CN113711020B - 检查装置、包装机及包装体的检查方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种可谋求检查精度的提升等的检查装置、包装机及包装体的检查方法。X射线检查装置45具备：对所搬送的PTP薄膜25照射X射线的X射线照射装置51；拍摄被照射该X射线的PTP薄膜25的X射线传感器相机53。且将根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像的坐标系统，依据X射线照射装置51、PTP薄膜25及X射线传感器相机53的位置关系，转换成PTP薄膜25的坐标系统，再基于该转换的X射线穿透画像，执行有关PTP薄膜25的检查。

Description

检查装置、包装机及包装体的检查方法
技术领域
本发明相关一种用以检查收容有片剂的包装体的检查装置、包装机及包装体的检查方法。
背景技术
在已知的医药品、食料品等的领域中，作为包装片剂的薄片状包装体(包装薄片)，广泛利用PTP(press through package，泡罩包装)薄片。
PTP薄片为由形成有收容片剂的袋部的容器薄膜、及以对其容器薄膜密封袋部的开口侧的方式安装的盖膜所构成，且根据将袋部从外侧按压，再由其所收容的片剂扎破作为盖的盖膜，可取出该片剂。
这样的PTP薄片为经由对带状的容器薄膜形成袋部的袋部形成工序、于该袋部充填片剂的充填工序、对以密封该袋部的开口侧的方式形成在容器薄膜的袋部周围的凸缘部安装带状的盖膜的安装工序、及从安装有该两薄膜而成的带状的PTP薄膜切离最终制品的PTP薄片的切离工序等所制造。
一般而言，于制造这样的PTP薄片时，进行和片剂异常(例如于袋部内的片剂的有无、裂纹、破损等)有关的检查、和凸缘部异常(例如在凸缘部有无异物等)有关的检查、和袋部异常(例如在袋部有无异物等)有关的检查等。
近年来，从谋求遮光性、防湿性的提升等这类的观点，容器薄膜及盖膜两薄膜是根据以铝等为基材的不透明材料所形成者也变多。
这样的情况，上述各种检查为使用X射线检查装置等来进行。一般而言，X射线检查装置为具备对所搬送的包装体(PTP薄片或PTP薄膜)照射X射线的X射线产生器(X射线源)、及检测穿透该包装体的X射线的X射线检测器，且基于从该X射线检测器取得的X射线穿透画像进行各种检查。
但针对在和包装体的搬送方向正交的包装体宽度方向的多个部位形成袋部的包装体进行X射线检查的情况，收容于各袋部的片剂根据从X射线产生器往包装体的宽度方向呈放射状扩展的X射线被放大成比实际尺寸还大，并投影在X射线检测器上。
再者，由于依各袋部(片剂)在包装体的宽度方向的位置而异，X射线的入射角也不相同，所以因各袋部(片剂)的位置不同，在X射线穿透画像上的片剂的面积值等也会产生差异。
对此，为了谋求抑制检查精度的降低，也提出一种按袋部的各列(按袋部2在包装体的宽度方向的各位置)设定不同的是否合格判定阈值以进行片剂的是否合格判定的检查装置等(例如，参照专利文献1)。
[现有技术文献]
[专利文献]
专利文献1日本特开2013-253832号公报
发明内容
[发明要解决的课题]
然而，如上述专利文献1所载的现有技术，在按袋部的各列设定不同的是否合格判定阈值以进行片剂的是否合格判定的构成中，例如有在既定的袋部的列被判定为不良品的片剂在其他袋部的列被判定为良品等，难以在检查范围全区域中保持检查均一性的危险。
近年来，为了提高生产效率，也看见很多构成为在呈带状搬送的PTP薄膜的宽度方向多处设定薄片冲切范围，可同时制造多个PTP薄片的包装机。例如在图3所示的本案的PTP薄膜25中，于薄膜宽度方向设定2个薄片冲切范围Ka，并且袋部2的列在薄膜宽度方向形成10列。如此，袋部2的列数(在薄膜宽度方向中的袋部2的数量)越多，上述不良情况变得越显著，且也会增加是否合格判定阈值的设定所需的劳力。
又，关于在包装体的宽度方向相连的凸缘部的检查，如同袋部的列般，要区分成复数范围并按各该范围设定是否合格判定阈值本身是有困难的。例如对于跨2个范围的异物等，会有因选择哪个是否合格判定阈值而导致判定结果改变的危险。
此外，上述课题不仅PTP包装，在SP(strip package，窄条包装)包装等包装片剂的其他包装领域中也可能发生。又，不限于X射线，在使用兆赫电磁波等穿透包装体的其他电磁波的情况也可能发生。
本发明有鉴于上述情况等而做出，其目的在于，提供一种可谋求检查精度的提升等的检查装置、包装机及包装体的检查方法。
[解决课题的方案]
以下，针对适合于解决上述课题的各方案分项作说明。此外，视需要在对应的方案附记特有的作用效果。
方案1.一种检查装置，为用以检查包装体(例如包装薄片或包装薄膜)的检查装置，该包装体以下述方式形成，安装有：由不透明材料所构成的第1薄膜(例如容器薄膜)、由不透明材料所构成的第2薄膜(例如盖膜)，并在该两薄膜间所形成的收容空间(例如袋部)内收容有片剂体，其特征在于，该检查装置具备：
电磁波照射机构，相对沿着既定方向搬送且在和前述既定方向正交的宽度方向的多个部位形成有前述收容空间的前述包装体，可从前述第1薄膜侧照射既定的电磁波(X射线等)；
拍摄机构，以隔着前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并且具有电磁波检测机构(例如传感器)，且将前述包装体每被搬送既定量所取得的电磁波穿透画像依序输出，该电磁波检测机构为沿着前述宽度方向排列有可检测从前述电磁波照射机构照射并穿透前述包装体的电磁波的多个检测组件；
画像处理机构，处理从前述拍摄机构输出的画像信号，
前述画像处理机构具备：
坐标转换机构，依据前述电磁波照射机构、前述包装体及前述拍摄机构的位置关系，将根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透画像的坐标系统转换成前述包装体的坐标系统；
检查机构，依据根据前述坐标转换机构转换成前述包装体的坐标系统的前述电磁波穿透画像，可执行有关前述包装体的检查。
此外，在以下的机构也相同，上述“包装体”包含有：成为制品的薄片状包装体(例如“PTP薄片”、“SP薄片”等的包装薄片)；该薄片状包装体被切离前的带状包装体(例如“PTP薄膜”、“SP薄膜”等的包装薄膜)。
上述“和包装体有关的检查”，包含有：例如在收容空间内片剂的有无、裂纹、破损等的“和片剂有关的检查”；在形成于收容空间周围的凸缘部(安装有第1薄膜与第2薄膜的部分)有无异物等的“和凸缘部有关的检查”；收容空间内异物的有无等的“和收容空间有关的检查”等。
依据上述方案1，对所搬送的包装体照射来自电磁波照射机构的电磁波，基于根据拍摄机构拍摄已穿透该包装体的电磁波所获得的电磁波穿透画像，进行有关包装体的检查。
特别在本方案中，于进行有关包装体的检查前，进行将根据拍摄机构所取得的电磁波穿透画像的坐标系统转换成包装体的坐标系统的处理。由此，可修正因在包装体的宽度方向的位置差异所致的片剂被放大投影成不同尺寸的电磁波穿透画像。
进一步，针对各种检查项目(片剂异常、凸缘部异常、收容空间异常等)，可基于在包装体全区域(检查范围全区域)共通的判定基准进行是否合格判定。换言之，可在未将相同检查项目的判定基准按包装体的宽度方向的各位置作区分并设定多个的情况下，于包装体全区域进行均一的检查。结果，可谋求抑制检查精度的降低。
方案2.如方案1的检查装置，其中将前述包装体以往前述拍摄机构侧凸出的方式在前述宽度方向弯成圆弧状的状态下进行搬送。
如上述，由于电磁波为根据电磁波照射机构呈放射状照射，所以例如包袋体是沿着宽度方向被以水平的状态搬送的情况，成为电磁波对从该包装体的宽度方向中央部偏离的位置的片剂斜向照射。又，因片剂在包装体的宽度方向的位置差异，电磁波对各片剂的入射角也不相同。
此处，即使是假设对各片剂斜向照射平行光并朝既定的拍摄机构平行投影的情况，例如剖面矩形状的片剂般，会有因片剂的形状而投影在拍摄机构的片剂的影像变大的情况(参照图14)。又，会有因平行光的入射角的差异而在投影画像的尺寸上产生差异的情况。
对此，依据上述方案2，根据使用既定的导引机构等，使包装体以往拍摄机构侧凸的方式弯成圆弧状，可极力缩小或消除电磁波相对于位于包装体的宽度方向多个部位的片剂的入射角的差。结果，可抑制上述不良情况的发生。
方案3.如方案1的检查装置，其中前述包装体在位于前述拍摄机构侧的前述第2薄膜中，为泡罩包装(PTP)，该泡罩包装以形成前述收容空间的袋部向前述拍摄机构侧突出的方式形成，
将前述包装体以往前述电磁波照射机构侧凸出的方式在前述宽度方向弯成圆弧状的状态下进行搬送。
从电磁波照射机构呈放射状照射的X射线等的电磁波的强度为与距离的平方成反比地衰减。又，因电磁波的入射角的差异，在检查能力上也会产生差异。因此，电磁波的照射角无法无约束地扩展，被限制成可对既定的检查范围大致均一地照射的角度。结果，以往难以缩短从包装体至电磁波照射机构为止的距离，难以将检查装置小型化。
对此，依据上述方案3，袋部的突出侧成为位于弯成圆弧状的包装体的内侧(凹侧)的状态，成为包装体全体收纳在更狭窄的宽度范围内的状态。
由此，与以往相比，可在不用加大从电磁波照射机构照射的电磁波的照射角(朝宽度方向扩展)的情况下，在电磁波的照射范围内一边维持包装体全体，一边缩短电磁波照射机构与拍摄机构的距离。结果，可谋求检查装置的小型化。
同时，根据电磁波照射机构与拍摄机构的距离接近，变得易于充分确保检查所需的电磁波穿透量，可谋求检查精度的提升。而且，作为电磁波照射机构，可采用输出更小的小型设备，可谋求检查装置进一步小型化。
方案4.如方案1至3中任一方案的检查装置，其中，前述包装体由安装有带状的前述第1薄膜和带状的前述第2薄膜而成，且为从设定在其宽度方向2个部位的薄片切离范围将薄片状包装体(例如PTP薄片)分别切离前的带状包装体(例如PTP薄膜)，
前述带状包装体中并排在前述宽度方向的2个薄片状包装体，以和前述电磁波照射机构的中心轴(照射角的二等分线)交叉的前述带状包装体的宽度方向中央部为中心而在前述宽度方向对称地配置，且各个标签部配置成朝向前述带状包装体的宽度方向中央部侧或宽度方向外侧。
此处，“标签部”意指设置于薄片状包装体(包装薄片)的既定方向一端部，且根据刻印或印刷等而被赋予片剂名称、批号等的各种信息的部位。不同于形成有收容片剂的收容空间的薄片本体部，在“标签部”未形成有收容空间。
如上述，由于片剂在带状包装体的宽度方向的位置差异，穿透各片剂的电磁波的穿透量不同。因此，在收容空间(片剂)相对于带状包装体的宽度方向以宽度方向中央部为中心呈非对称配置的情况，有无法针对在带状包装体的宽度方向并排的2个薄片状包装体进行均一的检查的危险。
对此，依据上述方案4，2个薄片状包装体的薄片切离范围以带状包装体的宽度方向中央部为中心呈对称配置。也就是，该薄片状包装体所含有的收容空间的配置布置也在带状包装体的宽度方向构成对称。
结果，关于在带状包装体的宽度方向并排的2个薄片状包装体，可进行更均一的检查，可谋求抑制检查精度的降低。
方案5.如方案1至4中任一方案的检查装置，其中具备强度修正机构，该强度修正机构基于前述电磁波照射机构及前述拍摄机构的位置关系，修正前述电磁波穿透画像的各像素的值(电磁波强度)。
如上述，越是穿透包装体的比宽度方向中央部还靠宽度方向外侧的电磁波，根据电磁波检测机构所检测的穿透量越少。因此，电磁波穿透画像为，位于和靠宽度方向外侧对应处的画像的电磁波强度比位于和包装体的宽度方向中央部对应处的画像的电磁波强度小(较暗)。结果，有变得难以在检查范围全区域进行均一检查的危险。
对此，依据上述方案5，可在检查范围全区域修正成具有更均一的电磁波强度的电磁波穿透画像，可基于此进行检查。结果，可谋求检查精度的提升。
方案6.如方案1至5中任一方案的检查装置，其中，前述坐标转换机构将根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透画像的坐标系统转换成：至少以前述片剂为基准的坐标系统、及以形成于前述收容空间周围的凸缘部为基准的坐标系统，
前述检查机构在有关前述包装体的检查方面，基于已转换成至少以前述片剂为基准的坐标系统的前述电磁波穿透画像执行有关前述片剂的检查，且基于已转换成以前述凸缘部为基准的坐标系统的前述电磁波穿透画像，执行有关前述凸缘部的检查。
此处“以片剂为基准的坐标系统”，例如包含“以片剂的厚度方向中央部的位置为基准的坐标系统”等。又，“以凸缘部为基准的坐标系统”，例如包含“以第1薄膜或第2薄膜的露出面的位置为基准的坐标系统”、“以第1薄膜和第2薄膜的安装面的位置为基准的坐标系统”等。
依据上述方案6，关于片剂及凸缘部，可分别基于已转换成适当的坐标系统的电磁波穿透画像进行检查。结果，可谋求进一步提升检查精度。
方案7.如方案1至6中任一方案的检查装置，其中前述电磁波为X射线或兆赫电磁波。
方案8.如方案1至7中任一方案的检查装置，其中前述第1薄膜及前述第2薄膜以铝为基材(主材料)而形成。
此处，“以铝为基材(主材料)所形成”为指以铝单体所形成的情况乃理所当然，也包含介设有树脂薄膜层的铝积层薄膜等的主旨。
方案9.一种包装机，其特征为具备如方案1至8中任一方案的检查装置。
如上述方案9，根据在包装机具备方案1等所载的检查装置，具有可于包装薄片(薄片状包装体)的制造过程中有效率地排除不良品等的优点。此处，也可构成为：包装机具备排出由上述检查装置判定为不良的薄片状包装体的排出机构。
更具体的包装机的构成方面，可举出像以下的构成。
“一种包装机，用于制造带状包装体，且将该带状包装体的宽度方向多个部位切离成薄片状以制造薄片状包装体，该带状包装体以下述方式形成，安装有：由不透明材料所构成的带状的第1薄膜、由不透明材料所构成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的的收容空间内收容有片剂，其特征在于，该包装机具备：
安装机构，安装呈带状搬送的前述第1薄膜及呈带状搬送的前述第2薄膜；
充填机构，在前述第1薄膜与前述第2薄膜间所形成的前述收容空间内充填前述片剂；
切离机构(包含冲切成薄片单位的冲切机构)，安装前述第1薄膜及前述第2薄膜且从前述片剂已收容于前述收容空间内的前述带状包装体切离前述薄片状包装体；
如方案1至8中任一方案的检查装置”。
此处，也可构成为将上述检查装置(检查工序)配置在“比切离机构(切离工序)靠近上游侧(前工序)”。
关于从带状的包装体(例如PTP薄膜)切离薄片状包装体(例如PTP薄片)的前工序，于检查时，和作为检查对象的薄片状包装体对应的检查范围的位置、朝向相对于电磁波照射机构及拍摄机构被维持一定。因此，在进行检查时，没必要事前调整薄片状包装体的位置、朝向，可更容易且更高速地进行检查。进而可谋求进一步提升检查精度。
又，也可构成为将上述检查装置(检查工序)配置在“比切离机构(切离工序)靠近下游侧(后工序)”。此时，可在最终段阶确认是否混入不良品。
此外，在包装机，除了上述检查装置以外还被装入不少用以进行在各式各样工序中的处理或检查的装置，而当空余的空间少小且上述检查装置被大型化时，会有设置变困难的危险。反之，为了设置被大型化的上述检查装置，也有发生需将包装机本身大型化的危险。
对此，根据具备上述方案3等所载的检查装置，可抑制发生此种不良情况。
方案10.一种检查方法，为用以检查包装体(例如包装薄片或包装薄膜)的检查方法，该包装体以下述方式构成，安装有：由不透明材料所构成的第1薄膜(例如容器薄膜)、由不透明材料所构成的第2薄膜(例如盖膜)，并在该两薄膜间所形成的收容空间(例如袋部)内收容有片剂而成，其特征在于，该检查方法具备：
照射工序，可从配置在前述第1薄膜侧的既定的电磁波照射机构，对沿着既定方向搬送且在和前述既定方向正交的宽度方向的多个部位形成有前述收容空间的前述包装体，照射既定的电磁波(X射线等)；
拍摄工序，将根据以隔着前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧的既定的拍摄机构，检测并取得穿透前述包装体的电磁波的电磁波穿透画像，按前述包装体每搬送既定量依序输出；
坐标转换工序，依据前述电磁波照射机构、前述包装体及前述拍摄机构的位置关系，将在前述拍摄工序所取得的电磁波穿透画像的坐标系统，转换成前述包装体的坐标系统；及
检查工序，依据在前述坐标转换工序中转换成前述包装体的坐标系统的前述电磁波穿透画像，执行有关前述包装体的检查。
依据上述方案10，可获得和上述方案1同样的作用效果。
附图说明
图1为PTP薄片的立体图。
图2为PTP薄片的部分放大剖面图。
图3为显示PTP薄膜的布置的概略构成图。
图4为PTP包装机的概略构成图。
图5为显示X射线检查装置的电气构成的方块图。
图6为示意显示X射线检查装置的概略构成的立体图。
图7为显示X射线照射装置、X射线传感器相机及PTP薄膜的位置关系的示意图。
图8为显示检查程序的流程图。
图9为用以说明坐标转换处理的原理的示意图。
图10为显示SP薄片的平面图。
图11为显示别的实施形态的PTP薄膜的布置的概略构成图。
图12为显示别的实施形态的PTP薄膜的布置的概略构成图。
图13为用以说明别的实施形态的X射线照射装置、X射线传感器相机及PTP薄膜的位置关系、以及其坐标转换处理的原理的示意图。
图14的(a)为用以比较镜片状药片的实际的尺寸与投影画像的尺寸的示意图，图14的(b)为用以比较板状药片的实际的尺寸与投影画像的尺寸的示意图。
图15为用以比较姿势倾斜的板状药片的实际的尺寸、投影画像的尺寸及修正后的尺寸的示意图。
图16为显示别的实施形态的X射线照射装置、X射线传感器相机及PTP薄膜的位置关系的示意图。
具体实施方式
以下，针对一实施形态，一边参照附图一边作说明。首先针对作为包装薄片(薄片状包装体)的PTP薄片1作说明。
如图1、2所示，PTP薄片1为具有具备多个袋部2的容器薄膜3及以塞住袋部2的方式安装于容器薄膜3的盖膜4。本实施形态中“容器薄膜3”构成“第1薄膜”，“盖膜4”构成“第2薄膜”。
本实施形态中的容器薄膜3及盖膜4为根据以铝为基材(主材料)的不透明材料所构成。例如容器薄膜3为根据铝积层薄膜(对铝薄膜积层合成树脂薄膜者)所形成。另一方面，盖膜4为根据铝薄膜所形成。
PTP薄片1为形成俯视呈大致矩形，其四个角为圆弧状带有圆角的形状。在PTP薄片1，在薄片长边方向形成有5列由沿薄片短边方向并排的2个袋部2所成的袋部列。也即，形成有共10个袋部2。
在各袋部2内的收容空间2a收容有一个一个片剂5。本实施形态的片剂5为表面从中心部到周缘部弯曲且在中心部与周缘部厚度不同的俯视呈圆形状的裸片[所谓镜片状(lens)药片]。当然，片剂5的种类不受限于镜片状药片。例如也可为圆盘形状的板状药片(tablet药片)、俯视呈非圆形的三角药片或四角药片等。
又，在PTP薄片1沿着薄片短边方向形成多个作为切脱机的针孔线7，其能以含有既定数(本实施形态中为2个)的袋部2的薄小片6为单位作切离。
再者，于PTP薄片1的周缘部，对应针孔线7的形成位置形成缩颈部8。因此，在将PTP薄片1以薄小片6为单位切离时，该薄小片6的四个角成为带有圆角的圆弧形状。
再加上，于PTP薄片1，在薄片长边方向一端部，附设刻设有片剂名称、批号等的各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的标签部9。标签部9未被设置袋部2且在与由5个薄小片6所成的薄片本体部1a之间根据1条针孔线7隔开。
本实施形态的PTP薄片1(参照图1)经过从安装有带状的容器薄膜3与带状的盖膜4所成的带状的PTP薄膜25(参照图3)将最终制品的PTP薄片1冲切成矩形薄片状的工序等所制造。以下，将“PTP薄膜25的宽度方向(图3上下方向)”称为“薄膜宽度方向”。又，将“PTP薄膜25的搬送方向(图3左右方向)”称为“薄膜搬送方向”。
如图3所示，本实施形态的PTP薄膜25为，在薄膜宽度方向并排2个PTP薄片1的冲切范围Ka(以下，仅称为“薄片冲切范围Ka”。)，同时这些相邻并排的2个薄片冲切范围Ka间由沿薄膜搬送方向呈带状延伸的中央废料25a连接，薄膜宽度方向两端由沿薄膜搬送方向呈带状延伸的侧部废料25b连接，成为在薄膜搬送方向邻接的2个薄片冲切范围Ka的交界线排列有多个用以形成上述缩颈部8的星芒形废料25c的布置。此外，图3中，为使附图简化，以及易于理解星芒形废料25c，对冲切星芒形废料25c的孔部附加引出线，图示成星芒形废料25c。
此处，PTP薄膜25中，从并排于薄膜宽度方向的2个薄片冲切范围Ka冲切的PTP薄片1为分别成为标签部9面向薄膜宽度方向中央部和中央废料25a邻接的状态。“薄片冲切范围Ka”相当于本实施形态中的“薄片切离范围”。
其次，针对作为制造上述PTP薄片1的PTP包装机10的概略构成，参照图4作说明。
如图4所示，在PTP包装机10的最上游侧，带状的容器薄膜3的料卷被卷成辊状。卷成辊状的容器薄膜3的引出端侧为被导辊13导引。容器薄膜3为于导辊13的下游侧被挂装于间歇进给辊14。间歇进给辊14为连结于间歇地旋转的马达，将容器薄膜3间歇地搬送。
在导辊13与间歇进给辊14之间，沿着容器薄膜3的搬送路径，配设作为袋部形成机构的袋部形成装置16。由此袋部形成装置16，利用冷压加工在容器薄膜3的既定的位置一次形成多个袋部2(袋部形成工序)。袋部2的成形为在基于间歇进给辊14进行搬送容器薄膜3的动作期间的区间(interval)中进行。
但是，本实施形态的PTP包装机10为构成为容器薄膜3不仅为利用铝制来制造，也可利用例如PP(聚丙烯)、PVC(聚氯乙烯)等的较硬质且具既定刚性的热塑性树脂材料来制造的包装机(兼用机)。因此，于袋部形成装置16的上游侧，具备用以加热容器薄膜3使的成为柔软状态的加热装置15。当然，在形成铝制的容器薄膜3的情况不使用加热装置15。
从间歇进给辊14送出的容器薄膜3为按张紧辊18、导辊19及薄膜承接辊20的顺序挂装。由于薄膜承接辊20为连结于固定旋转的马达，故将容器薄膜3连续且以固定速度搬送。张紧辊18为设成根据弹力将容器薄膜3拉往张紧的侧的状态，防止因前述间歇进给辊14与薄膜承接辊20的搬送动作的差异所致的容器薄膜3弯曲，并将容器薄膜3保持成平时张紧状态。
在导辊19与薄膜承接辊20之间，沿着容器薄膜3的搬送路径，配设有作为充填机构的片剂充填装置21。
片剂充填装置21为具有将片剂5自动充填于袋部2的机能。片剂充填装置21为与利用薄膜承接辊20搬送容器薄膜3的动作同步地按每既定间隔开启挡板使片剂5落下的装置，伴随此挡板开放动作而将片剂5充填于各袋部2(充填工序)。
另一方面，形成带状的盖膜4的料卷于最上游侧被卷成辊状。卷成辊状的盖膜4的引出端为根据导辊22朝加热辊23引导。加热辊23以下述方式构成，可和前述薄膜承接辊20压接，容器薄膜3及盖膜4被送入两辊20、23间。
然后，根据容器薄膜3及盖膜4以加热压接状态通过两辊20、23间，而对容器薄膜3的袋部2周围的凸缘部3a(参照图1、2)黏贴盖膜4，使袋部2被盖膜4塞住(安装工序)。
由此，制造作为在各袋部2充填有片剂5的带状包装体的PTP薄膜25。在加热辊23的表面形成有密封用的网目状的微细凸条，根据微细凸条强力地压接而实现坚固的密封。根据薄膜承接辊20及加热辊23构成本实施形态中的安装机构。
又，构成为：在薄膜承接辊20设有未图标的编码器，该薄膜承接辊20每旋转既定量，也即PTP薄膜25每被搬送既定量，对后述的X射线检查装置45输出既定的时序信号。
从薄膜承接辊20送出的PTP薄膜25按张紧辊27及间歇进给辊28的顺序挂装。
由于间歇进给辊28为连结于间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜25间歇地搬送。张紧辊27被设成根据弹力将PTP薄膜25拉往张紧的侧的状态，防止因前述薄膜承接辊20与间歇进给辊28的搬送动作的差异所致的PTP薄膜25的弯曲，并将PTP薄膜25保持成平时张紧状态。
在薄膜承接辊20与张紧辊27之间，沿着PTP薄膜25的搬送路径配设有X射线检查装置45。X射线检查装置45为用以进行以袋部2所收容的片剂5的异常(例如片剂5的有无、裂纹、破损等)的检测、袋部2以外的凸缘部3a的异常(例如存在于凸缘部3a上的异物等)的检测为主要目的的X射线检查。当然，检查项目未受这些所限，也可实施其他检查项目。也可构成为：例如进行与袋部2的异常(例如袋部2中有无异物等)有关的检查。
从间歇进给辊28送出的PTP薄膜25为按张紧辊29及间歇进给辊30的顺序挂装。由于间歇进给辊30为连结于间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜25间歇地搬送。张紧辊29被设成根据弹力将PTP薄膜25拉往张紧的侧的状态，防止在前述间歇进给辊28、30间的PTP薄膜25弯曲。
在间歇进给辊28与张紧辊29之间，沿着PTP薄膜25的搬送路径，依序配设有废料冲切装置32、针孔线形成装置33及刻印装置34。
废料冲切装置32为具有从PTP薄膜25的既定位置冲切上述星芒形废料25c的机能。针孔线形成装置33为具有在PTP薄膜25的既定位置形成上述针孔线7的机能。刻印装置34为具有在PTP薄膜25的既定位置(和上述标签部9对应的位置)附加上述刻印“ABC”的机能。
从间歇进给辊30送出的PTP薄膜25为于其下游侧按张紧辊35及连续进给辊36的顺序挂装。在间歇进给辊30与张紧辊35之间，沿着PTP薄膜25的搬送路径，配设薄片冲切装置37。薄片冲切装置37为具有作为将PTP薄膜25以PTP薄片1为单位冲切其外缘的薄片冲切机构(切离机构)的机能。
根据薄片冲切装置37冲切的PTP薄片1，为根据输送机39搬送，被暂时储存于完成品用漏斗40(切离工序)。但在根据上述X射线检查装置45判定为不良品的情况，被判定为不良品的PTP薄片1在未朝完成品用漏斗40搬送下，根据作为未图示的排出机构的不良薄片排出机构而被另外排出，移往未图示的不良品漏斗。
于连续进给辊36的下游侧配设有裁断装置41。然后，根据薄片冲切装置37冲切后呈带状残留的端材(废料25a、25b)在被前述张紧辊35及连续进给辊36导引后，引导至裁断装置41。此处，连续进给辊36被从动辊压接而一边挟持前述废料25a、25b一边进行搬送动作。
裁断装置41具有将废料25a、25b裁断成既定尺寸的机能。被裁断的废料25a、25b在被储存于废料用漏斗43之后，另外被废弃处理。
此外，上述各辊14、19、20、28、29、30等为各辊表面与袋部2为对向的位置关系，但因为在间歇进给辊14等的各辊的表面形成有供收容袋部2的凹部，所以没有袋部2崩塌的情况。又，根据袋部2一边收容于间歇进给辊14等的各辊的各凹部，一边进行进给动作，能确实地进行间歇进给动作或连续进给动作。
PTP包装机10的概略为如以上所述，以下就上述X射线检查装置45的构成，参照附图作详细说明。图5为显示X射线检查装置45的电气构成的方块图。图6为示意显示X射线检查装置45的概略构成的立体图。其中，图6的图示中，为了简化而省略了PTP薄膜25的袋部2等一部分的构成。
如图5、6所示，X射线检查装置45具备：对PTP薄膜25照射X射线的X射线照射装置51；对被照射该X射线的PTP薄膜25的X射线穿透画像进行拍摄的X射线传感器相机53；及控制处理装置54，用以实施在X射线照射装置51、X射线传感器相机53的驱动控制等X射线检查装置45内的各种控制、画像处理、运算处理等。
本实施形态中的“X射线”相当于“电磁波”。因此，“X射线穿透画像(数据)”构成“电磁波穿透画像(数据)”，“控制处理装置54”构成“画像处理机构”，“X射线照射装置51”构成“电磁波照射机构”，“X射线传感器相机53”构成“拍摄机构”。
X射线照射装置51及X射线传感器相机53，收容在以可遮蔽X射线的材质所构成的遮蔽盒45a内(参照图4)。遮蔽盒45a除设有使PTP薄膜25通过的狭缝状的入口部45b及出口部45c等以外，还成为极力抑制X射线朝外部漏泄的构造。
X射线照射装置51配置在往垂直方向下方搬送的PTP薄膜25的法线方向的一侧(本实施形态中为容器薄膜3侧)。以下，将“PTP薄膜25的法线方向”称为“薄膜法线方向”。
X射线照射装置51具备：产生X射线的X射线源51a；集中从该X射线源51a所产生的X射线的准直器51b，且成为这些被收容于由可遮蔽X射线的材质所构成的遮蔽容器51c内的构成。然后，从X射线源51a发出的X射线经由遮蔽容器51c的开口部(图示省略)朝外部照射。
此外，X射线照射装置51因为公知，故省略X射线源51a等各种构成部的详细说明，但例如X射线源51a构成为使根据高电压加速的电子冲撞阳极的靶材而可放射以该靶材为顶点的圆锥状X射线。当然，也可采用不同于此的的方法产生X射线的构成。
于这样的构成下，X射线照射装置51构成为根据准直器51b极力抑制从X射线源51a呈圆锥状放射的X射线朝薄膜搬送方向扩展(圆锥角)，由此可对PTP薄膜25照射朝薄膜宽度方向具有既定的扩展(扇角)的扇束状的X射线。当然，此处也可构成为照射对薄膜搬送方向也具有既定的扩展的圆锥束状的X射线。
X射线照射装置51配置成本身的中心轴D1(扇角的二等分线)与PTP薄膜25的薄膜法线方向平行。
X射线传感器相机53以与X射线照射装置51在薄膜法线方向对向的方式包夹PTP薄膜25，配置在X射线照射装置51的相反侧(本实施形态中为盖膜4侧)。
X射线传感器相机53具有作为电磁波检测机构的X射线传感器53a，由可检测穿透PTP薄膜25的X射线的多个X射线检测组件沿着薄膜宽度方向并排1列而得到，且构成为可拍摄(曝光)穿透PTP薄膜25的X射线。作为X射线检测组件，可举出例如具有采用闪烁体的光转换层的CCD(Charge Coupled Device、电荷耦合组件)等。
然后，作为根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像数据，在PTP薄膜25每被搬送既定量，于该相机53内部转换成数字信号(画像信号)后，以数字信号的形式对控制处理装置54(画像数据存储装置74)输出。然后，控制处理装置54将该X射线穿透画像数据进行画像处理等并实施后述的各种检查。
此处，针对X射线照射装置51、X射线传感器相机53及PTP薄膜25的位置关系，参照图3、7作详细说明。首先针对根据X射线检查装置45进行检查的PTP薄膜25上的“检查区域”及不进行检查的“非检查区域(无需检查区域)”作说明。
本实施形态中，和PTP薄片1(薄片冲切范围Ka)对应的区域中的除了和标签部9对应的区域外，和由5个薄小片6所成的薄片本体部1a对应的区域被设定为1片PTP薄片1的检查区域Kb。
因此，PTP薄膜25中和前述检查区域Kb(PTP薄片1的薄片本体部1a)对应的薄膜宽度方向既定范围WA，也即从属于侧部废料25b与和其邻接的PTP薄片1对应的区域的交界部的外侧交界部PA，到属于和标签部9对应的区域与和其邻接的薄小片6对应的区域的交界部的中央侧交界部PB为止的薄膜宽度方向既定范围WA，为成为薄膜宽度方向检查范围(以下，仅称为“检查范围”。)。
换言之，PTP薄膜25中，中央废料25a及和其邻接的2个标签部9对应的区域，及和侧部废料25b对应的区域成为“非检查区域(无需检查区域)”。
也即，PTP薄膜25中，包含中央废料25a及和其邻接的2个标签部9对应的区域的薄膜宽度方向的中央部既定范围WB、和侧部废料25b对应的薄膜宽度方向的侧部既定范围WC成为“非检查范围(无需检查范围)”。
而且，本实施形态中，PTP薄膜25的薄膜宽度方向中从含有中央部既定范围WB及与此邻接的2个检查区域Kb的范围，也即薄膜宽度方向一侧的外侧境界部PA到另一侧的外侧境界部PA为止的薄膜宽度方向既定范围W0，被设定为薄膜宽度方向X射线照射范围(以下，仅成为“X射线照射范围”。)。
于这样的构成下，相对于薄膜法线方向，X射线传感器相机53和PTP薄膜25空出既定距离H1作配置，X射线照射装置51(X射线源51a)和PTP薄膜25空出既定距离H2作配置。再者，从X射线照射装置51(X射线源51a)照射的X射线的照射角(扇角)被设定成既定角度θ。
又，本实施形态中，薄膜宽度方向上的X射线照射装置51的中心轴D1的位置被设定在PTP薄膜25的薄膜宽度方向的中心位置。
其次，针对控制处理装置54，参照图5作说明。控制处理装置54为具备：掌管X射线检查装置45整体的控制的微电脑71；作为由键盘或鼠标、触摸板等所构成的“输入机构”的输入设备72；作为具有CRT或液晶等的显示画面的“显示机构”的显示设备73；用以存储各种画像数据等的画像数据存储装置74；用以存储各种运算结果等的运算结果存储装置75；以及用以预先存储各种信息的设定数据存储装置76等。此外，这些各装置72～76为和微电脑71电连接。
微电脑71为具备作为运算机构的CPU 71a、存储各种程序的ROM 71b、及暂时存储运算数据或输入/输出数据等的各种数据的RAM 71c等，且掌管控制处理装置54中的各种控制，并以可和PTP包装机10进行收发各种信号地连接。微电脑71为构成本实施形态中的画像处理机构。
于这样的构成下，微电脑71为驱动控制例如X射线照射装置51、X射线传感器相机53，执行取得PTP薄膜25的X射线穿透画像数据的拍摄处理、依据该X射线穿透画像数据检查PTP薄片1的检查处理、将该检查处理的检查结果朝PTP包装机10的不良薄片排出机构等输出的输出处理等。
画像数据存储装置74为存储有以根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像数据为首的于检查时被修正处理后的修正画像数据、被二值化处理的二值化画像数据、被遮蔽处理的遮蔽画像数据等的各种画像数据。
运算结果存储装置75存储检查结果数据或将该检查结果数据经机率统计处理后的统计数据等。可令这些检查结果数据、统计数据适宜地显示于显示设备73。
设定数据存储装置76用以存储用于检查的各种信息。被设定存储有作为这些各种信息的例如PTP薄片1、袋部2及片剂5的形状及尺寸或用以区划上述检查区域Kb的薄片框的形状及尺寸、用以区划袋部2的区域的袋框的形状及尺寸、在二值化处理中的辉度阈值、用以进行各种是否合格判定的判定基准值等。
其次，针对根据X射线检查装置45进行的X射线检查(检查方法)作说明。首先针对取得X射线穿透画像数据的处理的流程作详细说明。
关于X射线检查装置45，如上述那样，连续搬送的PTP薄膜25从遮蔽盒45a的入口部45b朝内部搬入，再从出口部45c朝外部被搬出。
在这期间，微电脑71驱动控制X射线照射装置51及X射线传感器相机53，对连续搬送的PTP薄膜25一边照射X射线(照射工序)，一边在PTP薄膜25每搬送既定量即取得拍摄穿透PTP薄膜25的X射线的一维的X射线穿透画像数据(拍摄工序)。
如此根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像数据，在该相机53内部转换成数字信号后，以数字信号的形式对控制处理装置54(画像数据存储装置74)输出。
更详细地说，微电脑71为，在由X射线照射装置51对PTP薄膜25平时照射X射线的状态下，一被输入来自上述编码器的时序信号时即开始进行利用X射线传感器相机53的曝光处理。
然后，当输入下一个时序信号时，将在那之前蓄积于光电二极管等的受光部的电荷统合并朝移位寄存器转送。接着，被转送于移位寄存器的电荷在到下一个时序信号被输入为止的期间，依据转送时钟信号，依序作为画像信号(X射线穿透画像数据)输出。
也即，从上述编码器输入既定的时序信号的时点到下个输入时序信号为止的时间成为在X射线传感器相机53的曝光时间。
此外，本实施形态中，构成为每次搬送PTP薄膜25，根据X射线传感器相机53取得在薄膜搬送方向的X射线传感器53a的宽度、也即相当于一份CCD宽度的长度份量的X射线穿透画像数据。当然，也可采用与此相异的构成。
画像数据存储装置74将从X射线传感器相机53输入的X射线穿透画像数据按时间序列依序存储。
然后，根据PTP薄膜25每被搬送既定量即反复进行上述一连串处理，且被照射X射线的位置逐渐相对移动，使得PTP薄膜25中的2个检查范围WA的X射线穿透画像数据连同薄膜搬送方向及薄膜宽度方向的位置信息一起按时间序列依序存储在画像数据存储装置74。由此，依序生成PTP薄片1的薄片本体部1a(检查区域Kb)的二维X射线穿透画像数据。
如此，当取得成为制品的1片PTP薄片1的薄片本体部1a(检查区域Kb)的X射线穿透画像数据时，微电脑71即执行检查处理(检查程序)。
以下，针对根据微电脑71所执行的检查程序，参照图8的流程图作详细说明。
此外，图8所示的检查程序为针对成为制品的1片PTP薄片1的薄片本体部1a(检查区域Kb)分别进行的处理。也即，PTP薄膜25往薄膜搬送方向每搬送相当于1片PTP薄片1份量的程度，对从并排于薄膜宽度方向的2个检查范围WA可获得的2片PTP薄片1(薄片本体部1a)的X射线穿透画像数据分别进行图8所示的检查程序。
如上述，当取得2片PTP薄片1(薄片本体部1a)的X射线穿透画像数据时，微电脑71首先在步骤S10中执行检查画像取得处理。
详言之，将从并排于PTP薄膜25的薄膜宽度方向的2个检查范围WA获得的2片PTP薄片1的薄片本体部1a(检查区域Kb)的X射线穿透画像数据中的在本程序作检查的一X射线穿透画像数据，从画像数据存储装置74以检查画像的形式读出。
其次，微电脑71为于步骤S11执行修正处理。详言之，分别生成将在上述步骤S10取得作为检查画像的X射线穿透画像数据修正成片剂检查用的修正画像数据及修正成凸缘部检查用的修正画像数据，将这些存储在画像数据存储装置74。
具体地说，本实施形态中，执行将已取得作为检查画像的X射线穿透画像数据的坐标系统转换成PTP薄膜25上的坐标系统的坐标转换处理(坐标转换工序)，并执行修正X射线穿透画像数据的各像素的辉度值(X射线强度)的强度修正处理。此处，根据执行“坐标转换处理”的微电脑71的机能来构成本实施形态中的“坐标转换机构”。又，根据执行“强度修正处理”的微电脑71的机能来构成本实施形态中的“强度修正机构”。
此外，本实施形态中，构成为：个别地进行生成片剂检查用的修正画像数据时的坐标转换处理及强度修正处理、及生成凸缘部检查用的修正画像数据时的坐标转换处理及强度修正处理。
首先，就坐标转换处理，参照图9作详细说明。图9为用以说明坐标转换处理的原理的示意图。图9中，薄膜宽度方向(图9左右方向)中的X射线照射装置51(X射线源51a)的中心轴D1的位置、及PTP薄膜25的薄膜宽度方向中央部被设定在X射线传感器相机53(X射线传感器53a的受光面)的薄膜宽度方向中央部。又，图9中，将X射线传感器相机53的薄膜宽度方向中央部设为薄膜宽度方向中的坐标系统的原点O。
如图9所示，关于X射线检查装置45，由于从X射线照射装置51将X射线朝X射线传感器相机53呈放射状(扇束状)照射，故以不同角度穿透PTP薄膜25的X射线入射于X射线传感器53a的各X射线检测组件，因在PTP薄膜25上的薄膜宽度方向中的片剂5的位置的差异，使得在X射线穿透画像数据中的片剂5的面积值等不同。
例如关于位于图9左侧的片剂5，PTP薄膜25上为直径[y2-y1]者在X射线传感器53a上被以直径[Y2-Y1]放大投影，与位于图9中央的片剂5相较下，其放大率变大。
于是，在本实施形态中，将X射线穿透画像数据的坐标系统(X射线传感器53a上的坐标系统)，针对片剂5为依据下式(α)且针对凸缘部3a为依据下式(β)而分别转换成PTP薄膜25上的坐标系统。
Yn/L0＝yn/L1
yn＝{Yn×L1}/L0···(α)
Yn/L0＝yn/L2
yn＝{Yn×L2}/L0···(β)
其中，L0：X射线源51a与X射线传感器53a的距离，
L1：X射线源51a与片剂5(片剂5的中心部)的距离，
L2：X射线源51a与凸缘部3a的距离，
Yn：X射线传感器53a上的坐标系统的坐标位置，
yn：PTP薄膜25(片剂5或凸缘部3a)上的坐标系统的坐标位置，n：1以上的自然数。
此外，上述距离L0、距离L1、距离L2为在X射线检查装置45设计上已知的值，预先存储在设定数据存储装置76。又，Yn为可从由X射线传感器53a取得的X射线穿透画像数据读取的坐标值。
其次，就强度修正处理作详细说明。从X射线照射装置51朝X射线传感器相机53呈放射状(扇束状)照射的X射线的强度为与距离的平方成反比地衰减。因此，越是穿透PTP薄膜25的比薄膜宽度方向中央部还靠薄膜宽度方向外侧的X射线，根据X射线传感器相机53检测的X射线的穿透量会减少。因此，X射线穿透画像数据为，位于和PTP薄膜25的靠薄膜宽度方向外侧对应处的画像数据的辉度值，比位于和PTP薄膜25的薄膜宽度方向中央部对应处的画像资料的辉度值低。
对此，本实施形态中，为依据X射线照射装置51及X射线传感器相机53的位置关系(距离)修正X射线穿透画像数据的各像素的辉度值，以在PTP薄膜25的薄膜宽度方向全区域成为更均一的辉度。
其次，微电脑71为于步骤S12执行二值化处理。详言之，对在上述步骤S11取得的各种修正画像数据分别执行二值化处理。
具体地说，生成将片剂检查用的修正画像数据以片剂异常检测级别予以二值化的二值化画像资料，将此作为片剂检查用的二值化画像数据存储在画像数据存储装置74。此处，例如将第1阈值δ1以上以“1(明部)”的形式，将小于第1阈值δ1以“0(暗部)”的形式，使片剂检查用的修正画像数据转换成二值化画像数据。
同时，生成将凸缘部检查用的修正画像数据以凸缘异常检测级别予以二值化的二值化画像资料，将此以凸缘部检查用的二值化画像数据的形式存储于画像数据存储装置74。此处，例如将第2阈值δ2以上以“1(明部)”的形式，将小于第2阈值δ2以“0(暗部)”的形式，使凸缘部检查用的修正画像数据转换成二值化画像数据。
其次，微电脑71为于步骤S13执行块处理。详言之，对在上述步骤S12取得的各种二值化画像数据执行块处理。
就块处理而言，为进行针对二值化画像数据的“0(暗部)”及“1(明部)”分别特定连结成分的处理，及针对各个的链接成分进行赋予标记的标记赋予处理。此处，分别特定的各连结成分的占有面积为以与X射线传感器相机53的像素对应的点数表示。
其次，微电脑71于步骤S14执行检查对象特定处理。
详言之，从依据片剂检查用的二值化画像数据根据上述步骤S13的块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分的中，特定和片剂5相当的连结成分、也即片剂区域。和片剂5相当的连结成分，为可根据判断含有既定的坐标的连结成分、属于既定的形状的连结成分、或属于既定的面积处的连结成分等而特定。
同时，将依据凸缘部检查用的二值化画像数据根据上述步骤S13的块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分，特定为和异物相当的连结成分、也即异物区域。
其次，微电脑71于步骤S15执行遮蔽处理。
详言之，对片剂检查用的二值化画像数据，设定上述薄片框并区划上述检查区域Kb，并且配合该二值化画像数据上的10个袋部2的位置分别设定上述袋框，对由此所特定的袋区域以外的区域、也即和凸缘部3a对应的区域进行遮蔽处理。已进行这样的遮蔽处理的画像数据以片剂检查用的遮蔽画像数据的形式存储在画像数据存储装置74。
同时，对凸缘部检查用的二值化画像数据设定上述薄片框并区划上述检查区域Kb，并且配合该二值化画像数据上的10个袋部2的位置分别设定上述袋框，对由此所特定的袋区域内进行遮蔽处理。已进行这样的遮蔽处理的画像数据以凸缘部检查用的遮蔽画像数据的形式存储在画像数据存储装置74。
此外，本实施形态中，上述薄片框及上述袋框的设定位置根据与PTP薄膜25的相对位置关系而预先决定。因此，本实施形态中，薄片框及袋框的设定位置没有每次对应检查画像作位置调整，但不受此所限，也可构成为考虑发生偏位等，依据从检查画像获得的信息适宜调整薄片框及袋框的设定位置。
其次，微电脑71于步骤S16中，将所有袋部2的片剂良品标志目标值设定为“0”。
此外，“片剂良品标志”表示对应的袋部2所收容的片剂5的是否合格判定结果，且设定于运算结果存储装置75。然后，于既定的袋部2所收容的片剂5被判定为良品的情况，与此对应的片剂良品标志目标值被设定成“1”。
于接着的步骤S17，微电脑71在设定于运算结果存储装置75的袋编号计数的值C设定为初期值的“1”。
此外，“袋编号”，指和1片PTP薄片1的检查区域Kb内的10个袋部2分别对应设定的序列编号，根据袋编号计数的值C(以下，仅称为“袋编号C”)可特定袋部2的位置。
然后，微电脑71于步骤S18，判定袋编号C是否为每一检查区域Kb(每1片PTP薄片1)的袋数N(本实施形态中为“10”)以下。
在此处判定为是的情况，转移到步骤S19，微电脑71依据上述片剂检查用的遮蔽画像资料，抽出在和现在的袋编号C(例如C＝1)对应的袋部2中的上述片剂区域(链接成分)的面积值为基准片剂面积值Lo以上的块(除去小于Lo的块)。
接着，微电脑71于步骤S20，判定在前述袋部2中的块个数是否为“1”。在此处判定为是的情况，也即在块个数为“1”的情况，转移到步骤S21。一方面，在判定为否的情况，将收容于和现在的袋编号C对应的袋部2的片剂5视为不良品，照原样转移到步骤S23。
于步骤S21，微电脑71判定片剂5的形状、长度、面积等是否适当。此处在判定为是的情况转移到步骤S22。另一方面，在判定为否的情况，将与现在的袋编号C对应的袋部2所收容的片剂5视为不良品，照原样转移到步骤S23。
于步骤S22，微电脑71将与现在的袋编号C对应的袋部2所收容的片剂5视为良品，在与该袋编号C对应的片剂良品标志目标值设定“1”，再转移到步骤S23。
之后，微电脑71在步骤S23于现在的袋编号C加“1”后，返回步骤S18。
此处，在新设定的袋编号C还是袋数N(本实施形态中为“10”)以下的情况，再度转移到步骤S19，反复执行上述一连串片剂检查处理。
另一方面，在判定新设定的袋编号C超过袋数N的情况，将和所有的袋部2所收容的片剂5有关的是否合格判定处理视为结束，转移到步骤S24。
于步骤S24，微电脑71判定凸缘部3a是否为良品。详言之，依据凸缘部检查用的遮蔽画像资料，例如判定在凸缘部3a的区域内是否存在既定的尺寸以上的异物等。
在此处判定为是的情况，转移到步骤S25。另一方面，在判定为否的情况，也即在被判定于凸缘部3a有异常的情况，照原样转移到步骤S27。
于步骤S25，微电脑71判定检查区域Kb内的所有袋部2的片剂良品标志目标值是否为“1”。由此，判定和该检查区域Kb对应的PTP薄片1是良品或不良品。
在此处判定为是的情况，也即在被收容在检查区域Kb内所有的袋部2的片剂5为“良品”，被判定为“不良品”的片剂5(袋部2)1个也不存在的情况，于步骤S26，将和该检查区域Kb对应的PTP薄片1判定为“良品”，结束本检查程序。
一方面，在步骤S25中判定为否的情况，也即就算判定在检查区域Kb内有一个“不良品”的片剂5(袋部2)的情况，转移到步骤S27。
于步骤S27中，微电脑71将和该检查区域Kb对应的PTP薄片1判定为“不良品”，结束本检查程序。
此外，于步骤S26的良品判定处理及步骤S27的不良品判定处理中，微电脑71将和该检查区域Kb对应的PTP薄片1有关的检查结果存储在运算结果存储装置54，并对PTP包装机10(包含不良薄片排出机构)输出。因此，根据上述步骤S12～步骤S27一连串的处理构成本实施形态中的“检查工序”，根据执行此种处理的微电脑71的机能来构成“检查机构”。
如以上所详述，依据本实施形态，对连续搬送的PTP薄膜25从X射线照射装置51一边照射X射线，一边在PTP薄膜25每搬送既定量即利用X射线传感器相机53拍摄穿透PTP薄膜25的X射线，再依据所取得的X射线穿透画像数据，进行和PTP薄片1有关的检查。
特别是依据本实施形态，在进行有关PTP薄片1的检查前，进行将根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像数据的坐标系统转换成PTP薄膜25的坐标系统的处理。由此，可修正因在PTP薄膜25的薄膜宽度方向中的位置差异所致的片剂5被放大投影成不同尺寸的X射线穿透画像数据。
进而，关于各种检查项目(片剂检查及凸缘部检查)，可分别基于在PTP薄片1全区域(检查范围WA全区域)共通的判定基准进行是否合格判定。换言之，可在未将关于相同检查项目的判定基准按PTP薄膜25的薄膜宽度方向的各位置区分并设定多个的情况下，于PTP薄片1全区域(检查范围WA全区域)进行均一的检查。结果，可谋求抑制检查精度的降低。
此外，未受限于上述实施形态的记载内容，例如也可按以下方式实施。不用说，当然也可为以下未例示的其他应用例、变更例。
(a)薄片状包装体(包装薄片)的构成为未受限于上述实施形态的PTP薄片1。例如也可将SP薄片作为检查对象。
如图10所示，一般的SP薄片90，根据使由以铝为基材的不透明材料所构成的带状的2片薄膜91、92重迭，并在两薄膜91、92间一边充填片剂5一边在该片剂5的周围留下袋状的收容空间93的方式接合该收容空间93的周围(图10中的底纹花纹部分)的两薄膜91、92，作成带状的包装体后，再根据将该包装体切离成矩形薄片状所形成。
在SP薄片90，在用以能以含有1个收容空间93的薄小片94为单位进行切离的切脱机方面，形成有沿着薄片长边方向形成的纵针孔线95及沿着薄片短边方向形成的横针孔线96。再加上，在SP薄片90，于薄片长边方向一端部，附设印刷有各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的标签部97。
(b)PTP薄片1单位的袋部2的排列或个数也未受上述实施形态的态样(2列、10个)任何限定，例如可采用以具有3列12个袋部2(收容空间2a)的类型为首的由各式各样的排列、件数所成的PTP薄片(关于上述SP薄片也相同)。当然，1个薄小片所包含的袋部(收容空间)数量也未受上述实施形态任何限定。
(c)在上述实施形态的PTP薄片1，作为切脱机，形成有将贯通于PTP薄片1的厚度方向的切口间歇排列而成的针孔线7，但切脱机未受此所限，也可对应于容器薄膜3及盖膜4的材质等而采用不同的构成。例如，也可构成为形成有如剖面大致V字状的狭缝(半切线)的非贯通的切脱机。又，也可为未形成针孔线7等的切脱机的构成。
又，上述实施形态中，虽构成为在PTP薄片1的周缘部的对应针孔线7的形成位置形成有缩颈部8，但也可为省略缩颈部8的构成。
(d)第1薄膜及第2薄膜的材质、层构造等，为未受限于上述实施形态的容器薄膜3、盖膜4的构成。例如上述实施形态中，容器薄膜3及盖膜4虽是以铝等的金属材料为基材所形成，但不受此所限，也可采用其他材质。也可采用例如可见光等不会穿透的合成树脂材料等。
(e)带状包装体的构成未受限于上述实施形态，也可采用其他的构成。
例如上述实施形态中，虽为在PTP薄膜25的宽度方向同时制造2片PTP薄片1的构成，但也可置换为在PTP薄膜25的宽度方向制造1片或3片以上的构成。
但是，较佳为袋部2的配置布置是以PTP薄膜25的薄膜宽度方向中央部为中心在薄膜宽度方向呈对称。
例如，上述实施形态的PTP薄膜25，成为在排列于薄膜宽度方向的2个薄片冲切范围Ka间介设有中央废料25a的布置。但不受此所限，如图11所示，也可作成省略中央废料25a，且和排列于薄膜宽度方向的2个PTP薄片1的标签部9对应的区域彼此直接连接的布置。
又，上述实施形态中，PTP薄膜25中排列于薄膜宽度方向的2个PTP薄片1分别为标签部9面向薄膜宽度方向中央部且和中央废料25a邻接的状态。但不受此所限，如图12所示，也可作成排列于薄膜宽度方向的2个PTP薄片1的标签部9分别面向薄膜宽度方向外侧且和侧部废料25b邻接的布置。
(f)电磁波照射机构的构成未受限于上述实施形态。上述实施形态中，成为照射作为电磁波的X射线的构成，但不受此所限，也可作成使用兆赫电磁波等的穿透PTP薄膜25的其他电磁波的构成。
(g)拍摄机构的构成未受限于上述实施形态。例如上述实施形态中，作为拍摄机构虽采用了使用闪烁体的CCD相机(X射线传感器相机53)，但不受此所限，也可采用将X射线直接入射并予以拍摄的相机。
上述实施形态中，作为拍摄机构虽采用并排有1列CCD的X射线传感器相机53，但不受此所限，也可采用例如在PTP薄膜25的薄膜搬送方向具备复数列CCD列(检测组件列)的X射线区域传感器相机，例如X射线TDI(Time Delay Integration、时延积分)相机。由此，可谋求更提升检查精度及检查效率。
(h)X射线检查装置45的配置位置未受限于上述实施形态。例如上述实施形态中，虽为在PTP薄膜25被往上下方向搬送的位置配置X射线检查装置45的构成，但不受此所限，也可作成例如在PTP薄膜25被往水平方向搬送的位置或斜向搬送的位置配置X射线检查装置45的构成。
又，上述实施形态中，虽构成为在比从PTP薄膜25冲切PTP薄片1还先的前工序中利用X射线检查装置45进行X射线检查，但不受此所限，也可构成为在从PTP薄膜25冲切PTP薄片1之后的后工序中，对根据输送机39所搬送的PTP薄片1进行检查。
此时，也可取代检查装置45是被设置于PTP包装机10内的构成(在线)，改为具备与PTP包装机10分开且作为脱机进行检查PTP薄片1的装置的检查装置45的构成。又，此时，也可构成为将可搬送PTP薄片1的搬送机构配备在检查装置45。
但是，在脱机进行检查的情况，由于作为检查对象的PTP薄片1的位置、朝向相对于检查装置45未成为一定，故在进行检查时，必须事先调整PTP薄片1的位置、朝向。其结果，有检查速度及检查精度降低的危险。
近年，于PTP薄片1的制造领域等中，伴随着生产速度的高速化而被要求各种检查的高速化。例如在PTP包装机10上进行检查的情况，也有被要求每1秒处理100个以上的片剂5的情况。因此，在线执行检查的方式在谋求生产性的提升上较佳。
(i)电磁波照射机构及拍摄机构的配置构成未受限于上述实施形态。
例如上述实施形态中，虽为X射线照射装置51配置在PTP薄膜25的容器薄膜3侧、X射线传感器相机53配置在PTP薄膜25的盖膜4侧的构成，但也可作成两者的位置关系相反，为将X射线照射装置51配置在盖膜4侧、X射线传感器相机53配置在容器薄膜3侧的构成。此时，“容器薄膜3”构成“第2薄膜”，“盖膜4”、构成“第1薄膜”。
(j)X射线检查装置45的构成，为未受限于上述实施形态。例如，也可构成为配合PTP薄膜25的尺寸或布置等而具备可将X射线照射装置51及X射线传感器相机53中至少1者在薄膜宽度方向、薄膜搬送方向及薄膜法线方向中至少1方向上作位置调整的位置调整机构(位置调整机构)。由此，提高X射线检查装置45的通用性并可谋求提升检查精度。
(k)又，关于X射线检查装置45，也可构成为：具备未图示的既定的导引机构等，使PTP薄膜25以往X射线传感器相机53侧凸出的方式弯成圆弧状，且在PTP薄膜25(片剂5或凸缘部3a)的薄膜宽度方向的各位置和X射线照射装置51的距离相等的状态进行搬送(参照图13)。
由此，可极力缩小或消除X射线相对于PTP薄膜25(片剂5或凸缘部3a)的薄膜宽度方向的各位置的入射角的差。
此处，于上述构成下，针对将X射线穿透画像数据的坐标系统(X射线传感器53a上的坐标系统)转换成PTP薄膜25上的坐标系统的坐标转换处理，参照图13详细说明。
此处，PTP薄膜25(片剂5或凸缘部3a)的坐标系统，为沿着弯曲的PTP薄膜25的圆弧状的坐标系统，当将此圆弧状的坐标系统的坐标位置设为“En”时，针对片剂5为依据下式(α’)，而针对凸缘部3a为依据下式(β’)，可分别求得。
其中，L0：X射线源51a与X射线传感器53a的距离，
Ra：X射线源51a与片剂5(片剂5的中心部)的距离，
Rb：X射线源51a与凸缘部3a的距离，
Yn：X射线传感器53a上的坐标系统的坐标位置，
X射线往坐标位置Yn入射的入射角，
n：1以上的自然数。
此外，上述距离L0、距离Ra、距离Rb为在X射线检查装置45设计上已知的值，预先存储在设定数据存储装置76。又，Yn为可从由X射线传感器53a取得的X射线穿透画像数据读取的坐标值。
其次，针对使PTP薄膜25以往X射线传感器相机53侧凸出的方式弯成圆弧状的效果作详细说明。
如上述，由于X射线为根据X射线照射装置51呈放射状照射，故如上述实施形态所示，在PTP薄膜25是被沿着薄膜宽度方向以水平的状态搬送的情况，成为X射线对从该PTP薄膜25的宽度方向中央部偏离的位置的片剂5斜向照射。又，由于片剂5在PTP薄膜25的薄膜宽度方向的位置差异，X射线对各片剂5的入射角也会不同。
此处，即便是将平行光对各片剂5斜向照射且朝既定的拍摄机构平行投影的情况，有时依片剂5的形状会有投影于拍摄机构的片剂5的影像变大的情况。又，依平行光的入射角差异，也有在投影画像的尺寸上产生差异的情况。
例如，如图14的(a)所示，在片剂5是如上述实施形态的镜片状药片的情况，因平行光的入射角所致的对投影画像的尺寸的影响为等同大致没有([片剂5实际的尺寸R1]≒[投影画像的尺寸R2])。
另一方面，如图14的(b)所示，在片剂5成为剖面矩形状的圆筒形的板状药片的情况，因平行光的入射角所致的对片剂5的投影画像的影响变较大([片剂5实际的尺寸R1]<[投影画像的尺寸R3])。特别是片剂(板状药片)5的厚度越厚，其影响越显著地呈现(R1<<R3)。
对此，除了上述步骤S11的坐标转换处理以外，再考虑因上述的平行光的入射角所致的对片剂5的投影画像的影响，也可考虑将X射线穿透画像数据按位于薄膜宽度方向多个部位的各片剂5作修正(R3→R1)。
但是，在进行此种修正的构成下，如图15所示，在假设袋部2内的片剂(板状药片)5的姿势为倾斜的情况，修正后的片剂5的尺寸(参照图15的二点链线)在外观上变小，有变得无法适当地进行检查的危险。
对此，如上述，根据使PTP薄膜25以往X射线传感器相机53侧凸出的方式弯成圆弧状，可极力缩小或消除X射线相对于位于PTP薄膜25的薄膜宽度方向多个部位的片剂5的入射角的差。结果，可抑制上述不良情况的发生。
(l)又，如图16所示，也可构成为：在X射线检查装置45中，X射线照射装置51配置在PTP薄膜25的盖膜4侧，X射线传感器相机53配置在PTP薄膜25的容器薄膜3侧，并且使用未图示的既定的导引机构等，将PTP薄膜25以往X射线照射装置51侧凸出的方式弯成圆弧状的状态下搬送。
根据此种构成，袋部2的突出侧成为位于弯成圆弧状的PTP薄膜25的内侧(凹侧)的状态，成为PTP薄膜25整体收纳于更窄的宽度范围内的状态。
由此，与以往相比，可在不用加大从电磁波照射机构51照射的X射线的照射角(朝宽度方向扩展)的情况下，在X射线的照射范围内一边维持PTP薄膜25全体一边将X射线照射装置51与X射线传感器相机53的距离L4缩成比上述实施形态的距离L0还短。结果，可谋求X射线检查装置45的小型化。
同时，根据X射线照射装置51与X射线传感器相机53的距离接近，变得更容易充分确保检查所需的X射线穿透量，可谋求提升检查精度。进而，作为X射线照射装置51，可采用输出更小的小型设备，可谋求检查装置进一步小型化。
(m)又，关于X射线检查装置45，若作成以袋部2的突出侧朝向下方的方式搬送PTP薄膜25，并且袋部2的突出侧端面(顶部)是朝外侧弯成圆弧状的构成，则在片剂5的表面弯曲成上述实施形态的镜片状药片的情况，能使该片剂5的姿势更稳定，可谋求进一步提升检查精度。
符号说明
1:PTP薄片
1a:薄片本体部
2:袋部
2a:收容空间
3:容器薄膜
4:盖膜
5:片剂
6:薄小片
7:针孔线
8:缩颈部
9:标签部
10:PTP包装机
25:PTP薄膜
25a:中央废料
25b:侧部废料
45:X射线检查装置
51:X射线照射装置
51a:X射线源
53:X射线传感器相机
54:控制处理装置
71:微电脑
74:画像数据存储装置
L0:X射线源与X射线传感器的距离
L1:X射线源与片剂的距离
L2:X射线源与凸缘部的距离
Yn:X射线传感器上的坐标系统的坐标位置
yn:PTP薄膜上的坐标系统的坐标位置。

Claims (10)

1.一种检查装置，为用以检查包装体的检查装置，该包装体以下述方式形成，安装有：由不透明材料所构成的第1薄膜、由不透明材料所构成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂，其特征在于，该检查装置具备：
电磁波照射机构，相对沿着既定方向搬送且在和前述既定方向正交的宽度方向的多个部位形成有前述收容空间的前述包装体，能从前述第1薄膜侧照射既定的电磁波；
拍摄机构，以隔着前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧，并且具有电磁波检测机构，且将前述包装体每被搬送既定量所取得的电磁波穿透画像依序输出，该电磁波检测机构为沿着前述宽度方向排列有能检测从前述电磁波照射机构照射并穿透前述包装体的电磁波的多个检测组件；
画像处理机构，处理从前述拍摄机构输出的画像信号，
前述画像处理机构具备：
坐标转换机构，依据前述电磁波照射机构、前述包装体及前述拍摄机构的位置关系，将根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透画像的坐标系统转换成前述包装体的坐标系统；
检查机构，依据根据前述坐标转换机构转换成前述包装体的坐标系统的前述电磁波穿透画像，能执行有关前述包装体的检查。
2.如权利要求1所述的检查装置，其中，
将前述包装体以往前述拍摄机构侧凸出的方式在前述宽度方向弯成圆弧状的状态下进行搬送。
3.如权利要求1所述的检查装置，其中，
前述包装体在位于前述拍摄机构侧的前述第2薄膜中，为泡罩包装，该泡罩包装以形成前述收容空间的袋部向前述拍摄机构侧突出的方式形成，
将前述包装体以往前述电磁波照射机构侧凸出的方式在前述宽度方向弯成圆弧状的状态下进行搬送。
4.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
前述包装体由安装有带状的前述第1薄膜和带状的前述第2薄膜而成，且为从设定在其宽度方向2个部位的薄片切离范围将薄片状包装体分别切离前的带状包装体，
前述带状包装体中并排在前述宽度方向的2个薄片状包装体，以和前述电磁波照射机构的中心轴交叉的前述带状包装体的宽度方向中央部为中心而在前述宽度方向对称地配置，且各个标签部配置成朝向前述带状包装体的宽度方向中央部侧或宽度方向外侧。
5.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
具备强度修正机构，该强度修正机构依据前述电磁波照射机构及前述拍摄机构的位置关系，修正前述电磁波穿透画像的各像素的值。
6.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
前述坐标转换机构将根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透画像的坐标系统转换成：至少以前述片剂为基准的坐标系统、及以形成于前述收容空间周围的凸缘部为基准的坐标系统，
前述检查机构在有关前述包装体的检查方面，基于已转换成至少以前述片剂为基准的坐标系统的前述电磁波穿透画像执行有关前述片剂的检查，且基于已转换成以前述凸缘部为基准的坐标系统的前述电磁波穿透画像，执行有关前述凸缘部的检查。
7.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
前述电磁波为X射线或兆赫电磁波。
8.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
前述第1薄膜及前述第2薄膜以铝为基材形成。
9.一种包装机，具备如权利要求1至3中任一项的检查装置。
10.一种检查方法，为用以检查包装体的检查方法，该包装体以下述方式构成，安装有：由不透明材料所构成的第1薄膜、由不透明材料所构成的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有片剂而成，
其特征在于，该检查方法具备：
照射工序，可从配置在前述第1薄膜侧的既定的电磁波照射机构，相对沿着既定方向搬送且在和前述既定方向正交的宽度方向的多个部位形成有前述收容空间的前述包装体，照射既定的电磁波；
拍摄工序，根据以隔着前述包装体和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧的既定的拍摄机构，将检测并取得穿透前述包装体的电磁波的电磁波穿透画像，按前述包装体每搬送既定量依序输出；
坐标转换工序，根据前述电磁波照射机构、前述包装体及前述拍摄机构的位置关系，将在前述拍摄工序所取得的电磁波穿透画像的坐标系统转换成前述包装体的坐标系统；
检查工序，根据在前述坐标转换工序中转换成前述包装体的坐标系统的前述电磁波穿透画像，执行有关前述包装体的检查。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD965440S1 (en) * 2020-06-29 2022-10-04 The Procter And Gamble Company Package

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0743320A (ja) * 1993-03-15 1995-02-14 Hitachi Ltd Ｘ線検査方法およびその装置並びにプレプレグの検査方法および多層配線基板の製造方法
CN101266218A (zh) * 2007-03-15 2008-09-17 欧姆龙株式会社 X射线检查装置及使用x射线检查装置的x射线检查方法
JP2011033505A (ja) * 2009-08-03 2011-02-17 Ishida Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2011149738A (ja) * 2010-01-19 2011-08-04 Saki Corp:Kk 補正用治具を用いた検査装置の補正方法、補正用治具を搭載した検査装置
JP2012225666A (ja) * 2011-04-15 2012-11-15 Ckd Corp 錠剤検査装置及びｐｔｐ包装機
JP2013253832A (ja) * 2012-06-06 2013-12-19 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2014085190A (ja) * 2012-10-23 2014-05-12 Ckd Corp 錠剤検査装置及びｐｔｐ包装機
JP2016024096A (ja) * 2014-07-22 2016-02-08 株式会社イシダ 検査装置
CN106030293A (zh) * 2014-01-23 2016-10-12 株式会社蛟簿 X射线检查装置以及x射线检查方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2003301341A1 (en) * 2002-10-15 2004-05-04 Digitome Corporation Ray tracing kernel
US7738687B2 (en) * 2005-04-07 2010-06-15 L-3 Communications Security And Detection Systems, Inc. Method of registration in a contraband detection system
EP2090883B1 (en) * 2008-02-15 2010-08-11 PANalytical B.V. Detection of counterfeit drugs in in blister packs by angle dispersive X-ray diffraction
DE102010038544A1 (de) * 2009-10-19 2011-04-21 Robert Bosch Gmbh Sensorvorrichtung für eine Verpackungsmaschine
ES2779408T3 (es) * 2013-07-16 2020-08-17 Qualicaps Co Ltd Aparato y procedimiento para marcar objeto comestible
JP6062584B1 (ja) * 2016-01-26 2017-01-18 Ckd株式会社 Ｐｔｐ包装機
JP6450815B1 (ja) * 2017-08-24 2019-01-09 Ckd株式会社 外観検査装置及びブリスター包装機
JP6411599B1 (ja) * 2017-08-24 2018-10-24 Ckd株式会社 ブリスター包装機
JP6568245B2 (ja) * 2018-01-24 2019-08-28 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機、及び、検査装置の較正方法
JP6706301B2 (ja) * 2018-09-28 2020-06-03 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機及びｐｔｐシートの製造方法
JP6786565B2 (ja) * 2018-10-10 2020-11-18 Ckd株式会社 検査装置、ｐｔｐ包装機及びｐｔｐシートの製造方法
JP6766216B1 (ja) * 2019-04-24 2020-10-07 Ckd株式会社 検査装置、包装シート製造装置及び包装シート製造方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0743320A (ja) * 1993-03-15 1995-02-14 Hitachi Ltd Ｘ線検査方法およびその装置並びにプレプレグの検査方法および多層配線基板の製造方法
CN101266218A (zh) * 2007-03-15 2008-09-17 欧姆龙株式会社 X射线检查装置及使用x射线检查装置的x射线检查方法
JP2011033505A (ja) * 2009-08-03 2011-02-17 Ishida Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2011149738A (ja) * 2010-01-19 2011-08-04 Saki Corp:Kk 補正用治具を用いた検査装置の補正方法、補正用治具を搭載した検査装置
JP2012225666A (ja) * 2011-04-15 2012-11-15 Ckd Corp 錠剤検査装置及びｐｔｐ包装機
JP2013253832A (ja) * 2012-06-06 2013-12-19 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2014085190A (ja) * 2012-10-23 2014-05-12 Ckd Corp 錠剤検査装置及びｐｔｐ包装機
CN106030293A (zh) * 2014-01-23 2016-10-12 株式会社蛟簿 X射线检查装置以及x射线检查方法
JP2016024096A (ja) * 2014-07-22 2016-02-08 株式会社イシダ 検査装置

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