KR20120040555A - 칩형 ｌｅｄ 테스트 핸들러 - Google Patents

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KR20120040555A
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Abstract

본 발명은 칩형 LED 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 원주 방향을 따라 LED가 공급되는 회전 가능한 턴테이블(turn table) 구조를 가지며, 그 외측에 배치된 적어도 하나의 프루브 유닛에 의해 LED에 대한 테스트 공정이 진행되는 테스트용 인덱스; 테스트용 인덱스에 이웃되게 배치되고 회전 가능한 턴테이블 구조를 가지며, 프루브 유닛에 의해 테스트 공정이 완료된 LED가 분류되는 회전형 분류 인덱스; 회전형 분류 인덱스의 외측 적어도 일부 구간에 걸쳐 고정 배치되며, 회전형 분류 인덱스 쪽으로부터의 LED가 배출되는 고정형 배출 기구; 및 테스트용 인덱스와 회전형 분류 인덱스 사이에 배치되며, 해당 위치에서 업/다운(up/down) 또는 회전되면서 테스트용 인덱스 쪽의 LED를 회전형 분류 인덱스 쪽으로 이송시키는 이송 기구를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, LED의 공급, 테스트, 분류 및 배출 공정을 유기적으로, 특히 분류 및 배출 공정을 종래의 어떤 테스트 핸들러보다 고속으로 진행시킬 수 있어 택트 타임(tact time) 감소에 따른 생산성 향상을 도모할 수 있다.

Description

칩형 ＬＥＤ 테스트 핸들러{Test handler for chip LED}
본 발명은, 칩형 LED 테스트 핸들러에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, LED의 공급, 테스트, 분류 및 배출 공정을 유기적으로, 특히 분류 및 배출 공정을 종래의 어떤 테스트 핸들러보다 고속으로 진행시킬 수 있어 택트 타임(tact time) 감소에 따른 생산성 향상을 도모할 수 있는 칩형 LED의 칩형 LED 테스트 핸들러에 관한 것이다.
발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)는 반도체의 p-n 접합구조를 이용하여 주입된 소수캐리어(전자 또는 정공)를 만들어내고, 이들의 재결합에 의하여 발광시키는 반도체 소자이다.
이러한 LED은 단위 사이즈를 이루는 셀(cell) 내에 칩(chip)이 실장된 리드 프레임(lead frame)으로부터 트리밍되어 제조되는 것이 일반적이며, 제조된 후에는 소위, 테스트 핸들러라는 장비에 의해 품질이 테스트된 다음 품질에 따라 분류된다.
그런데, 현재까지 알려진 칩형 LED 테스트 핸들러의 경우에는 테스트 완료된 LED를 예컨대 로봇 등이 픽업(pick up)하여 분류기에 분류하는 단순 구조를 적용하고 있었기 때문에, 종래보다 더 빠른 고속 작업을 진행하여 택트 타임(tact time) 감소에 따른 생산성 향상을 도모하기 위해서는 새로운 타입의 칩형 LED 테스트 핸들러가 요구된다.
본 발명의 목적은, LED의 공급, 테스트, 분류 및 배출 공정을 유기적으로, 특히 분류 및 배출 공정을 종래의 어떤 테스트 핸들러보다 고속으로 진행시킬 수 있어 택트 타임(tact time) 감소에 따른 생산성 향상을 도모할 수 있는 칩형 LED 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.
상기 목적은, 원주 방향을 따라 LED가 공급되는 회전 가능한 턴테이블(turn table) 구조를 가지며, 그 외측에 배치된 적어도 하나의 프루브 유닛에 의해 상기 LED에 대한 테스트 공정이 진행되는 테스트용 인덱스; 상기 테스트용 인덱스에 이웃되게 배치되고 회전 가능한 턴테이블 구조를 가지며, 상기 프루브 유닛에 의해 테스트 공정이 완료된 LED가 분류되는 회전형 분류 인덱스; 상기 회전형 분류 인덱스의 외측 적어도 일부 구간에 걸쳐 고정 배치되며, 상기 회전형 분류 인덱스 쪽으로부터의 상기 LED가 배출되는 고정형 배출 기구; 및 상기 테스트용 인덱스와 상기 회전형 분류 인덱스 사이에 배치되며, 해당 위치에서 업/다운(up/down) 또는 회전되면서 상기 테스트용 인덱스 쪽의 LED를 상기 회전형 분류 인덱스 쪽으로 이송시키는 이송 기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러에 의해 달성된다.
여기서, 상기 테스트용 인덱스, 상기 회전형 분류 인덱스 및 상기 이송 기구에 마련되어 상기 LED가 안착되는 안착구조는, 상기 LED가 출입 가능한 안착홈을 구비하는 제2 레이어(layer); 및 상기 제2 레이어를 사이에 두고 상부 및 하부에 각각 결합되는 제1 및 제3 레이어를 구비하는 실질적으로 동일한 구조를 가질 수 있다.
상기 제1 내지 제3 레이어에는 상기 LED의 이송을 위해 상기 제3 레이어 쪽에서 공급되는 공기의 유동을 위한 제1 내지 제3 공기연통홀이 상호간 연통되게 형성될 수 있다.
상기 제3 공기연통홀에는 상기 안착홈 내에 안착된 상기 LED를 진공압에 의해 흡착시키기 위한 장공 형태의 진공흡착홈이 상기 제3 공기연통홀과 연통되게 형성될 수 있다.
상기 안착홈은, 상기 LED가 안착되는 안착공간부; 및 상기 안착공간부에 연통되고 상기 안착공간부의 일측에서 상기 안착공간부보다 그 폭이 좁게 형성되는 더미공간부를 포함할 수 있으며, 상기 이송 기구에는 상기 안착홈이 1개 마련되고, 상기 테스트용 인덱스 및 상기 회전형 분류 인덱스에는 상기 안착홈이 그 원주 방향을 따라 다수 개 마련될 수 있다.
상기 회전형 분류 인덱스 및 상기 이송 기구에 마련되는 상기 제1 내지 제3 레이어는 함께 회전될 수 있으며, 상기 테스트용 인덱스에 마련되는 상기 제1 및 제3 레이어는 위치 고정되고, 상기 제2 레이어가 상기 제1 및 제3 레이어에 대해 상대 회전될 수 있다.
상기 고정형 배출 기구는, 상기 테스트용 인덱스가 위치되는 공간을 제외하고 상기 회전형 분류 인덱스의 외측에서 그 원주 방향을 따라 다수 개 고정 배치될 수 있다.
상기 다수의 고정형 배출 기구 각각은, 배출구 몸체; 상기 배출구 몸체에 형성되어 상기 테스트 공정이 완료된 LED가 배출되는 라인을 형성하며, 후단으로 갈수록 하향 경사지게 형성되는 다수의 배출라인; 및 하부 영역에 위치하는 분류용 빈 박스(bin box) 쪽으로 향하는 배출연결호스가 연결되기 위해 상기 다수의 배출라인의 단부 영역에 결합되는 연결용 파이프를 포함할 수 있다.
상기 회전형 분류 인덱스는, 배출구 몸체; 상기 배출구 몸체에 형성되어 상기 테스트 공정이 완료된 LED가 배출되는 라인을 형성하며, 후단으로 갈수록 하향 경사지게 형성되는 다수의 배출라인; 및 하부 영역에 위치하는 분류용 빈 박스(bin box) 쪽으로 향하는 배출연결호스가 연결되기 위해 상기 다수의 배출라인의 단부 영역에 결합되는 연결용 파이프를 포함할 수 있다.
상기 다수의 배출구 몸체의 영역에서 수직 방향으로의 광을 조사하여 상기 테스트 공정이 완료된 LED의 배출 여부를 체크하는 센서를 더 포함할 수 있다.
상기 이송 기구의 업/다운 구동을 위해 상기 이송 기구의 하부에서 상기 이송 기구와 연결되는 업/다운용 서보모터; 및 상기 이송 기구의 회전을 위해 상기 이송 기구의 하부에서 상기 이송 기구와 연결되는 회전용 서보모터를 더 포함할 수 있다.
상기 테스트용 인덱스, 상기 회전형 분류 인덱스 및 상기 이송 기구의 동작을 컨트롤하는 컨트롤러를 더 포함할 수 있다.
한편, 상기 목적은, 프루브 유닛에 의해 테스트되는 LED를 수용하는 테스트용 인덱스; 테스트가 완료된 LED를 분류하는 회전형 분류 인덱스; 상기 회전형 분류 인덱스의 외측에 고정 배치되어 상기 LED가 배출되는 고정형 배출 기구; 및 상기 프루브 유닛에 의해 LED의 테스트가 완료되면, 상기 테스트용 인덱스에 수용된 LED를 상기 회전형 분류 인덱스로 이송시키는 이송 기구를 포함하는 칩형 LED 테스트 핸들러에 의해서도 달성된다.
여기서, 상기 회전형 분류 인덱스는 다층 구조의 분류용 라인을 포함할 수 있으며, 상기 이송 기구는 상기 프루브 유닛에 의해 LED의 테스트가 완료되면, 상기 다층 구조의 분류용 라인 중 어느 하나의 분류용 라인으로 상기 테스트용 인덱스에 수용된 LED를 이송시킬 수 있다.
상기 테스트용 인덱스에서 상기 이송 기구로, 상기 이송 기구에서 상기 회전형 분류 인덱스로 상기 LED가 이송될 때, 한편에서는 압축공기가 공급되고 상대편에서는 진공이 형성될 수 있다.
상기 회전형 분류 인덱스는 다층 구조의 분류용 라인을 포함할 수 있으며, 상기 이송 기구로 상하 이동하면서 상기 분류용 라인 중 어느 하나로 상기 LED를 이송시킬 수 있다.
본 발명에 따르면, LED의 공급, 테스트, 분류 및 배출 공정을 유기적으로, 특히 분류 및 배출 공정을 종래의 어떤 테스트 핸들러보다 고속으로 진행시킬 수 있어 택트 타임(tact time) 감소에 따른 생산성 향상을 도모할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 칩형 LED 테스트 핸들러의 평면 구조도,
도 2는 도 1의 요부 확대도,
도 3은 LED 테스트 핸들러의 측면 구조도,
도 4는 도 3의 요부 확대도,
도 5는 도 3의 S 영역의 확대도,
도 6은 테스트용 인덱스, 이송 기구 및 회전형 분류 인덱스 간의 LED의 이송 동작을 도시한 도면,
도 7은 회전형 분류 인덱스 영역의 확대도,
도 8a는 테스트용 인덱스, 이송 기구 및 회전형 분류 인덱스에 적용되는 LED의 안착구조 설명을 위한 분해도,
도 8b는 도 8a의 조립 단면 요부 구조도,
도 9는 도 8a의 조립도,
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 LED 테스트 핸들러의 제어블록도,
도 11 내지 도 14는 각각 고정형 배출 기구의 변형 실시예들,
도 15는 본 발명의 다른 실시예에 따른 LED 테스트 핸들러에서 센서의 설치 위치를 도시한 도면이다.
이상의 본 발명의 목적들, 다른 목적들, 특징들 및 이점들은 첨부된 도면과 관련된 이하의 바람직한 실시예들을 통해서 쉽게 이해될 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다.
본 명세서에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 구성요소가 개재될 수도 있다는 것을 의미한다. 또한 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다.
본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 평면도들을 참고하여 설명될 것이다. 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. 따라서 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 예를 들면, 직각으로 도시된 식각 영역은 라운드지거나 소정 곡률을 가지는 형태일 수 있다. 따라서 도면에서 예시된 영역들은 속성을 가지며, 도면에서 예시된 영역들의 모양은 소자의 영역의 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다. 본 명세서의 다양한 실시예들에서 제1, 제2 등의 용어가 다양한 구성요소들을 기술하기 위해서 사용되었지만, 이들 구성요소들이 이 같은 용어들에 의해서 한정되어서는 안 된다. 이들 용어들은 단지 어느 구성요소를 다른 구성요소와 구별시키기 위해서 사용되었을 뿐이다. 여기에 설명되고 예시되는 실시예들은 그것의 상보적인 실시예들도 포함한다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소는 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하도록 한다. 아래의 특정 실시예들을 기술하는데 있어서, 여러 가지의 특정적인 내용들은 발명을 더 구체적으로 설명하고 이해를 돕기 위해 작성되었다. 하지만 본 발명을 이해할 수 있을 정도로 이 분야의 지식을 갖고 있는 독자는 이러한 여러 가지의 특정적인 내용들이 없어도 사용될 수 있다는 것을 인지할 수 있다. 어떤 경우에는, 발명을 기술하는 데 있어서 흔히 알려졌으면서 발명과 크게 관련 없는 부분들은 본 발명을 설명하는데 있어 별 이유 없이 혼돈이 오는 것을 막기 위해 기술하지 않음을 미리 언급해 둔다.
또한, 이하에서 설명될 본 발명의 실시예들에서는 칩형 LED를 예로 들어 설명하였으나, 칩형 LED가 아닌 다른 형태의 전자 및/또는 전기 디바이스용 칩에 대하여도 본원 발명이 적용될 수 있음은 물론이다. 한편, 본원 명세서에서, "칩"이라고 함은, '칩형 LED' 뿐만 아니라 다른 형태의 전자 및/또는 전기 디바이스 칩들을 모두 포함하는 의미로 사용하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 칩형 LED 테스트 핸들러의 평면 구조도, 도 2는 도 1의 요부 확대도, 도 3은 칩형 LED 테스트 핸들러의 측면 구조도, 도 4는 도 3의 요부 확대도, 도 5는 도 3의 S 영역의 확대도, 도 6은 테스트용 인덱스, 이송 기구 및 회전형 분류 인덱스 간의 LED의 이송 동작을 도시한 도면, 도 7은 회전형 분류 인덱스 영역의 확대도, 도 8a는 테스트용 인덱스, 이송 기구 및 회전형 분류 인덱스에 적용되는 LED의 안착구조 설명을 위한 분해도, 도 8b는 도 8a의 조립 단면 요부 구조도, 도 9는 도 8a의 조립도, 그리고 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 칩형 LED 테스트 핸들러의 제어블록도이다.
이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 칩형 LED 테스트 핸들러는, 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200), 고정형 배출 기구(600), 테스트용 인덱스(100)와 회전형 분류 인덱스(200) 사이에서 LED(도 6, 도 7, 도 8a, 도 8b 및 도 9 참조)를 이송시키는 이송 기구(400), 그리고 이들의 동작을 유기적인 메커니즘으로 컨트롤하는 컨트롤러(500, 도 10 참조)를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 테스트용 인덱스(100)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 원반 형상의 턴테이블로 마련되며, 후술할 컨트롤러(500)에 의해 컨트롤되면서 일방향으로 회전된다(도 2의 화살표 참조). 테스트용 인덱스(100)의 내부에는 도 1에 개략적으로 도시된 바와 같이, 테스트용 인덱스(100)를 회전시키기 위한 수단으로서 모터 등이 장착된 회전 유닛(101)이 마련될 수 있다.
테스트용 인덱스(100)에는 그 원주 방향을 따라 LED가 공급된다. 테스트용 인덱스(100)는 테스트용 인덱스(100)의 외측에 배치된 프루브 유닛(330)에 의해 LED에 대한 테스트 공정이 진행될 수 있도록 하는 장소를 제공한다. 즉, 테스트용 인덱스(100)는 프루브 유닛(330)이 테스트할 LED를 수용하며, 프루브 유닛(330)에 의해 테스트가 완료되면 수용하던 LED를 후술하는 이송 기구로 보낸다.
테스트용 인덱스(100)의 원주 방향을 따라 LED가 공급되기 위해, 테스트용 인덱스(100)의 주변에는 부품 정렬 공급기(310)와 리니어 피더(linear feeder, 320)가 구비된다.
본 발명의 일 실시예에 따른 부품 정렬 공급기(310)는 LED가 다수 개 수용되면서 진동으로 정렬되는 장소이고, 리니어 피더(320)는 부품 정렬 공급기(310) 내의 LED를 테스트용 인덱스(100)를 향해 일렬로 공급하는 부분이다.
이에 대해 부연하면, 부품 정렬 공급기(310)는 상부와 일측이 개방된 대략 원통 형상의 구조물로 마련되며, 그 내부에는 작업대상의 다수의 LED가 수용된다. 부품 정렬 공급기(310)는 도시 않은 진동수단(혹은 구동수단)에 의해 일방향으로 내부 구조체가 진동 회전되면서 정렬하여 내부에 수용된 LED를 리니어 피더(320)로 정렬시켜 보낸다.
본 발명의 일 실시예에 따른 리니어 피더(320)는 부품 정렬 공급기(310)로부터의 LED가 하나씩 혹은 순차적으로 일렬로 배열되면서 테스트용 인덱스(100)로 향할 수 있도록 LED가 공급되는 공급 라인을 이룬다. 도면에는 리니어 피더(320)가 단순하게 막대 형상으로 도시되어 있으나 리니어 피더(320)에는 LED를 가이드할 수 있는 수단, 혹은 LED의 개수를 센싱하기 위한 수단 등이 더 결합될 수도 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 프루브 유닛(330)은, 테스트용 인덱스(100)의 외주 영역 일측에 배치되어 테스트용 인덱스(100) 상에서 LED에 대한 테스트 공정을 진행하는 역할을 한다.
본 실시예의 경우, 테스트용 인덱스(100)를 기준으로 프루브 유닛(330)은 서로 다른 위치에 두 개 마련되며, 테스트용 인덱스(100)의 외측 두 군데 영역에서 테스트 공정을 진행하고 있다. 이때, 두 군데 영역에서 서로 다른 LED에 대해 동일한 테스트 공정을 수행할 수도 있고 아니면 하나의 LED에 대해 서로 다른 테스트 공정을 수행할 수도 있다.
예컨대, 두 개의 프루브 유닛(330) 중에서 하나를 통해 LED에 대한 품질 테스트 공정이 진행되도록 하고, 나머지를 통해 신뢰성 테스트 공정이 진행되도록 하여도 좋고, 아니면 병렬적으로 두 개의 프루브 유닛(330) 모두에서 품질 테스트 공정과 신뢰성 테스트 공정이 함께 진행되도록 하여도 좋다.
물론, 본 발명의 권리범위가 프루브 유닛(330)의 개수 및 위치에 제한될 필요는 없다. 두 개의 프루브 유닛(330)은 모두가 동일한 구조를 가질 수 있다. 또한, 부품 정렬 공급기(310)와 리니어 피더(320) 역시 본 발명의 일 실시예로서, 이와 다르게 구성하는 것도 가능할 것이다.
다음으로, 회전형 분류 인덱스(200)는 테스트용 인덱스(100)에 이웃되게 배치되어 프루브 유닛(330)에 의해 테스트 공정이 완료된 LED를 분류할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 회전형 분류 인덱스(200)는, 테스트용 인덱스(100)와 마찬가지로 원반 형상의 턴테이블로 마련되고, 후술할 컨트롤러(500)에 의해 컨트롤되면서 일방향으로 회전될 수 있다(도 2의 화살표 참조).
회전형 분류 인덱스(200)는 평면에서 볼 때는 도 1 및 도 2처럼 원반 형상을 가지며, 측면에서 볼 때는 단부가 도 3 내지 도 5, 그리고 도 7처럼 다층 구조, 즉 4개 층으로 된 구조를 가질 수 있다. 예컨대, 한 개의 층에서 64개가 분류될 수 있다고 가정할 때, 4층 구조를 가짐에 따라 총 256개의 분류 효과를 제공할 수 있다. 따라서 분류 작업과 효율, 그리고 생산성 향상에 기여하기에 충분하다. 또한 원반 구조의 턴테이블 패턴으로 분류 작업이 진행되고 있기 때문에 작업이 빠르다는 이점이 있다. 물론, 본 발명의 권리범위가 상술한 수치들에 제한될 필요는 없다.
본 발명의 일 실시예에 따른 고정형 배출 기구(600)는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 회전형 분류 인덱스(200)의 외측 적어도 일부 구간에 걸쳐 고정 배치될 수 있다. 즉 회전형 분류 인덱스(200)가 턴테이블 형식으로서 그 설치 위치에서 회전되는 구조물인 반면 고정형 배출 기구(600)는 회전형 분류 인덱스(200)의 외측에 고정되어 LED를 배출시키는 역할을 담당한다.
본 실시예에서 고정형 배출 기구(600)는, 테스트용 인덱스(100)가 위치되는 공간을 제외하고 회전형 분류 인덱스(200)의 외측에서 그 원주 방향을 따라 다수 개, 예컨대 4개가 그룹(group) 단위로 고정 배치되고 있다. 물론, 이의 수치는 하나의 예일 뿐 본 발명의 권리범위가 이의 수치 및 도면의 형상에 제한될 필요는 없다.
이러한 고정형 배출 기구(600)는 회전형 분류 인덱스(200)에서 분류된 LED가 분류용 빈 박스(bin box, 800, 도 3 참조) 쪽으로 향할 수 있도록 하는 배출 경로를 형성한다. 즉 도 3에 도시된 바와 같이, 이송 기구(400)에 의해 회전형 분류 인덱스(200) 쪽으로 이송된 LED는 고정형 배출 기구(600)를 거쳐 배출연결호스(640, 도 1 내지 도 3 참조)를 통해 분류용 빈 박스(800)로 수집되는 유기적인 흐름을 형성한다.
이와 같이, 고정형 배출 기구(600)가 움직이지 않고, 특히 종래처럼 상하로 움직이지 않고 고정된 상태에서 LED를 배출시키는 동작을 수행하게 되면 LED를 배출시키기 위한 제어 밸브(202, 도 7 참조)의 동작을 빼고는 별다른 제어 동작이 필요치 않기 때문에 매우 짧은 시간 내에 고속으로 분류과정과 배출과정을 완료할 수 있다. 따라서 택트 타임(tact time) 감소에 따른 생산성 향상에 기여할 수 있다.
이러한 고정형 배출 기구(600)는, 주로 도 7에 도시된 바와 같이, 배출구 몸체(610)와, 배출구 몸체(610)에 형성되어 테스트 공정이 완료된 LED가 배출되는 라인을 형성하며 후단으로 갈수록 하향 경사지게 형성되는 다수의 배출라인(620)과, 하부 영역에 위치하는 분류용 빈 박스(bin box, 800, 도 3 참조) 쪽으로 향하는 배출연결호스(640, 도 1 내지 도 3 참조)가 연결되기 위해 다수의 배출라인(620)의 단부 영역에 결합되는 연결용 파이프(630)를 구비한다. 도 7에 도시된 바와 같이, 배출구 몸체(610)의 일측벽을 기준으로 하여 이송 기구(400) 쪽이 회전되는 구조체인 회전형 분류 인덱스(200)이고, 반대편이 고정 구조체인 고정형 배출 기구(600)이다.
배출구 몸체(610)에 인접된 위치의 공기라인(201)은 상하 방향을 따라 예컨대 4개의 층으로 될 수 있는 고정형 배출 기구(600) 쪽으로 LED를 배출시키기 위한 압축공기가 공급되는 라인으로서 그 단부 영역에는 제어 밸브(202)가 연결된다. 제어 밸브(202)는 압축공기를 공급하는 역할 외에도 공기라인(201)에 진공을 형성시키는 역할을 겸한다. 후자의 경우는 이송 기구(400)에서 LED가 이송되어 올 때 진행된다.
분류용 빈 박스(800)는 장치 프레임(240)의 레일(250)에 의해 장치 프레임(240)의 내외로 출입이 용이할 수 있다. 참고로, 장치 프레임(240)의 하단부에는 푸트부재(241,242)가 마련될 수 있는데, 하나(242)는 구름 이동용으로, 다른 하나(241)는 높이 조절 및 스토퍼용으로 사용될 수 있다.
도 7을 참조하여 전술한 바와 같이, 고정형 배출 기구(600)는 높이 방향을 따라 다층 구조로 마련되기 때문에, 배출라인(620)과 연결용 파이프(630) 역시 높이 방향을 따라 다층 구조로 마련된다. 본 실시예의 경우, 4층 구조를 개시하고 있으나 이는 하나의 예에 불과하며, 본 발명의 권리범위가 이의 개수에 제한되지는 않는다.
한편, 이러한 구조에서, 배출구 몸체(610)에 인접된 위치에는 상하의 수직 방향으로 광을 조사하여 테스트 공정이 완료된 LED의 배출 여부를 체크하는 센서(260, 도 7 참조)가 마련될 수 있다. 이러한 센서(260)로 인해 분류되는 LED의 수량을 체크하는 역할을 겸할 수 있다.
본 실시예의 센서(260)는 발광부(260a)와 수광부(260b)가 쌍으로 존재할 수 있으며, 또한 반사식 센서를 이용한 일체형 센서를 이용할 수도 있고, 그들 사이에 광 경로로서의 광홀(260c)이 형성된 구조를 가질 수 있다. 이때, 발광부(260a)와 수광부(260b)는 별도의 고정부 혹은 고정 브래킷(261a, 261b)에 의해해당 위치에 고정될 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 기구(400)는 테스트용 인덱스(100)와 회전형 분류 인덱스(200) 사이에서 업/다운(up/down) 및 회전 가능하게 배치되어 도 6의 (a) 내지 (c)처럼 테스트용 인덱스(100) 쪽의 LED를 회전형 분류 인덱스(200) 쪽으로 이송시키는 역할을 한다.
상술한 실시예들에서 테스트용 인덱스(100)와 회전형 분류 인덱스(200)에는 그 원주 방향을 따라 다수의 LED가 배치되어 테스트되거나 분류되고 있는데, 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 기구(400) 상에는 하나의 LED가 배치된 후에 도 6의 (a) 내지 (c)처럼 테스트용 인덱스(100) 쪽에서 회전형 분류 인덱스(200) 쪽으로 이송된다.
본 실시예의 칩형 LED 테스트 핸들러에는 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 업/다운용 서보모터(410)와, 회전용 서보모터(420)가 더 마련될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 업/다운용 서보모터(410)는 이송 기구(400)의 하부에서 이송 기구(400)와 연결되어 이송 기구(400)를 도 5에 도시된 바와 같이, +Z 방향 혹은 -Z 방향으로 업/다운 구동시키면서 상하로 다층 배열된 회전형 분류 인덱스(200)의 LED 투입 위치와 대응될 수 있도록 한다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 회전용 서보모터(420)는 도 6처럼 이송 기구(400)의 하부에서 이송 기구(400)와 연결되어 이송 기구(400)를 예컨대 180도 회전시킬 수 있다.
본 실시예에서, 업/다운용 서보모터(410)와 회전용 서보모터(420)는 장치 프레임(240) 내의 일측에 마련되되 그 주변의 도시 않은 브래킷 또는 스플라인 구조 등에 의해 해당 위치에 고정된다. 다시 말해, 업/다운용 서보모터(410)와 회전용 서보모터(420)는 해당 위치에 고정되고, 이들의 동작 시 스플라인 구조 등에 의해 이송 기구(400)만이 업/다운 또는 회전 구동된다. 물론, 업/다운용 서보모터(410)와 회전용 서보모터(420)가 함께 동작되는 경우도 고려해볼 수 있지만 이러한 경우 부하가 상대적으로 많이 걸릴 수 있으므로 업/다운용 서보모터(410)와 회전용 서보모터(420)는 고정형으로 마련하는 것이 유리할 수 있다. 물론, 본 발명의 권리범위가 이에 제한되는 것은 아니다.
한편, 테스트용 인덱스(100) 상에 LED가 공급되어 테스트되고, 이후에 도 6의 (a) 내지 (c)처럼 테스트용 인덱스(100) 상의 LED가 이송 기구(400)에 의해 회전형 분류 인덱스(200)로 이송되기 위해서는, 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)에 LED가 안착되기 위한 안착구조가 필요하다.
LED가 안착되기 위한 안착구조가 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)마다 다른 구조로 마련되어도 관계는 없으나 이러한 경우, 장치의 구조가 복잡해지고 제조비용, 유지보수비용이 상승될 우려가 있다.
이에, 본 실시예에서는 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)에 마련되어 LED가 안착되는 안착구조가 모두 동일한 구조를 갖도록 함으로써 구조를 단순화시키고 제조비용, 또는 유지보수비용의 절감하고 있다. 이러한 사항 역시 본 발명에 따른 부수적인 효과가 될 수 있다.
본 실시예에서 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)에 마련되는 LED 안착구조를 모두 동일한 구조로 통일하였으나, 이는 본원 발명의 예시적인 것이므로, 이들 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)의 LED 안착구조를 반드시 동일하게 할 필요는 없다.
도 8a 내지 도 9를 참조하여 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)에 마련되어 LED가 안착되는 안착구조를 설명하도록 한다. 참고로, 편의를 위해 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)에 마련되어 LED가 안착되는 안착구조에 대해서는 모두 동일한 참조부호를 부여하도록 한다.
LED의 안착구조는, LED가 출입 가능한 안착홈(721)을 구비하는 제2 레이어(layer, 720)와, 제2 레이어(720)를 사이에 두고 상부 및 하부에 각각 결합되는 제1 및 제3 레이어(710,730)를 구비한다. 반복 설명하는 것처럼 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400) 모두는 제1 내지 제3 레이어(710,720,730)의 조립 구조를 가지면서 LED를 안착시킬 수 있다.
본 실시예에서, 제1 내지 제3 레이어(710,720,730)가 조립된 형태로 설명되었으나, 이는 예시적인 것이므로 반드시 3개의 레이어의 형태로 본원 발명이 한정될 필요가 없을 것이다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)에 마련되는 제1 내지 제3 레이어(710,720,730)는 함께 회전되면서 그의 동작을 수행하고 있는데 반해, 테스트용 인덱스(100)에 마련되는 제1 및 제3 레이어(710,730)는 위치 고정되고, 그 사이의 제2 레이어(720)만이 제1 및 제3 레이어(710,730)에 대해 상대 회전되면서 그의 동작을 수행할 수 있다. 하지만 이러한 구성은 예시적인 것으로서 이와 다르게 구성하는 것도 가능할 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 안착홈(721)은, 도 6의 (c)에 도시된 바와 같이, LED가 안착되는 안착공간부(721a)와, 안착공간부(721a)에 연통되고 안착공간부(721a)의 일측에서 안착공간부(721a)보다 그 폭이 좁게 형성되는 더미공간부(721b)를 구비한다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 이송 기구(400)는 안착홈(721)이 1개 마련되고, 테스트용 인덱스(100) 및 회전형 분류 인덱스(200)에는 안착홈(721)이 그 원주 방향을 따라 다수 개 마련될 수 있다. 도 1 및 도 2에 도시된 사이즈로 미루어볼 때, 테스트용 인덱스(100)에 마련되는 안착홈(721)의 개수보다 회전형 분류 인덱스(200)에 마련되는 안착홈(721)의 개수가 더 많을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제1 내지 제3 레이어(710,720,730)에는 LED의 이송을 위해 제3 레이어(730) 쪽에서 공급되는 공기의 유동을 위한 제1 내지 제3 공기연통홀(714,724,734)이 상호 연통되게 형성된다. 본 실시예에서, 제1 레이어(710)에 형성되는 제1 공기연통홀(714)은 그 두께 영역만이 뚫려있을 뿐 상면은 막힌 구조를 가질 수 있다.
이에 도 8a에서 도 9처럼 제1 내지 제3 레이어(710,720,730)가 조립된 후, 제3 레이어(730) 쪽에서 제3 공기연통홀(734)을 통해 압축 공기가 공급되면 압축 공기는 제1 내지 제3 공기연통홀(714,724,734)을 지나면서 안착홈(721) 쪽으로, 즉 더미공간부(721b)를 통해 안착공간부(721a) 쪽으로 향하게 됨으로써 안착홈(721)에 안착된 LED은 인접 구조물로 이송될 수 있다. 즉, 더미공간부(712b)로 공급된 압축 공기로 인해 LED은 테스트용 인덱스(100) 쪽에서 이송 기구(400) 쪽으로 보다 잘 이송될 수 있고, 또한 이송 기구(400) 쪽에서 회전형 분류 인덱스(200) 쪽으로 이송될 수 있다. 회전형 분류 인덱스(200) 쪽의 안착홈(721)에 LED가 안착된다. 이후, 컨트롤러(500)에 의해 회전형 분류 인덱스(200)는 회전되어 고정형 배출 기구(600)의 적절한 배출연결호스(640) 쪽으로 위치된다.
회전형 분류 인덱스(200)가 적절한 위치로 회전되고 나면, 도 7에 도시된 바와 같이, 제어 밸브(202)에 의해 공기라인(201) 쪽으로 압축공기가 제공됨으로써 압축공기의 힘에 의해 안착홈(712)에 안착되어 있던 LED가 밀려 배출라인(620), 연결용 파이프(630) 및 배출연결호스(640)를 차례로 경유하여 최종적으로 분류용 빈 박스(800)에 수집된다. 물론, 고정형 배출 기구(600)를 통한 LED의 배출 과정이 완료되면 제어 밸브(202)의 동작이 정지되어 압축공기의 공급은 중단된다.
본 실시예에서는 도 7처럼, 회전형 분류 인덱스(200) 쪽의 안착홈(721)에 마련되는 공기라인(201) 및 제어 밸브(202)에 관해서만 도시하였지만, LED가 테스트용 인덱스(100) 쪽에서 이송 기구(400) 쪽으로, 그리고 이송 기구(400) 쪽에서 회전형 분류 인덱스(200) 쪽으로 이송되기 위해서는 해당 위치에서 압축공기를 공급해야 하는데, 테스트용 인덱스(100)와 이송 기구(400) 쪽에 마련되는 압축공기 공급 구조는 도 7의 회전형 분류 인덱스(200) 쪽의 구조와 유사할 수 있으므로 설명으로만 대체한다.
한편, 위의 설명처럼 압축 공기를 공급하면 LED가 테스트용 인덱스(100) 쪽에서 이송 기구(400) 쪽으로, 그리고 이송 기구(400) 쪽에서 회전형 분류 인덱스(200) 쪽으로 이송될 수 있는데, 반대로 동일한 경로를 통해 진공으로 공기를 흡입시키면 해당 위치에서 LED은 흡착 고정될 수 있다.
다만, 안착홈(721)의 구조와 LED의 사이즈를 고려할 때, 제1 내지 제3 공기연통홀(714,724,734)을 통해 공기를 흡입시키는 정도만으로는 LED가 안착홈(721)에 안정적으로 흡착 고정되기에는 다소 부족할 수 있기 때문에, 본 발명의 일 실시예에 따른 다음의 구조가 추가될 수 있다.
즉 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 제3 공기연통홀(734)에는 안착홈(721) 내에 안착된 LED를 진공압에 의해 흡착시키기 위한 장공 형태의 진공흡착홈(735)이 제3 공기연통홀(734)과 연통되게 형성될 수 있다. 따라서 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400) 중 어느 한 안착홈(721)에 LED가 안착되어야 하는 경우, 제3 공기연통홀(734)을 통해 진공압을 형성시키면 제1 내지 제3 공기연통홀(714,724,734) 뿐만 아니라 진공흡착홈(735)으로 진공압이 넓게 퍼지면서 안착홈(721)의 하부 영역에서 넓은 면적으로 LED를 흡착 고정시킬 수 있게 되어(도 8b 참조) 테스트 공정 중 혹은 이송 중에 LED가 임의로 흔들리거나 이탈되는 현상을 예방할 수 있게 된다.
특히, 진공흡착홈(735)을 통해 LED를 진공압에 의해 안정적으로 흡착시키기 위한 구조는 도 6의 (b)처럼 이송 기구(400)가 테스트용 인덱스(100)로부터 LED를 전달 받아 회전하여 회전형 분류 인덱스(200)로 이송시킬 때 보다 유리하게 작용할 수 있다. 반대로, LED를 배출시켜야 할 때는 도 8b에 도시된 바와 같이, 제1 내지 제3 공기연통홀(714,724,734)을 통한 공기 흐름이 더미공간부(721b) 쪽으로 향하게 되어 안착공간부(721a)에 안착되어 있던 LED를 밀어내기 때문에 쉽게 LED가 배출될 수 있게 된다.
참고로, 도 8b의 도면에서 LED의 하부에 빗금으로 해칭한 부분(H1)은 진공흡착력이 주로 작용하여 큰 흡착력을 얻을 수 있도록 하는 면에 해당하고, LED의 오른쪽 측면에 빗금으로 해칭한 부분(H2)은 압축공기가 이 부분을 밀어서 배출력을 발생시키는 면에 해당한다. 물론, 해칭한 부분(H1,H2)은 설명의 편의를 위해 부여한 것일 뿐 실제의 장치나 LED에 이러한 부분이 표시되는 것은 아니다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 도 6의 (a)처럼 LED가 테스트용 인덱스(100)로부터 이송 기구(400)로 이송될 때 이송 기구(400)의 중앙 영역에 LED가 배치되는데, 그 이유는 이송 기구(400)의 회전 시 원심력 등에 의해 LED가 이송 기구(400)의 안착홈(721)으로부터 튀어나가지 않도록 하기 위한 것이다. 이러한 구조 역시 본원 발명의 예시적인 구성으로서, 만약 LED의 진공 흡착력이 강하다면 도면처럼 LED를 이송 기구(400)의 안착홈(721) 중앙 영역으로 배치시킬 필요는 없을 것이다.
마지막으로, 컨트롤러(500)는, 본 실시예에 따른 칩형 LED 테스트 핸들러의 테스트용 인덱스(100), 회전형 분류 인덱스(200) 및 이송 기구(400)의 동작을 컨트롤한다. 이러한 역할을 수행하는 컨트롤러(500)에 대해 간략하게 부연 설명하면, 도 10에 도시된 바와 같이, 컨트롤러(500)는 중앙처리장치(510, CPU), 메모리(520, MEMORY), 서포트 회로(530, SUPPORT CIRCUIT)를 포함한다. CPU(510)는 본 실시예의 칩형 LED 테스트 핸들러를 제어하기 위해서 산업적으로 적용될 수 있는 다양한 컴퓨터 프로세서들 중 하나일 수 있다. 메모리(520, MEMORY)는 CPU(510)와 동작으로 연결된다. 메모리(520)는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체로서 로컬 또는 원격지에 설치될 수 있으며, 예를 들면 랜덤 액세스 메모리(RAM), ROM, 플로피 디스크, 하드 디스크 또는 임의의 디지털 저장 형태와 같이 쉽게 이용가능한 적어도 하나 이상의 메모리이다. 서포트 회로(530, SUPPORT CIRCUIT)는 CPU(510)와 작용적으로 결합되어 프로세서의 전형적인 동작을 지원한다. 이러한 서포트 회로(530)는 캐시, 파워 서플라이, 클록 회로, 입/출력 회로, 서브시스템 등을 포함할 수 있다.
예를 들면, 본 실시예에 따른 칩형 LED 테스트 핸들러의 전반적인 프로세스, 즉 LED를 공급하는 프로세스, 테스트하는 프로세스, 이송하는 프로세스, 분류하는 프로세스 등이 메모리(520)에 저장될 수 있다. 전형적으로는 소프트웨어 루틴이 메모리(520)에 저장될 수 있다. 소프트웨어 루틴은 또한 다른 CPU(미도시)에 의해서 저장되거나 실행될 수 있으며, 그러한 다른 CPU(미도시)는 칩형 LED 테스트 핸들러와는 거리적으로 이격된 곳에 위치된 것일 수 있다.
본 발명에 따른 프로세스는 소프트웨어 루틴에 의해 실행되는 것으로 설명하였지만, 본 발명의 프로세스들 중 적어도 일부는 하드웨어에 의해 수행되는 것도 가능하다. 이처럼, 본 발명의 프로세스들은 컴퓨터 시스템 상에서 수행되는 소프트웨어로 구현되거나 또는 집적 회로와 같은 하드웨어로 구현되거나 또는 소프트웨어와 하드웨어의 조합에 의해서 구현될 수 있다.
이러한 구성을 갖는 칩형 LED 테스트 핸들러의 동작을 간략하게 살펴보면 다음과 같다.
우선, 부품 정렬 공급기(310)에서 리니어 피더(320)를 통해 LED가 테스트용 인덱스(100)의 원주 방향을 따라 형성되는 안착홈(721)에 안착된다. LED들은 테스트용 인덱스(100)의 회전에 기초하여 그 주변의 프루브 유닛(330)을 지나면서 테스트 공정을 거친다.
테스트 공정이 완료되면 도 6의 (a)처럼 테스트용 인덱스(100)로부터 이송 기구(400)로 LED가 이송된다. 즉 해당 위치에 고정된 업/다운용 서보모터(410)와 회전용 서보모터(420)가 동작되면 스플라인 구조 등에 의해 이송 기구(400)만이 업/다운 또는 회전 구동되면서 테스트용 인덱스(100)와 이송 기구(400)의 안착홈(721)들의 상대 위치가 정렬되며, 상대 위치 정렬이 완료되면 제3 레이어(730) 쪽에서 제3 공기연통홀(734)을 통해 압축 공기가 공급된다.
압축 공기는 도 8a 및 도 8b와 관련하여 기설명한 바와 같이, 제1 내지 제3 공기연통홀(714,724,734)을 지나면서 안착홈(721) 쪽으로, 즉 더미공간부(721b)를 통해 안착공간부(721a) 쪽으로 향하게 됨으로써 테스트용 인덱스(100) 쪽의 안착홈(721)에 안착된 LED은 이송 기구(400) 쪽의 안착홈(721)으로 이송된다. 이처럼 테스트용 인덱스(100) 쪽의 안착홈(721)에 안착된 LED 쪽에 압축 공기가 제공되어 LED를 이송 기구(400) 쪽으로 밀어내는 경우, 반대편인 이송 기구(400) 쪽에서는 진공이 형성되어 이송되어 오는 LED를 해당 안착홈(721)에 안착시키게 된다.
다음, 도 6의 (b)처럼 이송 기구(400)가 회전되고, 또한 필요에 따라 업/다운 구동되면서 이송 기구(400)와 회전형 분류 인덱스(200)의 안착홈(721)들의 상대 위치가 정렬된다. 이때는, 이송 기구(400) 쪽으로 진공압이 형성되어 이송 기구(400)의 안착홈(721)에 안착된 LED를 진공압에 의해 흡착 고정시킨다.
이송 기구(400)의 회전 및 업/다운 동작에 기초하여 이송 기구(400)와 회전형 분류 인덱스(200)의 안착홈(721)들의 상대 위치가 정렬되고 나면 위에 설명한 바와 같이, 진공압이 해제되면서 압축 공기가 해당 경로를 따라 공급되어 이송 기구(400) 쪽의 안착홈(721)에 안착되어 있는 LED은 회전형 분류 인덱스(200) 쪽의 안착홈(721)으로 이송된다. 즉 테스트용 인덱스(100) 및 이송 기구(400) 쪽에서의 LED에 대한 이송의 방법 그대로, 이처럼 이송 기구(400) 쪽의 안착홈(721)에 안착된 LED 쪽에 압축 공기가 제공되어 LED를 테스트용 인덱스(100) 쪽으로 밀어내는 경우, 반대편인 테스트용 인덱스(100) 쪽에서는 진공이 형성되어 이송되어 오는 LED를 해당 안착홈(721)에 안착시키게 된다.
최종적으로 LED가 정지해 있던 회전형 분류 인덱스(200) 쪽의 안착홈(721)으로 이송이 완료되면 회전형 분류 인덱스(200)가 회전되어 미리 결정된 위치에서 멈추게 되고, 도 8b에 도시된 바와 같이, 제1 내지 제3 공기연통홀(714,724,734)을 통한 공기 흐름이 더미공간부(721b) 쪽으로 향하게 되어 안착공간부(721a)에 안착되어 있던 LED를 밀어내기 때문에 쉽게 LED가 고정형 배출 기구(600) 쪽으로 배출된다. 즉 도 7처럼 제어 밸브(202)에 의해 공기라인(201) 쪽으로 압축공기가 제공됨으로써 압축공기의 힘에 의해 LED가 밀려 배출라인(620), 연결용 파이프(630) 및 배출연결호스(640)를 차례로 경유하여 최종적으로 분류용 빈 박스(800)에 수집된다. LED가 분류용 빈 박스(800) 쪽으로 향하는 과정에서 센서(260, 도 7 참조)에 의해 그 개수는 체크될 수 있다.
이와 같은 고정형 배출 기구(600)를 통한 LED의 배출 과정이 완료되면 제어 밸브(202)의 동작이 정지되어 압축공기의 공급은 중단되며, 회전형 분류 인덱스(200)는 다시 회전되면서 이송 기구(400)로부터 LED를 전해 받는다. 뿐만 아니라 이의 작업과 병행하여 해당 위치에 고정된 업/다운용 서보모터(410)와 회전용 서보모터(420)가 동작됨으로써 스플라인 구조 등에 의해 이송 기구(400)만이 업/다운 또는 회전 구동되어 이송 기구(400)는 초기 위치로 복귀된다.
이와 같은 구조와 동작을 갖는 본 실시예의 LED 테스트 핸들러에 따르면,LED의 공급, 테스트, 분류 및 배출 공정을 유기적으로, 특히 분류 및 배출 공정을 종래의 어떤 테스트 핸들러보다 고속으로 진행시킬 수 있어 택트 타임(tact time) 감소에 따른 생산성 향상을 도모할 수 있게 된다.
본 실시예의 경우에는 테스트용 인덱스(100)와 회전형 분류 인덱스(200)가 회전 가능한 원반 형상의 턴테이블로 마련되면서 동작되고, 그 사이의 이송 기구(400)가 업/다운 동작 또는 회전되면서 LED를 이송시키는 구조를 가지며, 특히 회전형 분류 인덱스(200)가 위치 고정된 고정형 배출 기구(600)에 대하여 상대 회전되면서 LED를 배출시키는 과정을 진행하고 있기 때문에 종래의 어떠한 테스트 핸들러보다도 공정 속도를 빠르게 유지시킬 수 있다.
도 11 내지 도 14는 각각 고정형 배출 기구의 변형 실시예들이다.
이들 도면의 경우에는 배출라인(620a~620d) 및 연결용 파이프(630a~630d)의 길이, 사이즈 또는 상대 각도를 다양하게 도시하고 있는데, 도 7을 비롯하여 도 11 내지 도 14 중 어떠한 구조가 적용되더라도 무방하다.
도 15는 본 발명의 다른 실시예에 따른 LED 테스트 핸들러에서 센서의 설치 위치를 도시한 도면이다.
LED의 배출 여부 또는 그 수량을 체크하는 센서(660)의 위치는, 도 7과는 달리 도 15처럼 배출라인(620)의 상하 방향을 따라 배치되어 이 곳에서 체크를 할 수도 있다.
발광부(660a)와 수광부(660b)가 쌍으로 존재하거나 그들 사이에 광 경로로서의 광홀(660c)이 형성되어 있는 등의 구조는 전술한 설명으로 대체하고 여기서는 참조부호만 달리 부여했다.
한편, 전술한 실시예들에서는 LED를 그 예로 들어 설명하였으나, LED가 아닌 다른 형태의 전자 및/또는 전기 디바이스 칩에 대하여도 본원 발명이 적용될 수 있음은 물론이다.
이와 같이 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.
100 : 테스트용 인덱스 200 : 회전형 분류 인덱스
250 : 레일 310 : 부품 정렬 공급기
320 : 리니어 피더 330 : 프루브 유닛
400 : 이송 기구 410 : 업/다운용 서보모터
420 : 회전용 서보모터 500 : 컨트롤러
600 : 고정형 배출 기구 610 : 배출구 몸체
620 : 배출라인 630 : 연결용 파이프
640 : 배출연결호스 710 : 제1 레이어
714 : 제1 공기연통홀 720 : 제2 레이어
721 : 안착홈 724 : 제2 공기연통홀
730 : 제3 레이어 734 : 제3 공기연통홀
735 : 진공흡착홈 800 : 분류용 빈 박스

Claims (15)

  1. 원주 방향을 따라 LED가 공급되는 회전 가능한 턴테이블(turn table) 구조를 가지며, 그 외측에 배치된 적어도 하나의 프루브 유닛에 의해 상기 LED에 대한 테스트 공정이 진행되는 테스트용 인덱스;
    상기 테스트용 인덱스에 이웃되게 배치되고 회전 가능한 턴테이블 구조를 가지며, 상기 프루브 유닛에 의해 테스트 공정이 완료된 LED가 분류되는 회전형 분류 인덱스;
    상기 회전형 분류 인덱스의 외측 적어도 일부 구간에 걸쳐 고정 배치되며, 상기 회전형 분류 인덱스 쪽으로부터의 상기 LED가 배출되는 고정형 배출 기구; 및
    상기 테스트용 인덱스와 상기 회전형 분류 인덱스 사이에 배치되며, 해당 위치에서 업/다운(up/down) 또는 회전되면서 상기 테스트용 인덱스 쪽의 LED를 상기 회전형 분류 인덱스 쪽으로 이송시키는 이송 기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 테스트용 인덱스, 상기 회전형 분류 인덱스 및 상기 이송 기구에 마련되어 상기 LED가 안착되는 안착구조는,
    상기 LED가 출입 가능한 안착홈을 구비하는 제2 레이어(layer); 및
    상기 제2 레이어를 사이에 두고 상부 및 하부에 각각 결합되는 제1 및 제3 레이어를 구비하는 실질적으로 동일한 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 레이어에는 상기 LED의 이송을 위해 상기 제3 레이어 쪽에서 공급되는 공기의 유동을 위한 제1 내지 제3 공기연통홀이 상호간 연통되게 형성되는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제3 공기연통홀에는 상기 안착홈 내에 안착된 상기 LED를 진공압에 의해 흡착시키기 위한 장공 형태의 진공흡착홈이 상기 제3 공기연통홀과 연통되게 형성되는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 안착홈은,
    상기 LED가 안착되는 안착공간부; 및
    상기 안착공간부에 연통되고 상기 안착공간부의 일측에서 상기 안착공간부보다 그 폭이 좁게 형성되는 더미공간부를 포함하며,
    상기 이송 기구에는 상기 안착홈이 1개 마련되고, 상기 테스트용 인덱스 및 상기 회전형 분류 인덱스에는 상기 안착홈이 그 원주 방향을 따라 다수 개 마련되는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 회전형 분류 인덱스 및 상기 이송 기구에 마련되는 상기 제1 내지 제3 레이어는 함께 회전되며,
    상기 테스트용 인덱스에 마련되는 상기 제1 및 제3 레이어는 위치 고정되고, 상기 제2 레이어가 상기 제1 및 제3 레이어에 대해 상대 회전되는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 고정형 배출 기구는, 상기 테스트용 인덱스가 위치되는 공간을 제외하고 상기 회전형 분류 인덱스의 외측에서 그 원주 방향을 따라 다수 개 고정 배치되는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 다수의 고정형 배출 기구 각각은,
    배출구 몸체;
    상기 배출구 몸체에 형성되어 상기 테스트 공정이 완료된 LED가 배출되는 라인을 형성하며, 후단으로 갈수록 하향 경사지게 형성되는 다수의 배출라인; 및
    하부 영역에 위치하는 분류용 빈 박스(bin box) 쪽으로 향하는 배출연결호스가 연결되기 위해 상기 다수의 배출라인의 단부 영역에 결합되는 연결용 파이프를 포함하는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 다수의 배출구 몸체의 영역에서 수직 방향으로의 광을 조사하여 상기 테스트 공정이 완료된 LED의 배출 여부를 체크하는 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 이송 기구의 업/다운 구동을 위해 상기 이송 기구의 하부에서 상기 이송 기구와 연결되는 업/다운용 서보모터; 및
    상기 이송 기구의 회전을 위해 상기 이송 기구의 하부에서 상기 이송 기구와 연결되는 회전용 서보모터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 테스트용 인덱스, 상기 회전형 분류 인덱스 및 상기 이송 기구의 동작을 컨트롤하는 컨트롤러를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  12. 프루브 유닛에 의해 테스트되는 LED를 수용하는 테스트용 인덱스;
    테스트가 완료된 LED를 분류하는 회전형 분류 인덱스;
    상기 회전형 분류 인덱스의 외측에 고정 배치되어 상기 LED가 배출되는 고정형 배출 기구; 및
    상기 프루브 유닛에 의해 LED의 테스트가 완료되면, 상기 테스트용 인덱스에 수용된 LED를 상기 회전형 분류 인덱스로 이송시키는 이송 기구를 포함하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 회전형 분류 인덱스는 다층 구조의 분류용 라인을 포함하며,
    상기 이송 기구는 상기 프루브 유닛에 의해 LED의 테스트가 완료되면, 상기 다층 구조의 분류용 라인 중 어느 하나의 분류용 라인으로 상기 테스트용 인덱스에 수용된 LED를 이송시키는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 테스트용 인덱스에서 상기 이송 기구로, 상기 이송 기구에서 상기 회전형 분류 인덱스로 상기 LED가 이송될 때, 한편에서는 압축공기가 공급되고 상대편에서는 진공이 형성되는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 회전형 분류 인덱스는 다층 구조의 분류용 라인을 포함하며,
    상기 이송 기구로 상하 이동하면서 상기 분류용 라인 중 어느 하나로 상기 LED를 이송시키는 것을 특징으로 하는 칩형 LED 테스트 핸들러.
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