CN115069604B - 电子元件测试包装一体机 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电子元件测试包装设备技术领域，提供了一种电子元件测试包装一体机，包括振动式供料机构和碟片式载料机构，碟片式载料机构的分度碟片的圆周边缘均匀开设若干个载料槽，分度碟片的外侧圆周方向分别设置分离机构、底部影像机构、极性调转机构、测试机构、打标机构、剔料机构、上部影像机构、植入机构以及载带传送机构；通过分度碟片旋转可将物料传送至不同的加工工位处，分度碟片旋转一周即可完成针对物料的底部缺陷检测、极性调转、电性参数测试、激光打标、上表面缺陷检测、废料剔除以及载带植入等全流程操作，整机具有很高的集成度，使得电子元件的测试包装加工无需再借助其它设备，有利于提高生产加工效率以及提高产品的良品率。

Description

电子元件测试包装一体机

技术领域

本申请属于电子元件测试包装设备技术领域，更具体地说，是涉及一种电子元件测试包装一体机。

背景技术

在电子元件测试包装领域，如针对电阻、电容、电感、二极管、三极管、轻触开关等各类贴片器件的测试包装领域，往往需要对电子元件进行相关电参数特性测试、外观检测、喷码打标、编带包装等加工。现有的碟片式自动化测试包装设备的集成度较低，仅能够完成上述针对电子元件的部分加工作业，针对电子元件的相关电参数特性测试、外观检测、喷码打标、编带包装等加工过程仍需要借助不同的设备完成，待加工物料需要在不同的设备之间流转，由此导致电子元件测试包装加工效率较低，且物料转移过程会出现划伤、损坏的风险。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种电子元件测试包装一体机，以解决现有技术中存在的碟片式测试包装设备集成度低、生产加工效率低下的技术问题。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：提供一种电子元件测试包装一体机，包括机架，还包括设置于所述机架上的振动式供料机构和碟片式载料机构；

所述碟片式载料机构包括能够旋转的分度碟片，所述分度碟片的圆周边缘均匀开设有若干个载料槽，所述分度碟片的外侧圆周方向分别设置有分离机构、底部影像机构、极性调转机构、测试机构、打标机构、剔料机构、上部影像机构、植入机构以及载带传送机构；

所述振动式供料机构的出料槽与所述分度碟片上的载料槽相对接，所述分离机构的分离针对应设置于所述出料槽与所述载料槽相对接的位置；

所述载带传送机构包括主动针轮以及与所述主动针轮传动连接的从动针轮，所述主动针轮对应设置于所述分度碟片的植入工位处，所述主动针轮与所述从动针轮配合以输送载带至所述植入工位处，所述植入机构吸取所述植入工位处的物料并将所述物料植入对应的载带植入槽中。

可选地，所述分离机构包括进料底座、分离针、导向套筒、第一电磁组件、第一弹性回复件以及到位感应件，所述第一弹性回复件连接于所述分离针的底部大端上，所述分离针由下至上依次贯穿所述第一电磁组件、所述导向套筒以及所述进料底座，所述第一电磁组件与所述第一弹性回复件配合以使得所述分离针能够下降并进入所述进料底座内或者上升并凸出于所述进料底座上表面，所述到位感应件设置于所述进料底座的上方对应于所述载料槽所在位置处以检测所述载料槽内是否载入所述物料。

可选地，所述分离机构还包括设置于所述进料底座上方的上盖板，以及与所述上盖板连接的摆臂，所述上盖板封盖于所述出料槽上，所述摆臂连接有旋转驱动件，所述摆臂能够带动所述上盖板旋转以使所述出料槽外露或被封盖。

可选地，所述底部影像机构包括底部观察镜片，所述底部观察镜片设置于对应的所述载料槽的下方位置，所述底部观察镜片可沿所述分度碟片的径向移动并能够外露于所述底部影像机构的安装底板的上表面。

可选地，所述测试机构包括探针组件、第二电磁组件以及第二弹性回复件，所述第二电磁组件与所述探针组件连接，所述第二弹性回复件设置于所述第二电磁组件的上方或下方，所述第二电磁组件能够在通电状态下带动所述探针组件上升以对所述物料进行电性能测试，所述第二弹性回复件能够在所述第二电磁组件断电时提供回复力以使所述探针组件下降。

可选地，所述打标机构包括打标头，所述打标头设置于对应的所述载料槽的上方位置，所述打标机构可沿所述分度碟片的径向移动以远离或者靠近所述分度碟片。

可选地，所述植入机构包括植入吸嘴、第三电磁组件以及第三弹性回复件，所述第三弹性回复件设置于所述植入吸嘴与所述第三电磁组件之间，所述第三电磁组件能够在通电状态下带动所述植入吸嘴上升，所述第三弹性回复件能够在所述第三电磁组件断电时提供回复力以使所述植入吸嘴下降以将所述物料植入所述载带植入槽中。

可选地，所述植入吸嘴的投影与所述植入工位处的所述载料槽的投影相重叠，且均位于所述主动针轮的相邻两个针齿之间中线的延长线上。

可选地，所述载带传送机构还包括相互对接的第一导向片和第二导向片，所述第一导向片和所述第二导向片位于所述分度碟片与所述载带之间，所述第一导向片和所述第二导向片共同限定出导向槽，所述植入工位处的所述载料槽、所述导向槽以及所述载带植入槽上下对应，所述导向槽的上方槽口处设有倒角结构，所述物料经由所述载料槽、所述导向槽后载入所述载带植入槽内。

可选地，所述电子元件测试包装一体机还包括设置于所述主动针轮后端的载带影像机构、封刀机构和收带机构。

本申请提供的电子元件测试包装一体机的有益效果在于：与现有技术相比，本申请的电子元件测试包装一体机包括振动式供料机构和碟片式载料机构，碟片式载料机构的分度碟片的圆周边缘均匀开设若干个载料槽，分度碟片的外侧圆周方向分别设置分离机构、底部影像机构、极性调转机构、测试机构、打标机构、剔料机构、上部影像机构、植入机构以及载带传送机构；通过分离机构实现物料由振动式供料机构到分度碟片载料槽的精准输送，通过分度碟片旋转可将物料传送至不同的加工工位处，分度碟片旋转一周即可完成针对物料的底部缺陷检测、极性调转、电性参数测试、激光打标、上表面缺陷检测、废料剔除以及载带植入等全流程操作，整机具有很高的集成度，电子元件的测试包装加工无需再借助其它设备，有利于提高生产加工效率以及提高产品的良品率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的电子元件测试包装一体机的主视结构示意图；

图2为本申请实施例提供的电子元件测试包装一体机的整体俯视结构示意图；

图3为本申请实施例提供的分离机构的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的分离机构的局部结构示意图；

图5为图4沿A-A方向的剖面结构示意图；

图6为本申请实施例提供的底部影像机构的俯视拆分结构示意图；

图7为本申请实施例提供的测试机构的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的打标机构的结构示意图；

图9为本申请实施例提供的植入机构的结构示意图；

图10为本申请实施例提供的载带传送机构的结构示意图；

图11为本申请实施例提供的载带传送机构与分度碟片相配合的结构示意图；

图12为图11的局部放大结构示意图。

其中，图中各附图标记：

000、机架；100、振动式供料机构；110、储料斗；120、振动盘；130、直线振动器；200、碟片式载料机构；210、分度碟片；220、载料槽；300、载带影像机构；400、封刀机构；500、收带缓冲机构；600、收带机构；10、分离机构；11、分离针；12、进料底座；13、导向套筒；14、第一电磁组件；141、电磁铁；142、铁芯；143、电磁铁固定座；15、第一弹性回复件；16、到位感应件；17、上盖板；18、摆臂；19、旋转驱动件；20、底部影像机构；21、底部观察镜片；22、安装底板；221、安装槽；23、固定块；24、盖板；241、槽口；25、推块；26、连接件；27、紧固件；30、极性调转机构；40、测试机构；41、安装座；42、探针组件；421、探针；422、探针固定座；423、探针导向座；43、第二电磁组件；431、电磁铁；44、测试底板；45、测试摆臂；46、摆臂固定座；50、打标机构；51、打标头；52、导轨组件；53、第一调节件；54、底座；55、第二调节件；60、剔料机构；70、上部影像机构；80、植入机构；81、植入吸嘴；82、第三电磁组件；821、电磁铁；822、衔铁；83、第三弹性回复件；84、吸嘴护罩；85、固定件；90、载带传送机构；91、主动针轮；911、针齿；912、中线；92、从动针轮；93、传动组件；94、第一导向片；95、第二导向片。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

现对本申请实施例提供的电子元件测试包装一体机进行说明。本申请实施例的电子元件测试包装一体机可应用于不同种类的电子元件，如电阻、电容、电感、二极管、三极管、轻触开关等各类贴片器件的测试、打标、包装加工，尤其可适用于半导体器件的测试、打标、包装加工。本申请实施例的电子元件测试包装一体机的各加工工位可以根据实际需要进行增加或减少，或者更换相互之间的位置关系。

请一并参阅图1、图2、图10、图11和图12，本申请实施例的电子元件测试包装一体机包括机架000，还包括设置于机架000上的振动式供料机构100和碟片式载料机构200。

其中，结合图2，振动式供料机构100可选用当前现有的振动盘式的供料机构，通常包括储料斗110、振动盘120以及直线振动器130等部件。碟片式载料机构200的尺寸、大小等规格参数可根据实际加工的产品的类型、大小形状以及设备整体的体积大小等进行选择。

结合图6，碟片式载料机构200包括能够旋转的分度碟片210，分度碟片210的圆周边缘均匀开设有若干个载料槽220，载料槽220的大小与待加工的物料尺寸大小相匹配，物料可以稳固地固定于载料槽220中，通过分度碟片210的旋转可将物料输送至不同的工位处。分度碟片210的旋转驱动件可根据实际需要选择不同形式的驱动件，如采用凸轮分割器，或者采用伺服电机、步进电机等。

结合图2，分度碟片210的外侧圆周方向分别设置有分离机构10、底部影像机构20、极性调转机构30、测试机构40、打标机构50、剔料机构60、上部影像机构70、植入机构80以及载带传送机构90。分度碟片210的外侧圆周方向设置的各个机构可以根据实际需要进行增加或者减少，如可以设置多个测试机构40，还可以根据不同的缺陷类型设置多个剔料机构60，并在底部影像机构20、测试机构40、打标机构50、上部影像机构70等缺陷检测、电性能测试的相关机构处设置相应的剔料机构60。各工位的前后顺序可根据实际需要进行调整，此处不作具体限定。

其中，结合图2，振动式供料机构100的出料槽与分度碟片210上的载料槽220相对接，分离机构10的分离针11对应设置于出料槽与载料槽220相对接的位置。分离机构10主要用于将出料槽中的前后物料进行分离，协助物料进入到分度碟片210的载料槽220中。

结合图2，底部影像机构20设置于分度碟片210的下方位置，主要用于对物料下表面进行缺陷检测，同时可以检测物料的极性是否放反。极性调转机构30设置于底部影像机构20的后端，通过底部影像机构20检测后，如果是极性放反的物料，则在极性调转机构30处通过旋转完成极性的调转，使得物料能够调转为植入载带时候的正确极性。若通过底部影像机构20检测为极性正确的物料，则在极性调转机构30处不作任何位置变动，跟随分度碟片210的旋转直接进入到下一工位处。经过极性调转机构30的物料被输送至测试机构40处进行相关电性参数测试，测试完成后不合格的物料通过剔料机构60进行排除，合格物料被输送至激光打标机构50处进行表面激光打标，完成激光打标后的产品可根据需要选择进行再次电性测试，即经过第二个测试机构40，再次电性测试后的缺陷物料经过剔料机构60进行排除，合格物料被输送至下一工位，如进入到上部影像机构70所在工位进行产品外观、字符等检测。检测完成后缺陷物料经过剔料机构60进行排除，合格物料被输送至下一工位，如进入到植入工位，在植入工位处，通过植入机构80与载带传送机构90的相互配合可完成物料向载带植入槽内的植入过程。

具体地，结合图10、图11和图12，载带传送机构90包括主动针轮91以及与主动针轮91传动连接的从动针轮92，主动针轮91对应设置于分度碟片210的植入工位处，主动针轮91与从动针轮92配合以输送载带至植入工位处，植入机构80吸取植入工位处的物料并将物料植入对应的载带植入槽中。

结合图10，主动针轮91与从动针轮92之间可采用不同的传动组件93进行传动连接，如采用皮带传动连接，采用链条传动连接等。主动针轮91与从动针轮92上均设置有针齿911，针齿911的大小与载带上的定位孔的大小相匹配，针齿911之间的齿间距与载带上定位孔之间的孔间距相匹配，载带的定位孔套设于针齿911上，相邻两个针齿911之间的载带处于展平状态，无弯曲或者过度拉伸的状况。

本申请提供的电子元件测试包装一体机，与现有技术相比，包括振动式供料机构100和碟片式载料机构200，碟片式载料机构200的分度碟片210的圆周边缘均匀开设若干个载料槽220，分度碟片210的外侧圆周方向分别设置分离机构10、底部影像机构20、极性调转机构30、测试机构40、打标机构50、剔料机构60、上部影像机构70、植入机构80以及载带传送机构90；通过分离机构10实现物料由振动式供料机构100到分度碟片210载料槽220的精准输送，通过分度碟片210旋转可将物料传送至不同的加工工位处，分度碟片210旋转一周即可完成针对物料的底部缺陷检测、极性调转、电性参数测试、激光打标、上表面缺陷检测、废料剔除以及载带植入等全流程操作，整机具有很高的集成度，电子元件的测试包装加工无需再借助其它设备，有利于提高生产加工效率以及提高产品的良品率。

在本申请另一个实施例中，请参阅图3至图5，分离机构10包括进料底座12、分离针11、导向套筒13、第一电磁组件14、第一弹性回复件15以及到位感应件16，进料底座12下方设置一连接座，通过进料底座12和连接座提供分离机构10的安装支撑。

进料底座12通常与出料槽对应安装，使得分离针11的顶端位置能够处于出料槽的与载料槽220之间。

分离针11整体呈细长的杆状，其底部大端呈类似于螺栓头的凸起结构，分离针11的顶部主要用于分离出料槽中的物料，使得出料槽中前后物料被物理分隔开，从而使得只有一个物料进入到对应的载料槽220中，分离针11的针体直径大小可根据实际加工的物料的大小、尺寸等进行适应性的设计，如当待加工的物料为微型的电子元件时，对应地则采用直径细小的分离针11。

结合图5，分离机构10的第一弹性回复件15连接于分离针11的底部大端上，通常设置一底座用于限位第一弹性回复件15和分离针11的底部大端，分离针11由下至上依次贯穿第一电磁组件14、导向套筒13以及进料底座12，由第一电磁组件14与第一弹性回复件15配合以使得分离针11能够下降并进入进料底座12内或者上升并凸出于进料底座12上表面。

分离针11穿设于导向套筒13内，可在导向套筒13内上下滑动。结合图3，第一电磁组件14可以包括电磁铁141、电磁铁固定座143以及与电磁铁141通电吸合的铁芯142，电磁铁141固定安装于电磁铁固定座143上；结合图5，导向套筒13设置于电磁铁141的上方，通过设置导向套筒13，可对分离针11的安装起到导向的作用，防止细小的分离针11在装配过程中发生歪斜而折断，有利于提高分离针11的安装效率，且减小分离针11的断针损耗。

结合图3，到位感应件16设置于进料底座12的上方对应于载料槽220所在位置处以检测载料槽220内是否载入物料。可选地，到位感应件16选用光纤传感器，如常见的对射型光纤或者透过型光纤等。

可选地，第一电磁组件14主要通过电磁吸合的原理带动分离针11下降，具体地，第一弹性回复件15可选用常见的弹簧，或者其它形式的弹力件。断电状态下，第一电磁组件14中的电磁铁141与铁芯142相分离，由第一弹性回复件15顶升分离针11，使得分离针11的顶端凸出于进料底座12上表面，出料槽中的物料被分离针11的顶端挡住；当分度碟片210旋转至其载料槽220与出料槽的槽口正对时，第一电磁组件14通电，结合图5，电磁铁141与铁芯142吸合，第一电磁组件14下降，第一弹性回复件15被压缩，由此带动分离针11下降，分离针11的顶端进入到进料底座12内，物料失去分离针11的阻挡后前进到分度碟片210的载料槽220中，当到位感应件16感应到物料进入到载料槽220中时，第一电磁组件14断电，电磁铁141与铁芯142断开吸合，被压缩的第一弹性回复件15回弹并带动分离针11上升，使得分离针11的顶端恢复至凸出于进料底座12的上表面的状态，通过分离针11的顶端将出料槽后面的物料挡住，防止多个物料重叠进入到同一载料槽220中，如此则完成一次进料过程，依次类推，随着分度碟片210的旋转，循环上述进料过程即可完成物料的持续上料。

可选地，第一电磁组件14由设备的控制系统控制通电和断电，使得电磁铁141与铁芯142相互吸合或者分开。

可选地，在出料槽中设置负压吸气孔，通过吸气孔吸引物料以使第一颗物料与后一颗物料能够快速分离开，并使第一颗物料能够快速进入到载料槽220中。

在本申请另一个实施例中，请参阅图3，分离机构10还包括设置于进料底座12上方的上盖板17，以及与上盖板17连接的摆臂18，上盖板17封盖于出料槽上，摆臂18连接有旋转驱动件19，摆臂18能够带动上盖板17旋转以使出料槽外露或被封盖。

具体地，分离机构10的上盖板17封盖出料槽，可确保出料槽中能够形成相对密闭的负压环境，确保吸气孔吸气良好从而协助物料快速进入到载料槽220中。旋转驱动件19可以是旋转气缸，或者也可以是旋转电机等，由旋转驱动件19带动摆臂18摆动，并由摆臂18带动上盖板17旋转，具体地，上盖板17在水平面内旋转可使出料槽外露，当出料槽内出现卡料时，可通过旋转上盖板17以使得出料槽外露从而方便操作人员排除卡料故障，当故障排除后，可通过旋转上盖板17以重新封盖出料槽，从而恢复正常的进料状态。

在本申请另一个实施例中，请参阅图6，底部影像机构20包括底部观察镜片21，底部观察镜片21设置于对应的载料槽220的下方位置，底部观察镜片21可沿分度碟片210的径向移动并能够外露于底部影像机构20的安装底板22的上表面。

具体地，本实施例中，底部影像机构20包括底部观察镜片21、安装底板22、固定块23、盖板24以及用于安装底部观察镜片21的推块25，通过在安装底板22上开设安装槽221，将固定块23嵌设于安装槽221内，底部观察镜片21嵌设于推块25内，推块25嵌设于安装槽221内且位于固定块23的上方，推块25可沿安装槽221滑动，通过设置连接件26将推块25和固定块23连接，通过盖板24将待检测物料限位于底部观察镜片21上方，盖板24上的槽口241可使底部观察镜片21外露，当需要清洗底部观察镜片21时，仅需将连接件26拆卸掉，将推块25沿安装槽221抽出，使得底部观察镜片21外露于盖板24上的槽口241，即可对底部观察镜片21进行清洗，清洗完毕后再将推块25推回至原位，锁紧连接件26。整个清洗过程无需拆卸分度碟片210，无需拆卸盖板24以及相关的其它部件，清洗过程操作简单，可省去大量的时间。

可选地，在另一实施例中，安装槽221呈L型槽，对应地，固定块23也呈L型固定块23，推块25可沿安装槽221的长槽滑移，在安装槽221的侧边的短槽中，固定块23通过紧固件27与安装底板22连接。通过设计L型的安装槽221以及相互匹配的固定块23，可确保推块25在安装槽221内顺畅滑移的前提下，使得固定块23能够与安装底板22之间稳固连接。

可选地，在另一实施例中，在固定块23与安装底板22之间设置精密调节垫片(图中未示出)，通过精密调节垫片对推块25的高度进行精密调节从而确保推块25的上表面能够与安装底板22的上表面齐平。将精密调节垫片设置于固定块23与安装底板22之间，由于固定块23与安装底板22之间无相对移动，因此，在推块25拉出或推进的过程中，精密调节垫片的位置将不会发生变动，清洗底部观察镜片21时，也无需拆除掉精密调节垫片，从而减少了每次清洗底部观察镜片21需要调整检测精度的步骤，简化了底部观察镜片21的清洗安装过程。

在本申请另一个实施例中，请参阅图7，测试机构40包括探针组件42、第二电磁组件43以及第二弹性回复件(图中未示出)，第二电磁组件43与探针组件42连接，第二弹性回复件设置于第二电磁组件43的上方或下方，第二电磁组件43能够在通电状态下带动探针组件42上升以对物料进行电性能测试，第二弹性回复件能够在第二电磁组件43断电时提供回复力以使探针组件42下降。

具体地，本实施例中，测试机构40中的各部件通过安装座41进行固定安装，第二电磁组件43包括电磁铁431以及设置于电磁铁431上方或者下方的衔铁(图中未示出)，电磁铁431与衔铁可在通电时吸合，断电时分离。

具体地，在一实施例中，探针组件42包括探针421以及与探针421连接的探针固定座422，电磁铁431与探针固定座422共同固定连接于测试摆臂45上，测试摆臂45可转动地连接于摆臂固定座46上，测试摆臂45能够随电磁铁431与衔铁的吸合而向上摆动，且随电磁铁431与衔铁的分离而向下摆动，进而可带动探针固定座422同步上升或者同步下降，最终可使得探针421能够实现上升和下降。可选地，测试摆臂45上沿竖向贯穿设置一滑杆，使得滑杆位于电磁铁431与摆臂固定座46之间，第二弹性回复件套设于滑杆上，当测试摆臂45向上摆动时，第二弹性回复件被压缩。设置测试摆臂45，可利用杠杆原理达到省力的作用，确保电磁铁431与衔铁的吸合能够轻松地带动探针421上升以抵接于待测试的物料上，且确保测试过程中探针421与物料良好的电性接触。

可选地，在另外一个实施例中，探针组件42还包括探针导向座423，探针421穿过探针导向座423设置，探针导向座423主要对探针421起到导向作用，从而确保探针421能够精准地抵接于待测试的物料上，当探针421的直径较小，即探针421很细时，探针导向座423能够对探针421起到防断的保护作用，防止探针421在升降过程中发生歪斜而折断。

具体地，测试机构40还包括用于与物料接触的测试底板44，测试底板44上开设有用于供探针伸出的通孔。优选地，在一些实施例中，采用陶瓷材料的测试底板44，使得测试底板44的耐磨性得到很大的提高，且使得测试底板44具备了不导电特性(阻值大)和无磁的特性，保证了测试的精准度。

具体地，在通电状态下，电磁铁431与衔铁吸合，探针固定座422上升，从而带动探针421上升，此时，第二弹性回复件的弹性势能增大，第二弹性回复件被拉伸或者被压缩，探针421上升进而从测试底板44上的通孔中伸出并与待测物料抵接，从而可以进行相关的电性能测试。在完成测试后，第二电磁组件43断电，电磁铁431与衔铁分离，第二弹性回复件释放弹性势能从而带动探针组件42下降回归至原位。

可选地，第二弹性回复件可选用常规的弹簧，或者也可以选用具有弹性的其它弹性件，如弹性垫片等，通过第二弹性回复件可以提供探针组件42的回复力，使得在不需要进行测试时，探针组件42能够回归至原位。

可选地，在一实施例中，结合图7，探针组件42包括4个探针421，4个探针421固定于探针固定座422上且相互隔开，4个探针42用于共同抵持于物料下表面以对物料001进行相关电性参数测试。

可选地，在一实施例中，探针组件42中，每个探针421上均套设有弹簧，通过设置弹簧能够缓冲探针421与物料相接触时候的冲击力，起到保护物料的作用。

在本申请另一个实施例中，请参阅图8，打标机构50包括打标头51，打标头51设置于对应的载料槽220的上方位置，打标机构50可沿分度碟片210的径向移动以远离或者靠近分度碟片210。

具体地，在本实施例中，打标机构50安装于可移动的底座54上，底座54上沿分度碟片210的径向设置导轨组件52，通过导轨组件52可带动打标机构50整体沿分度碟片210的径向移动。当需要维修设备或调整相关机构部件的设置位置时，可通过导轨组件52将打标机构50移动至远离分度碟片210的位置，以腾出一定的空间供操作人员进行维修或调试等相关操作。维修、调试工作完成后，再通过导轨组件52将打标机构50移动至与分度碟片210相对接的位置，使得打标机构50的打标头51能够处于对应的载料槽220的上方位置。

可选地，在其它实施例中，打标机构50也可以通过气缸带动以实现相对于分度碟片210的移动。

可选地，在一些实施例中，打标机构50的底座54也能够沿X轴、Y轴以及Z轴移动，如果将分度碟片210的径向方向定义为X轴，则Y轴方向可通过第一调节件53进行位置的微调，Z轴方向可通过第二调节件55进行微调，具体地，第一调节件53和第二调节件55均可以选择跟测试机构40中类似的调节螺栓。

在本申请另一个实施例中，请参阅图9，植入机构80包括植入吸嘴81、第三电磁组件82以及第三弹性回复件83，第三弹性回复件83设置于植入吸嘴81与第三电磁组件82之间，第三电磁组件82能够在通电状态下带动植入吸嘴81上升，第三弹性回复件83能够在第三电磁组件82断电时提供回复力以使植入吸嘴81下降。

具体地，本实施例中，植入机构80的植入吸嘴81连通真空装置，通过负压可对植入工位处的载料槽220内的物料进行吸附。

可选地，在一实施例中，在植入吸嘴81的外围设置吸嘴护罩84，通过设置的吸嘴护罩84减少外界对于物料植入过程的干扰。

可选地，在一实施例中，植入吸嘴81连接有吸嘴杆(图中未示出)，结合图9，第三电磁组件82包括电磁铁821和设置于电磁铁821底部的衔铁822，电磁铁821与衔铁822可在通电时吸合，断电时分离。第三弹性回复件83轴毂连接于吸嘴杆上，且通过固定件85进行限位，衔铁822与吸嘴杆的顶端连接。当第三电磁组件82通电时，电磁铁821与衔铁822相吸合，从而带动植入吸嘴81以及第三弹性回复件83向上移动，第三弹性回复件83被向上压缩；当第三电磁组件82断电时，第三弹性回复件83向下恢复至原状，依靠第三弹性回复件83向下的回复力可将物料植入载带中。

第三弹性回复件83可采用常见的弹簧，或者也可以是其它的弹性件，如可以是具有弹性回复力的橡胶套筒等。

可选地，在一实施例中，植入机构80还包括感应件，通过感应件感应植入工位处物料是否完全到位。正常状态下，第三电磁组件82处于常通电状态，当感应件感应到植入工位处物料到位后，由设备控制系统控制第三电磁组件82断电，断电的第三电磁组件82中电磁铁821与衔铁822分离，被压缩的第三弹性回复件83向下恢复至原状，依靠第三弹性回复件83向下的回复力可带动植入吸嘴81下降，植入吸嘴81吸附的物料被推入至载带上的载带植入槽中，当植入到位后，设备控制系统控制第三电磁组件82通电，进而带动植入吸嘴81上升，由此完成一次物料植入过程。

可选地，可在植入机构80中可设置多个感应件用于感应植入工位处是否存在物料，以及感应物料是否被成功植入至载带植入槽内。

在本申请另一个实施例中，参阅图11和图12，植入吸嘴81的投影与植入工位处的载料槽220的投影相重叠，且均位于主动针轮91的相邻两个针齿911之间中线912的延长线上。

具体地，结合图11和图12，本实施例中，依靠主动针轮91的两个相邻的针齿911作为定位参照，将植入工位定位于主动针轮91的两个相邻的针齿911之间中线912的延长线上，相邻的两个针齿911之间的齿间距与载带上相邻的两个定位孔之间的孔间距相匹配，载带的定位孔套设于针齿911上，相邻两个针齿911之间的载带处于展平状态，无弯曲或者过度拉伸的状况。载带植入槽处于相邻的两个定位孔的之间中线912的延长线上，植入吸嘴81的投影以及植入工位处的载料槽220的投影均位于主动针轮91的相邻两个针齿911之间中线912的延长线上，具体地，植入吸嘴81的投影的中心点与载料槽220的投影的中心点均位于相邻两个针齿911之间中线912的延长线上。在物料植入时，载带植入槽与载料槽220相重叠，植入吸嘴81可精准地将物料植入对应的载带植入槽内，相比于现有的在载带前方或者后方植入的设计，本实施例依靠主动针轮91的两个针齿911进行植入工位的定位，能够提高植入的精准度，避免由于载带拉伸量不确定或者载带传输误差等因素而导致的植入错位情况。

在本申请另一个实施例中，请参阅图11和图12，载带传送机构90还包括相互对接的第一导向片94和第二导向片95，第一导向片94和第二导向片95位于分度碟片210与载带之间，第一导向片94和第二导向片95共同限定出导向槽(图中未示出)，植入工位处的载料槽220、导向槽以及载带植入槽上下对应，导向槽的上方槽口处设有倒角结构，物料经由载料槽220、导向槽后载入载带植入槽内。

具体地，本实施例中，第一导向片94和第二导向片95共同限定出的导向槽起到物料植入载带植入槽时的导向作用，尤其当载料槽220与载带植入槽出现略微错位的情况下，导向槽能够引导植入吸嘴81准确地将物料植入对应的载带植入槽内。

导向槽的上方槽口处设置倒角结构，下方槽口的宽度略小于载带植入槽的宽度，从而能够确保物料顺畅地由上至下植入至载带植入槽中。

在本申请另一个实施例中，请参阅图1和图2，电子元件测试包装一体机还包括设置于主动针轮91后端的载带影像机构300、封刀机构400和收带机构600。

具体地，本实施例中，当物料在植入工位完成载带植入后，经过主动针轮91后端的载带影像机构300进行产品外观、字符检测以及空料侦测，随后移动到封刀机构400进行上胶膜封装，最后封装完成的载带依次经过收带缓冲机构500和收带机构600进行收带，从而完成了关于物料的测试、打标、缺陷检测、载带植入、收带包装等一系列的操作。

以上仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种电子元件测试包装一体机，包括机架，其特征在于，还包括设置于所述机架上的振动式供料机构和碟片式载料机构；

所述碟片式载料机构包括能够旋转的分度碟片，所述分度碟片的圆周边缘均匀开设有若干个载料槽，所述分度碟片的外侧圆周方向分别设置有分离机构、底部影像机构、极性调转机构、测试机构、打标机构、剔料机构、上部影像机构、植入机构以及载带传送机构；

所述振动式供料机构的出料槽与所述分度碟片上的载料槽相对接，所述分离机构的分离针对应设置于所述出料槽与所述载料槽相对接的位置；

所述载带传送机构包括主动针轮以及与所述主动针轮传动连接的从动针轮，所述主动针轮对应设置于所述分度碟片的植入工位处，所述主动针轮与所述从动针轮配合以输送载带至所述植入工位处，所述植入机构吸取所述植入工位处的物料并将所述物料植入对应的载带植入槽中；

所述底部影像机构包括底部观察镜片，所述底部观察镜片设置于对应的所述载料槽的下方位置，所述底部观察镜片可沿所述分度碟片的径向移动并能够外露于所述底部影像机构的安装底板的上表面；

所述底部影像机构还包括固定块、盖板以及用于安装所述底部观察镜片的推块，所述安装底板上开设安装槽，所述固定块嵌设于所述安装槽内，所述推块嵌设于所述安装槽内且位于所述固定块的上方，所述推块能够沿所述安装槽滑动，所述推块和所述固定块通过连接件连接，所述盖板用于将待检测物料限位于所述底部观察镜片上方，所述盖板上开设有供所述底部观察镜片外露的槽口,所述固定块与所述安装底板之间设置精密调节垫片，通过所述精密调节垫片对所述推块的高度进行精密调节从而确保所述推块的上表面能够与所述安装底板的上表面齐平。

2.如权利要求1所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述分离机构包括进料底座、分离针、导向套筒、第一电磁组件、第一弹性回复件以及到位感应件，所述第一弹性回复件连接于所述分离针的底部大端上，所述分离针由下至上依次贯穿所述第一电磁组件、所述导向套筒以及所述进料底座，所述第一电磁组件与所述第一弹性回复件配合以使得所述分离针能够下降并进入所述进料底座内或者上升并凸出于所述进料底座上表面，所述到位感应件设置于所述进料底座的上方对应于所述载料槽所在位置处以检测所述载料槽内是否载入所述物料。

3.如权利要求2所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述分离机构还包括设置于所述进料底座上方的上盖板，以及与所述上盖板连接的摆臂，所述上盖板封盖于所述出料槽上，所述摆臂连接有旋转驱动件，所述摆臂能够带动所述上盖板旋转以使所述出料槽外露或被封盖。

4.如权利要求2所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述测试机构包括探针组件、第二电磁组件以及第二弹性回复件，所述第二电磁组件与所述探针组件连接，所述第二弹性回复件设置于所述第二电磁组件的上方或下方，所述第二电磁组件能够在通电状态下带动所述探针组件上升以对所述物料进行电性能测试，所述第二弹性回复件能够在所述第二电磁组件断电时提供回复力以使所述探针组件下降。

5.如权利要求1所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述打标机构包括打标头，所述打标头设置于对应的所述载料槽的上方位置，所述打标机构可沿所述分度碟片的径向移动以远离或者靠近所述分度碟片。

6.如权利要求2所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述植入机构包括植入吸嘴、第三电磁组件以及第三弹性回复件，所述第三弹性回复件设置于所述植入吸嘴与所述第三电磁组件之间，所述第三电磁组件能够在通电状态下带动所述植入吸嘴上升，所述第三弹性回复件能够在所述第三电磁组件断电时提供回复力以使所述植入吸嘴下降以将所述物料植入所述载带植入槽中。

7.如权利要求6所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述植入吸嘴的投影与所述植入工位处的所述载料槽的投影相重叠，且均位于所述主动针轮的相邻两个针齿之间中线的延长线上。

8.如权利要求1至7任一项所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述载带传送机构还包括相互对接的第一导向片和第二导向片，所述第一导向片和所述第二导向片位于所述分度碟片与所述载带之间，所述第一导向片和所述第二导向片共同限定出导向槽，所述植入工位处的所述载料槽、所述导向槽以及所述载带植入槽上下对应，所述导向槽的上方槽口处设有倒角结构，所述物料经由所述载料槽、所述导向槽后载入所述载带植入槽内。

9.如权利要求8所述的电子元件测试包装一体机，其特征在于，所述电子元件测试包装一体机还包括设置于所述主动针轮后端的载带影像机构、封刀机构和收带机构。