CN113748332B - 检查装置、包装薄片制造装置及包装薄片制造方法 - Google Patents

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Abstract

[课题]提供一种可抑制检查效率降低且能更可靠地担保检查质量的均一性的检查装置等。一边照射可穿透PTP薄膜9的X射线，一边根据X射线传感器52a取得基于已穿透PTP薄膜9的X射线的X射线穿透图像，基于该X射线穿透图像执行检查。X射线穿透图像的取得，为以朝X射线的照射源的对向侧凸出的方式使PTP薄膜9弯曲，并以维持着PTP薄膜9的弯曲形状的状态下进行。X射线传感器52a被设为沿着PTP薄膜9的形状的弯曲形状。由此，可抑制照射于PTP薄膜9的各位置的电磁波强度的不均等。其结果，X射线穿透图像在各位置更为均质。

Description

检查装置、包装薄片制造装置及包装薄片制造方法
技术领域
本发明有关一种在制造收容了内容物的包装薄片时所使用的装置及方法。
背景技术
在已知的医药品、食料品等的各种区域中，作为包装片剂等的内容物的包装薄片，广泛利用PTP(press through package；泡罩包装)薄片。
PTP薄片具备：形成有收容内容物的袋部的容器薄膜、以对其容器薄膜密封袋部的开口侧的方式安装的盖膜，且根据将袋部从外侧按压，再由其所收容的内容物扎破构成盖的盖膜，可取出该片剂。
这样的PTP薄片经过对带状的容器薄膜持续形成袋部的袋部形成工序、于该袋部持续充填片剂的充填工序、对以密封该袋部的开口侧的方式形成在容器薄膜的袋部周围的凸缘部安装带状的盖膜以制造PTP薄膜的安装工序、及从该PTP薄膜切离成为最终制品的PTP薄片的切离工序等所制造。通常，于PTP薄膜，在沿着PTP薄膜的宽度方向形成多个沿着该PTP薄膜的长边方向并排的充填内容物的袋部的列。
一般而言，于制造PTP薄片时，于其制造过程(于袋部收容内容物的后工序且从PTP薄膜切离PTP薄片的前工序)，进行和内容物的异常(例如在袋部内有无内容物、裂纹或破损等)有关的检查、和凸缘部的异常(例如在凸缘部有无异物等)有关的检查等。
近年来，从谋求遮旋光性、防湿性的提升等这类的观点来看，容器薄膜及盖膜两薄膜是根据以铝等为基材的不透明材料所形成的情况变多。
这样的情况，上述各种检查为使用X射线检查装置等来进行。一般而言，X射线检查装置为具备对所连续搬送的PTP薄膜照射X射线的X射线产生器(X射线源)、及检测穿透该PTP薄膜的X射线的X射线检测器，且基于其X射线的穿透量进行各种检查。又，在检查方法方面，已知下述一种方法，即，取得与穿透PTP薄膜的X射线对应的X射线图像，并针对该X射线图像按内容物(袋部)的各列而应用相同的图像处理算法，依据应用该算法的X射线图像，使用按内容物各列所设定的阈值，以判定内容物的是否合格(例如，参照专利文献1等)。简言之，该方法为，由X射线产生器(X射线源)照射扇状(放射状)X射线，以因在某列的内容物与其他列的内容物间被照射X射线的角度不同而会在各列的内容物间的X射线图像的面积值、体积值产生差异为课题，为解决该课题而按内容物的各列设定方便的阈值等。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本特开2013-253832号公报
发明内容
[发明要解决的课题]
然而，就上述检查方法而言，有必要按内容物的各列设定阈值，在阈值设定上需要很大的劳力、时间。例如，在内容物的列有10列的PTP薄膜中，为了检查而须至少设定10个阈值。
再者，当使各列的阈值不同时，可能发生在某列被判定为不合格的内容物在另外的列被判定为合格品的情形。又，在进行位于内容物的列间的凸缘部分的检查时，也可能发生因选择哪列的阈值而使判定结果变动等不合格情况。即，会有伴随着在PTP薄膜中的位置的差异使检查结果变动而难以保持检查质量的均一性的危险。
此外，上述课题不仅PTP包装，在SP(strip package；窄条包装)包装等、包装片剂等的内容物的其他包装领域中也可能发生。又，不限于X射线，在使用兆赫电磁波等的穿透包装薄片的其他电磁波的情况也可能发生。
本发明有鉴于上述情况而做出，其目的在于，提供一种可抑制检查效率降低并能更可靠地担保检查质量的均一性的检查装置、包装薄片制造装置及包装薄片制造方法。
[解决课题的手段]
以下，针对适合于解决上述目的的各方案，分项作说明。此外，视需要在对应的方案附记特有的作用效果。
方案1.一种检查装置，为在制造带状的包装薄膜并将该包装薄膜切离以获得包装薄片时使用，该带状的包装薄膜为安装有由不透明材料所成的带状的第1薄膜及由不透明材料所成的带状的第2薄膜且在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物，其特征为,具备：
电磁波照射机构，具有从前述第1薄膜侧对所搬送的前述包装薄膜照射可穿透前述包装薄膜的电磁波的照射源而构成；
拍摄机构，具有隔着前述包装薄膜和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并可检测穿透前述包装薄膜的电磁波的检测部，取得依据穿透前述包装薄膜的电磁波的电磁波穿透图像；
图像处理机构，依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，可执行前述包装薄片的检查，
且具有：
变形机构，沿着前述包装薄膜的搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠上游处，以朝前述电磁波照射机构的前述照射源的对向侧凸出的方式弯曲前述包装薄膜；
变形状态维持机构，沿着前述搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠下游处，且在至少被照射来自前述电磁波照射机构的电磁波的位置，可维持根据前述变形机构所弯曲的前述包装薄膜的形状，
前述拍摄机构的前述检测部呈沿着前述包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状。
此外，在以下的方案中也相同，上述“包装薄片”包含有：例如“PTP薄片”、“SP薄片”等。又，上述“和包装薄片有关的检查”，包含有：例如在收容空间内的内容物的有无、破损等的“和内容物有关的检查”；在形成于收容空间周围的凸缘部(安装第1薄膜与第2薄膜的部分)有无异物等的“和凸缘部有关的检查”。再者，作为电磁波，可举出X射线或兆赫电磁波。
依据上述方案1，根据变形机构以成为朝电磁波照射机构的对向侧凸出的方式弯曲包装薄膜，并在根据变形状态维持机构维持包装薄膜的弯曲形状的状态下，根据电磁波照射机构对包装薄膜照射电磁波，同时根据拍摄机构取得电磁波穿透图像。因此，与包装薄膜是在扁平状态下被检查的情况相比，可减低从电磁波的照射源到包装薄膜各位置为止的距离的差，可抑制照射到包装薄膜各位置的电磁波强度发生不均。又，由于拍摄机构中的电磁波的检测部被设为沿着包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状，所以穿透包装薄膜并入射于检测部的电磁波的入射角度没有因穿透的包装薄膜的位置而有大的不同的情况。这些作用效果互相起作用，所获得的电磁波穿透图像于各位置更为均匀。由此，在基于电磁波穿透图像执行有关包装薄片的检查时，变得无需按内容物的各列设定阈值，可抑制检查效率的降低。又，可更可靠地抑制因包装薄膜中的位置差异所致的检查结果变动且能更可靠地担保检查质量的均一性。
方案2.如方案1的检查装置，其中前述变形机构构成为在通过前述照射源且与前述包装薄膜的搬送方向正交的剖面中，呈以前述照射源为中心的圆弧状的方式使前述包装薄膜弯曲。
依据上述方案2，可将从电磁波的照射源到包装薄膜各位置为止的距离设为大致一定，可将照射于包装薄膜各位置的电磁波的强度设为大致相等。又，穿透包装薄膜并入射于检测部的电磁波的入射角度，可无关乎穿透的包装薄膜的位置设为大致相同。这些结果为，所获得的电磁波穿透图像在各位置更均匀。
方案3.如方案1或2的检查装置，其中具备复原机构，其沿着前述搬送路径配设在比前述变形状态维持机构还靠下游处，用以将前述包装薄膜恢复成扁平状态。
依据上述方案3，根据复原机构可将弯曲的包装薄膜恢复成扁平状态。因此，可更正确地(照预期)进行针对检查后的包装薄膜的各种处理(例如，将包装薄膜切离而获得包装薄片的处理等)。
方案4.如方案3的检查装置，其中前述复原机构具备可旋转且外径沿着旋转轴方向呈一定的直辊，且构成为，根据该直辊的外周面和前述包装薄膜接触以将该包装薄膜恢复成扁平状态。
此外，也可在直辊的外周面形成用以收容袋部的凹部。此时，若包含直辊的外周面的假想圆筒的外径是沿着旋转轴方向呈一定，则可谓满足上述方案4的构成。
依据上述方案4，可将包装薄膜可靠且简便地设为扁平状态。又，可防止复原机构的构造的复杂化，可谋求装置的简化、小型化。
方案5.如方案1至4中任一者的检查装置，其中前述第2薄膜为呈突状且内部空间具有形成前述收容空间的袋部，前述变形机构使前述包装薄膜弯曲，该包装薄膜呈前述袋部朝前述电磁波照射机构的对向侧突出的状态。
在袋部要配置于弯曲内侧而使包装薄膜弯曲的情况，在弯曲时，压缩袋部的方向的力会施加于包装薄膜。因此，有可能发生包装薄膜变难以顺畅弯曲或袋部崩塌变形。
关于这点，依据上述方案5，变形机构使袋部朝电磁波照射机构的对向侧突出的状态的包装薄膜弯曲。因此，包装薄膜以袋部配置在弯曲外侧的方式被弯曲。由此，可使包装薄膜更可靠顺畅地弯曲，又，可更可靠地防止袋部崩塌变形。
方案6.如方案1至5中任一者的检查装置，其中前述变形机构具备变形用辊，其可旋转且具有周长会沿着旋转轴方向从两端部侧朝中心部侧慢慢减少的外周面、或周长会沿着旋转轴方向从两端部侧朝中心部侧慢慢增大的外周面，且构成为，根据该变形用辊与前述包装薄膜接触以使前述包装薄膜弯曲。
此外，在变形用辊的外周面也可具有用以收容袋部的凹部。此时，若包含变形用辊的外周面的假想外周面的周长是成为沿着旋转轴方向从两端部侧朝中心部侧慢慢减少或者慢慢增大的形状，则可称之为满足上述方案6的构成。
依据上述方案6，根据变形用辊与包装薄膜接触使包装薄膜被弯曲。因此，可在对所搬送的包装薄膜未施加过度的负荷的下，使包装薄膜顺畅地弯曲。其结果，可更可靠地防止所制造的包装薄片质量降低。又，由于变形机构可根据较简单的构成来实现，故可谋求装置的小型化、低成本化、提升保养的便利性等。
方案7.如方案6的检查装置，其中前述变形机构具有可旋转且在与前述变形用辊之间挟持前述包装薄膜的按压辊。
依据上述方案7，可使包装薄膜更可靠地弯曲成目标的形状。因此，可更有效地发挥涉及检查的上述各种作用效果。
方案8.如方案1至7中任一者的检查装置，其中前述变形机构及前述变形状态维持机构分别由相同构成的装置所构成。
依据上述方案8，变形机构及变形状态维持机构根据相同装置所构成。因此，与各机构根据不同装置所构成的情况相较下，可谋求减低制造成本、零件管理容易化、提升保养性等。
方案9.一种包装薄片制造装置，其特征为，具备如方案1至8中任一者的检查装置。
依据上述方案9，可获得和上述方案1等同样的作用效果。
方案10.一种包装薄片制造方法，为制造带状的包装薄膜并切离该包装薄膜而获得包装薄片的包装薄片制造方法，该包装薄膜被安装由不透明材料构成的带状的第1薄膜及由不透明材料构成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物而成，其特征为，具备：
安装工序，安装所搬送的带状的前述第1薄膜及所搬送的带状的前述第2薄膜；
充填工序，在前述第1薄膜与前述第2薄膜之间所形成的前述收容空间内充填前述内容物；
切离工序，从带状的前述包装薄膜切离前述包装薄片，前述包装薄膜为被安装有前述第1薄膜及前述第2薄膜且前述收容空间内收容有前述内容物而成；
执行前述包装薄片的检查的检查工序，
前述检查工序包含：
照射工序，根据规定的电磁波照射机构所具有的照射源，从前述第1薄膜侧对所搬送的前述包装薄膜照射可穿透前述包装薄膜的电磁波；
拍摄工序，使用拍摄机构取得基于已穿透前述包装薄膜的电磁波的电磁波穿透图像，该拍摄机构具有隔着前述包装薄膜和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并可检测穿透前述包装薄膜的电磁波的检测部而成；
是否合格判定工序，基于根据前述拍摄工序所取得的电磁波穿透图像，进行有关前述包装薄膜的是否合格判定，
前述照射工序及前述拍摄工序，以成为朝前述照射源的对向侧凸出的方式使前述包装薄膜弯曲，并在维持着该包装薄膜的弯曲形状的状态下进行，
前述拍摄机构的前述检测部形成为沿着前述包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状。
依据上述方案10，可获得和上述方案1同样的作用效果。
附图说明
图1为PTP薄片的立体图。
图2为PTP薄片的部分放大剖面图。
图3为PTP薄膜的立体图。
图4为PTP包装机的大致构成图。
图5为显示X射线检查装置的电气构成的方块图。
图6为显示X射线检查装置的大致构成的示意图。
图7为显示X射线照射装置、X射线照射装置及PTP薄膜的位置关系的示意图。
图8为示意显示变形用装置、维持用装置的大致构成的立体图。
图9为图8中的J-J线剖面图。
图10为显示PTP薄膜及X射线照射装置的位置关系的示意图。
图11为显示制造工序的流程图。
图12为显示是否合格判定工序的流程图。
图13为示意显示另外的实施形态中的变形用装置及维持用装置的大致构成的立体图。
图14为图13的K-K线剖面图。
图15为显示另外的实施形态中以袋部位于弯曲外侧的方式弯曲的PTP薄膜等的示意图。
图16为显示SP薄片的平面图。
具体实施方式
以下，针对一实施形态一边参照附图一边作说明。首先针对作为包装薄片(薄片状包装体)的PTP薄片1作说明。
如图1、2所示，PTP薄片1具有具备形成突状的多个个袋部2的容器薄膜3及塞住袋部2般安装于容器薄膜3的盖膜4。本实施形态中的“容器薄膜3”构成“第1薄膜”，“盖膜4”构成“第2薄膜”。
本实施形态中的容器薄膜3及盖膜4根据以铝为基材(主材料)的不透明材料所构成。例如容器薄膜3根据铝积层薄膜(对铝薄膜积层合成树脂薄膜者)所形成。一方面，盖膜4为根据铝薄膜所形成。
PTP薄片1形成为俯视呈大致矩形，其四角为圆弧状带有圆角的形状。在PTP薄片1，由沿薄片长边方向并排的5个袋部2所成的袋部列在薄片短边方向形成2列。即，形成有共10个袋部2。在各袋部2内的收容空间2a收容有一个一个作为内容物的片剂5。
又，在PTP薄片1沿着薄片短边方向形成多个作为切离线的针孔线7，能以含有规定数(本实施形态中为2个)的袋部2的小薄片6为单位作切离。
再加上，于PTP薄片1，在薄片长边方向一端部，附设刻印有片剂名称、批号等的各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的卷标部8。标签部8为未设置袋部2，且在与小薄片6之间根据1条针孔线7隔开。
本实施形态的PTP薄片1经过从安装有带状的容器薄膜3与带状的盖膜4所成的作为包装薄膜(带状包装体)的带状的PTP薄膜9(参照图3)将最终制品的PTP薄片1冲切成矩形薄片状的工序等所制造。
如图3所示，本实施形态的PTP薄膜9为，沿着其长边方向并排的袋部2的列沿着其宽度方向作多个(本实施形态中为10)设置。也就是说，本实施形态中的PTP薄膜9构成为沿着其宽度方向配列有和2薄片份量对应的数个袋部2。又，构成为在PTP薄膜9的宽度方向中央部存在有和2片的PTP薄片1的各标签部8对应的部位，该宽度方向中央部设成不存在有袋部2的平坦状。
其次，针对作为制造上述PTP薄片1的包装薄片制造装置的PTP包装机10的大致构成作说明。
如图4所示，在PTP包装机10的最上游侧，带状的容器薄膜3的料卷被卷成辊状。卷成辊状的容器薄膜3的引出端侧被导辊13导引。容器薄膜3于导辊13的下游侧被挂装于间歇进给辊14。间歇进给辊14为连结于间歇地旋转的马达，将容器薄膜3间歇地搬送。
在导辊13与间歇进给辊14之间，沿着容器薄膜3的搬送路径，配设作为袋部形成机构的袋部形成装置16。由此袋部形成装置16利用冷加工在容器薄膜3的规定的位置一次形成多个袋部2。袋部2的成形在根据间歇进给辊14进行搬送容器薄膜3的动作期间的空隙(interval)中进行。
但是，本实施形态的PTP包装机10构成为，容器薄膜3不仅为利用铝制来制造，也可利用例如PP(聚丙烯)或PVC(聚氯乙烯)等的较硬质且具规定刚性的热塑性树脂材料来制造的包装机(兼用机)。因此，于袋部形成装置16的上游侧，具备用以加热容器薄膜3的成为柔软状态的加热装置15。当然，在形成铝制的容器薄膜3的情况不使用加热装置15。
从间歇进给辊14送出的容器薄膜3为按张紧辊18、导辊19及薄膜承接辊20的顺序挂装。由于薄膜承接辊20连结于固定旋转的马达，故将容器薄膜3以连续且固定速度搬送。张紧辊18为被设成根据弹力将容器薄膜3拉往张紧的侧的状态，防止因前述间歇进给辊14与薄膜承接辊20的搬送动作的差异所致的容器薄膜3弯曲，并将容器薄膜3保持成平时张紧状态。
在导辊19与薄膜承接辊20之间，沿着容器薄膜3的搬送路径，配设作为充填机构的片剂充填装置21。
片剂充填装置21具有将片剂5自动充填于袋部2的机能。片剂充填装置21与利用薄膜承接辊20搬送容器薄膜3的动作同步地按每规定间隔开启挡板使片剂5落下，伴随此挡板开放动作而将片剂5充填于各袋部2。
一方面，形成带状的盖膜4的料卷于最上游侧被卷成辊状。卷成辊状的盖膜4的引出端根据导辊22朝加热辊23引导。加热辊23可和前述薄膜承接辊20压接，构成为，容器薄膜3及盖膜4被送入两辊20、23间。
然后，根据容器薄膜3及盖膜4，在两辊20、23间以加热压接状态通过，而对容器薄膜3的袋部2周围的凸缘部3a(参照图1～3)贴上盖膜4，使袋部2被盖膜4塞住。由此，制造在各袋部2充填有片剂5的PTP薄膜9。此外，在加热辊23的表面形成有密封用的网目状的微细凸条(未图示)，根据微细凸条强压接而实现强固的密封。
又，构成为：在薄膜承接辊20设有未图标的编码器，该薄膜承接辊20每旋转规定量，即PTP薄膜9每搬送规定量，对后述的X射线检查装置45输出规定的时序信号。
从薄膜承接辊20送出的PTP薄膜9为被挂装于间歇进给辊28。由于间歇进给辊28为连结于作间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜9间歇地搬送。
在薄膜承接辊20与间歇进给辊28之间，沿着PTP薄膜9的搬送路径配设X射线检查装置45。X射线检查装置45用以进行以袋部2所收容的片剂5的异常(例如片剂5的有无、裂纹、破损等)的检测或袋部2以外的凸缘部3a的异常(例如存在于凸缘部3a上的异物等)的检测为主要目的的X射线检查。本实施形态中，“X射线检查装置45”构成“检查装置”。
从间歇进给辊28送出的PTP薄膜9以按张紧辊29及间歇进给辊30的顺序挂装。由于间歇进给辊30为连结于间歇地旋转的马达，故将PTP薄膜9间歇地搬送。张紧辊29被设成根据弹力将PTP薄膜9拉往张紧的侧的状态，防止在前述间歇进给辊28、30间的PTP薄膜9的松弛。
在间歇进给辊28与张紧辊29之间，沿着PTP薄膜9的搬送路径，依序配设针孔线形成装置33及刻印装置34。
针孔线形成装置33为具有在PTP薄膜9的规定位置形成上述针孔线7的机能。刻印装置34为具有在PTP薄膜9的规定位置(和上述卷标部8对应的位置)附加上述刻印“ABC”的机能。
从间歇进给辊30送出的PTP薄膜9以于其下游侧按张紧辊35及连续进给辊36的顺序挂装。在间歇进给辊30与张紧辊35之间，沿着PTP薄膜9的搬送路径，配设薄片冲切装置37。薄片冲切装置37具有作为将PTP薄膜9以PTP薄片1为单位冲切其外缘的薄片冲切机构(切离机构)的机能。
根据薄片冲切装置37冲切的PTP薄片1，根据输送机39搬送，被暂时储存于完成品用漏斗40。但在根据上述X射线检查装置45判定不合格品的情况，其被判定为不合格品的PTP薄片1为在未朝完成品用漏斗40搬送下，根据作为未图示的排出机构的不合格薄片排出机构而另外被排出，移往未图示的不合格品漏斗。
于连续进给辊36的下游侧配设有裁断装置41。然后，根据薄片冲切装置37冲切后呈带状残留的废弃薄膜部42在被前述张紧辊35及连续进给辊36导引后，引导至裁断装置41。此处，连续进给辊36被从动辊压接而一边挟持前述废弃薄膜部42一边进行搬送动作。
裁断装置41具有将废弃薄膜部42裁断成规定尺寸的机能。被裁断的废弃薄膜部42(废料)在被储存于废料用漏斗43后，另外被废弃处理。
此外，上述各辊14、19、20、28、29、30等为其辊表面与袋部2为对向的位置关系，但因为在间歇进给辊14等的各辊的表面形成有供收容袋部2的凹部，所以没有袋部2崩塌的情况。又，袋部2一边收容于间歇进给辊14等的各辊的各凹部，一边进行进给动作，能可靠地进行间歇进给动作或连续进给动作。
PTP包装机10的大致为如以上所述，以下就上述X射线检查装置45的构成，参照附图作详细说明。其中，图6等的图示中，为了简化而省略了PTP薄膜9的袋部2等一部分的构成。
如图5～10所示，X射线检查装置45具备：对PTP薄膜9(特别是容器薄膜3及盖膜4)照射可穿透PTP薄膜9的X射线的X射线照射装置51；拍摄被照射该X射线的PTP薄膜9的X射线穿透图像的X射线传感器相机52；控制处理装置53，用以实施X射线照射装置51或X射线传感器相机52的驱动控制等在X射线检查装置45内的各种控制或图像处理、运算处理等。
本实施形态中，“X射线”相当于“电磁波”。又，“X射线穿透图像”构成“电磁波穿透图像”，“控制处理装置53”构成“图像处理机构”，“X射线照射装置51”构成“电磁波照射机构”，“X射线传感器相机52”构成“拍摄机构”。
此外，X射线照射装置51及X射线传感器相机52收容于由可遮蔽X射线的材质所构成的遮蔽盒(未图示)内。遮蔽盒除设有为使PTP薄膜9通过的狭缝状的开口以外，还成为极力抑制X射线朝外部漏泄的构造。
X射线照射装置51配置在往垂直方向朝下搬送的PTP薄膜9的容器薄膜3侧。X射线照射装置51在和PTP薄膜9的宽度方向中心部相对的位置具有照射X射线的照射源51a。照射源51a具有X射线的发生源、用以集中X射线的准直器(各自均未图示)，且构成为可将朝PTP薄膜9宽度方向具有规定的扩展(扇角)的扇束状的X射线，从容器薄膜3侧对PTP薄膜9照射。此外，也可构成为照射对PTP薄膜9的搬送方向也具有规定的扩展的圆锥束状的X射线。
X射线传感器相机52以沿着和PTP薄膜9搬送方向正交的方向与X射线照射装置51对向的方式，隔着PTP薄膜9配置在X射线照射装置51的相反侧(本实施形态中为盖膜4侧)。
X射线传感器相机52具有并排有1列可检测穿透PTP薄膜9的X射线的多个X射线检测组件的X射线传感器52a，且为可检测穿透PTP薄膜9的X射线的构成。本实施形态中，根据X射线传感器相机52，可拍摄(曝光)穿透PTP薄膜9的X射线。作为X射线检测组件，可举出例如具有闪烁体的光转换层的CCD(Charge Coupled Device；电荷耦合器)等。本实施形态中，“X射线传感器52a”构成“检测部”。
又，PTP薄膜9根据后述的变形用装置54、维持用装置55弯曲变形成圆弧状，并在维持该变形状态往X射线照射装置51及X射线传感器相机52侧搬送时，X射线传感器52a构成为形成沿着PTP薄膜9的弯曲形状的弯曲形状。本实施形态中，X射线传感器52a为在通过照射源51a且和PTP薄膜9的搬送方向正交的剖面中，形成以该照射源51a为中心的圆弧状的弯曲的形状。
根据X射线传感器相机52所取得的X射线穿透图像数据，在PTP薄膜9每被搬送规定量，于该相机52内部转换成数字信号(图像信号)后，以数字信号的形式对控制处理装置53(以下将叙述的图像数据存储装置74)输出。然后，控制处理装置53根据对该X射线穿透图像进行规定的处理等而实施后述的各种检查。
其次，针对控制处理装置53作说明。控制处理装置53具备：掌管X射线检查装置45整体的控制的微电脑71；由键盘或鼠标、触摸板等所构成的输入装置72；具有CRT或液晶等的显示画面的显示装置73；用以存储各种图像数据等的图像数据存储装置74；用以存储各种运算结果等的运算结果存储装置75；用以预先存储各种信息的设定数据存储装置76等(参照图5)。此外，这些各装置72～76为和微电脑71电连接。
微电脑71具备：作为运算机构的CPU 71a、存储各种程序的ROM 71b、及暂时存储运算数据或输入/输出数据等的各种数据的RAM 71c等，且掌管控制处理装置53中的各种控制，并以可和PTP包装机10进行收发各种信号地连接。
又，微电脑71，为例如驱动控制X射线照射装置51或X射线传感器相机52，执行取得PTP薄膜9的X射线穿透图像的拍摄处理、基于该X射线穿透图像来检查PTP薄片1的检查处理、将该检查处理的检查结果朝PTP包装机10的不合格薄片排出机构等输出的输出处理等。
图像数据存储装置74，存储以根据X射线传感器相机52取得的X射线穿透图像为首的于检查时经二值化处理后的二值化图像或经遮蔽处理后的遮蔽图像等的各种图像(图像的数据)。
运算结果存储装置75，存储检查结果数据或该检查结果数据经机率统计处理后的统计数据等。这些检查结果数据或统计数据可适宜地显示在显示装置73。
设定数据存储装置76用以存储检查所用的各种信息。被设定存储有作为这些各种信息的例如PTP薄片1、袋部2及片剂5的形状及尺寸或用以区划检查区域(作为检查对象的区域)的薄片框的形状及尺寸、用以区划袋部2的区域的袋框的形状及尺寸、在二值化处理中的辉度阈值、用以进行各种是否合格判定的判定基准值(例如，后述的基准片剂面积值Lo等)等。本实施形态中，作为用以进行二值化处理的辉度阈值，例如，设定第1阈值δ1及第2阈值δ2两种。第1阈值δ1用在进行片剂5的是否合格判定时，第2阈值δ2用在进行凸缘部3a的是否合格判定时。
又，X射线检查装置45具备变形用装置54及维持用装置55。本实施形态中，“变形用装置54”构成“变形机构”，“维持用装置55”构成“变形状态维持机构”。
变形用装置54沿着PTP薄膜9的搬送路径配设在比X射线照射装置51靠上游处，以朝该X射线照射装置51的照射源51a的对向侧凸出的方式使PTP薄膜9弯曲。变形用装置54具备变形用辊54a及变形用按压辊54b。本实施形态中，“变形用按压辊54b”构成“按压辊”。
变形用辊54a根据未图示的作动轴被以可自由旋转的状态支持着，具有周长沿着自身的旋转轴Ar1方向从两端部侧朝中心部侧慢慢减少的外周面(参照图9)。根据变形用辊54a的外周面接触于PTP薄膜9(本实施形态中为盖膜4)，使得PTP薄膜9的宽度方向中心部以外的部位朝X射线照射装置51所位于的侧按压，进而使PTP薄膜9朝X射线照射装置51的照射源51a的对向侧凸出的方式弯曲。
此外，本实施形态中，在沿着PTP薄膜9的搬送方向投影变形用辊54a、X射线照射装置51时，所投影的变形用辊54a的外周面中的位于所投影的X射线照射装置51侧的面，构成为呈以所投影的X射线照射装置51的照射源51a为中心的圆弧状。因此，本实施形态中，在通过照射源51a且与PTP薄膜9的搬送方向正交的剖面中，以呈以照射源51a为中心的圆弧状的方式使PTP薄膜9弯曲。
变形用按压辊54b根据未图示的作动轴被以可自由旋转的状态支持，具有周长沿着自身的旋转轴Ar2方向从两端部侧朝中心部侧慢慢增大的外周面(参照图9)。变形用按压辊54b的外周面成为可压接于变形用辊54a，PTP薄膜9被送入两辊54a、54b间。被送入的PTP薄膜9成为被两辊54a、54b挟持的状态。
此外，本实施形态中，在沿着PTP薄膜9的搬送方向投影变形用按压辊54b、X射线照射装置51时，所投影的变形用按压辊54b的外周面中的位于所投影的X射线照射装置51侧的面，为构成为呈以所投影的X射线照射装置51的照射源51a为中心的圆弧状。由此，可使PTP薄膜9呈以照射源51a为中心的圆弧状的方式更可靠地弯曲。
又，本实施形态中，变形用按压辊54b构成为和PTP薄膜9中的对应标签部8的部位且不存在袋部2的宽度方向中央部接触。由此，可充分确保变形用按压辊54b对PTP薄膜9的接触面积，进而使从变形用按压辊54b施加于PTP薄膜9的压力较小，可谋求减低施加于PTP薄膜9的负荷。
维持用装置55为沿着PTP薄膜9的搬送路径配设在比X射线照射装置51靠下游处，至少在被照射来自X射线照射装置51的X射线的位置，用以维持根据变形用装置54所弯曲的PTP薄膜9的形状。维持用装置55具备维持用辊55a及维持用按压辊55b。本实施形态中，维持用辊55a作成和变形用辊54a同样的构成，维持用按压辊55b作成和变形用按压辊54b同样的构成。即，变形用装置54及维持用装置55分别利用相同构成的装置来构成。
再者，X射线检查装置45沿着PTP薄膜9的搬送方向在比维持用装置55靠下游处具备作为复原机构的直辊56。直辊56根据未图示的作动轴被以可自由旋转的状态支持，且外径沿着自身的旋转轴方向成为一定。在直辊56挂装有PTP薄膜9，根据直辊56的外周面接触于PTP薄膜9(盖膜4)，成为可将PTP薄膜9恢复成扁平的状态。
此外，本实施形态的直辊56构成为PTP薄膜9根据弹力设为拉往张紧的侧的状态。由此，可将PTP薄膜9更可靠地恢复成扁平状态。又，在薄膜承接辊20及间歇进给辊28间(即与X射线检查装置45的配设部位对应的位置)，防止因薄膜承接辊20与间歇进给辊28的搬送动作的差异所致PTP薄膜9的松弛而可将PTP薄膜9保持为平时紧张状态。
其次针对含有根据X射线检查装置45进行的检查工序的PTP薄片1的制造工序作说明。
如图11所示，首先，于步骤S1的袋部形成工序，根据袋部形成装置16对容器薄膜3依序持续形成袋部2。接着，于步骤S2的充填工序，根据片剂充填装置21朝袋部2的收容空间2a充填片剂5。
于充填工序S2后，进行步骤S3的安装工序。在安装工序，根据所搬送的容器薄膜3及盖膜4送入前述两辊20、23间而在容器薄膜3安装盖膜4以获得PTP薄膜9。
其后，进行使用了X射线检查装置45的步骤S4的检查工序。在步骤S4的检查工序中，连续搬送的PTP薄膜9一边根据变形用装置54及维持用装置55变形成弯曲状，一边在维持该变形状态后，从前述遮蔽盒的外部朝内部依序持续搬入。
然后，在步骤S41的照射工序中，根据微电脑71驱动控制X射线照射装置51及X射线传感器相机52，对弯曲的PTP薄膜9照射X射线(参照图10)。此时，由于PTP薄膜9呈以照射源51a为中心的圆弧状，所以从照射源51a到PTP薄膜9的各部为止的距离大致变相等，从X射线照射装置51照射到PTP薄膜9各部的X射线强度大致变相同。
又，于步骤S42的拍摄工序中，在PTP薄膜9每搬送规定量，根据X射线传感器52a取得拍摄已穿透PTP薄膜9的X射线的一维的X射线穿透图像。此时，因为X射线传感器52a被设为沿着PTP薄膜9的弯曲形状的弯曲形状，所以穿透PTP薄膜9并入射于X射线传感器52a的X射线的入射角度α在不因穿透的PTP薄膜9的位置而有大的不同下，在X射线传感器52a的各部成为大致相同(参照图10)。
然后，根据X射线传感器相机52所取得的X射线穿透图像，于该相机52内部转换成数字信号后，以数字信号形式对控制处理装置53(图像数据存储装置74)输出。
更详细地说，在从X射线照射装置51对PTP薄膜9平时照射X射线的状态下，当从上述编码器朝微电脑71输入时序信号时，根据微电脑71开始利用X射线传感器相机52进行曝光处理。
然后，当输入下一个时序信号时，将在那之前蓄积于光电二极管等的受光部的电荷统合并朝移位寄存器(shift register)转送。接着，转送到移位寄存器的电荷在到下一时序信号输入为止的期间，伴随转送时钟信号，依序以图像信号(X射线穿透图像)被输出。
也就是说，从上述编码器输入规定的时序信号的时点到输入下一时序信号为止的时间成为在X射线传感器相机52中的曝光时间。
此外，本实施形态中，构成为每次搬送PTP薄膜9，根据X射线传感器相机52取得在PTP薄膜9的搬送方向的X射线传感器52a的宽度、即相当于一份CCD宽度的长度份量的X射线穿透图像数据。当然，也可采用与此相异的构成。
图像数据存储装置74将从X射线传感器相机52输出的X射线穿透图像数据按时间序列持续依序存储。
然后，根据PTP薄膜9每被搬送规定量即反复进行上述一连串处理，在图像数据存储装置74存储最终在PTP薄膜9的宽度方向并排的2片PTP薄片1的X射线穿透图像。如此，当取得作为制品的PTP薄片1的X射线穿透图像时，根据微电脑71执行步骤S43的是否合格判定工序。
其次，针对是否合格判定工序(检查程序)参照图12的流程图作详细说明。此外，图12所示的是否合格判定工序对作为制品的各PTP薄片1分别进行的处理。因此，本实施形态中，PTP薄膜9每被搬送相当于1片PTP薄片1的程度的份量，对X射线穿透图像所含的2片PTP薄片1的部分分别进行是否合格判定工序。
首先，于步骤S4301中执行检查图像取得处理。详言之，X射线穿透图像中的作为检查对象的PTP薄片1的图像从图像数据存储装置74被以检查图像读出。
其次，于步骤S4302中执行二值化处理。详言之，生成将于上述步骤S4301作为检查图像所取得的X射线穿透图像以片剂异常检测级别予以二值化的二值化图像，将此作为片剂检查用的二值化图像数据存储在图像数据存储装置74。此处，例如将前述第1阈值δ1以上以“1(明部)”，将小于前述第1阈值δ1以“0(暗部)”使X射线穿透图像转换成二值化图像。
同时，将于上述步骤S4301作为检查图像所取得的X射线穿透图像以凸缘异常检测级别予以二值化的二值化图像，将此以凸缘部检查用的二值化图像存储于图像数据存储装置74。此处，例如将前述第2阈值δ2以上以“1(明部)”，将小于前述第2阈值δ2以“0(暗部)”使X射线穿透图像转换成二值化图像。
其次，根据微电脑71执行步骤S4303中的块处理。详言之，对于上述步骤S4302中所取得的各种二值化图像执行块处理。就块处理而言，进行针对二值化图像的“0(暗部)”及“1(明部)”分别特定连结成分的处理，及针对各个的链接成分进行赋予标记的标记赋予处理。此处，分别特定的各连结成分的占有面积以与X射线传感器相机52的像素对应的点数表示。对在上述步骤S12取得的各种二值化图像数据执行块处理。
其次，根据微电脑71执行步骤S4304的检查对象特定处理。详言之，从依据片剂检查用的二值化图像根据上述步骤S4303的块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分中，特定和片剂5相当的连结成分、即片剂区域。和片剂5相当的连结成分可根据判断含有规定的坐标的连结成分、属于规定的形状的连结成分、或属于规定的面积处的连结成分等而特定。同时，将依据凸缘部检查用的二值化图像数据根据上述步骤S4303的块处理所特定的“0(暗部)”的连结成分，特定为和异物相当的连结成分、即异物区域。
其次，根据微电脑71执行步骤S4305的遮蔽处理。详言之，根据对片剂检查用的二值化图像设定前述薄片框及前述袋框以区划在该二值化图像中的检查区域，并且对和该检查区域对应的二值化图像中的袋部2区域以外的区域(即与凸缘部3a对应的区域)进行遮蔽处理。已进行此种遮蔽处理的图像被以片剂检查用的遮蔽图像存储在图像数据存储装置74。同时，根据对凸缘部检查用的二值化图像设定前述薄片框及前述袋框，以区划在该二值化图像中的检查区域，并对和该检查区域对应的二值化图像中的袋部2区域进行遮蔽处理。已进行此种遮蔽处理的图像被以凸缘部检查用的遮蔽图像存储在图像数据存储装置74。
此外，本实施形态中，上述薄片框及上述袋框的设定位置根据与PTP薄膜9的相对位置关系而预先决定。因此，本实施形态中，薄片框及袋框的设定位置没有每次对应检查图像作位置调整，但不受此所限，也可构成为考虑发生偏位等，依据从检查图像获得的信息适宜调整薄片框及袋框的设定位置。
其次，于步骤S4306中，根据微电脑71将所有袋部2的片剂合格品标志目标值设定为“0”。此外，“片剂合格品标志”表示对应的袋部2所收容的片剂5的是否合格判定结果，且设定于运算结果存储装置75。然后，于规定的袋部2所收容的片剂5被判定为合格品的情况，与此对应的片剂合格品标志目标值被设定成“1”。
在接着的步骤S4307中，根据微电脑71，为在运算结果存储装置75所设定的袋编号计数的值C设定为初期值的“1”。此外，“袋编号”，指和1片PTP薄片1的检查区域内的10个袋部2分别对应设定的序列编号，根据袋编号计数的值C(以下，仅称为“袋编号C”)可特定袋部2的位置。
然后，于步骤S4308中，根据微电脑71判定袋编号C是否为每一检查区域(每1片PTP薄片1)的袋数N(本实施形态中为“10”)以下。
在步骤S4308被判定为是的情况，转移到步骤S4309，根据微电脑71基于上述片剂检查用的遮蔽图像，抽出在与现在的袋编号C(例如C＝1)对应的袋部2中的上述片剂区域(链接成分)的面积值为前述基准片剂面积值Lo以上的块(除去小于Lo的块)。
接着，于步骤S4310中，根据微电脑71判定在前述袋部2中的块个数是否为“1”。此处被判定为是的情况，即块个数是“1”的情况，转移到步骤S4311。一方面，在被判定为否的情况，将收容于和现在的袋编号C对应的袋部2的片剂5视为不合格品，照原样转移到步骤S4313。
在步骤S4311中，根据微电脑71判定片剂5的形状、长度、面积等是否适当。此处被判定为是的情况，转移到步骤S4312。一方面，在被判定为否的情况，将和现在的袋编号C对应的袋部2所收容的片剂5视为不合格品，照原样转移到步骤S4313。
在步骤S4312中，根据微电脑71判定和现在的袋编号C对应的袋部2所收容的片剂5为合格品，对应该袋编号C的片剂合格品标志目标值被设定成“1”。其后，转移到步骤S4313。
在步骤S4313中，根据微电脑71于现在的袋编号C加“1”，设定新的袋编号C。其后，回到步骤S4308。
然后，在新设定的袋编号C还是袋数N(本实施形态中为“10”)以下的情况，再度转移到步骤S4309，重复执行上述一系列的片剂检查处理。
一方面，在判定新设定的袋编号C超过袋数N的情况，也就是在步骤S4308被判定为是的情况，视为有关与所有的袋部2所收容的片剂5的是否合格判定处理结束，转移到步骤S4314。
在步骤S4314中，根据微电脑71判定凸缘部3a是否为合格品。详言之，基于凸缘部检查用的遮蔽图像，判定例如在凸缘部3a的区域内是否存在规定的尺寸以上的异物等。
此处被判定为是的情况，转移到步骤S4315。一方面，在被判定为否的情况、即判定凸缘部3a有异常的情况，转移到步骤S4317。
在步骤S4315，根据微电脑71判定检查区域内的全袋部2的片剂合格品标志目标值是否为“1”。由此，判定对应该检查区域的PTP薄片1是合格品或不合格品。
此处被判定为是的情况，即在检查区域内所有的袋部2所收容的片剂5为“合格品”，被判定为“不合格品”的片剂5(袋部2)一个也没有的情况，于步骤S4316中，对应该检查区域的PTP薄片1被判定为“合格品”，是否合格判定工序结束。
一方面，于步骤S4315被判定为否的情况，即在检查区域内被判定为“不合格品”的片剂5(袋部2)即使只有一个的情况，转移到步骤S4317。
在步骤S4317，根据微电脑71判定对应该检查区域的PTP薄片1为“不合格品”，是否合格判定工序结束。
此外，在步骤S4316的合格品判定处理及步骤S4317的不合格品判定处理中，根据微电脑71使有关对应于检查区域的PTP薄片1的检查结果存储在运算结果存储装置75，并对PTP包装机10(含有不合格薄片排出机构)输出。
回到图11，在步骤S4的检查工序之后，于步骤S5的针孔线形成工序，根据针孔线形成装置33在PTP薄膜9的规定位置形成针孔线。又，在接着的步骤S6的刻印工序中，根据刻印装置34在PTP薄膜9设置刻印。之后，根据进行步骤S7的切离工序以结束PTP薄片1的制造工序。切离工序中，根据利用薄片冲切装置37冲切PTP薄膜9，从PTP薄膜9切离PTP薄片1而制造PTP薄片1。
如以上所详述，依据本实施形态，根据变形用装置54以朝X射线照射装置51的对向侧凸出的方式使PTP薄膜9弯曲，并在根据维持用装置55维持PTP薄膜9的弯曲形状的状态下对PTP薄膜9照射X射线，同时取得X射线穿透图像。因此，与PTP薄膜9是在扁平状态检查的情况相比，可减低从X射线的照射源51a到PTP薄膜9各位置为止的距离的差，可抑制照射在PTP薄膜9的各位置的X射线的强度发生不均。又，因为X射线传感器52a被设为沿着PTP薄膜9的弯曲形状的弯曲形状，所以穿透PTP薄膜9并入射于X射线传感器52a的X射线的入射角度没有因穿透的PTP薄膜9的位置而有大的不同的情况。这些作用效果互相起作用，所获得的X射线穿透图像在各位置变得更为均匀。由此，在基于X射线穿透图像执行PTP薄片1的检查时，变得无需按片剂5的各列设定阈值，可抑制检查效率的降低。又，可更可靠地抑制因PTP薄膜9中的位置差异所致的检查结果变动，且能更可靠地担保检查质量的均一性。
又，本实施形态中，构成为，以形成以照射源51a为中心的圆弧状的方式弯曲PTP薄膜9。因此，可将从照射源51a到PTP薄膜9的各位置为止的距离设为大致一定，可将在PTP薄膜9的各位置被照射的X射线的强度设为大致相等。又，可将穿透PTP薄膜9并入射于X射线传感器52a的X射线的入射角度，在无关乎所穿透的PTP薄膜9的位置下设为大致相同。这些的结果为，可获得的X射线穿透图像在各位置变得更均匀。
再加上，本实施形态中，变形用装置54具备具有周长会慢慢变化的外周面而成的变形用辊54a，根据该变形用辊54a接触于PTP薄膜9，使PTP薄膜9被弯曲。因此，可在未对所搬送的PTP薄膜9施加过度负荷下使PTP薄膜9顺畅地弯曲。其结果，可更可靠地防止所制造的PTP薄片1的质量降低。又，由于变形用装置54能利用较简化的构成来实现，故可谋求装置的小型化、低成本化、提升保养的便利性等。
同时，由于变形用装置54具备在与变形用辊54a之间挟持PTP薄膜9的变形用按压辊54b，故能使PTP薄膜9更可靠弯曲成预期的形状。因此能使涉及检查的上述各种作用效果更有效地发挥。
又，变形用装置54及维持用装置55由相同装置所构成。因此，与变形用装置54及维持用装置55由不同装置所构成的情况相较下，可谋求降低制造成本、零件管理的容易化、提升保养性等。
再者，根据直辊56可将弯曲的PTP薄膜9恢复成扁平状态。因此，能更正确地(照预期)对检查后的PTP薄膜9进行各种处理(例如，针孔线形成工序、刻印工序、切离工序中的各种处理)。再加上，因为使用直辊56作为复原机构，所以可将PTP薄膜9更可靠且简便地设为扁平状态，并可防止复原机构的构造的复杂化。
此外，未受限于上述实施形态的记载内容，例如也可按以下方式实施。不用说，当然也可为以下未例示的其他应用例、变更例。
(a)上述实施形态中，变形用辊54a为具有周长沿着旋转轴Ar1方向从两端部侧朝中心部侧慢慢减少的外周面的构成，但也可如图13、14(此外，在图13等中未图示出袋部2)所示，以具有周长沿着旋转轴Ar3方向从两端部侧朝中心部侧慢慢增大的外周面的方式构成变形用辊57a。依据此变形用辊57a，根据将PTP薄膜9的宽度方向中央部朝X射线传感器相机52所位于的侧按压，可使PTP薄膜9以朝照射源51a的对向侧凸出的方式弯曲。
此外，在这情况，也可在变形用辊57a的外周面设置用以收容袋部2的凹部。又，也可构成为将变形用按压辊57b和PTP薄膜9中的至少宽度方向两端部接触。再者，也可做成根据将维持用辊58a设为和变形用辊57a相同的构成，将维持用按压辊58b设为和变形用按压辊57b相同的构成，以使变形用装置57及维持用装置58分别由相同构成的装置所构成。
再者，变形用辊也可为，根据仅和PTP薄膜9的宽度方向中央部及宽度方向两端部其中一方接触而使PTP薄膜9弯曲。
(b)上述实施形态中，以使PTP薄膜9弯曲的方式构成，该PTP薄膜9为，袋部2朝X射线照射装置51侧突出的状态。另一方面，如图15所示，也可使PTP薄膜9弯曲的方式构成，该PTP薄膜9为，袋部2朝X射线照射装置51的对向侧突出的状态。在该场合，PTP薄膜9以袋部2配置于弯曲外侧的方式被弯曲。因此，可使PTP薄膜9更可靠顺畅地弯曲，又，可更可靠地防止袋部2崩塌变形。
此外，在这情况，袋部2的容器薄膜3配置在X射线传感器相机52侧，盖膜4配置在X射线照射装置51侧。因此，“容器薄膜3”构成“第2薄膜”，“盖膜4”构成“第1薄膜”。
(c)成为检查对象物的包装薄片的构成为未受限于上述实施形态的PTP薄片1。例如也可将SP薄片作为检查对象。
如图16所示，一般的SP薄片90，根据使由以铝为基材的不透明材料所成的带状的2片薄膜91、92持续重迭，并在两薄膜91、92间一边充填片剂5一边在该片剂5的周围留下袋状的收容空间93的方式接合该收容空间93的周围(图16中的网眼图案部分)的两薄膜91、92，作成带状的包装薄膜后，再根据将该包装薄膜切离成矩形薄片状而形成。
此外，在SP薄片90，在能以含有1个收容空间93的小薄片94为单位进行切离的切离线方面，也可形成有沿着薄片长边方向形成的纵针孔线95及沿着薄片短边方向形成的横针孔线96。又，在SP薄片90，于薄片长边方向一端部，也可附设印刷有各种信息(本实施形态中为“ABC”的文字)的卷标部97。
(d)上述实施形态中，虽构成为在照射工序、拍摄工序中，使PTP薄膜9弯成以照射源51a为中心的圆弧状，但若为朝照射源51a的对向侧凸的话，则也可适宜变更PTP薄膜9的弯曲形态。因此，在通过照射源51a且和PTP薄膜9的搬送方向正交的剖面中，以呈以和前述照射源51a不同位置(点)为中心的圆弧状的方式使PTP薄膜9弯曲也可。又，也可使PTP薄膜9呈椭圆弧状的方式弯曲。
(e)上述实施形态中，变形用装置54及维持用装置55分别由相同构成的装置所构成，但变形用装置54及维持用装置55也可分别根据不同装置所构成。
(f)PTP薄片1单位的袋部2的排列或个数也未受上述实施形态的形态(2列、10个)有任何限定，例如可采用以具有3列12个袋部2(收容空间2a)的类型为首的由各式各样的排列、件数所成的PTP薄片(关于上述SP薄片也相同)。当然，1个小薄片所包含的袋部(收容空间)数量也未受上述实施形态有任何限定。
(g)在上述实施形态的PTP薄片1，作为切离线形成有将贯通于PTP薄片1的厚度方向的切口间歇排列而成的针孔线7，但切离线未受此所限，也可对应于容器薄膜3及盖膜4的材质等而采用不同的构成。例如，也可构成为形成如剖面大致V字状的狭缝(半切线)的非贯通的切离线。又，也可为未形成针孔线7等的切离线的构成。
(h)第1薄膜及第2薄膜的材质、层构造等，未受限于上述实施形态的容器薄膜3、盖膜4的构成。例如上述实施形态中，容器薄膜3及盖膜4虽是以铝等的金属材料为基材所形成，但不受此所限，也可采用其他材质。也可采用例如可见光等不会穿透的合成树脂材料等。
(i)包装薄膜的构成未受限于上述实施形态，也可采用其他的构成。
上述实施形态中，PTP薄膜9构成为沿着其宽度方向配列有和2薄片份量对应的数个袋部2，但不受此所限，例如，也可为沿着其宽度方向配列有和1薄片份量对应的数个袋部2的构成。当然，PTP薄膜9也可为沿着其宽度方向配列有和3片以上薄片份量对应的数个袋部2的构成。
又，上述实施形态中，构成为，在PTP薄膜9的宽度方向中央部配置和2片的PTP薄片1的各标签部8对应的部位。另一方面，也可构成为，和2片的PTP薄片1的各标签部8对应的部位是配置在PTP薄膜9的宽度方向两端部。又，也可构成为，2片的PTP薄片1中，和一PTP薄片1的标签部8对应的部位配置在PTP薄膜9的宽度方向中央部，和另一PTP薄片1的标签部8对应的部位配置在PTP薄膜9的宽度方向端部。
(j)电磁波照射机构的构成未受限于上述实施形态。上述实施形态中，虽为照射作为电磁波的X射线的构成，但不受此所限，也可作成使用兆赫电磁波等的穿透PTP薄膜9的其他电磁波的构成。
(k)拍摄机构的构成未受限于上述实施形态。例如上述实施形态中，作为拍摄机构虽采用使用闪烁体的CCD相机(X射线传感器相机52)，但不受此所限，也可采用将X射线直接入射并予以拍摄的相机。
又，上述实施形态中，作为拍摄机构虽采用并排有1列CCD的X射线传感器相机52，但不受此所限，也可采用在例如PTP薄膜9的搬送方向具备多个列CCD列(检测组件列)的X射线TDI(Time Delay Integration；时延积分)相机。由此，可谋求进一步提升检查精度及检查效率。
(l)X射线检查装置45的构成、配置位置等未受限于上述实施形态。
例如上述实施形态中，虽为在PTP薄膜9被往上下方向搬送的位置配置X射线检查装置45的构成，但不受此所限，也可作成例如PTP薄膜9被往水平方向搬送的位置或斜向搬送的位置配置X射线检查装置45的构成。
又，也可构成为配合PTP薄膜9的尺寸或布置等，而具备可将X射线照射装置51及X射线传感器相机52沿着PTP薄膜9的搬送方向或对PTP薄膜9接触、分离方向移动的位置调整机构(位置调整机构)的构成。
(m)上述实施形态中，作为复原机构的直辊56虽具备对PTP薄膜9赋予张力的机能，但也可未具备此种机能。
又，作为复原机构，也可使用根据变形用装置54进行的PTP薄膜9的弯曲方向的对向侧可弯曲PTP薄膜9。在这情况，根据变形用装置54、维持用装置55有效地矫正PTP薄膜9的弯曲形状，可使PTP薄膜9更可靠地恢复成扁平的状态。
(n)上述实施形态中，作为内容物虽举出了片剂5，但内容物未受此所限，也可为例如胶囊、食料品、小型零件等。
符号说明
1:PTP薄片(包装薄片)
2:袋部
2a:收容空间
3:容器薄膜(第1薄膜)
4:盖膜(第2薄膜)
5:片剂(内容物)
9:PTP薄膜(包装薄膜)
10:PTP包装机(包装薄片制造装置)
45:X射线检查装置(检查装置)
51:X射线照射装置(电磁波照射机构)
51a:照射源
52:X射线传感器相机(拍摄机构)
52a:X射线传感器(检测部)
53:控制处理装置(图像处理装置)
54:变形用装置(变形机构)
54a:变形用辊
54b:变形用按压辊(按压辊)
55:维持用装置(变形状态维持机构)
56:直辊(复原机构)。

Claims (9)

1.一种检查装置，为在制造带状的包装薄膜并将该包装薄膜切离以获得包装薄片时使用，该带状的包装薄膜安装有由不透明材料所成的带状的第1薄膜及由不透明材料所成的带状的第2薄膜，且在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物，其特征为，具备：
电磁波照射机构，具有从前述第1薄膜侧对所搬送的前述包装薄膜照射能穿透前述包装薄膜的电磁波的照射源而构成；
拍摄机构，具有隔着前述包装薄膜和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装薄膜的电磁波的检测部，取得依据穿透前述包装薄膜的电磁波的电磁波穿透图像；
图像处理机构，依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，能执行前述包装薄片的检查，
且具有：
变形机构，沿着前述包装薄膜的搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠上游处，以朝前述电磁波照射机构的前述照射源的对向侧凸出的方式弯曲前述包装薄膜；
变形状态维持机构，沿着前述搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠下游处，且在至少被照射来自前述电磁波照射机构的电磁波的位置，能维持根据前述变形机构所弯曲的前述包装薄膜的形状，
前述拍摄机构的前述检测部为呈沿着前述包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状，
还具备复原机构，其沿着前述搬送路径配设在比前述变形状态维持机构还靠下游处，用以将前述包装薄膜恢复成扁平状态，
前述复原机构具备能旋转且外径沿着旋转轴方向呈一定的直辊，
该直辊的外周面构成为，通过和前述包装薄膜接触以将该包装薄膜恢复成扁平状态。
2.一种检查装置，为在制造带状的包装薄膜并将该包装薄膜切离以获得包装薄片时使用，该带状的包装薄膜安装有由不透明材料所成的带状的第1薄膜及由不透明材料所成的带状的第2薄膜，且在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物，其特征为，具备：
电磁波照射机构，具有从前述第1薄膜侧对所搬送的前述包装薄膜照射能穿透前述包装薄膜的电磁波的照射源而构成；
拍摄机构，具有隔着前述包装薄膜和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装薄膜的电磁波的检测部，取得依据穿透前述包装薄膜的电磁波的电磁波穿透图像；
图像处理机构，依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像，能执行前述包装薄片的检查，
且具有：
变形机构，沿着前述包装薄膜的搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠上游处，以朝前述电磁波照射机构的前述照射源的对向侧凸出的方式弯曲前述包装薄膜；
变形状态维持机构，沿着前述搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠下游处，且在至少被照射来自前述电磁波照射机构的电磁波的位置，能维持根据前述变形机构所弯曲的前述包装薄膜的形状，
前述拍摄机构的前述检测部为呈沿着前述包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状，
前述变形机构具备变形用辊，其能旋转且具有周长会沿着旋转轴方向从两端部侧朝中心部侧慢慢减少的外周面、或周长会沿着旋转轴方向从两端部侧朝中心部侧慢慢增大的外周面，
且构成为，根据该变形用辊与前述包装薄膜接触以使前述包装薄膜弯曲。
3.如权利要求2所述的检查装置，其中，
前述变形机构具有能旋转且在与前述变形用辊之间挟持前述包装薄膜的按压辊。
4.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
前述变形机构，以前述照射源为中心的圆弧状的方式使前述包装薄膜弯曲的方式构成。
5.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
前述第2薄膜为呈突状且内部空间具有形成前述收容空间的袋部，
前述变形机构使前述包装薄膜弯曲，该包装薄膜呈前述袋部朝前述电磁波照射机构的对向侧突出的状态。
6.如权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，
前述变形机构及前述变形状态维持机构根据相同装置所构成。
7.一种包装薄片制造装置，其特征为，具备如权利要求1至6中任一项的检查装置。
8.一种包装薄片制造方法，为制造带状的包装薄膜并切离该包装薄膜而获得包装薄片的包装薄片制造方法，该包装薄膜为被安装由不透明材料构成的带状的第1薄膜及由不透明材料构成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物而成，其特征为，具备：
安装工序，安装所搬送的带状的前述第1薄膜及所搬送的带状的前述第2薄膜；
充填工序，在前述第1薄膜与前述第2薄膜之间所形成的前述收容空间内充填前述内容物；
切离工序，从带状的前述包装薄膜切离前述包装薄片，前述包装薄膜被安装有前述第1薄膜及前述第2薄膜、且由前述收容空间内收容有前述内容物；
执行前述包装薄片的检查的检查工序，
前述检查工序包含：
照射工序，根据规定的电磁波照射机构所具有的照射源，从前述第1薄膜侧对所搬送的前述包装薄膜照射能穿透前述包装薄膜的电磁波；
拍摄工序，使用拍摄机构取得基于已穿透前述包装薄膜的电磁波的电磁波穿透图像，该拍摄机构具有隔着前述包装薄膜和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装薄膜的电磁波的检测部而成；
是否合格判定工序，基于根据前述拍摄工序所取得的电磁波穿透图像，进行有关前述包装薄膜的是否合格判定，
前述照射工序及前述拍摄工序为以成为朝前述照射源的对向侧凸出的方式、并且呈以上述照射源为中心的圆弧状的方式使前述包装薄膜弯曲，并在维持着该包装薄膜的弯曲形状的状态下进行，
前述拍摄机构的前述检测部形成为沿着前述包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状，
还具有：
变形工序，根据沿着前述包装薄膜的搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠上游处的变形机构，以朝前述电磁波照射机构的前述照射源的对向侧凸出的方式弯曲前述包装薄膜；
复原工序，根据沿着前述搬送路径配设在比前述电磁波照射机构还靠下游处的复原机构，用以将前述包装薄膜恢复成扁平状态，
前述复原机构具备能旋转且外径沿着旋转轴方向呈一定的直辊，
在上述复原工序，通过上述直辊的外周面与前述包装薄膜接触以将该包装薄膜恢复成扁平状态。
9.一种包装薄片制造方法，为制造带状的包装薄膜并切离该包装薄膜而获得包装薄片的包装薄片制造方法，该包装薄膜为被安装由不透明材料构成的带状的第1薄膜及由不透明材料构成的带状的第2薄膜，并在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物而成，其特征为，具备：
安装工序，安装所搬送的带状的前述第1薄膜及所搬送的带状的前述第2薄膜；
充填工序，在前述第1薄膜与前述第2薄膜之间所形成的前述收容空间内充填前述内容物；
切离工序，从带状的前述包装薄膜切离前述包装薄片，前述包装薄膜被安装有前述第1薄膜及前述第2薄膜、且由前述收容空间内收容有前述内容物；
执行前述包装薄片的检查的检查工序，
前述检查工序包含：
照射工序，根据规定的电磁波照射机构所具有的照射源，从前述第1薄膜侧对所搬送的前述包装薄膜照射能穿透前述包装薄膜的电磁波；
拍摄工序，使用拍摄机构取得基于已穿透前述包装薄膜的电磁波的电磁波穿透图像，该拍摄机构具有隔着前述包装薄膜和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装薄膜的电磁波的检测部而成；
是否合格判定工序，基于根据前述拍摄工序所取得的电磁波穿透图像，进行有关前述包装薄膜的是否合格判定，
前述照射工序及前述拍摄工序为以成为朝前述照射源的对向侧凸出的方式、并且呈以上述照射源为中心的圆弧状的方式使前述包装薄膜弯曲，并在维持着该包装薄膜的弯曲形状的状态下进行，
前述拍摄机构的前述检测部形成为沿着前述包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状，
还具有变形工序，根据沿着前述包装薄膜的搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠上游处的变形机构，以朝前述电磁波照射机构的前述照射源的对向侧凸出的方式弯曲前述包装薄膜，
前述变形机构具备变形用辊，其能旋转且具有周长会沿着旋转轴方向从两端部侧朝中心部侧慢慢减少的外周面、或周长会沿着旋转轴方向从两端部侧朝中心部侧慢慢增大的外周面，
在上述变形工序中，根据该变形用辊与前述包装薄膜接触以使前述包装薄膜弯曲的方式构成。
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