CN111112147B - Cob双站测试分编一体机 - Google Patents

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Abstract

一种COB双站测试分编一体机，包括分光部分和编带部分，分光部分对材料进行检测，COB双站测试装置包括压制结构、第一测试结构和第二测试结构，移动结构将COB材料移动到第一检测位置，压制结构将COB材料的一部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡部分被点亮，第一测试结构测试COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，移动结构将COB材料移动到第二检测位置，压制结构将COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，COB材料的未被遮挡的部分被点亮，第二测试结构测试COB材料未被遮挡的区域。本发明由于采用了双站测试,第一次测试COB材料的一部分区域，第二次测试COB材料的另一部分区域，通过两次测试，从而完成对整个COB材料的测试，适合于对COB材料的检测。

Description

COB双站测试分编一体机
技术领域
本发明涉及分编一体机，尤其是一种用于COB（中文为：多晶片LED）的可双站测试的分编一体机。
背景技术
中国专利文献CN105436100A公开一种SMD LED分光编带一体机，包括主转盘结构，所述主转盘结构将LED灯珠转移到指定位置；载带轨道结构，承托载带并将载带向前移动；封装结构，将装有LED灯珠的载带进行封装；收带结构，将封装好的载带收卷；副转盘结构，与所述主转盘结构配合，将LED灯珠从主转盘结构转移到副转盘结构上，并进一步将LED灯珠转移到光电信号测试结构的工位；光电信号测试结构，将LED灯珠点亮，并对LED灯珠进行光电信号测试；经检测后的LED灯珠，再在所述主转盘结构配合下，再转移到所述主转盘结构，所述主转盘结构进一步将LED灯珠转移到载带轨道结构的载带内；整机控制电路，用于控制上述各结构协调工作；所述载带轨道结构包括左针轮和右针轮，所述左针轮安装在主座子上，所述右针轮安装在立座子上，所述左针轮和所述右针轮通过载带轨道结构的电机带动，LED灯珠的载体为载带，所述载带被设在所述左针轮和右针轮上，载带轨道结构的电机转动时，LED灯珠会在轨道内被运送；电参数测试结构包括探针导向块和4根探针，所述探针导向块设在测试座子上，并位于所述探针上方，所述探针固定在摆臂上，所述探针的上端穿在探针导向块上的相应的通孔内，所述摆臂可以绕轴承上下摆动一定角度，轴承安装在测试座子上，测试座子安装有电磁铁作为动力，当电磁铁通电时会吸动摆臂摆动，使探针上升，探针上升时会与LED灯珠引脚通电，电磁铁断电时弹簧会使摆臂复位，探针脱离LED灯引脚，达到给LED灯珠断电的目的。
这种分编一体机，具有既有分光测试功能又有编带功能，两台机集成在一起成本更低，占地空间更小，为企业节省了场地，提高生产效率和资源利用率的优点；但是，这种分编一体机不适合于新型LED材料（如，COB材料）的分光与编带，这种设备还存在需要改进的空间。
发明内容
为了解决上述问题，本发明向社会提供一种适合于COB材料检测的COB双站测试分编一体机。
本发明的技术方案是：提供一种COB双站测试分编一体机，包括分光部分和编带部分，所述分光部分对材料进行检测后，排除不符合要求的材料，将符合要求的材料提供给编带部分使用，所述分光部分包括COB双站测试装置，所述COB双站测试装置包括压制结构、第一测试结构和第二测试结构，所述移动结构将COB材料移动到第一检测位置，所述压制结构将所述COB材料的一部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡部分被点亮，所述第一测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，所述移动结构将所述COB材料移动到第二检测位置，所述压制结构将所述COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡的部分被点亮，所述第二测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域。
作为对本发明的改进，所述转盘结构的运输轨迹为弧形，所述转盘结构将所述COB材料沿着弧线从所述第一检测位置移动所述第二检测位置。
作为对本发明的改进，所述转盘结构是碟片转盘结构，所述COB材料被放置在所述碟片转盘结构上移动。
作为对本发明的改进，在所述压制结构上设置有第一测试孔，所述第一测试孔位于所述第一检测位置上，所述第一测试孔的四周结构遮挡所述COB材料的一部分区域，所述COB材料的另一部分区域对应所述第一测试孔；在所述压制结构上设置有第二测试孔，所述第二测试孔位于所述第二检测位置上，所述第二测试孔的四周结构遮挡所述COB材料的另一部分区域，所述COB材料的一部分区域对应所述第二测试孔。
作为对本发明的改进，所述第一测试孔留出COB材料的两块完整的被检测部分；所述第二测试孔留出COB材料的未被第一测试结构测试的另外两块完整的被检测部分。
作为对本发明的改进，本发明还包括供料部分，所述供料部分包括储料器机构和振动盘，所述储料器机构为所述振动盘提供COB材料，所述振动盘为分光部分提供COB材料。
作为对本发明的改进，所述分光部分还包括外观检测部分，所述外观检测部分包括用于检测COB材料的底部外观是否完好的底部影像机构；以及用于检测COB材料的顶部外观是否完好的顶部影像机构。
作为对本发明的改进，本发明还包括用于排出不符合外观要求的COB材料的外观不良排出机构。
作为对本发明的改进，本发明还包括用于排出不符合光电参数要求的COB材料的光电参数检测排料机构。
作为对本发明的改进，所述编带部分包括植入机构，所述植入机构将COB材料植入载带，通过载带针轮机构、胶膜机构、胶膜输送机构和封刀机构协同合作有COB材料的载带进行封胶。
本发明由于采用了双站测试,第一次测试COB材料的一部分区域，第二次测试COB材料的另一部分区域，通过两次测试，从而完成对整个COB材料的测试，适合于对COB材料的检测。
附图说明
图1是本发明的一种实施例的立体结构示意图。
图2是图1的桌面上的部分结构示意图。
图3是图1中的COB双站测试装置的平面结构示意图（去掉积分球）。
图4是图3的分解结构示意图。
图5是图3中第一测试位置的放大结构示意图。
图6是图3中第二测试位置的放大结构示意图。
其中，
1、分光部分，2、编带部分，3、供料部分，31、储料器机构，32、振动盘， 4、剪带机构，5、胶膜机构，6、收带机构，7、载带传送机构，8、载带机构，9、料箱机构， 101、摆臂下料机构，12、操作面板机构，13、第一底部影像机构，14、进料分类机构， 141、第一测试机构，142、第二测试机构，18、顶部影像机构，19、测试排料机构，20、影像排料机构，21、植入机构，22、第二底部影像机构，23、封刀机构，24、载带针轮机构，25、转盘机构，26、胶膜输送机构，27、载带影像机构。
具体实施方式
请参见图1至图6，图1至图6揭示的是一种COB双站测试分编一体机，包括分光部分1和编带部分2，所述分光部分1对材料进行检测后，排除不符合要求的材料，将符合要求的材料提供给编带部分2使用，所述分光部分1包括COB双站测试装置11，所述COB双站测试装置11包括压制结构120、第一测试结构141和第二测试结构142，移动结构将COB材料100移动到第一检测位置151，压制结构120将COB材料100的一部分区域遮挡，COB材料100的未被遮挡部分被点亮，第一测试结构141测试COB材料100未被遮挡的部分区域；测试完成后，移动结构将COB材料100移动到第二检测位置152，所述压制结构120将所述COB材料100的被第一测试结构141测试过的部分区域遮挡，所述COB材料100的未被遮挡的部分被点亮，所述第二测试结构142测试所述COB材料100未被遮挡的区域。
COB双站测试装置使用时，转盘结构25将一COB材料100移动到第一检测位置151；压制结构，限制住COB材料100的位置；第一测试结构141，测试COB材料100未被遮住的位置；以及第二测试结构142，测试完成后，转盘结构将COB材料100移动到第二检测位置152，压制结构限制住COB材料100已被测试的位置，第二测试结构142测试COB材料100未被测试的位置。
实施例中，转盘结构25包括碟片111和电机25，COB材料100被放置在碟片111上移动。碟片111安装在电机25的转动端上，驱动碟片111转动。碟片111可以采用金属材料制成，也可以采用非金属材料制成，至于碟片111采用什么材料制成，不是本发明的保护范围。
碟片111的形状为圆形，碟片111的形状还可以为方形，或者碟片111的形状还可以为其它几何形状，在这里不一一例举。但是，碟片111的形状优选为圆形。
在碟片111上可以设置有COB材料固定部112，COB材料固定部112用于固定COB材料100。COB材料固定部112的数量为若干个，若干个COB材料固定部112均匀设置在碟片111的同一圆周上。作为改进，若干个COB材料固定部112不是均匀设置在碟片111的同一圆周上。
当COB材料100在碟片111上运输时，其实COB材料100是被放置在COB材料固定部112中，COB材料固定部112可以是凹陷部、凹槽、缺口等等。COB材料固定部112的形状和COB材料100的形状基本一样大，或者COB材料固定部112的形状略大于COB材料100的形状。只要是可以将COB材料100固定在碟片111上移动，而不会使COB材料100脱离碟片111都在COB材料固定部112的保护范围内。作为对碟片111结构的改进，在碟片111运输COB材料100的过程中，COB材料100还可以直接被放置在碟片111上。
当COB材料100在碟片111上运输时，转盘结构的运输轨迹为弧形，转盘结构将COB材料100沿着弧线从第一检测位置151移动第二检测位置152。
转盘结构25中的电机可以用其它驱动结构，只要能够使碟片111转动都在本发明的保护范围内。
实施例中，还包括小底板130，小底板130的表面为光滑平整表面，不可倾斜或凹凸不平。在小底板130的表面上设置有引导片131，引导片131在小底板130的表面上形成收纳部，碟片111位于收纳部中，收纳部成凹陷状。小底板130采用金属材料制成，小底板130的形状可以根据需要进行选择。收纳部的形状基本和碟片111的形状相同，或者收纳部的形状不和碟片111的形状相同。当碟片111的形状为圆形时，收纳部的形状也为圆形，具体形状可以根据实际需要进行选择。
实施例中，压制结构120设置在引导片131的表面上，压制结构120可以是采用金属材料制成，也可以采用非金属材料制成。在压制结构120上设置有第一测试孔121和第二测试孔122，第一测试孔121和第二测试孔122所在的位置凸出于引导片131。也就是说，第一测试孔121和第二测试孔122与碟片111上的位置对应，压制结构120成飞檐状，第一测试孔121和第二测试孔122设置在压制结构120的飞檐位置上。压制结构120凸出的部分的下表面与碟片111的上表面间隔距离，该距离很小，也就是说，在第一测试孔121和第二测试孔122的位置上，压制结构120凸出的部分的下表面与COB材料100的表面间隔距离，该距离可以在几微米之间，具体数据可以根据需要进行选择。
第一测试孔121位于第一检测位置151上，第二测试孔122位于第二检测位置152上。第一测试孔121和第二测试孔122间隔预定距离，具体距离值可以根据实际需要进行选择。第一测试孔121的形状和COB材料100的形状不一样，第一测试孔121的形状可以根据需要进行选择，在这里不对其形状进行解释说明。当COB材料100位于第一测试孔121的正下方时，COB材料100的部分区域（第一区域）位于第一测试孔121的位置上，即通过第一测试孔121可以看到COB材料100的部分区域（第一区域），而COB材料100的其它区域（第二区域）被第一测试孔121周围的压制结构遮挡。
第二测试孔122的形状和COB材料100的形状不一样，第二测试孔122的形状可以根据需要进行选择，在这里不对其形状进行解释说明。当COB材料100位于第二测试孔122的正下方时，COB材料100的其它区域（第二区域）位于第二测试孔122的位置上，即通过第二测试孔122可以看到COB材料100的其它区域（第二区域），而COB材料100的部分区域（第一区域）被第二测试孔122周围的压制结构遮挡。
本实施例中，还包括第一测试结构141和第二测试结构142，第一测试结构141的检测端位于第一测试位置处，第二测试结构142的检测端位于第二测试位置处。第一测试结构141和第二测试结构142的结构相同，并且都是现有技术在，本发明没有对其结构进行改进，因此在这里不再对其结构进行详细的解释说明。
优选的，所述第一测试孔留出COB材料的两块完整的被检测部分；所述第二测试孔留出COB材料的未被第一测试结构测试的另外两块完整的被检测部分。
优选的，本发明还包括供料部分3，所述供料部分3包括储料器机构31和振动盘32，所述储料器机构31为所述振动盘32提供COB材料，所述振动盘32为分光部分1提供COB材料。
优选的，所述分光部分1还包括外观检测部分，所述外观检测部分包括用于检测COB材料的底部外观是否完好的底部影像机构；以及用于检测COB材料的顶部外观是否完好的顶部影像机构。
优选的，本发明还包括用于排出不符合外观要求的COB材料的外观不良排出机构。
优选的，本发明还包括用于排出不符合光电参数要求的COB材料的光电参数检测排料机构。
优选的，所述编带部分2包括植入机构21，所述植入机构21将COB材料植入载带，通过载带针轮机构24、胶膜机构5、胶膜输送机构26和封刀机构协同合作有COB材料的载带进行封胶。
本发明的工作原理：
所述供料部分3储料器机构31抖动将COB材料送入振动盘32中，通过振动盘32供料将料输送给分光部分1的进料分离机构14，进料分类机构14通过分离针将COB材料100分离，使COB材料100顺利进入转盘结构25的碟片111中，然后转盘结构25将COB材料移100至到第一底部影像机构13工位进行底部外形检测，判断料极性是否正确，影像处理结束后，COB材料100被转盘结构25移至旋转机构15工位，需要进行旋转极性的料再此工位进行极性旋转，旋转结束后，COB材料被移至第一测试机构141通过第一积分球收集光谱，然后，再转动到第二测试机构142工位通过第二积分球收集光谱，待测试结束后，COB材料100被移至第二底部影像机构22工位检测底部外观是否完好，相机拍照结束后被移至顶部影像机构18工位进行上表面外观检测，相机拍照结束后，料被移至测试排料机构19工位，将检测不良的料排出，通过摆臂下料机构101将不良料分类和计数，不合格的料被收集在料箱机构9中，合格的料被移至影像排料机构20工位，将外观不良的料排掉，合格的料将被移至植入机构21工位，植入机构21将料植入载带，通过载带针轮机构24、胶膜机构5、胶膜输送机构26和封刀机构协同合作有料的载带进行封胶，在载带运动过程中，通过载带影像机构27检测载带是否有空料，如果有空料，需人工进行补料，最后通过收带机构6将封装完成的料进行收带，当料一盘收满后，通过剪带机构4将载带和胶膜剪断，随后人工封装完成的一盘料取下。
本发明的移动结构就是电机带动碟片111旋转的结构。
本发明中，凡是涉及到的分光部分1和编带部分2的未做进一步的技术，都是现有技术，可以参照中国专利文献CN105436100A所公开的内容去理解，或其它分编一体机的内容去理解。

Claims (8)

1.一种COB双站测试分编一体机，包括分光部分（1）和编带部分（2），所述分光部分（1）对材料进行检测后，排除不符合要求的材料，将符合要求的材料提供给编带部分（2）使用，其特征在于：所述分光部分（1）包括COB双站测试装置（11），所述COB双站测试装置（11）包括压制结构、第一测试结构和第二测试结构，转盘结构将COB材料移动到第一检测位置，所述压制结构将所述COB材料的一部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡部分被点亮，所述第一测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域；测试完成后，所述转盘结构将所述COB材料移动到第二检测位置，所述压制结构将所述COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡，所述COB材料的未被遮挡的部分被点亮，所述第二测试结构测试所述COB材料未被遮挡的区域；所述转盘结构是碟片转动结构，所述COB材料被放置在所述碟片转动结构上移动；还包括小底板（130），小底板（130）的表面为光滑平整表面，在小底板（130）的表面上设置有引导片（131），引导片（131）在小底板（130）的表面上形成收纳部，碟片（111）位于收纳部中，收纳部成凹陷状；压制结构（120）设置在引导片（131）的表面上，在压制结构（120）上设置有第一测试孔（121）和第二测试孔（122），第一测试孔（121）和第二测试孔（122）所在的位置凸出于引导片（131）；
所述第一测试孔（121）和第二测试孔（122）与碟片（111）上的位置对应，压制结构（120）成飞檐状，第一测试孔（121）和第二测试孔（122）设置在压制结构（120）的飞檐位置上；
所述压制结构(120)凸出的部分的下表面与COB材料(100)的表面具有间隔距离。
2.根据权利要求1所述的COB双站测试分编一体机，其特征在于：在所述压制结构上设置有第一测试孔，所述第一测试孔位于所述第一检测位置上，所述第一测试孔的四周结构遮挡所述COB材料的一部分区域，所述COB材料的另一部分区域对应所述第一测试孔；在所述压制结构上设置有第二测试孔，所述第二测试孔位于所述第二检测位置上，所述第二测试孔的四周结构遮挡所述COB材料的另一部分区域，所述COB材料的一部分区域对应所述第二测试孔。
3.根据权利要求2所述的COB双站测试分编一体机，其特征在于：所述第一测试孔留出COB材料的两块完整的被检测部分；所述第二测试孔留出COB材料的未被第一测试结构测试的另外两块完整的被检测部分。
4.根据权利要求1或2或3所述的COB双站测试分编一体机，其特征在于：还包括供料部分（3），所述供料部分（3）包括储料器机构（31）和振动盘（32），所述储料器机构（31）为所述振动盘（32）提供COB材料，所述振动盘（32）为分光部分（1）提供COB材料。
5.根据权利要求1或2或3所述的COB双站测试分编一体机，其特征在于：所述分光部分（1）还包括外观检测部分，所述外观检测部分包括用于检测COB材料的底部外观是否完好的底部影像机构；以及用于检测COB材料的顶部外观是否完好的顶部影像机构。
6.根据权利要求5所述的COB双站测试分编一体机，其特征在于：还包括用于排出不符合外观要求的COB材料的外观不良排出机构。
7.根据权利要求1或2或3所述的COB双站测试分编一体机，其特征在于：还包括用于排出不符合光电参数要求的COB材料的光电参数检测排料机构。
8.根据权利要求1或2或3所述的COB双站测试分编一体机，其特征在于：所述编带部分（2）包括植入机构（21），所述植入机构（21）将COB材料植入载带，通过载带针轮机构（24）、胶膜机构（5）、胶膜输送机构（26）和封刀机构协同合作有COB材料的载带进行封胶。
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