KR20130026218A - 홀 플레이트 스위칭 시스템 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 홀 플레이트(Hall plate) 스위칭 시스템에 관한 발명으로서, 특히 자계 센서(Magnetic sensor)의 홀 플레이트에서 발생하는 기생 저항(Parasitic resistance)으로 인하여 발생하는 오프셋(Offset) 전압을 감소시키기 위한 즉, 부정합(Mismatch)을 보상하기 위한 홀 플레이트 스위칭 시스템에 관한 발명으로서, 각각 마주보는 제1 노드(Node) 및 제3 노드의 양단에서 제1 홀(Hall) 전압을 발생하며, 각각 마주보는 제2 노드 및 제4 노드의 양단에서 제2 홀 전압을 발생하는 홀 플레이트(Hall plate); 상기 제1 노드 및 상기 제2 노드와 연결되고, 상기 제1 노드 및 상기 제2 노드로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제1 스위치부; 상기 제3 노드 및 상기 제4 노드와 연결되고, 상기 제3 노드 및 상기 제4 노드로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제2 스위치부; 및 상기 제2 스위치부와 연결되고, 상기 제1 스위치부 및 상기 제2 스위치부의 트랜스 컨덕턴스(Trans-conductance)를 줄이는 저항부;를 포함하는 홀 플레이트 스위칭 시스템 제공한다.

Description

홀 플레이트 스위칭 시스템{Hall plate switching system}
본 발명은 홀 플레이트(Hall plate) 스위칭 시스템에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 자계 센서(Magnetic sensor)의 홀 플레이트에서 발생하는 부정합(Mismatch)을 보상하기 위한 홀 플레이트 스위칭 시스템에 관한 것이다.
속도 센서, 위치 센서, 전류 센서 등 광범위한 응용 분야에 쓰이고 있는 자계 센서는 로렌츠의 법칙에 의하여 자계 강도에 따라 홀 전압을 출력하는 시스템이다. 즉, 자계와 전류가 있다면 상기 전류의 세기에 비례하는 홀(Hall) 전압을 출력하게 된다.
이렇듯 자계를 감지하여 홀 전압을 출력하는 시스템의 구조로는 MAGFET(Magnetic Field Sensitive MOSFET) 및 홀 플레이트 구조가 많이 사용되고 있는데, MAGFET은 FET(Field Effect Transistor)의 Drain 노드를 split함으로써 자계를 전압으로 변환하는 구조이다.
종래에는 홀 플레이트 구조에 의한 오프셋 전압 제거 방법에 있어서, 실제로는 공정 산포에 의하여 휘트스톤 브리지 타입(Wheat-stone bridge type)의 각 저항의 크기가 같지 않게 되므로, 일부 오프셋 전압은 남아있게 된다. 또한, 이 경우 기생 저항이 각 노드에 발생하게 되므로, 결국 홀 플레이트 저항의 오프셋 전압과 홀 플레이트의 각 노드에서 발생하는 기생 저항은 홀 전압의 정확성을 저하시키는 요인이 된다.
종래의 기술에 의하면 상기와 같은 문제점이 발생하므로, 미약한 신호를 사용하는 특성상, 공정 산포로 인하여 발생하는 기생 저항의 영향과 시스템의 잡음 레벨이 최적화되어야 한다. 즉, 홀 플레이트의 공정상 발생하는 기생 저항에 의한 오프셋 전압을 보상할 수 있어야 한다.
따라서, 본 발명은 자계 센서(Magnetic sensor)의 홀 플레이트에서 발생하는 기생 저항(Parasitic resistance)으로 인하여 발생하는 오프셋(Offset) 전압을 감소시키기 위한 즉, 부정합(Mismatch)을 보상하기 위한 것이 목적이다.
본 발명의 실시예에 따른 홀 플레이트 스위칭 시스템은 각각 마주보는 제1 노드(Node) 및 제3 노드의 양단에서 제1 홀(Hall) 전압을 발생하며, 각각 마주보는 제2 노드 및 제4 노드의 양단에서 제2 홀 전압을 발생하는 홀 플레이트(Hall plate); 상기 제1 노드 및 상기 제2 노드와 연결되고, 상기 제1 노드 및 상기 제2 노드로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제1 스위치부; 상기 제3 노드 및 상기 제4 노드와 연결되고, 상기 제3 노드 및 상기 제4 노드로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제2 스위치부; 및 상기 제2 스위치부와 연결되고, 상기 제1 스위치부 및 상기 제2 스위치부의 트랜스 컨덕턴스(Trans-conductance)를 줄이는 저항부;를 포함한다.
또한, 상기 제1 스위치부 및 상기 제2 스위치부와 연결되고, 상기 제1 스위치부 및 상기 제2 스위치부가 동시에 스위칭되도록 제어하는 스위칭 제어부를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1 스위치부는 상기 제1 노드와 연결되는 제1 노드 스위치 및 상기 제2 노드와 연결되는 제2 노드 스위치를 포함하고, 상기 제2 스위치부는 상기 제3 노드와 연결되는 제3 노드 스위치 및 상기 제4 노드와 연결되는 제4 노드 스위치를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제2 노드 스위치는 상기 제1 노드 스위치와 180도의 위상차로 클럭을 동작하고, 상기 제4 노드 스위치는 상기 제3 노드 스위치와 180도의 위상차로 클럭을 동작할 수 있다.
또한, 상기 제2 노드 스위치와 상기 제3 노드 스위치는 위상차 없이 클럭을 동작할 수 있다.
또한, 상기 제1 노드 스위치 내지 제4 노드 스위치는 MOSFET일 수 있다.
또한, 상기 저항부는 상기 제3 노드 스위치와 연결되고, 상기 제2 노드 스위치 및 상기 제3 노드 스위치의 트랜스 컨덕턴스를 줄이는 제1 저항; 및 상기 제4 노드 스위치와 연결되고, 상기 제1 노드 스위치 및 상기 제4 노드 스위치의 트랜스 컨덕턴스를 줄이는 제2 저항;을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1 저항 및 상기 제2 저항은 서로 다른 값일 수 있다.
또한, 상기 저항부와 연결되어 차동 페어(Differential pair)의 부정합을 줄이는 전류원을 더 포함할 수 있다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 홀 플레이트의 기생 저항에도 불구하고, 부정합 보상의 효과로 인하여 출력에 왜곡이 발생하지 않게 된다.
도 1은 홀 플레이트의 구조에 대한 사시도.
도 2는 홀 플레이트의 구조 및 자계 방향에 따라 홀 전압을 출력하는 동작 원리를 도시한 회로도.
도 3 및 도 4는 홀 플레이트 저항의 오프셋을 보상하기 위한 종래의 Spinning current 방법을 도시한 회로도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 홀 플레이트 저항의 오프셋을 보상하기 위한 홀 플레이트 스위칭 시스템.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 의한 홀 플레이트 저항의 오프셋을 보상하기 위한 홀 플레이트 스위칭 시스템.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하기로 한다. 그러나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.
본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
본 발명의 기술적 사상은 청구범위에 의해 결정되며, 이하의 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 효율적으로 설명하기 위한 일 수단일 뿐이다.
이하에서는 첨부된 예시 도면을 참조하여 본 발명에 대해 설명한다.
도 1은 홀 플레이트의 구조를 도시한 것이고, 도 2는 홀 플레이트의 구조 및 자계 방향에 따라 홀 전압을 출력하는 동작 원리를 도시한 것이다.
홀 플레이트는 P-substrate 내의 특정 저항값을 구현하는 구조인데, 상업적 측면 등에서 보면 홀 플레이트가 우수한 특성을 나타내기 때문에 대부분의 자계 센서에는 홀 플레이트 구조가 많이 사용되고 있다.
도 3 및 도 4는 홀 플레이트 저항의 오프셋 전압을 보상하기 위한 Spinning current 방법을 도시한 것이다.
Figure pat00001
Figure pat00002
Figure pat00003
수학식 1 및 수학식 2는 위상차로 발생한 오프셋 전압을 각각 표현한 것이고, 수학식 3은 Spinning current 방법으로 오프셋 전압을 제거하는 과정을 나타낸 식이다. 수학식 3에서 알 수 있듯이, R1 = R3 및 R2 = R4 인 경우에 전체의 오프셋 전압이 0으로 될 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 홀 플레이트 저항의 오프셋을 보상하기 위한 홀 플레이트 스위칭 시스템을 도시한 것이다.
도 5에 의하면, 본 발명에 의한 홀 플레이트 스위칭 시스템(100)은 각각 마주보는 제1 노드(Node, A) 및 제3 노드(C)의 양단에서 제1 홀(Hall) 전압을 발생하며, 각각 마주보는 제2 노드(B) 및 제4 노드(D)의 양단에서 제2 홀 전압을 발생하는 홀 플레이트(Hall plate, 20); 상기 제1 노드(A) 및 상기 제2 노드(B)와 연결되고, 상기 제1 노드(A) 및 상기 제2 노드(B)로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제1 스위치부(10); 상기 제3 노드(C) 및 상기 제4 노드(D)와 연결되고, 상기 제3 노드(C) 및 상기 제4 노드(D)로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제2 스위치부(30); 및 상기 제2 스위치부(30)와 연결되고, 상기 제1 스위치부(10) 및 상기 제2 스위치부(30)의 트랜스 컨덕턴스(Trans-conductance)를 줄이는 저항부(40);를 포함할 수 있다.
상기 홀 플레이트(100)는 자계 센서(Magnetic sensor)에 사용될 수 있으며, 자계 센서의 P-substrate 상에 장착될 수 있다. 또한, 상기 홀 플레이트(100)를 휘트스톤 브리지(Wheat-stone bridge) 저항 회로와 등가적으로 해석할 수 있다. 이러한 등가 회로에 의하여 해석하면 상기 홀 플레이트(100)는 각각 마주보는 제1 노드(A) 및 제3 노드(C)의 양단에서 제1 홀 전압을 발생할 수 있고, 제2 노드(B) 및 제4 노드(D)의 양단에서 제2 홀 전압을 발생할 수 있다.
상기 제1 스위치부(10)는 상기 제1 노드(A) 및 상기 제2 노드(B)와 연결되고, 상기 제2 스위치부(30)는 상기 제3 노드(C) 및 상기 제4 노드(D)와 연결될 수 있다. 따라서, 상기 제1 스위치부(10)는 상기 제1 노드(A) 및 상기 제2 노드(B)로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어할 수 있고, 상기 제2 스위치부(30)는 상기 제3 노드(C) 및 상기 제4 노드(D)로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어할 수 있다.
상기 저항부(40)는 상기 제2 스위치부(30)와 연결될 수 있다. 따라서, 상기 저항부(40)는 상기 제1 스위치부(10) 및 상기 제2 스위치부(30)의 트랜스 컨덕턴스(Trans-conductance)를 줄이는 역할을 하여, 종래의 홀 플레이트에서 발생하였던 기생 저항으로 인한 부정합을 줄일 수 있다.
이 경우, 상기 저항부(40)와 연결되어 차동 페어(Differential pair)의 부정합을 줄이는 전류원(50)을 더 포함할 수 있다.
상기 전류원(50)은 상기 저항부(40)와 상기 제2 스위치부(30) 사이에 접속될 수 있고, 상기 저항부(40)와 접지 사이에 접속될 수도 있다. 따라서, 상기 전류원(50)은 차동 구조의 회로에서 발생하는 차동 페어의 부정합을 줄이는 역할을 하여, 종래의 홀 플레이트에서 발생하였던 부정합을 줄일 수 있다.
이 경우, 상기 제1 스위치부(10) 및 상기 제2 스위치부(30)와 연결되고, 상기 제1 스위치부(10) 및 상기 제2 스위치부(30)가 동시에 스위칭되도록 제어하는 스위칭 제어부(미도시)를 더 포함할 수 있다.
따라서, 상기 제1 홀 전압은 상기 제1 노드(A) 및 상기 제3 노드(C)의 양단에서 발생할 수 있고, 상기 제2 홀 전압은 상기 제2 노드(B) 및 상기 제4 노드(D)의 양단에서 발생할 수 있다.
이 경우, 상기 제1 스위치부(10)는 상기 제1 노드(A)와 연결되는 제1 노드 스위치 및 상기 제2 노드(B)와 연결되는 제2 노드 스위치를 포함하고, 상기 제2 스위치부(30)는 상기 제3 노드(C)와 연결되는 제3 노드 스위치 및 상기 제4 노드(D)와 연결되는 제4 노드 스위치를 포함할 수 있다.
이 경우, 상기 제2 노드 스위치는 상기 제1 노드 스위치와 180도의 위상차로 클럭을 동작하고, 상기 제4 노드 스위치는 상기 제3 노드 스위치와 180도의 위상차로 클럭을 동작할 수 있다.
이 경우, 상기 제2 노드 스위치와 상기 제3 노드 스위치는 위상차 없이 클럭을 동작할 수 있다.
한편, 상기 제1 노드 스위치 내지 제4 노드 스위치는 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)일 수 있다. 이 경우, 상기 제1 노드 스위치 및 상기 제2 노드 스위치는 P-MOS 일 수 있고, 상기 제3 노드 스위치 및 상기 제4 노드 스위치는 N-MOS 일 수 있다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 의한 홀 플레이트 저항의 오프셋을 보상하기 위한 홀 플레이트 스위칭 시스템을 도시한 것이다.
도 6에 의하면, 상기 저항부(40)는 상기 제3 노드 스위치와 연결되고, 상기 제2 노드 스위치 및 상기 제3 노드 스위치의 트랜스 컨덕턴스를 줄이는 제1 저항(240); 및 상기 제4 노드 스위치와 연결되고, 상기 제1 노드 스위치 및 상기 제4 노드 스위치의 트랜스 컨덕턴스를 줄이는 제2 저항(241);을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 제1 저항(240) 및 상기 제2 저항(241)은 상기 제1 스위치부(210) 및 상기 제2 스위치부(230)의 트랜스 컨덕턴스(Trans-conductance)를 줄이는 역할을 하여, 종래의 홀 플레이트에서 발생하였던 기생 저항으로 인한 부정합을 줄일 수 있다.
이 경우, 상기 제1 저항(240) 및 상기 제2 저항(241)은 서로 다른 값을 가질 수 있다.
한편, 상기 제1 저항(240) 및 상기 제2 저항(241)과 연결되어 차동 페어(Differential pair)의 부정합을 줄이는 전류원(250)을 더 포함할 수 있다. 따라서, 상기 전류원(250)은 차동 구조의 회로에서 발생하는 차동 페어의 부정합을 줄이는 역할을 하여, 종래의 홀 플레이트에서 발생하였던 부정합을 줄일 수 있다.
이상에서 대표적인 실시예를 통하여 본 발명에 대하여 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다.
그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100, 200 : 홀 플레이트 스위칭 시스템
10 : 제1 스위치부
20 : 홀 플레이트
30 : 제2 스위치부
40 : 저항부
50 : 전류원

Claims (9)

  1. 각각 마주보는 제1 노드(Node) 및 제3 노드의 양단에서 제1 홀(Hall) 전압을 발생하며, 각각 마주보는 제2 노드 및 제4 노드의 양단에서 제2 홀 전압을 발생하는 홀 플레이트(Hall plate);
    상기 제1 노드 및 상기 제2 노드와 연결되고, 상기 제1 노드 및 상기 제2 노드로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제1 스위치부;
    상기 제3 노드 및 상기 제4 노드와 연결되고, 상기 제3 노드 및 상기 제4 노드로 흐르는 전류의 온(On)/오프(Off)를 제어하는 제2 스위치부; 및
    상기 제2 스위치부와 연결되고, 상기 제1 스위치부 및 상기 제2 스위치부의 트랜스 컨덕턴스(Trans-conductance)를 줄이는 저항부;
    를 포함하는 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 스위치부 및 상기 제2 스위치부와 연결되고, 상기 제1 스위치부 및 상기 제2 스위치부가 동시에 스위칭되도록 제어하는 스위칭 제어부를 더 포함하는 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 스위치부는 상기 제1 노드와 연결되는 제1 노드 스위치 및 상기 제2 노드와 연결되는 제2 노드 스위치를 포함하고,
    상기 제2 스위치부는 상기 제3 노드와 연결되는 제3 노드 스위치 및 상기 제4 노드와 연결되는 제4 노드 스위치를 포함하는 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제2 노드 스위치는 상기 제1 노드 스위치와 180도의 위상차로 클럭을 동작하고,
    상기 제4 노드 스위치는 상기 제3 노드 스위치와 180도의 위상차로 클럭을 동작하는 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제2 노드 스위치와 상기 제3 노드 스위치는 위상차 없이 클럭을 동작하는 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제1 노드 스위치 내지 제4 노드 스위치는 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)인 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 저항부는
    상기 제3 노드 스위치와 연결되고, 상기 제2 노드 스위치 및 상기 제3 노드 스위치의 트랜스 컨덕턴스를 줄이는 제1 저항; 및
    상기 제4 노드 스위치와 연결되고, 상기 제1 노드 스위치 및 상기 제4 노드 스위치의 트랜스 컨덕턴스를 줄이는 제2 저항;
    을 포함하는 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제1 저항 및 상기 제2 저항은 서로 다른 값인 홀 플레이트 스위칭 시스템.
  9. 제 1 항 또는 제 7 항에 있어서,
    상기 저항부와 연결되어 차동 페어(Differential pair)의 부정합을 줄이는 전류원을 더 포함하는 홀 플레이트 스위칭 시스템.
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US13/602,447 US20130057084A1 (en) 2011-09-05 2012-09-04 Hall plate switching system

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180062634A (ko) 2016-12-01 2018-06-11 국민대학교산학협력단 홀센서를 이용한 배터리상태 감지장치 및 이를 적용한 배터리
KR20180073934A (ko) * 2016-12-23 2018-07-03 전자부품연구원 휘트스톤 브리지 타입 센서의 옵셋 산출 방법 및 장치

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10107873B2 (en) 2016-03-10 2018-10-23 Allegro Microsystems, Llc Electronic circuit for compensating a sensitivity drift of a hall effect element due to stress
CN107294310B (zh) * 2016-04-01 2020-04-03 德昌电机(深圳)有限公司 磁传感器、磁传感器集成电路、电机组件及应用设备
US10162017B2 (en) * 2016-07-12 2018-12-25 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for reducing high order hall plate sensitivity temperature coefficients
JP6994843B2 (ja) * 2017-04-28 2022-01-14 エイブリック株式会社 磁気センサ回路
US10520559B2 (en) 2017-08-14 2019-12-31 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for Hall effect elements and vertical epi resistors upon a substrate

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4465976A (en) * 1982-01-26 1984-08-14 Sprague Electric Company Hall element with bucking current and magnet biases
DE4431703C2 (de) * 1994-09-06 1997-01-30 Itt Ind Gmbh Deutsche Magnetfeldsensor mit Hallelement
US6777932B2 (en) * 2000-03-23 2004-08-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Magnetic field sensor
DE10223767B4 (de) * 2002-05-28 2004-10-21 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Verarbeiten eines Signals eines Sensors
CN100443913C (zh) * 2002-11-13 2008-12-17 松下电器产业株式会社 磁场传感器和磁场检测装置及磁场检测方法
KR100519876B1 (ko) * 2004-01-30 2005-10-10 삼성전자주식회사 2차 혼변조 왜곡을 제거하기 위한 직접 변환용 믹서 회로및 이를 이용한 직접 변환 송수신기
US7355451B2 (en) * 2004-07-23 2008-04-08 Agere Systems Inc. Common-mode shifting circuit for CML buffers
US7173554B2 (en) * 2004-11-17 2007-02-06 Analog Devices, Inc. Method and a digital-to-analog converter for converting a time varying digital input signal
JP4731927B2 (ja) * 2005-01-31 2011-07-27 キヤノン株式会社 磁性体センサおよび検出キット
KR100909925B1 (ko) * 2005-02-08 2009-07-29 로무 가부시키가이샤 자기 센서 회로 및 그 자기 센서 회로를 갖는 휴대 단말기
GB0620307D0 (en) * 2006-10-16 2006-11-22 Ami Semiconductor Belgium Bvba Auto-calibration of magnetic sensor
US7425821B2 (en) * 2006-10-19 2008-09-16 Allegro Microsystems, Inc. Chopped Hall effect sensor
US7633317B2 (en) * 2007-05-17 2009-12-15 Analog Devices, Inc. High-side current sense circuit with common-mode voltage reduction
JP2008309626A (ja) * 2007-06-14 2008-12-25 Oki Electric Ind Co Ltd 感磁出力ic
US8093890B2 (en) * 2008-10-30 2012-01-10 GM Global Technology Operations LLC Hall-effect switch circuit allowing low voltage operation
JP2010281764A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Sanyo Electric Co Ltd オフセットキャンセル回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180062634A (ko) 2016-12-01 2018-06-11 국민대학교산학협력단 홀센서를 이용한 배터리상태 감지장치 및 이를 적용한 배터리
KR20180073934A (ko) * 2016-12-23 2018-07-03 전자부품연구원 휘트스톤 브리지 타입 센서의 옵셋 산출 방법 및 장치
US10310050B2 (en) 2016-12-23 2019-06-04 Korea Electronics Technology Institute Method and apparatus for calculating offset of wheatstone bridge type sensor

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