KR101342699B1 - 엘이디 패키지 테스트 핸들러 - Google Patents

엘이디 패키지 테스트 핸들러 Download PDF

Info

Publication number
KR101342699B1
KR101342699B1 KR1020120099920A KR20120099920A KR101342699B1 KR 101342699 B1 KR101342699 B1 KR 101342699B1 KR 1020120099920 A KR1020120099920 A KR 1020120099920A KR 20120099920 A KR20120099920 A KR 20120099920A KR 101342699 B1 KR101342699 B1 KR 101342699B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
led package
disk table
led
discharge unit
test
Prior art date
Application number
KR1020120099920A
Other languages
English (en)
Inventor
주재철
박춘용
권오철
Original Assignee
(주)에이피텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)에이피텍 filed Critical (주)에이피텍
Priority to KR1020120099920A priority Critical patent/KR101342699B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101342699B1 publication Critical patent/KR101342699B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2896Testing of IC packages; Test features related to IC packages

Abstract

본 발명은 LED 패키지 테스트 장치에 관한 것으로 내부에 다수의 LED패키지가 수용되면서 진동으로 정렬되는 파츠피더(10)와; 상기 파츠피더(10)에서 정렬된 LED패키지를 하기 디스크 테이블(40)로 일렬로 공급하는 리니어 피더(20)와; 상기 리니어 피더(20)로부터 공급받은 LED패키지를 안착시켜 이를 원주방향으로 회전시키면서 등급을 분류하는 디스크 테이블(40)과; 상기 디스크 테이블(40)과 이웃하여 배치되어 회전 가능한 턴테이블(turn table) 구조를 가지며, 그 외측에 배치된 테스트 유닛에 의해 상기 LED패키지에 대한 테스트 공정이 진행되는 마스터 테이블(30)과; 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 각각 부착되어 적합 판정을 받은 LED패키지가 배출되는 제1배출유닛(60)과; 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 상기 제1배출유닛과 이웃하여 부착되어 등급 외 판정을 받은 LED패키지가 배출되는 제2배출유닛(70)과; 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 상기 제2배출유닛과 이웃하여 부착되어 테스트가 종료된 일부의 LED패키지를 상기 파츠피더(10)로 이송시키는 이송유닛(50);으로 구성된다.
본 발명의 LED 패키지 테스터 장치를 사용하면 LED 패키지의 표준여부를 리얼타임으로 검사할 수 있을 뿐만 아니라 검사완료된 배출유닛을 통하여 효과적으로 분류할 수 있고 일부 LED 패키지를 파츠피더로 재순환시킴으로써 검사의 품질을 향상시킬 수 있다.

Description

엘이디 패키지 테스트 핸들러{LED PACKAGE TEST HANDLER}
본 발명은 LED 패키지 테스트를 위한 테스터 핸들러에 관한 것으로서, LED 패키지를 테스터부에 자동으로 공급하고 이를 테스트하는 LED 패키지 테스트 핸들러에 관한 것이다.
발광다이오드(Light Emitting Diode; LED)는 전기에너지를 빛에너지로 전환하는 반도체 발광소자로 에너지 절감 효과에다 친환경적이라는 점 때문에 이상적인 광원으로 주목받고 있다.
통상 LED 소자들은 일련의 패키징(Packaging) 공정을 거치면서 외부의 충격으로부터 칩이 보호되는 패키지 형태로 재가공되어 LED 패키지의 형태를 갖추게 된다. 가공이 끝난 LED 패키지(Package)는 사용자에게 전달되기에 앞서 최종적으로 전기적인 기능 검사(Final test)를 수행하게 된다. 이때, 컴퓨터에 각종 계측기기를 장착한 테스터(tester)와 패키지를 자동으로 이송시켜 테스터와 연결하는 장치인 핸들러(handler)를 사용하게 되며, 이러한 설비를 테스트 핸들러(Test Handler)라고 한다.
테스터 핸들러를 이용한 LED 패키지 검사 과정에서 정확성을 기하고자 표준 LED 패키지를 가지고 정해진 주기마다 표준 LED 패키지를 측정하여 LED 패키지 테스터 핸들러 장치의 테스트가 정확히 이루어지고 있는지 여부를 판단하고, 테스터의 보정이 필요한 경우 보정을 하는 표준 검사가 필요하다. 기존에는 이 표준 검사 과정을 진행할 때 테스터의 안착부에 표준 LED 패키지를 낱개씩 올려놓고, 표준 검사를 하고 표준 검사가 완료되면 표준 LED 패키지를 다시 회수하는 작업이 수작업으로 이루어지고 있는데 이러한 과정을 수작업으로 반복하게 되면 상당한 시간이 소요되고, 작업자의 실수에 의해 표준 LED 패키지가 바뀌거나 오염되는 등의 문제가 있다.
등록특허공보 10-1139994에는 상기한 문제를 해결하기 위하여 강구된 LED 테스터 핸들러에 대하여 기재되어 있는데, 상세한 구성을 살펴보면 도 1에 도시된 바와 같이 LED 패키지 공급부(10); 테스터부(30); 로딩 공급장치(20); 및 표준 LED 패키지 자동 공급장치(40)로 구성되어 있다.
상기한 구성으로 인해 LED 패키지 공급부(10)를 통해 LED패키지가 로딩 공급장치(20)로 공급되고 로딩 공급장치(20)는 공급받은 각 LED 패키지를 테스터부(30)의 안착부(32)로 이송하여 LED 패키지의 테스트가 진행된다. LED 패키지 테스트 핸들러(100)의 표준 검사 주기가 돌아오면, LED 패키지 공급부(10)의 LED 패키지의 공급을 멈추고, 표준 LED 패키지(47)가 수납된 포켓 원판(41)을 표준 LED 패키지 자동 공급장치(40)에 올려놓은 뒤 LED 패키지 테스터 핸들러(100)의 표준 검사를 시작하면, 표준 LED 패키지 자동 공급장치(40)가 동작하게 되어 표준 LED 패키지를 순차적으로 로딩 공급장치(20)에 공급하게 된다.
로딩 공급장치(20)는 이를 받아 순차적으로 테스터부(30)의 안착부(32)로 이송하게 되며, 턴테이블(31)이 회전하며 순차적으로 표준 검사가 이루어지게 되고 필요한 경우 LED 패키지 테스트 핸들러(100) 장치에 대한 보정이 이루어진다. 표준 검사가 종료되면 표준 검사 시작 과정과 역순으로 로딩 공급장치(20)는 순차적으로 테스터부(30)의 안착부(32)로부터 표준 LED 패키지를 회수하여 표준 LED 패키지 자동 공급장치(40)로 이송하고, 표준LED 패키지 자동 공급장치(40)의 포켓 원판(41)은 회전하며 순차적으로 표준 LED 패키지를 회수하게 된다. 표준검사 과정이 끝나고 다시 포켓 원판(41)을 회수하면, 다시 정상정인 LED 패키지 테스트 과정이 진행된다.
그러나 상기 LED 패키지 테스트 핸들러는 LED 패키지의 표준 검사 주기가 돌아오면, LED 패키지 공급부(10)의 LED 패키지의 공급을 멈추고, 표준 LED 패키지(47)가 수납된 포켓 원판(41)을 표준 LED 패키지 자동 공급장치(40)에 올려놓고 검사를 진행해야 하기 때문에 리얼타임으로 LED 패키지를 검사할 수 없는 단점이 있고, 검사 후 정품과 불량품을 선별하는 수단이 없으므로 후속 공정을 수작업으로 진행하여야 하는 번거로움이 수반된다.
뿐만 아니라 테스트 완료된 LED를 분류하는 과정이 없는 관계로 로봇 등이 픽업(pick up)하여 분류기에 분류하는 단순 구조를 적용하고 있으므로 분류시간 감소에 따른 생산성 향상을 추구할 수 없는 문제점이 있었다.
등록특허공보 10-1139994
없음
본 발명은 LED 패키지의 표준여부를 리얼타임으로 검사할 수 있는 LED 패키지 테스트 핸들러를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 검사완료된 LED 패키지를 등급별로 분류할 수 있는 배출유닛이 부착된 LED 패키지 테스트 핸들러를 제공하는 것을 또 다른 목적으로 한다.
본 발명은 검사 완료된 LED 패키지의 일부를 파츠피더로 재순환시켜 검사의 품질을 향상시킬 수 있는 LED 패키지 테스트 핸들러를 제공하는 것을 또 다른 목적으로 한다.
상기한 과제를 해결하기 위하여 본 발명은
내부에 다수의 LED패키지가 수용되면서 진동으로 정렬되는 파츠피더(10)와; 상기 파츠피더(10)에서 정렬된 LED패키지를 하기 디스크 테이블(40)로 일렬로 공급하는 리니어 피더(20)와; 상기 리니어 피더(20)로부터 공급받은 LED패키지를 안착시켜 이를 원주방향으로 회전시키면서 등급을 분류하는 디스크 테이블(40)과; 상기 디스크 테이블(40)과 이웃하여 배치되어 회전 가능한 턴테이블(turn table) 구조를 가지며, 그 외측에 배치된 테스트 유닛에 의해 상기 LED패키지에 대한 테스트 공정이 진행되는 마스터 테이블(30)과; 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 각각 부착되어 적합 판정을 받은 LED패키지가 배출되는 제1배출유닛(60)과; 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 상기 제1배출유닛과 이웃하여 부착되어 등급 외 판정을 받은 LED패키지가 배출되는 제2배출유닛(70)과; 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 상기 제2배출유닛과 이웃하여 부착되어 테스트가 종료된 일부의 LED패키지를 상기 파츠피더(10)로 이송시키는 이송유닛(50);으로 구성되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)를 과제 해결을 위한 수단으로 제공한다.
또한 본 발명은 상기한 과제를 보다 효과적으로 해결하기 위하여 상기 디스크 테이블(40)의 외측에는 공기연통홀(31)이 형성되어 있고, 상기 공기연통홀(31)을 통한 공기압에 의하여 LED패키지가 상기 제1배출유닛(60), 상기 제2배출유닛(70) 및 상기 이송유닛(50)으로 이동되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)를 제공하고자 한다.
또한 본 발명은 상기 마스터 테이블(30)의 외측에도 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 형성된 공기연통홀(31)과 동일한 공기연통홀(41)이 형성되어 있고, 상기 공기연통홀(31, 41)를 통하여 마스터 테이블(30)과 디스크 테이블(40)사이에 LED패키지가 이동되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)를 제공한다.
본 발명의 LED패키지 테스터 장치는 상기 제1배출유닛(60)은 LED패키지가 이송되는 튜브(61)와; 상기 튜브(61)를 통해 이송되는 LED패키지가 일시 저장되는 버퍼 스페이스(buffer space, 62)와; 등급으로 분류된 LED패키지를 최종적으로 저장하는 빈박스(bin box, 64)와; 상기 버퍼 스페이스(buffer space, 62)와; 빈박스(bin box, 64)를 연결시키는 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)와; 상기 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)를 작동시키는 셔터 실린더(65)로 구성되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)를 제공하여 상기한 과제를 해결하고자 한다.
상기 제2배출유닛(70)은 케이스(71)와; 튜브(72)와; 곡면 플레이트(73)와; 튜브 삽입용 홀(74)과; 튜브 가이드부(75)와; 정역회전모터(76)와: 체결부(77)로 구성되어 파츠피더(10)를 통해 투입된 LED패키지 중 등급외 판정된 LED패키지를 배출시키도록 구성된다.
본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러를 사용하면 LED 패키지의 표준여부를 리얼타임으로 검사할 수 있을 뿐만 아니라 검사완료된 배출유닛을 통하여 효과적으로 분류할 수 있고 일부 LED 패키지를 파츠피더로 재순환시킴으로써 검사의 품질을 향상시킬 수 있는 효과가 기대된다.
도 1은 등록특허공보 10-1139994의 LED 패키지 테스터 장치의 외형을 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러의 외형을 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러의 외형을 위에서 바라본 평면도를 나타낸다.
도 4는 본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러의 구성에 있어서 마스터 테이블(30)과 디스크 테이블(40) 사이의 LED 패키지가 이송되는 과정을 나타낸다.
도 5는 본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러의 구성 중 제1배출유닛(60)의 상세한 구성을 나타낸다.
도 6은 제1배출유닛(60)의 구성 중 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)의 작동에 의해 버퍼 스페이스(buffer space, 62)로부터 LED 패키지가 빈박스(bin box, 64)로 이송되는 과정을 나타낸다.
도 7은 빈박스(bin box, 64)가 제1배출유닛(60)으로부터 이탈되는 과정을 나타내는 도면이다.
도 8은 디스크 테이블(40)으로부터 LED 패키지가 이송유닛(50)을 거쳐 파츠피더(10)로 이송되는 과정을 나타낸다.
도 9는 본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러의 구성 중 제2배출유닛(70)의 상세한 구성을 나타낸다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하도록 한다.
본 발명의 명세서에 기재된 부호 및 번호는 도 1의 도면부호와는 관계없다. 다시 말하자면 본 발명의 도면부호는 도 2번 이하의 도면에만 적용되는 것임을 미리 밝혀둔다.
본 발명의 구체적인 실시예들을 기술하는데 있어서, 여러가지의 특정적인 내용들은 발명을 더 구체적으로 설명하고 이해를 돕기 위해 작성되었다. 하지만 본 발명을 이해할 수 있을 정도로 이 분야의 지식을 갖고 있는 독자는 이러한 여러 가지의 특정적인 내용들이 없어도 사용될수 있다는 것을 인지할 수 있다. 어떤 경우에는, 발명을 기술하는 데 있어서 흔히 알려졌으면서 발명과 크게 관련 없는 부분들은 본 발명을 설명하는데 있어 별 이유 없이 혼돈이 오는 것을 막기 위해 기술하지 않음을 미리 언급해 둔다.
본 명세서에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소 상에 있다고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 형성될 수 있거나 또는 그들 사이에 제 3의 구성요소가 개재될 수도 있다는 것을 의미한다.
본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 평면도들을 참고하여 설명될것이다. 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위한 것이다. 따라서 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 예를 들면, 직각으로 도시된 식각 영역은 라운드지거나 소정 곡률을 가지는 형태일 수 있다. 따라서 도면에서 예시된 영역들은 속성을 가지며, 도면에서 예시된 영역들의 모양은 소자의 영역의 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소는 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
도 1은 종래의 LED 패키지 테스터 장치의 외형을 나타내는 사시도이다. 이에 대한 상세한 설명은 전술한 바와 같으므로 생략한다.
도 2, 3은 각각 본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러의 외형을 나타내는 사시도 및 평면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 LED 패키지 테스터 핸들러는 파츠피더(10)와; 리니어 피더(20)와; 디스크 테이블(40)과; 마스터 테이블(30)과; 제1배출유닛(60)과; 제2배출유닛(70)과; 이송유닛(50);으로 구성된다.
상기 LED 패키지 테스터 핸들러의 부착과 설치를 용이하게 하기 위하여 베이스 프레임이 부착될 수도 있다. 도 2에서는 직사각형 형상의 베이스 프레임이 도시되어 있으나, 상기 베이스 프레임의 크기와 형상은 당업자가 용이하게 설계, 변경하여 실시할 수 있다.
파츠피더(10)는 상부와 일측이 개방된 대략 원통 형상의 구조물로 마련되며, 그 내부에는 작업대상의 다수의 LED패키지가 수용된다. 상기 파츠피더(10)는 도시 않은 진동수단(혹은 구동수단)에 의해 일방향으로 내부 구조체가 진동 회전되면서 정렬하여 내부에 수용된 LED패키지를 리니어 피더(20)로 정렬시켜 보낸다.
리니어 피더(20)는 상기 파츠피더(10)로부터의 LED패키지가 하나씩 혹은 순차적으로 일렬로 배열되면서 디스크 테이블(40)로 향할 수 있도록 LED패키지가 공급되는 공급 라인을 이룬다. 필요에 따라 당업자라면 상기 리니어 피더(20)에는 LED패키지를 가이드할 수 있는 수단, 혹은 LED패키지의 개수를 센싱하기 위한 수단 등이 더 결합될 수도 있다.
상기 마스터 테이블(30)은 하기 디스크 테이블(40)과 이웃하여 배치되어 회전 가능한 턴테이블(turn table) 구조를 가지며, 그 외측에 배치된 테스트 유닛(미도시)에 의해 상기 LED패키지에 대한 테스트 공정이 진행된다.
본 발명에서 사용되는 테스트 유닛은 프루브 유닛이 바람직하나 반드시 이에 한정되는 것은 아니고 당업자라면 본 발명의 목적 및 효과를 벗어나지 않는 범위에서 적절히 설계, 변경하여 실시할 수 있다.
상기 테스트 유닛은 상기 마스터 테이블(30)의 외측에 2개를 설치하여 서로 다른 두 군데의 영역에서 서로 다른 LED패키지에 대해 동일한 테스트 공정을 수행할 수도 있고 아니면 하나의 LED패키지에 대해 서로 다른 테스트 공정을 수행할 수도 있다.
예컨대, 두 개의 테스트 유닛 중에서 하나를 통해 LED패키지에 대한 품질 테스트 공정이 진행되도록 하고, 나머지를 통해 신뢰성 테스트 공정이 진행되도록 하여도 좋고, 아니면 병렬적으로 두 개의 테스트 유닛 모두에서 품질 테스트 공정과 신뢰성 테스트 공정이 함께 진행되도록 하여도 좋다.
상기 마스터 테이블(30)의 외측에는 도 4를 통해 상세한 구성을 살펴본 바와 같이, 공기연통홀(41)이 형성되어 있고, 상기 공기연통홀(41)을 통하여 마스터 테이블(30)과 디스크 테이블(40)사이에 LED패키지가 서로 이동된다. 이점에 대한 상술한 설명은 후술한다.
상기 디스크 테이블(40)은 상기 마스터 테이블(30)에 이웃되게 배치되어 테스트 유닛(미도시)에 의해 테스트 공정이 완료된 LED패키지를 분류할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스크 테이블(40)은, 마스터 테이블(30)과 마찬가지로 원반 형상의 턴테이블로 마련되고, 일방향으로 회전될 수 있다.
상기 디스크 테이블(40)의 외측에는 도 4를 통해 상세한 구성을 살펴본 바와 같이, 공기연통홀(31)이 형성되어 있고, 상기 공기연통홀(41)을 통하여 마스터 테이블(30), 제1배출유닛(60), 제2배출유닛(70) 및 이송유닛(50)과의 LED패키지가 이송된다. 여기에 대한 상세한 설명은 후술한다.
제1배출유닛(60)은 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 부착된다. 도 5를 통해 상세한 구성을 살펴볼 수 있는 데, LED패키지가 이송되는 튜브(61)와; 상기 튜브(61)를 통해 이송되는 LED패키지가 일시 저장되는 버퍼 스페이스(buffer space, 62)와; 등급으로 분류된 LED패키지를 최종적으로 저장하는 빈박스(bin box, 64)와; 상기 버퍼 스페이스(buffer space, 62)와; 빈박스(bin box, 64)를 연결시키는 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)와; 상기 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)를 작동시키는 셔터 실린더(미도시)로 구성된다.
제2배출유닛(70)은 도 9를 통해 상세한 구성을 살펴본 바와 같이, 케이스(71)와; 튜브(72)와; 곡면 플레이트(73)와; 튜브 삽입용 홀(74)과; 튜브 가이드부(75)와; 정역회전모터(76)와: 체결부(77)로 구성되어 있는데, 상기 마스터 테이블(30)로부터 테스트된 LED패키지 중 등급외 판정된 LED패키지를 배출시키게 된다.
이하 본 발명의 세부적인 구성과 작동과정에 대하여 도 4~9를 참조하여 더욱 상세히 설명한다. 도 4는 본 발명의 LED 패키지 테스터 장치의 구성에 있어서 마스터 테이블(30)과 디스크 테이블(40) 사이의 LED 패키지가 이송되는 과정을 나타낸다. 전술한 바와 같이 파츠피더(10) 및 리니어피더(20)를 통해 이송된 LED 패키지는 디스크 테이블(40)의 외측에 안착되어 회전된다. 도 4에 도시된 바와 같이 상기 디스크 테이블(40)은 마스터 테이블(30)과 이웃하여 배치되어 있고 LED 패키지가 안착될 수 있는 홈부가 각각 형성되어 있다. 또한 상기 디스크 테이블(40)의 외측 및 상기 마스터 테이블(30)의 외측에는 각각 공기연통홀(31,41)이 형성되어 있다.
전술한 바와 같이 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 안착되어 회전하던 LED 패키지가 상기 마스터 테이블(30)의 외측과 맞닿게 되면 상기 디스크 테이블(40)의 내부로부터 공기압이 발생되고 상기 공기압은 상기 공기연통홀(31)을 통과하면서 외측에 안착되어 있던 LED 패키지를 디스크 테이블(40)로부터 마스터 테이블(30)쪽으로 이동시키게 된다.
상기 과정을 거쳐 마스터 테이블(30)로 이송된 LED 패키지는 마스터 테이블(30)과 같이 회전하다가 상기 디스크 테이블(40)의 외측과 접하게 되면 상기 마스터 테이블(30)의 내부로부터 공기압이 발생되고 LED 패키지를 마스터 테이블(30)로부터 디스크 테이블(40)쪽으로 이동시킨다.
상기한 LED 패키지의 이동은 디스크 테이블(40)과 제1배출유닛(60), 제2배출유닛(70) 및 이송유닛(50)사이의 이동에도 동일하게 적용된다. 다만 제1배출유닛(60), 제2배출유닛(70) 및 이송유닛(50)에는 공기연통홀 및 내부의 공기압 발생수단이 없으므로 LED 패키지는 일방적으로 디스크 테이블(40)로부터 제1배출유닛(60), 제2배출유닛(70) 및 이송유닛(50)으로 이동될 뿐이다.
도 5는 본 발명의 LED 패키지 테스터 장치의 구성 중 제1배출유닛(60)의 상세한 구성을 나타낸다. 도 5에 도시된 바와 같이 제1배출유닛(60)은 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 다수의 튜브(61)를 통해 부착되어 있다.
상기 튜브(61)를 통해 적합 판정을 받은 LED 패키지는 상기 디스크 테이블(40)과 같이 회전하다가 상기 제1배출유닛(60)이 부착된 지점에 이르러 튜브(61)를 향해 이동된다. 상기 LED 패키지의 이동과정은 전술한 바와 같으므로 상세한 설명은 생략한다.
상기 튜브(61)를 향해 이동된 LED 패키지는 버퍼 스페이스(buffer space, 62)를 거쳐 최종적으로 빈박스(bin box, 64)에 저장된다.
상기한 버퍼 스페이스(buffer space, 62)는 빈박스(bin box, 64)를 교체하거나 운반하는 등 LED 패키지를 저장할 수 없을 때 잠정적으로 LED 패키지를 저장하는 기능을 한다.
상기 튜브(61)는 복수로 구성하는 것이 좋고 바람직하게는 8~16개로 구성되는 것이 좋다. 그러나 반드시 이에 한정되는 것은 아니고 당업자라면 작업속도와 효율을 고려하여 그 갯수를 적절히 선택할 수 있다.
도 6은 제1배출유닛(60)의 구성 중 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)의 작동에 의해 버퍼 스페이스(buffer space, 62)로부터 LED 패키지가 빈박스(bin box, 64)로 이송되는 과정을 나타낸다. 도시된 바와 같이 버퍼 스페이스(buffer space, 62)와 LED 빈박스(bin box, 64)사이에는 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)가 위치하고 있다. 상기 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)는 평판형상으로 내부에 공간이 형성되어 있는데, 상기 튜브를 통해 이송된 LED 패키지는 버퍼 스페이스(buffer space, 62)의 바닥부에 쌓여 있다가 버퍼 실린더(미도시)의 작동에 의해 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)를 이동시키면 버퍼 셔터에 형성된 공간을 통해 LED 패키지가 하부의 빈박스(bin box, 64)로 쏟아지게 된다.
도 7은 빈박스(bin box, 64)가 제1배출유닛(60)으로부터 이탈되는 과정을 나타내는 도면이다. 도시된 바와 같이 빈박스(bin box, 64)에 대한 LED 패키지의 적재가 완료되면 빈박스(bin box, 64)는 제1배출유닛(60)으로부터 이탈되고 다른 빈박스(bin box, 64)를 부착시켜 LED 패키지의 적재를 지속적으로 실시한다.
도 8은 디스크 테이블(40)로부터 LED 패키지가 이송유닛(50)을 거쳐 파츠피더(10)로 이송되는 과정을 나타낸다. 상기 과정의 원리는 전술한 바와 같다. 상기 디스크 테이블(40)로부터 이송된 LED 패키지는 파츠피더와 리니어피더를 거쳐 디스크 테이블로 재공급되어 테스트를 지속적으로 반복실시함으로써 테스트의 품질을 높일 수 있는 것이다.
도 9는 본 발명의 LED 패키지 테스터 장치의 구성 중 제2배출유닛(70)의 상세한 구성을 나타낸다.
전술한 바와 같이 상기 제2배출유닛(70)은 케이스(71)와; 튜브(72)와; 곡면 플레이트(73)와; 튜브 삽입용 홀(74)과; 튜브 가이드부(75)와; 정역회전모터(76)와: 체결부(77)로 구성되어 있다.
상기 케이스(71)는 상기한 배출부(50)의 세부적인 구성을 부착시키기 위한 것으로 사각형, 원통 등 다양한 형상으로 제작될 수 있다.
상기 튜브(72)를 통해 전술한 디스크 테이블(40)과 제2배출유닛(70)사이의 LED 패키지의 이동원리에 의하여 등급외 판정을 받은 LED 패키지가 이동된다.
상기 튜브 가이드부(75)는 반원형의 홈을 형성하고 있고, 상기 케이스(71)의 상부 특정 지점에 부착되어 있는데, 상기 홈을 통해 튜브(72)를 부착시키면 튜브(72)의 급격한 이동을 제어하기 위함이다.
상기 곡면 플레이트(73)에는 튜브 삽입용 홀(74)이 다수 형성되어 있다. 상기 홀(74)을 통해 필요에 따라 다수의 튜브(72)를 부착시켜 작업의 효율을 높일 수 있다.
상기 곡면 플레이트(73)는 상기 체결부(77)를 통해 튜브(72)의 끝단과 연결된다. 상기 체결부(77)를 통해 튜브(72)의 끝단과 연결된 곡면 플레이트(73)는 튜브(72)에 하중을 가하여 하기의 정역회전모터(76)에 의해 발생된 구동력이 튜브에 전달될 때 튜브가 급격하게 이동되는 것을 방지한다.
상기 정역회전모터(76)는 구동력을 발생시켜 상기 튜브(72)의 끝단부를 직선왕복운동 시킨다. 상기한 직선왕복운동에 의해 튜브(72)의 끝단부를 이동시켜 배출되는 등급외 LED 패키지를 구분하여 적재할 수 있다.
본 발명의 특징은 전술한 바와 같으나 출원인의 권리범위는 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, 제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 아니되며, 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.
및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이며, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있는 것으로 해석되어야 한다.
10:파츠피더 20: 리니어 피더
30: 마스터 테이블 31, 41: 공기연통홀
40:디스크 테이블 50: 이송유닛
60: 제1배출유닛 61, 72: 튜브
62: 버퍼 스페이스(buffer space) 63: 버퍼 셔터(buffer shutter)
64: 빈박스(bin box) 70: 제2배출유닛
71: 케이스 73: 곡면 플레이트
74:튜브 삽입용홀 75: 튜브 가이드부
76: 정역회전모터 77: 체결부

Claims (5)

  1. 내부에 다수의 LED패키지가 수용되면서 진동으로 정렬되는 파츠피더(10)와;
    상기 파츠피더(10)에서 정렬된 LED패키지를 하기 디스크 테이블(40)로 일렬로 공급하는 리니어 피더(20)와;
    상기 리니어 피더(20)로부터 공급받은 LED패키지를 안착시켜 이를 원주방향으로 회전시키면서 등급을 분류하는 디스크 테이블(40)과;
    상기 디스크 테이블(40)과 이웃하여 배치되어 회전 가능한 턴테이블(turn table) 구조를 가지며, 그 외측에 배치된 테스트 유닛에 의해 상기 LED패키지에 대한 테스트 공정이 진행되는 마스터 테이블(30)과;
    상기 디스크 테이블(40)의 외측에 각각 부착되어 적합 판정을 받은 LED패키지가 배출되는 제1배출유닛(60)과;
    상기 디스크 테이블(40)의 외측에 상기 제1배출유닛과 이웃하여 부착되어 등급 외 판정을 받은 LED패키지가 배출되는 제2배출유닛(70)과;
    상기 디스크 테이블(40)의 외측에 상기 제2배출유닛과 이웃하여 부착되어 테스트가 종료된 일부의 LED패키지를 상기 파츠피더(10)로 이송시키는 이송유닛(50);으로 구성되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 디스크 테이블(40)의 외측에는 공기연통홀(31)이 형성되어 있고, 상기 공기연통홀(31)을 통한 공기압에 의하여 LED패키지가 상기 제1배출유닛(60), 상기 제2배출유닛(70) 및 상기 이송유닛(50)으로 이동되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 마스터 테이블(30)의 외측에도 상기 디스크 테이블(40)의 외측에 형성된 공기연통홀(31)과 동일한 공기연통홀(41)이 형성되어 있고, 상기 공기연통홀(31, 41)을 통하여 마스터 테이블(30)과 디스크 테이블(40)사이에 LED패키지가 이동되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)
  4. 제 1항 또는 제 3항에 있어서,
    상기 제1배출유닛(60)은 LED패키지가 이송되는 튜브(61)와; 상기 튜브(61)를 통해 이송되는 LED패키지가 일시 저장되는 버퍼 스페이스(buffer space, 62)와; 등급으로 분류된 LED패키지를 최종적으로 저장하는 빈박스(bin box, 64)와; 상기 버퍼 스페이스(buffer space, 62)와; 빈박스(bin box, 64)를 연결시키는 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)와; 상기 버퍼 셔터(buffer shutter, 63)를 작동시키는 셔터 실린더(65)로 구성되는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 제2배출유닛(70)은 케이스(71)와; 튜브(72)와; 곡면 플레이트(73)와; 튜브 삽입용 홀(74)과; 튜브 가이드부(75)와; 정역회전모터(76)와: 체결부(77)로 구성되어 파츠피더(10)를 통해 투입된 LED 패키지 중 등급외 판정된 LED패키지를 배출시키는 것을 특징으로 한 LED 패키지 테스트 핸들러(100)
KR1020120099920A 2012-09-10 2012-09-10 엘이디 패키지 테스트 핸들러 KR101342699B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120099920A KR101342699B1 (ko) 2012-09-10 2012-09-10 엘이디 패키지 테스트 핸들러

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120099920A KR101342699B1 (ko) 2012-09-10 2012-09-10 엘이디 패키지 테스트 핸들러

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101342699B1 true KR101342699B1 (ko) 2013-12-20

Family

ID=49988585

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120099920A KR101342699B1 (ko) 2012-09-10 2012-09-10 엘이디 패키지 테스트 핸들러

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101342699B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111112147A (zh) * 2019-12-31 2020-05-08 深圳市标谱半导体科技有限公司 Cob双站测试分编一体机
CN117092472A (zh) * 2023-07-06 2023-11-21 江苏富坤光电科技有限公司 一种led封装用测试装置及其使用方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101139994B1 (ko) 2011-04-18 2012-05-02 (주)티에스이 Led 패키지 테스트 핸들러

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101139994B1 (ko) 2011-04-18 2012-05-02 (주)티에스이 Led 패키지 테스트 핸들러

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111112147A (zh) * 2019-12-31 2020-05-08 深圳市标谱半导体科技有限公司 Cob双站测试分编一体机
CN111112147B (zh) * 2019-12-31 2023-12-29 深圳市标谱半导体科技有限公司 Cob双站测试分编一体机
CN117092472A (zh) * 2023-07-06 2023-11-21 江苏富坤光电科技有限公司 一种led封装用测试装置及其使用方法
CN117092472B (zh) * 2023-07-06 2024-02-09 江苏富坤光电科技有限公司 一种led封装用测试装置及其使用方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI430848B (zh) 包含有雙緩衝器的電子器件分選機
KR100638311B1 (ko) 반도체 소자 검사장치 및 그를 이용한 반도체 소자의 분류 방법
JP4916551B2 (ja) トレーハンドリング機及びそれを用いた半導体素子検査方法
JP6389503B2 (ja) 電子デバイス検査用の浅い角度の垂直式回転ローダ
CN210376176U (zh) 查验布置在空物箱中容器的查验设备及瓶分拣机
TWI601965B (zh) Component Processor
JP2007047171A (ja) Icソーター、バーンインソート方法、およびこのバーンインソート方法によってソートされて製造されたic
TW201834093A (zh) 半導體製造裝置及其控制方法
CN105689278A (zh) Ic外观检验装置
KR20150109305A (ko) 반도체 패키지 핸들러
TWI486599B (zh) Led晶片分選設備
KR101027737B1 (ko) 엘이디 검사 및 분류 장치 및 이를 이용한 엘이디 검사 및 분류 방법
KR101113710B1 (ko) 엘이디소자검사장치
KR101342699B1 (ko) 엘이디 패키지 테스트 핸들러
TWI698386B (zh) 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置
KR102345882B1 (ko) 배터리 외관 검사용 소팅 시스템
KR200339601Y1 (ko) 반도체 소자 비전 검사장치
TWI522634B (zh) Method and device for conveying electronic component detection sorting
KR101973687B1 (ko) 소자검사장치
TWM595114U (zh) 循環式分層收納輸出設備
KR101855885B1 (ko) 전자부품 분류장치 및 전자부품 분류장치의 프로브유닛
KR101374698B1 (ko) Led 패키지 테스트 핸들러
JP6357340B2 (ja) パッケージ運搬アセンブリ
TWI442499B (zh) Semi - packaged stacking wafer testing
KR20110038658A (ko) 비전검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161212

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171212

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181210

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191205

Year of fee payment: 7