状的第1薄膜及由不透明材料所成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该包装体制造方法具备：
安装工序，安装所搬送的带状的前述第1薄膜及所搬送的带状的前述第2薄膜；
充填工序，在前述第1薄膜与前述第2薄膜间所形成的前述收容空间内充填片剂；
检查工序，执行经前述安装工序及前述充填工序所获得的前述包装体的检查，
前述检查工序包含：
照射工序，由既定的电磁波照射机构，对前述包装体照射可从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄工序，使用以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧的拍摄机构，根据穿透前述包装体的电磁波，取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；
合格与否判定工序，根据由前述拍摄工序所取得的电磁波穿透图像，进行有关前述包装体的合格与否判定，
前述合格与否判定工序具有：
区域特定工序，在前述电磁波穿透图像的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域、和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定工序，使用既定的第1阈值来判定前述收容区域中有无异物，并且使用既定的第2阈值来判定前述凸缘部区域中有无异物，
前述第1阈值设定成比前述电磁波穿透图像中相当于片剂的部分的亮度还低的值，
前述第2阈值设定成比前述第1阈值高且比前述电磁波穿透图像中相当于前述凸缘部的部分的亮度还低的值。
根据上述方案9，可获得和上述方案1同样的作用效果。
附图说明
图1为PTP薄片的立体图。
图2为PTP薄片的部分放大剖面图。
图3为表示PTP薄膜及检查区域等的示意图。
图4为PTP包装机的大致构成图。
图5为表示X射线检查装置的电气构成的方块图。
图6为表示X射线检查装置的大致构成的示意图。
图7为表示制造工序的流程图。
图8为表示第1实施形态的区域特定工序的流程图。
图9为表示异物有无判定工序的流程图。
图10为示意地表示X射线穿透图像或薄片浓淡图像的图。
图11为示意地表示收容空间检查用的浓淡图像的图。
图12为表示第1阈值及在图11的A－A′在线的亮度变化的图形。
图13为示意地表示凸缘部检查用的浓淡图像的图。
图14为表示第2阈值及在图13的B－B′在线的亮度变化的图形。
图15为表示第2实施形态的区域特定工序的流程图。
图16为表示第3实施形态的区域特定工序的流程图。
图17为第4实施形态的X射线检查装置的大致构成图。
图18为表示关于第4实施形态的X射线检查装置的一部分的电气构成的方块图。
图19为表示第4实施形态的区域特定工序的流程图。
图20为表示其他的实施形态的SP薄片的俯视图。
具体实施方式
[用以实施发明的形态]
以下，针对实施形态一边参照图面一边作说明。
〔第1实施形态〕
首先针对作为包装薄片(薄片状包装体)的PTP薄片1作说明。
如图1、2所示，PTP薄片1具有具备多个袋部2的容器膜3及塞住袋部2的方式安装于容器膜3的盖膜4。本实施形态中，“容器膜3”构成“第1薄膜”，“盖膜4”构成“第2薄膜”。
本实施形态中的容器膜3及盖膜4根据以铝为基材(主材料)的不透明材料所构成。例如容器膜3根据铝积层薄膜(对铝薄膜积层合成树脂薄膜的情况)所形成。另一方面，盖膜4根据铝薄膜所形成。
PTP薄片1形成俯视呈大致矩形，其四角为圆弧状带有圆角的形状。在PTP薄片1，于薄片长边方向形成5列由沿薄片短边方向排列的2个袋部2所成的袋部列。也即，形成有共10个袋部2。在各袋部2的内部空间，即每收容空间2a内各收容有一个片剂5。
又，在PTP薄片1沿着薄片短边方向形成多个作为切脱机的针孔线7，用以能以含有既定数(本实施形态中为2个)的袋部2的小薄片6为单位作切离。
再加上，于PTP薄片1，在薄片长边方向一端部，附设刻印有片剂名称、批号等的各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的标签部8。标签部8为未被设置袋部2且在与由5个小薄片6所成的薄片本体部1a间根据1条针孔线7隔开。
本实施形态的PTP薄片1(参照图1)，经过从“带状包装体”的带状的PTP薄膜9(参照图3)，将成为最终制品的PTP薄片1冲切成矩形薄片状的工序等所制造，该“带状包装体”由安装带状的容器膜3与带状的盖膜4而成。
如图3所示，本实施形态的PTP薄膜9为，在薄膜宽度方向并排2个PTP薄片1的冲切范围Ka(以下，仅称为“薄片冲切范围Ka”。)的布置。又，在PTP薄膜9中，成为相当于标签部8的部分位于薄膜宽度方向中央部的构成。
其次，针对制造上述PTP薄片1的PTP包装机10的大致构成，参照图4作说明。本实施形态中，“PTP包装机10”构成“包装体制造装置”。
如图4所示，在PTP包装机10的最上游侧，带状的容器膜3的料卷被卷成辊状。卷成辊状的容器膜3的引出端侧被导辊13导引。容器膜3于导辊13的下游侧被挂装于间歇进给辊14。间歇进给辊14连结于间歇地旋转的马达，将容器膜3间歇地搬送。
在导辊13与间歇进给辊14间，沿着容器膜3的搬送路径配设作为袋部形成机构的袋部形成装置16。由此袋部形成装置16，利用冷加工在容器膜3的既定的位置一次形成多个袋部2。袋部2的成形在由间歇进给辊14进行搬送容器膜3的动作期间的空隙(interval)中进行。
其中，本实施形态的PTP包装机10构成为容器膜3不仅为利用铝制来制造，也可利用例如PP(聚丙烯)、PVC(聚氯乙烯)等的较硬质且具既定刚性的热塑性树脂材料来制造的包装机(兼用机)。因此，于袋部形成装置16的上游侧，具备用以加热容器膜3的成为柔软状态的加热装置15。当然，在形成铝制的容器膜3的场合不使用加热装置15。
从间歇进给辊14送出的容器膜3以按张紧辊18、导辊19及薄膜承接辊20的顺序挂装。由于薄膜承接辊20连结于固定旋转的马达，故将容器膜3连续且固定速度搬送。张紧辊18设成根据弹力将容器膜3拉往张紧的侧的状态，防止因前述间歇进给辊14与薄膜承接辊20的搬送动作的差异所致的容器膜3的弯曲，并将容器膜3保持成平时张紧状态。
在导辊19与薄膜承接辊20间，沿着容器膜3的搬送路径配设作为充填机构的片剂充填装置21。
片剂充填装置21具有将片剂5自动充填于袋部2的机能。片剂充填装置21与利用薄膜承接辊20搬送容器膜3的动作同步，按每既定间隔开启挡板，以使片剂5落下，伴随此挡板开放动作而将片剂5充填于各袋部2。
另一方面，形成带状的盖膜4的料卷于最上游侧被卷成辊状。卷成辊状的盖膜4的引出端根据导辊22朝加热辊23引导。加热辊23构成为，可和前述薄膜承接辊20压接，形成为，容器膜3及盖膜4被送入两辊20、23间。
然后，根据容器膜3及盖膜4，在两辊20、23间以加热压接状态通过，而对容器膜3的袋部2周围的凸缘部3a(参照图1、2)黏贴盖膜4，使袋部2被盖膜4塞住。由此，制造片剂5被充填于各袋部2的作为“包装体”的PTP薄膜9。此外，在加热辊23的表面形成有密封用的网眼状的微细凸条，根据强力压接而实现坚固的密封。
又，构成为：在薄膜承接辊20设有未图标的编码器，该薄膜承接辊20每旋转既定量，也即PTP薄膜9每被搬送既定量，对后述的X射线检查装置45输出既定的时序信号。
从薄膜承接辊20送出的PTP薄膜9为按张紧辊27及间歇进给辊28的顺序挂装。
由于间歇进给辊28为连结于作间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜9间歇地搬送。张紧辊27为被设成根据弹力将PTP薄膜9拉往张紧的侧的状态，防止因前述薄膜承接辊20与间歇进给辊28的搬送动作的差异所致的PTP薄膜9的弯曲，并将PTP薄膜9保持成平时张紧状态。
在薄膜承接辊20与张紧辊27间，沿着PTP薄膜9的搬送路径配设X射线检查装置45。X射线检查装置45为用以进行检测袋部2的异常(本实施形态中，袋部2内有无异物)、检测袋部2以外的凸缘部3a的异常(本实施形态中，凸缘部3a上有无存在异物)为主要目的的X射线检查。当然，检查项目未受这些所限，也可实施其他检查项目。本实施形态中，“X射线检查装置45”构成“检查装置”。
从间歇进给辊28送出的PTP薄膜9按张紧辊29及间歇进给辊30的顺序挂装。由于间歇进给辊30连结于间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜9间歇地搬送。张紧辊29被设成根据弹力将PTP薄膜9拉往张紧的侧的状态，防止在前述间歇进给辊28、30间的PTP薄膜9弯曲。
在间歇进给辊28与张紧辊29间，沿着PTP薄膜9的搬送路径，根序配设针孔线形成装置33及刻印装置34。
针孔线形成装置33具有在PTP薄膜9的既定位置形成上述针孔线7的机能。刻印装置34具有在PTP薄膜9的既定位置(对应上述标签部8的位置)附加上述刻印“ABC”的机能。
从间歇进给辊30送出的PTP薄膜9于其下游侧按张紧辊35及连续进给辊36的顺序挂装。在间歇进给辊30与张紧辊35间，沿着PTP薄膜9的搬送路径，配设薄片冲切装置37。薄片冲切装置37具有作为将PTP薄膜9以PTP薄片1为单位冲切其外缘的薄片冲切机构(切离机构)的机能。
根据薄片冲切装置37冲切的PTP薄片1，根据输送机39搬送，被暂时储存于完成品用漏斗40。其中在由上述X射线检查装置45判定为不良品的场合，其被判定为不良品的PTP薄片1在未朝完成品用漏斗40搬送下，根据未图示的作为排出机构的不良薄片排出机构而被另外排出，移往未图示的不良品漏斗。
于连续进给辊36的下游侧配设有裁断装置41。然后，根据薄片冲切装置37冲切后呈带状残留的废料薄膜部42在被前述张紧辊35及连续进给辊36导引后，引导至裁断装置41。此处，连续进给辊36被从动辊压接而一边挟持废料薄膜部42一边进行搬送动作。
裁断装置41具有将废料薄膜部42裁断成既定尺寸的机能。被裁断的废料薄膜部42(废料)在被储存于废料用漏斗43的后，另外被废弃处理。
此外，上述各辊14、19、20、28、29、30等其等辊表面与袋部2为对向的位置关系，但因为在间歇进给辊14等的各辊的表面形成有供收容袋部2的凹部，所以没有袋部2崩塌的场合。又，根据袋部2一边收容于间歇进给辊14等的各辊的各凹部一边进行进给动作，而可靠地进行间歇进给动作或连续进给动作。
PTP包装机10大致如上所述，以下参照图面就上述X射线检查装置45的构成作详细说明。图5表示X射线检查装置45的电气构成的方块图。图6表示X射线检查装置45的大致构成的示意图。
如图5、6所示，X射线检查装置45具备：对PTP薄膜9照射X射线的X射线照射装置51；拍摄被照射该X射线的PTP薄膜9的X射线穿透图像的X射线传感器相机52；及控制处理装置53，用以实施在X射线照射装置51、X射线传感器相机52的驱动控制等X射线检查装置45内的各种控制、图像处理、运算处理等。
本实施形态中的“X射线”是相当于“电磁波”。又，“X射线穿透图像”构成“电磁波穿透图像”，“控制处理装置53”构成“图像处理机构”，“X射线照射装置51”构成“电磁波照射机构”，“X射线传感器相机52”构成“拍摄机构”。
此外，X射线照射装置51及X射线传感器相机52，收容在以可遮蔽X射线的材质所构成的遮蔽盒(未图示)内。遮蔽盒除设有为使PTP薄膜9通过的狭缝状的开口以外，还成为极力抑制X射线朝外部漏泄的构造。
X射线照射装置51配置在往垂直方向下方搬送的PTP薄膜9的容器膜3侧。X射线照射装置51在和PTP薄膜9的宽度方向中心部相对的位置，具有照射X射线的照射源51a。照射源51a具有X射线的产生源及用以集中X射线的准直器(分别未图示)，且构成为可将朝PTP薄膜9的宽度方向具有既定的扩展(扇角)的扇束状的X射线从容器膜3侧对PTP薄膜9照射。利用X射线照射装置51的X射线的照射角(扇角)设定成可照射和在PTP薄膜9的宽度方向并排的2片份的PTP薄片1对应的范围的角度。此外，也可设成能照射对PTP薄膜9的搬送方向具有既定的扩展的圆锥束状的X射线的构成。
X射线传感器相机52以沿着和PTP薄膜9的搬送方向正交的方向且与X射线照射装置51对向的方式，隔着PTP薄膜9配置在X射线照射装置51的相反侧(本实施形态中为盖膜4侧)。
X射线传感器相机52具有沿着薄膜宽度方向并排1列可检测穿透PTP薄膜9的X射线的多个X射线检测组件而成的X射线传感器52a，且构成为可拍摄(曝光)穿透PTP薄膜9的X射线。作为X射线检测组件，可举出例如具有闪烁体的光转换层的CCD(Charge CoupledDevice；电荷耦合器件)等。
而且，由X射线传感器相机52取得的具有和亮度有关的浓淡的X射线穿透图像，按PTP薄膜9每被搬送既定量而在该相机52内部转换成数字信号(图像信号)后，以数字信号的形式对控制处理装置53(图像数据存储装置74)输出。然后，控制处理装置53将该X射线穿透图像作图像处理等并实施后述的各种检查。
其次，针对控制处理装置53参照图5作说明。控制处理装置53具备：掌管X射线检查装置45整体的控制的微电脑71；由键盘或鼠标、触摸板等所构成的输入装置72；具有CRT或液晶等的显示画面的显示装置73；用以存储各种图像数据等的图像数据存储装置74；用以存储各种运算结果等的运算结果存储装置75；用以预先存储各种信息的设定数据存储装置76；及用以存储涉及检查的软件的检查程序存储装置77等。此外，这些各装置72～77与微电脑71电连接。
微电脑71具备：作为运算机构的CPU 71a；存储各种程序的ROM 71b；及暂时存储运算数据或输入/输出数据等的各种数据的RAM 71c等，且掌管控制处理装置53中的各种控制，并以可和PTP包装机10进行收发各种信号地连接。
于这样的构成下，微电脑71例如驱动控制X射线照射装置51、X射线传感器相机52执行取得PTP薄膜9的X射线穿透图像的拍摄处理、根据该X射线穿透图像检查PTP薄膜9的既定部位的检查处理、将该检查处理的检查结果朝PTP包装机10的不良薄片排出机构等输出的输出处理等。
图像数据存储装置74存储有以根据X射线传感器相机52所取得的X射线穿透图像为首的经遮蔽处理的遮蔽图像、经二值化处理的二值化图像等的各种图像数据。
运算结果存储装置75，为存储检查结果数据或将该检查结果数据经概率统计处理后的统计数据等。可令这些检查结果数据、统计数据适宜地显示于显示装置73。
设定数据存储装置76用以存储检查所用的各种信息。作为这些各种信息，设定存储有例如PTP薄片1、袋部2及片剂5的形状及尺寸、用以区划检查区域Kb的薄片框的形状及尺寸、袋框的形状及尺寸、用在二值化处理的亮度阈值、进行各种合格与否判定时所利用的基准值(例如，用以排除因噪声所致的影响的既定值Lo等)。
在设定数据存储装置76预先存储有作为亮度阈值的第1阈值δ1、第2阈值δ2及第3阈值δ3。第1阈值δ1设定成比X射线穿透图像中相当于片剂5的部分的亮度(例如，相当于片剂5的部分的亮度中的最低亮度)低且比X射线穿透图像中和金属片等的异物相当的部分的亮度高的值。
第2阈值δ2为和第1阈值δ1不同的值，且设定成比第1阈值δ1高且比X射线穿透图像中相当于凸缘部3a的部分的亮度(例如，相当于凸缘部3a的部分的亮度中的最低亮度)低的值。此外，于本实施形态，第2阈值δ2设定成比X射线穿透图像中相当于片剂5的部分的亮度高的值。
第3阈值δ3用以特定片剂5、袋部2的外缘部分的亮度阈值，且设定成比X射线穿透图像中相当于片剂5的部分的亮度、X射线穿透图像中出现在片剂5周围的暗影2c(参照图10)的亮度低的值。
此外，“X射线穿透图像中相当于片剂5、异物、凸缘部3a的部分的亮度”为，在将针对PTP薄膜9的X射线的照射条件或利用X射线传感器相机52的拍摄条件等设为相同的基础上，所事先获得的X射线穿透图像中的片剂部分、异物部分、凸缘部分的亮度。又，“X射线穿透图像中相当于片剂5、异物、凸缘部3a的部分的亮度”也可为在检查时根据X射线穿透图像所取得，在检查时适当地更新的情况。
进而，本实施形态中，作为检查区域Kb，设定PTP薄膜9中对应PTP薄片1的区域中的除了对应标签部8的区域以外的对应由5个小薄片6所成的薄片本体部1a的区域(参照图3)。
检查程序存储装置77存储用以执行检查处理的软件。检查程序存储装置77所存储的软件包含区域特定用软件77a及合格与否判定用软件77b。
区域特定用软件77a包含：根据存储在设定数据存储装置76的薄片框的形状及尺寸，特定X射线穿透图像中的既定的检查区域(本实施形态中检查区域Kb)的程序；及使用前述第3阈值δ3，特定已特定的检查区域Kb中的配置收容空间2a的收容区域2b(参照图10)及对应凸缘部3a的凸缘部区域3b(参照图10)的程序。
又，合格与否判定用软件77b包含使用第1阈值δ1判定在收容区域2b有无异物的程序及使用第2阈值δ2判定在凸缘部区域3b有无异物的程序。此外，如上述，由于第1阈值δ1及第2阈值δ2为不同的值，故在收容区域2b及凸缘部区域3b中被判定为异物的情况会不同。
当根据X射线传感器相机52取得会成为制品的PTP薄片1的至少1片份的X射线穿透图像时，利用微电脑71执行区域特定用软件77a及合格与否判定用软件77b。
当执行区域特定用软件77a时，首先，根据对X射线穿透图像设定前述薄片框以划定X射线穿透图像中的检查区域Kb。又，对应该检查区域Kb的X射线穿透图像被当作薄片浓淡图像Xa(参照图10。其中，图10中仅示出薄片浓淡图像Xa的一部分)取得，并且将该薄片浓淡图像Xa存储在图像数据存储装置74。
此外，如图10所示，于X射线穿透图像或薄片浓淡图像Xa中，在凸缘部区域3b与收容区域2b中的除了片剂5以外的区域间，大致没有明暗差。那是因为这些区域的图像根据仅穿透容器膜3及盖膜4的X射线所获得的缘故。另一方面，于X射线穿透图像或薄片浓淡图像Xa中，属于对应片剂5的区域的片剂区域5b成为比凸缘部区域3b等还暗的状态。那是因为X射线根据存于片剂5的厚度而衰减的缘故。又，于X射线穿透图像或薄片浓淡图像Xa中，对应金属片等的异物的第1异物区域100b成为比片剂区域5b还暗的状态。那是因为金属片等的异物比起片剂5还容易遮蔽X射线的缘故。另一方面，对应片剂5的碎片或粉末的第2异物区域100c成为与片剂区域5b大致相同亮度或比这些还稍亮的情况。
当取得薄片浓淡图像Xa时，使用第3阈值δ3，对该薄片浓淡图像Xa施以二值化处理。例如以前述第3阈值δ3以上为“1(明部)”、小于前述第3阈值δ3为“0(暗部)”，将薄片浓淡图像Xa转换成二值化图像，并将此二值化图像存储在图像数据存储装置74。本实施形态中，就二值化图像而言，相当于片剂5、暗影2c的部分被表示为“0(暗部)”。
其次，对上述二值化图像执行块处理。就块处理而言，进行针对二值化图像的“0(暗部)”及“1(明部)”分别特定连结成分的处理，及针对各个的链接成分进行赋予标记的标记赋予处理。此处，分别特定的各连结成分的占有面积以对应X射线传感器相机52的像素的点数表示。
然后，从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分中，特定相当于片剂5的连结成分也就是片剂区域5b。相当于片剂5的连结成分可根据判断含有既定的坐标的连结成分、作为既定的形状的连结成分，或为既定的面积处的连结成分等来特定。
接着，从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分中，特定位于相当于片剂5的连结成分的周围且相当于袋部2的外缘的环状的暗影2c。环状的暗影2c的特定，例如，可根据判断对相当于片剂5的连结成分处于既定的位置关系的链接成分等来特定。且，环状的暗影2c被特定为收容空间2a的轮廓。
其次，对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的收容空间2a的轮廓内侧被特定为收容区域2b。且，对薄片浓淡图像Xa，施以用来仅抽出所特定的收容区域2b的遮蔽处理。进行了此种遮蔽处理的图像，作为收容空间检查用的浓淡图像Xb(参照图11)存储在图像数据存储装置74。
又，对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的收容区域2b以外的区域被特定为凸缘部区域3b。且，对薄片浓淡图像Xa，施以用来仅抽出所特定的凸缘部区域3b的遮蔽处理。进行了此种遮蔽处理的图像被存储成凸缘部检查用的浓淡图像Xc(参照图13)。
进而，继区域特定用软件77a后，执行合格与否判定用软件77b。执行合格与否判定用软件77b后，使用前述第1阈值δ1，对收容空间检查用的浓淡图像Xb施以二值化处理。更详言之，以第1阈值δ1以上为“1(明部)”、小于前述第1阈值δ1为“0(暗部)”，将收容空间检查用的浓淡图像Xb转换成二值化图像，并将此二值化图像存储在图像数据存储装置74。
此处，第1阈值δ1，为比浓淡图像Xb中的收容区域2b的亮度B1、片剂区域5b的亮度B2还低(暗)，比浓淡图像Xb中的第1异物区域100b(金属片等的异物的区域)的亮度B3还高的情况(参照图12)。此外，图12为示意地表示第1阈值δ1和在图11的A－A′在线的浓淡图像Xb的亮度变化等的图形。因此，该二值化图像中，收容空间2a、片剂5及其碎片或粉末以“1(明部)”、金属片等的异物以“0(暗部)”表示。
其次，根据对收容空间检查用的二值化图像施以块处理，抽出暗部分的面积值是前述既定值Lo以上的块部分(考虑噪声的影响，除去小于Lo的块)。且，在有块部分存在的场合，判定为有金属片等的异物存在。另一方面，在无块部分存在的场合，判定为异物不存在。此外，金属片等的异物存在与否的判定，以各收容区域2b每一的情况为对象来进行。
又，使用前述第2阈值δ2，对凸缘部检查用的浓淡图像Xc施以二值化处理。更详言之，以前述第2阈值δ2以上为“1(明部)”、小于前述第2阈值δ2为“0(暗部)”，将凸缘部检查用的浓淡图像Xc转换成凸缘部检查用的二值化图像，并将此二值化图像存储在图像数据存储装置74。
此处，第2阈值δ2为比第1阈值δ1高且比X射线穿透图像中的凸缘部区域3b的亮度B4还低(暗)的情况。(参照图14)。此外，图14为示意地表示第2阈值δ2和在图13的B－B′线上的浓淡图像Xc的亮度变化等的图形。因此，该二值化图像中，凸缘部3a以“1(明部)”，片剂5的碎片或粉末及金属片等以“0(暗部)”来表示。
接着，根据对凸缘部检查用的二值化图像施以块处理，抽出暗部分的面积值成为前述既定值Lo以上的块部分(除去小于Lo的块)。且，在凸缘部3a存在有块部分的场合，判定为有异物存在，另一方面，在块部分不存在的场合，判定为异物不存在。
结果是，本实施形态中，形成为：在片剂5的碎片或粉末位于收容区域2b的场合，该片剂5的碎片或粉末没被检测成异物，在片剂5的碎片或粉末位于凸缘部区域3b的场合，该片剂5的碎片或粉末被检测成异物。
本实施形态中，根据“微电脑71”、“设定数据存储装置76”及存储区域特定用软件77a的“检查程序存储装置77”来构成作为“区域特定机构”的“区域特定部78”(参照图5)。又，根据“微电脑71”、“设定数据存储装置76”及存储合格与否判定用软件77b的“检查程序存储装置77”来构成作为“异物有无判定机构”的“异物有无判定部79”(参照图5)。
其次就包含有由X射线检查装置45进行的检查工序的PTP薄片1的制造工序作说明。
如图7所示，首先，于步骤S1的袋部形成工序中，利用袋部形成装置16对容器膜3根据序形成袋部2。接着，于步骤S2的充填工序中，利用片剂充填装置21朝袋部2的收容空间2a充填片剂5。
继充填工序后，进行步骤S3的安装工序。在安装工序中，根据对前述两辊20、23间送入所搬送的容器膜3及盖膜4，使得盖膜4被安装于容器膜3而可获得PTP薄膜9。
其后，进行使用了X射线检查装置45的步骤S4的检查工序。检查工序S4包含步骤S41的照射工序、步骤S42的拍摄工序及步骤S43的合格与否判定工序。
在步骤S41的照射工序中，根据利用微电脑71驱动控制X射线照射装置51及X射线传感器相机52而对PTP薄膜9照射X射线。又，在步骤S42的拍摄工序中，按PTP薄膜9每次被搬送既定量，就取得利用X射线传感器相机52拍摄了穿透PTP薄膜9的X射线的一维的X射线穿透图像。
而且，由X射线传感器相机52取得的X射线穿透图像，在该相机52内部转换成数字信号后，以数字信号的形式对控制处理装置53(图像数据存储装置74)输出。
更详言之，在从X射线照射装置51对PTP薄膜9平时照射X射线的状态下，当一从上述编码器朝微电脑71输入时序信号时，即利用微电脑71开始利用X射线传感器相机52的曝光处理。
然后，当下一个时序信号被输入时，将在那的前蓄积于发光二极管等的受光部的电荷统合并朝移位寄存器转送。接着，被转送于移位寄存器的电荷是在迄至下一个时序信号被输入为止的期间，伴随着转送时钟信号，依序作为图像信号(X射线穿透图像)输出。
也即，从上述编码器输入既定的时序信号的时点迄至下个输入时序信号为止的时间成为在X射线传感器相机52的曝光时间。
此外，本实施形态中，构成为每次搬送PTP薄膜9，根据X射线传感器相机52取得在PTP薄膜9的搬送方向的X射线传感器52a的宽度，也即相当于一份CCD宽度的长度份量的X射线穿透图像。当然，也可采用与此不同的构成。
从X射线传感器相机52输出的X射线穿透图像，按时间序列依序被存储到图像数据存储装置74。
然后，根据按PTP薄膜9每次被搬送既定量即反复进行上述一连串的处理，就在图像数据存储装置74，最终存储在PTP薄膜9的宽度方向并排的2片PTP薄片1的X射线穿透图像。以此方式，当取得涉及成为制品的PTP薄片1的X射线穿透图像时，根据微电脑71执行步骤S43的合格与否判定工序。
在步骤S43的合格与否判定工序(检查程序)中，按步骤S431的区域特定工序及步骤S433的异物有无判定工序进行。此外，合格与否判定工序针对成为制品的各PTP薄片1每一情况进行的处理。因此，本实施形态中，PTP薄膜9每被搬送相当于1片PTP薄片1的份量即对X射线穿透图像所包含的2片的PTP薄片1的部分分别进行合格与否判定工序。
一开始，参照图8的流程图就步骤S431的区域特定工序作说明。在区域特定工序中，首先，执行步骤S4311的检查图像取得处理。详言之，从图像数据存储装置74将X射线穿透图像中成为检查对象的PTP薄片1的图像以检查图像读出。
接着，于步骤S4312，根据对所读出的检查图像设定前述薄片框，划定X射线穿透图像中的检查区域Kb，获得薄片浓淡图像Xa。所获得的薄片浓淡图像Xa被存储在图像数据存储装置74。
此外，于本实施形态中，上述薄片框的设定位置根据和PTP薄膜9的相对位置关系而预先决定。因此，本实施形态中，薄片框的设定位置并非每次都对应于检查图像来调整位置，但未受限于此，也可作成考虑错位的发生等，根据从X射线穿透图像获得的信息而适宜调整薄片框的设定位置的构成。
进而，于接着的步骤S4313的片剂区域特定处理中，首先，使用第3阈值δ3对所获得的薄片浓淡图像Xa施以二值化处理，并将由该处理所获得的二值化图像存储在图像数据存储装置74。其后，对上述二值化图像执行块处理，并从根据块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分的中特定出相当于片剂5的连结成分(相当于片剂5的部分)。
接着，于步骤S4314，位于相当于由块处理所特定的片剂5的部分的周围的环状的暗影2c被特定。
其后，于步骤S4315，对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的暗影2c的内侧被特定为收容区域2b。然后，施以用来对薄片浓淡图像Xa仅抽出所特定的收容区域2b的遮蔽处理，并且将由此种遮蔽处理所获得的收容空间检查用的浓淡图像Xb存储在图像数据存储装置74。
然后，于区域特定工序的最后，进行步骤S4316的凸缘部区域特定处理。于步骤S4316，施以用来抽出对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的收容区域2b以外的区域的遮蔽处理，并且将由此种遮蔽处理所获得的凸缘部检查用的浓淡图像Xc存储在图像数据存储装置74。
接着，参照图9的流程图就步骤S433的异物有无判定工序作说明。
首先，于步骤S4331，对在步骤S4315的处理所获得的收容空间检查用的浓淡图像Xb，使用第1阈值δ1施以二值化处理，并将根据二值化处理所获得的收容空间检查用的二值化图像存储在图像数据存储装置74。接着，于步骤S4332，根据对收容空间检查用的二值化图像施以块处理，抽出面积值成为前述既定值Lo以上的块部分。
其后，于步骤S4333，所有袋部2的异物有无标志的值设定为“0”。“异物有无标志”为用以表示涉及袋部2(收容空间2a)中有无异物的判定结果，设定于运算结果存储装置75。于袋部2不存在异物的场合，与该袋部2对应的异物有无标志的值设定为“1”。
在接着的步骤S4334，设定在运算结果存储装置75的袋编号计数的值C设定作为初期值的“1”。此外，“袋编号”指和1片PTP薄片1的检查区域Kb内的10个袋部2分别对应设定的序列编号，根据袋编号计数的值C(以下，仅称为“袋编号C”)可特定袋部2和收容区域2b的位置。
然后，于步骤S4335，判定袋编号C是否为每一检查区域(每1片的PTP薄片1)的袋数N(本实施形态中为“10”)以下。
在步骤S4335被判定为是的场合，转移到步骤S4336，根据上述收容空间检查用的二值化图像，判定与现在的袋编号C(例如C＝1)对应的收容区域2b(袋部2)中有无异物。此处，若在收容区域2b有块部分则被判定在该收容区域2b有金属片等的异物，照原样转移到步骤S4338。另一方面，若在收容区域2b没有块部分则转移到步骤S4337。
在步骤S4337，判定在和现在的袋编号C对应的收容区域2b(袋部2)没有金属片等的异物，和该袋编号C对应的异物有无标志目标值被设定成“1”。其后，转移到步骤S4338。
在步骤S4338中，根据于现在的袋编号C加“1”以设定新的袋编号C。其后，返回步骤S4335。
然后，在新设定的袋编号C还是袋数N(本实施形态中为“10”)以下的场合，再度转移到步骤S4336，反复执行涉及上述一连串的异物有无的判定处理。
另一方面，在判定新设定的袋编号C已超过袋数N的场合，也就是在步骤S4335判定为否的场合，视为和所有袋部2(收容区域2b)有关的异物的有无判定结束，转移到步骤S4339。
步骤S4339中，对在步骤S4316的处理所获得的凸缘部检查用的浓淡图像Xc，使用第2阈值δ2施以二值化处理，并且将根据二值化处理所获得的凸缘部检查用的二值化图像存储在图像数据存储装置74。接着，于步骤S4340，根据对凸缘部检查用的二值化图像施以块处理，面积值成为前述既定值Lo以上的块部分被抽出。
在接着的步骤S4341中，判定凸缘部3a是否为良品。详言之，根据凸缘部检查用的二值化图像，判定在凸缘部区域3b是否存在块部分。
在此处被判定为否的场合转移到步骤S4342。另一方面，在被判定为是的场合、也就是被判定在凸缘部3a有片剂5的碎片等的异物时，转移到步骤S4344。
在步骤S4342，判定检查区域Kb内的所有袋部2的异物有无标志的值是否为“1”。在此处被判定为是的场合，也即在检查区域Kb内的所有袋部2未存在异物的场合，于步骤S4343，和该检查区域Kb对应的PTP薄片1被判定为“良品”，合格与否判定工序结束。
另一方面，在步骤S4342被判定为否的场合，也就是在检查区域Kb内的所有袋部2中至少1个存在有异物的场合，转移到步骤S4344。
在步骤S4344，对应检查区域Kb的PTP薄片1被判定为“不良品”，合格与否判定工序结束。
此外，在步骤S4343的良品判定处理及步骤S4344的不良品判定处理中，和对应于检查区域Kb的PTP薄片1有关的检查结果被存储于运算结果存储装置75并对PTP包装机10(包含不良薄片排出机构)输出。
返回图7，在步骤S4的检查工序后，于步骤S5的针孔线形成工序，利用针孔线形成装置33在PTP薄膜9的既定位置形成针孔线。又，在接着的步骤S6的刻印工序中，利用刻印装置34在PTP薄膜9设置刻印。其后，根据进行步骤S7的切离工序，PTP薄片1的制造工序结束。在切离工序中，根据利用薄片冲切装置37冲切PTP薄膜9且从PTP薄膜9切离PTP薄片1而制造出PTP薄片1。
如以上所详述，根据本实施形态，在对收容区域2b的检查中，即使判定X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中亮度低于第1阈值δ1的部分为异物，在收容区域2b(收容空间2a)存在有片剂5的碎片或粉末，可设为不将此当作异物来检测。因此，可防止以位于收容空间2a的片剂5的碎片或粉末为理由，将PTP薄膜9以及PTP薄片1判定为不良。
另一方面，在对凸缘部区域3b的检查中，判定X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中亮度低于第2阈值δ2的部分为异物，片剂5的碎片或粉末存在于凸缘部区域3b(凸缘部3a)的场合，可将此检测为异物。也即，可根据位于凸缘部3a的片剂5的碎片或粉末，将PTP薄膜9以及PTP薄片1判定为不良。
如此一来，根据本实施形态，根据检查对象是收容空间2a(收容区域2b)还是凸缘部3a(凸缘部区域3b)的差异，可适当地改变是否将片剂5的碎片或粉末当作异物检测，可进行更合适的合格与否判定。其结果，可谋求抑制制造成本的增大、提升包装体的质量。
又，因为以可检测金属片的方式设定第1阈值δ1，结果而言，可将存在于收容空间2a或凸缘部3a的金属片检测为异物。因此，金属片存在于PTP薄膜9的场合，在不根据金属片的存在位置下可将PTP薄膜9以及PTP薄片1判定为不良品。
进而，如同本实施形态，在容器膜3具有袋部2并且容器膜3等是以金属制薄膜或具有金属层的薄膜形成的场合，在X射线穿透图像中，位于片剂5周围且对应于袋部2(收容空间2a)外缘的环状部位被表现成比周围还暗的暗影。利用这点，本实施形态中，根据区域特定部78特定相当于片剂5的部分，并且在所特定的部分的周围的环状的暗影2c被特定为收容空间2a的轮廓，该轮廓的内侧被特定为收容区域2b。因此，可更正确且较简易地特定收容区域2b。
〔第2实施形态〕
其次，主要就第2实施形态与上述第1实施形态的不同点作说明。在上述第1实施形态与本第2实施形态中，步骤S431的区域特定工序(也即，利用区域特定用软件77a的处理)中的特定相当于片剂5的部分的处理(步骤S4313的片剂部分特定处理)后的处理不同。
更详言之，本第2实施形态中，如图15所示，在继步骤S4313的后的步骤S4317中，进行使相当于所特定的片剂5的部分(片剂区域5b)膨胀的处理。该处理为，例如，在将相当于片剂5的部分(片剂区域5b)的中心或重心特定的后，以该中心或重心为中心，使相当于该片剂5的部分(片剂区域5b)以默认的倍率放大的处理。
其后，于步骤S4318，使相当于片剂5的部分(片剂区域5b)膨胀而成的区域被特定为收容区域2b。接着，施以用来对薄片浓淡图像Xa仅抽出收容区域2b的遮蔽处理，并且将由此种遮蔽处理所获得的图像存储在图像数据存储装置74。
进而，于步骤S4319，对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的在步骤S4318被特定的收容区域2b以外的区域被特定为凸缘部区域3b。接着，对薄片浓淡图像Xa施以用以仅抽出凸缘部区域3b的遮蔽处理，并且将由此种遮蔽处理所获得的图像存储在图像数据存储装置74。此外，异物有无判定工序和上述第1实施形态同样地进行。
以上，根据本第2实施形态，根据较简单的处理，可将收容区域2b进行某程度正确地特定(推定)。因此，可谋求减低合格与否判定的处理负担，并担保充分良好的检查精度。
〔第3实施形态〕
其次，主要就第3实施形态与上述第1实施形态的不同点作说明。在上述第1实施形态与本第3实施形态中，步骤S431的区域特定工序(也即，利用区域特定用软件77a的处理)中的特定相当于片剂5的部分的处理(步骤S4313的片剂部分特定处理)后的处理不同。
更详言之，在本第3实施形态中，如图16所示，在根据步骤S4313的处理特定出相当于片剂5的部分后，于步骤S4320，进行特定出相当于所特定的片剂5的部分(片剂区域5b)的中心或重心的处理。
其后，于步骤S4321，根据所特定的中心或重心与存储在设定数据存储装置76的设计上的袋部2的数据，特定出收容区域2b。设计上的袋部2的数据被预先存储在设定数据存储装置76。例如，对已特定的中心或重心，在将设计上的袋部2所占的平面区域的中心设为重合的状态时，和该平面区域重迭的区域被特定为收容区域2b。然后，对薄片浓淡图像Xa施以用以仅抽出收容区域2b的遮蔽处理，并且将由此种遮蔽处理所获得的图像存储在图像数据存储装置74。
其后，于步骤S4322，对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)中的在步骤S4321特定的收容区域2b以外的区域被特定为凸缘部区域3b。又，对薄片浓淡图像Xa施以用以仅抽出凸缘部区域3b的遮蔽处理，并且将由此种遮蔽处理所获得的图像存储在图像数据存储装置74。此外，异物有无判定工序和上述第1实施形态同样地进行。
以上，根据本第3实施形态，根据较简单的处理，可将收容区域2b进行某程度正确地特定(推定)。由此，可谋求减低合格与否判定的处理负担，并担保充分良好的检查精度。
〔第4实施形态〕
其次，主要就第4实施形态与上述第1实施形态的不同点作说明。在本第4实施形态中，如图17、18所示，X射线检查装置45具备配设在比X射线照射装置51及X射线传感器相机52还上游的相机54。本实施形态中，“相机54”构成“外观拍摄机构”。又，用以特定收容空间2a的位置的收容空间特定用软件77c被存储在检查程序存储装置77。而且，根据利用微电脑71执行收容空间特定用软件77c，成为根据由相机54所取得的PTP薄膜9的外观图像来特定出收容空间2a的位置。
作为相机54，采用在既定的可视光(例如红外光)具有感度的CCD相机。相机54在从未图标的照明装置照射的可视光(例如红外光)照射PTP薄膜9时拍摄反射该PTP薄膜9的光。相机54所拍摄到的外观图像(亮度图像)在相机54内部被转换成数字信号(图像信号)后，以数字信号的形式输入到微电脑71。
又，本第4实施形态中，于区域特定用软件77a执行前，根据微电脑71执行收容空间特定用软件77c。当执行收容空间特定用软件77c时，根据对利用相机54所获得的外观图像施以二值化处理或块处理等而特定在外观图像中的收容空间2a(袋部2)的位置。本实施形态中，根据“微电脑71”及存储收容空间特定用软件77c的“检查程序存储装置77”构成作为“收容空间特定机构”的“收容空间特定部80”。
进而，在上述第1实施形态与本第4实施形态中，步骤S431的区域特定工序(也即，区域特定用软件77a)不同。
更详言之，本第4实施形态中，如图19所示，首先，于步骤S4322，按PTP薄膜9每被搬送既定量，根据相机54取得因反射PTP薄膜9的光所致的二维的外观图像。该外观图像包含在PTP薄膜9的宽度方向并排的2片PTP薄片1的部分。
在接着的步骤S4323中，根据所取得的外观图像施以二值化处理或块处理等，以特定收容空间2a。例如，于外观图像施以二值化处理及块处理后，利用块部分的形状或坐标而抽出相当于袋部2的外缘的部分，被该抽出的部分所包围的区域被特定为收容空间2a。
其后，于步骤S4324，在对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)，根据所特定的收容空间2a(袋部2)的位置，进行特定收容区域2b的处理。例如，所特定的收容空间2a(袋部2)的位置坐标被校正为：外观图像与对应检查区域Kb的X射线穿透图像(薄片浓淡图像Xa)的位偏量。此外，薄片浓淡图像Xa中与校正后的收容空间2a(袋部2)的位置坐标对应的区域被特定为收容区域2b。接着，将对薄片浓淡图像Xa施以用来仅抽出收容区域2b的遮蔽处理而成的图像存储在图像数据存储装置74。
然后在最后，于步骤S4325，所特定的收容区域2b以外的区域被特定为凸缘部区域3b，并且将对薄片浓淡图像Xa施以用来仅抽出凸缘部区域3b的遮蔽处理而成的图像存储在图像数据存储装置74。此外，异物有无判定工序和上述第1实施形态同样地进行。
以上，根据本第4实施形态，根据相机54及收容空间特定部80特定在PTP薄膜9中的收容空间2a的实际位置，根据该所特定的位置特定收容区域2b。因此，能极正确地特定收容区域2b，可实现优异的检查精度。
此外，未受限于上述实施形态的记载内容，也可按例如以下方式实施。当然也可以是以下未例示的其他应用例、变更例。
(a)薄片状包装体(包装薄片)的构成未受限于上述实施形态的PTP薄片1。也可将例如SP薄片作为检查对象。
如图20所示，一般的SP薄片90，根据使以铝为基材的不透明材料所成的带状的2片薄膜91、92重迭，并在两薄膜91、92间一边充填片剂5一边在该片剂5的周围留下袋状的收容空间93的方式接合该收容空间93的周围(图20中的底纹花纹部分)的两薄膜91、92，作成带状的包装薄膜后，再根据将该包装薄膜切离成矩形薄片状所形成。
此外，在SP薄片90，在用于能以含有1个收容空间93的小薄片94为单位进行切离的切脱机方面，也可形成沿着薄片长边方向形成的纵针孔线95及沿着薄片短边方向形成的横针孔线96。又，也可在SP薄片90，于薄片长边方向一端部，附设印刷有各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的标签部97。
(b)PTP薄片1单位的袋部2的排列或个数也未受上述实施形态的态样(2列、10个)任何限定，例如可采用以具有3列12个袋部2(收容空间2a)的类型为首的由各式各样的排列、件数所成的PTP薄片(关于上述SP薄片也相同)。当然，1个小薄片所包含的袋部2(收容空间2a)数量也未受上述实施形态任何限定。
(c)在上述实施形态的PTP薄片1，作为切脱机，形成有将贯通于PTP薄片1的厚度方向的切口间歇排列而成的针孔线7，但切脱机未受此所限，也可对应于容器膜3及盖膜4的材质等而采用不同的构成。例如，也可作成形成像剖面大致呈V字状的狭缝(半切线)的非贯通的切脱机的构成。又，也可作成未形成针孔线7等的切脱机的构成。
(d)第1薄膜及第2薄膜的材质、层构造等不受限于上述实施形态的容器膜3或盖膜4的构成。例如上述实施形态中，容器膜3及盖膜4是以铝等的金属材料为基材所形成，但不受此所限，也可采用其他材质。也可采用例如不让可视光等穿透的合成树脂材料等。
(e)带状包装体的构成未受限于上述实施形态，也可采用其他的构成。
上述实施形态中，虽PTP薄膜9为沿其宽度方向配列有和2薄片份对应的数目的袋部2的构成，但不受此所限，例如，也可为沿其宽度方向配列有和1薄片份对应的数目的袋部2。当然，PTP薄膜9也可为沿其宽度方向配列有和3片以上的薄片份对应的数目的袋部2的构成。
又，上述实施形态中，构成为：在PTP薄膜9的宽度方向中央部，配置和2片的PTP薄片1的各标签部8对应的部位。相对地，也可构成为：和2片的PTP薄片1的各标签部8对应的部位配置在PTP薄膜9的宽度方向两端部。又，也可构成为：和2片的PTP薄片1中的一PTP薄片1的标签部8对应的部位配置在PTP薄膜9的宽度方向中央部，和另一PTP薄片1的标签部8对应的部位配置在PTP薄膜9的宽度方向端部。
(f)电磁波照射机构的构成未受限于上述实施形态。上述实施形态中，成为照射作为电磁波的X射线的构成，但不受此所限，也可作成使用兆赫电磁波等的穿透PTP薄膜9的其他电磁波的构成。
(g)拍摄机构的构成未受限于上述实施形态。例如上述实施形态中，作为拍摄机构虽采用使用闪烁体的CCD相机(X射线传感器相机52)，但不受此所限，也可采用将X射线直接入射并予以拍摄的相机。
又，上述实施形态中，作为拍摄机构虽采用排列有1列CCD的X射线传感器相机52，但不受此所限，也可采用例如在PTP薄膜9的薄膜搬送方向具备多列CCD列(检测组件列)的X射线TDI(Time Delay Integration；时延积分)相机。由此，可谋求更提升检查精度及检查效率。
(h)X射线检查装置45的构成或配置位置等，未受限于上述实施形态。
例如上述实施形态中，虽为在PTP薄膜9被往上下方向搬送的位置配置X射线检查装置45的构成，但不受此所限，也可作成例如在PTP薄膜9被往水平方向搬送的位置或斜向搬送的位置配置X射线检查装置45的构成。
又，也可构成为具备位置调整机构(位置调整机构)，以配合PTP薄膜9的尺寸、配置等而能将X射线照射装置51及X射线传感器相机52沿着PTP薄膜9的搬送方向、PTP薄膜9的宽度方向、对PTP薄膜9接触/分离方向移动。
进而，上述实施形态中，虽X射线照射装置51配置在PTP薄膜9的容器膜3侧，X射线传感器相机52配置在PTP薄膜9的盖膜4侧的构成，但也可作成两者的位置关系相反，将X射线照射装置51配置在盖膜4侧，X射线传感器相机52配置在容器膜3侧的构成。此时，“容器膜3”构成“第2薄膜”，“盖膜4”构成“第1薄膜”。
(i)上述实施形态中，虽构成为在比从PTP薄膜9冲切PTP薄片1还前工序中，利用X射线检查装置45进行X射线检查，但不受此所限，也可构成为在从PTP薄膜9冲切PTP薄片1后的后工序中，对PTP薄片进行检查。例如也可构成为对根据输送机39所搬送的PTP薄片1进行检查。在这场合下，“PTP薄片1”构成“包装体”。
又，在这场合，也可作成X射线检查装置45被设在PTP包装机10内的构成(在线构成)，也可作成X射线检查装置45和PTP包装机10分开设置的构成(脱机构成)。其中，在脱机构成的场合，因为有成为检查对象的PTP薄片1的位置、朝向相对于X射线检查装置45不一定的危险，所以在进行检查时，有必要事先调整PTP薄片1的位置、朝向。此外，由于PTP薄片1的位置、朝向的方向的调整有招致检查速度及检查精度的降低的危险，故经考虑这点后，以采用在线构成的情况较佳。
(j)上述第4实施形态中，相机54配置在比X射线照射装置51等还靠上游处，但也可配置在比X射线照射装置51等还靠下游处。在该场合构成为，在利用相机54得到PTP薄膜9的外观图像的阶段，根据在取得该外观图像前获得的X射线穿透图像，进行合格与否判定工序。
符号说明
1：PTP薄片
2：袋部
2a：收容空间
2b：收容区域
2c：暗影
3：容器膜(第1薄膜)
3a：凸缘部
3b：凸缘部区域
4：盖膜(第2薄膜)
5：片剂
9：PTP薄膜(包装体)
10：PTP包装机(包装体制造装置)
45：X射线检查装置(检查装置)
51：X射线照射装置(电磁波照射机构)
52：X射线传感器相机(拍摄机构)
53：控制处理装置(图像处理装置)
54：相机(外观拍摄机构)
78：区域特定部(区域特定机构)
79：异物有无判定部(异物有无判定机构)
80：收容空间特定部(收容空间特定机构)。

Claims (9)

1.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所成的第1薄膜及由不透明材料所成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该检查装置具备：
电磁波照射机构，对前述包装体照射能从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄机构，以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并且根据穿透前述包装体的电磁波取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；
图像处理机构，根据由前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，可执行涉及前述包装体的检查，
并且，前述图像处理机构具有：
区域特定机构，在前述电磁波穿透图像的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域、和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定机构，使用既定的第1阈值来判定前述收容区域中有无异物，并且使用既定的第2阈值来判定前述凸缘部区域中有无异物，
前述第1阈值设定成比前述电磁波穿透图像中相当于片剂的部分的亮度还低的值，
前述第2阈值设定成比前述第1阈值高且比前述电磁波穿透图像中相当于前述凸缘部的部分的亮度低的值。
2.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所成的第1薄膜及由不透明材料所成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该检查装置具备：
电磁波照射机构，对前述包装体照射能从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄机构，以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并且根据穿透前述包装体的电磁波取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；
图像处理机构，根据由前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，可执行涉及前述包装体的检查，
并且，前述图像处理机构具有：
区域特定机构，在前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域、和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定机构，分别判定前述收容区域中有无异物及前述凸缘部区域中有无异物，
将用以判定前述收容区域中有无异物的第1阈值及用以判定前述凸缘部区域中有无异物的第2阈值分别设定成各个不同的值。
3.一种检查装置，用以检查包装体，该包装体安装有由不透明材料所成的第1薄膜及由不透明材料所成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该检查装置具备：
电磁波照射机构，对前述包装体照射能从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄机构，以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并根据穿透前述包装体的电磁波取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；
图像处理机构，根据由前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，能执行涉及前述包装体的检查，
并且，前述图像处理机构具有：
区域特定机构，在前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域、和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定机构，分别判定前述收容区域中有无异物及前述凸缘部区域中有无异物，
前述异物有无判定机构构成为：在片剂的碎片或粉末位于前述收容区域的场合，不将该片剂的碎片或粉末检测为异物，而在片剂的碎片或粉末位于前述凸缘部区域的场合，能将该片剂的碎片或粉末检测为异物。
4.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置，其中，
前述第1薄膜及前述第2薄膜中至少一者具有内部空间形成前述收容空间的袋部，并由金属制薄膜或具有金属层的薄膜所构成，
前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域中，特定相当于片剂的部分，并且将位于已特定的部分的周围的环状的暗影特定为前述收容空间的轮廓，将该轮廓的内侧特定为前述收容区域。
5.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置，其中，前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域特定相当于片剂的部分，并且使已特定的部分膨胀所成的区域作为前述收容区域而特定。
6.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置，其中，前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域特定相当于片剂的部分，并且取得已特定的部分的中心或重心，根据已取得的中心或重心及前述收容空间的位置有关的设计上的数据来特定前述收容区域。
7.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置，其中，具有：
外观拍摄机构，拍摄前述包装体，取得涉及前述包装体的外观的外观图像；
收容空间特定机构，特定由前述外观拍摄机构所取得的外观图像中的前述收容空间的位置，
前述区域特定机构构成为：于前述电磁波穿透图像中的既定的检查区域，根据由前述收容空间特定机构所特定的前述收容空间的位置来特定前述收容区域。
8.一种包装体制造装置，其特征为具备权利要求1至7中任一项所述的检查装置。
9.一种包装体制造方法，为在获得包装体时所用的包装体制造方法，该包装体安装有由不透明材料所成的带状的第1薄膜及由不透明材料所成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，
该包装体制造方法具备：
安装工序，安装所搬送的带状的前述第1薄膜及所搬送的带状的前述第2薄膜；
充填工序，在前述第1薄膜与前述第2薄膜间所形成的前述收容空间内充填片剂；
检查工序，执行经前述安装工序及前述充填工序所获得的前述包装体的检查，
前述检查工序包含：
照射工序，由既定的电磁波照射机构，对前述包装体照射能从前述第1薄膜侧穿透前述包装体的电磁波；
拍摄工序，使用以夹设前述包装体而与前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧的拍摄机构，根据穿透前述包装体的电磁波，取得涉及亮度的具有浓淡的电磁波穿透图像；
合格与否判定工序，根据由前述拍摄工序所取得的电磁波穿透图像，进行有关前述包装体的合格与否判定，
前述合格与否判定工序具有：
区域特定工序，在前述电磁波穿透图像的既定的检查区域，特定和前述收容空间对应的收容区域、和前述收容空间周围的凸缘部对应的凸缘部区域；
异物有无判定工序，使用既定的第1阈值来判定前述收容区域中有无异物，并且使用既定的第2阈值来判定前述凸缘部区域中有无异物，
前述第1阈值设定成比前述电磁波穿透图像中相当于片剂的部分的亮度还低的值，
前述第2阈值设定成比前述第1阈值高且比前述电磁波穿透图像中相当于前述凸缘部的部分的亮度还低的值。
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Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001281173A (ja) * 2000-03-31 2001-10-10 Shimadzu Corp Ｘ線検査装置
JP2005127962A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
CN101545873A (zh) * 2008-02-15 2009-09-30 帕纳科有限公司 包装中的x射线检测
CN101802595A (zh) * 2007-09-26 2010-08-11 株式会社石田 检查装置
CN103492862A (zh) * 2011-07-13 2014-01-01 松下电器产业株式会社 药片检查装置以及药片检查方法
CN103776849A (zh) * 2012-10-23 2014-05-07 Ckd株式会社 药片检查装置和ptp包装机
JP2014145733A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2016120932A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 株式会社フジキカイ 横形製袋充填機における不良品検出装置
CN107132234A (zh) * 2017-05-08 2017-09-05 无锡恩特卫自动化检测设备有限公司 一种异物检测系统
WO2018100768A1 (ja) * 2016-11-29 2018-06-07 Ckd株式会社 検査装置及びｐｔｐ包装機
WO2018105149A1 (ja) * 2016-12-08 2018-06-14 Ckd株式会社 検査装置及びｐｔｐ包装機
CN108414533A (zh) * 2018-04-26 2018-08-17 德清炬诚电子科技有限公司 泡罩类包装药品视觉检测设备及方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003215047A (ja) * 2002-01-17 2003-07-30 Ckd Corp 外観検査装置及び外観検査装置を備えたｐｔｐ包装機
JP3898144B2 (ja) 2003-03-31 2007-03-28 アンリツ株式会社 異物検出方法、異物検出プログラムを記録した記録媒体及び異物検出装置
JP5546021B2 (ja) * 2011-05-31 2014-07-09 Ｃｋｄ株式会社 錠剤検査装置及びｐｔｐ包装機
JP5860347B2 (ja) 2012-06-06 2016-02-16 アンリツインフィビス株式会社 Ｘ線検査装置
WO2017159856A1 (ja) * 2016-03-18 2017-09-21 株式会社イシダ Ｘ線検査装置

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001281173A (ja) * 2000-03-31 2001-10-10 Shimadzu Corp Ｘ線検査装置
JP2005127962A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
CN101802595A (zh) * 2007-09-26 2010-08-11 株式会社石田 检查装置
CN101545873A (zh) * 2008-02-15 2009-09-30 帕纳科有限公司 包装中的x射线检测
CN103492862A (zh) * 2011-07-13 2014-01-01 松下电器产业株式会社 药片检查装置以及药片检查方法
CN103776849A (zh) * 2012-10-23 2014-05-07 Ckd株式会社 药片检查装置和ptp包装机
JP2014145733A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2016120932A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 株式会社フジキカイ 横形製袋充填機における不良品検出装置
WO2018100768A1 (ja) * 2016-11-29 2018-06-07 Ckd株式会社 検査装置及びｐｔｐ包装機
WO2018105149A1 (ja) * 2016-12-08 2018-06-14 Ckd株式会社 検査装置及びｐｔｐ包装機
CN107132234A (zh) * 2017-05-08 2017-09-05 无锡恩特卫自动化检测设备有限公司 一种异物检测系统
CN108414533A (zh) * 2018-04-26 2018-08-17 德清炬诚电子科技有限公司 泡罩类包装药品视觉检测设备及方法

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